專利名稱：光盤識(shí)別系統(tǒng)的制作方法
背景技術(shù)：
本發(fā)明涉及一種光盤機(jī)(Optical Disc Player)識(shí)別諸如CD(Compact Disc激光袖珍唱片)、DVD(Digital Video Disc數(shù)碼視盤)等各種光盤的光盤識(shí)別系統(tǒng)。
目前，可以兼容并復(fù)制CD與ID(Laser Disc激光唱片)的單面光盤機(jī)已經(jīng)日趨普遍。由于從光盤背面到記錄面的厚度，CD與LD是相同的(1.2mm)，所以這為使用拾光器(Optical Pickup)聚焦激光束復(fù)制CD與LD提供了可能。
為了識(shí)別置于光盤機(jī)上的不同種類盤片，光盤機(jī)是通過(guò)檢測(cè)盤片的直徑來(lái)區(qū)分CD和視盤的。
近年來(lái)，人們開(kāi)發(fā)出了具有很高記錄密度的DVD，雖然CD從背面到記錄面的厚度為1.2mm，而DCD僅有0.6mm，但是從記錄痕跡上讀碼的原理上看，DVD與CD都是完全相同。因此，人們建議開(kāi)發(fā)一種可以復(fù)制CD與DVD的兼容機(jī)。在這種兼容CD/DVD的兼容機(jī)中，為了使激光束正確聚焦從光盤的記錄面上讀取信息，機(jī)器提供了兩種透鏡，每種透鏡都具有一個(gè)適應(yīng)相應(yīng)厚度光盤的焦距，而另外一種CD/DVD兼容光盤機(jī)，則裝有一個(gè)由全息元件制成的雙焦距透鏡(Double Focus Lens)。圖8a示出一個(gè)由全息元件(衍射光柵)制成的雙焦距拾光器。
該雙焦距透鏡包括衍射光柵13，布置于同一光路上的物鏡11及平行透鏡14，一束激光通過(guò)平行透鏡14成為平行光，同時(shí)被分成三種光譜，即0級(jí)光譜(具有90°衍射角)和由衍射光柵13分出的土1級(jí)光譜(-1級(jí)光譜未示出)。由于0級(jí)光譜與+1級(jí)光譜的焦距各不相同，0級(jí)光譜(以后稱為零級(jí)光譜)與+1級(jí)光譜(以后稱為第一級(jí)光譜)將被聚焦在同一直線的不同位置上。
具體而言，零級(jí)光譜恰好被聚焦在DVD的記錄面上，而第一級(jí)光譜恰好被聚焦于CD的記錄面。
在工作時(shí)，當(dāng)拾光器逐漸偏離光盤時(shí)，光盤的記錄面將先被零級(jí)光譜照射。拾光器備有的四分光檢測(cè)器(圖中未示)會(huì)產(chǎn)生一個(gè)S形信號(hào)，作為聚焦錯(cuò)誤信號(hào)(Focus Error Signal)。當(dāng)拾光器進(jìn)一步偏離光盤，第一級(jí)光譜會(huì)從光盤面通過(guò)零級(jí)光譜的光路反射回來(lái)，由此形成一個(gè)偽光譜，產(chǎn)生了偽光譜的偽S形信號(hào)。最終，第一級(jí)光譜的S形信號(hào)便作為聚焦錯(cuò)誤信號(hào)產(chǎn)生了。
圖8b示出了相應(yīng)于零級(jí)光譜、偽光譜以及相對(duì)于圖8a中的雙焦距透鏡移動(dòng)的第一級(jí)光譜的S形信號(hào)，零級(jí)光譜與第一級(jí)光譜的光譜比率被設(shè)為1∶1。
按前所述，零級(jí)光譜實(shí)現(xiàn)對(duì)DVD的最佳聚焦，而第一級(jí)光譜則對(duì)CD最佳聚焦。如果零級(jí)光譜在DVD上產(chǎn)生的S形信號(hào)量是100％的話，而相應(yīng)在CD盤上的信號(hào)量則較小，少于100％，同樣地，如果由第一級(jí)光譜在CD上產(chǎn)生的S形信號(hào)量是100％的話，那么，相應(yīng)在DVD上的信號(hào)量較小，少于100％，這樣，在雙焦距透鏡中，各自對(duì)應(yīng)的聚焦錯(cuò)誤信號(hào)的振幅互不相同。
DVD的零級(jí)光譜對(duì)第一級(jí)光譜的比率，稱為零級(jí)光譜第一級(jí)光譜，大于CD的零級(jí)光譜對(duì)第一級(jí)光譜的比率，即零級(jí)光譜第一級(jí)光譜。
在CD/DVD兼容光盤機(jī)中，對(duì)每個(gè)光盤都提供一個(gè)聚焦伺服控制系統(tǒng)。在聚焦伺服控制中，拾光器相對(duì)于光盤垂直移動(dòng)，聚焦錯(cuò)誤信號(hào)(簡(jiǎn)稱FE)的產(chǎn)生便于檢測(cè)焦點(diǎn)聚焦正確與否。
在前面所講的雙焦距透鏡光盤機(jī)中，我們將獲得很多的聚焦錯(cuò)誤信號(hào)(由零級(jí)光譜、偽光譜和第一級(jí)光譜產(chǎn)生S形信號(hào))。因此，S形信號(hào)的檢測(cè)會(huì)給對(duì)焦帶來(lái)難題。換而言之，由不合適的光譜聚焦可能會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤。
發(fā)明概述本發(fā)明的目的是提供一種光盤機(jī)光盤識(shí)別系統(tǒng)，使能正確識(shí)別CD與DW，并在聚焦錯(cuò)誤信號(hào)中選擇一個(gè)最佳的S形信號(hào)來(lái)進(jìn)行聚焦。
根據(jù)本發(fā)明，現(xiàn)已提供了一種鑒別各種不同厚度光盤的識(shí)別系統(tǒng)，光盤機(jī)中設(shè)有拾光器，其包括聚焦裝置、移動(dòng)裝置、光探測(cè)裝置和檢測(cè)裝置，該聚焦裝置把激光光束聚焦在該拾光器的光軸不同焦點(diǎn)位置上，在光軸上焦點(diǎn)位置的數(shù)目與光盤的種類數(shù)相對(duì)應(yīng)；該移動(dòng)裝置是用來(lái)沿光軸移動(dòng)該聚焦裝置；該光探測(cè)裝置是用來(lái)接收光盤反射回來(lái)的激光光束和生成聚焦錯(cuò)誤信號(hào)；該檢測(cè)裝置是用來(lái)檢測(cè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)之差和識(shí)別光盤種類，該聚焦錯(cuò)誤信號(hào)差是由光盤厚度差和激光光束對(duì)焦位置偏離引起的。
該聚焦裝置包括一衍射光柵和一物鏡。
該檢測(cè)裝置檢測(cè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)的電平差(Difference In Level)。
另一方面，本發(fā)明的檢測(cè)裝置檢測(cè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)生成計(jì)時(shí)差(Difference InTiming)。
再另一方面，本發(fā)明的檢測(cè)裝置檢測(cè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)生成時(shí)該聚焦裝置的位置偏離(Difference In Position)。
本發(fā)明的上述目的及其特征可通過(guò)以下的詳細(xì)說(shuō)明和對(duì)附圖的參考來(lái)加以進(jìn)一步理解。
附圖簡(jiǎn)單說(shuō)明

圖1是本發(fā)明光盤識(shí)別系統(tǒng)的方框圖。
圖2是本發(fā)明系統(tǒng)工作信號(hào)(a)～(g)的時(shí)間關(guān)系圖。
圖3是本發(fā)明系統(tǒng)工作流程圖。
圖4是本發(fā)明的第二、第三實(shí)施例的方框圖。
圖5a和圖5b是本發(fā)明的第二、第三實(shí)施例工作信號(hào)的時(shí)間關(guān)系圖。
圖6是本發(fā)明第二實(shí)施例的工作流程圖。
圖7是本發(fā)明的第三實(shí)施例的工作流程圖。
圖8a和圖8b是方框圖，顯示了用全息照相元件作為雙焦距透鏡的系統(tǒng)原理圖。
最佳實(shí)施例詳細(xì)描述。
按照本發(fā)明圖1所示的CD/DVD光盤機(jī)，被復(fù)制的光盤20安置在該光盤機(jī)上，并由一主軸電機(jī)21(Spindle Motor)轉(zhuǎn)動(dòng)。一拾光器22配有與圖8a相同原理的雙焦距透鏡。該拾光器22發(fā)射一激光束，在光盤20的記錄表面上形成二凹痕被光束照射，從而讀出以凹痕形式記錄的信息。
拾光器22的輸出信號(hào)提供給一聚焦誤差(FE)生成電路23。該FE生成電路23產(chǎn)生一個(gè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)。從聚焦錯(cuò)誤信號(hào)中去除高頻段的多余信號(hào)后，使該聚焦錯(cuò)誤信號(hào)作用于峰值保持回路24。該峰值保持回路24使聚焦誤差信號(hào)的正極面最大幅值電壓作為數(shù)值基本恒定的峰值電壓予以保持。該峰值保持回路24把峰值電壓加給微機(jī)25。
微機(jī)25產(chǎn)生一復(fù)位(RST)信號(hào)，該信號(hào)作用于峰值保持回路24，重新設(shè)定回路中保持的最大電壓。當(dāng)下一聚焦錯(cuò)誤信號(hào)作用于峰值保持回路24時(shí)，則下一聚焦錯(cuò)誤信號(hào)的正極面的最大幅值電壓被作為最大值電壓來(lái)保持。
拾光器22的輸出信號(hào)又施加于RFOK生成電路37。該RFOK生成電路37接受一四等分的光探測(cè)器附加信號(hào)。當(dāng)該附加聚焦信號(hào)超過(guò)預(yù)定閾值時(shí)，則該RFOK生成電路37產(chǎn)生一個(gè)加到微機(jī)25的RFOK信號(hào)。即，該RFOK信號(hào)的產(chǎn)生說(shuō)明該激光束位于靠近聚焦的位置。
FE生成電路23產(chǎn)生的聚焦錯(cuò)誤信號(hào)又施加于聚焦零交叉FZC(Focus ZeroCross)生成電路26。該FZC生成電路26為一零交叉比較器，其包括一運(yùn)算放大器和生成一個(gè)聚焦零交叉脈沖檢測(cè)信號(hào)。FZC信號(hào)的產(chǎn)生表示該光譜被聚焦。FZC信號(hào)作用于微機(jī)25。
FE生成電路23的聚焦錯(cuò)誤信號(hào)也作用于一固定觸點(diǎn)的回路開(kāi)關(guān)27。該回路開(kāi)關(guān)27由來(lái)自微機(jī)25的FE并聯(lián)信號(hào)控制。
回路開(kāi)關(guān)27的動(dòng)觸頭與一連接微機(jī)25的聚焦伺服控制回路28相連接。該聚焦伺服控制回路28再與連接一激勵(lì)線圈30的聚焦伺服線圈驅(qū)動(dòng)電路29連接。
當(dāng)回路開(kāi)關(guān)27閉合(處于接通狀態(tài)下)時(shí)，聚焦伺服回路包括FE生成電路23、微機(jī)25、聚焦伺服控制回路28、聚焦伺服線圈驅(qū)動(dòng)電路29和激勵(lì)線圈30。所以，聚焦錯(cuò)誤信號(hào)施加于聚焦伺服控制回路28以達(dá)到自動(dòng)控制聚焦伺服。
當(dāng)回路開(kāi)關(guān)27開(kāi)路(處于切斷狀態(tài)下)時(shí)，則微機(jī)25控制聚焦伺服線圈驅(qū)動(dòng)電路29，產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)電壓驅(qū)動(dòng)激勵(lì)線圈30。所以，在拾光器22中的透鏡以一預(yù)定速度向上向下移動(dòng)，以識(shí)別光盤。
微機(jī)25還與RAM32，ROM33和一電機(jī)驅(qū)動(dòng)回路31連接。該RAM32貯存通過(guò)電路測(cè)定的信號(hào)(時(shí)間和電壓)數(shù)據(jù)和通過(guò)信號(hào)獲得的設(shè)定值。該ROM33貯存本發(fā)明系統(tǒng)必要的設(shè)定值數(shù)據(jù)。電機(jī)驅(qū)動(dòng)回路31產(chǎn)生一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)21。
圖2中(a)～(g)示出系統(tǒng)工作信號(hào)的時(shí)間關(guān)系。前面提及的拾光器22中的雙焦距透鏡原理與圖8a相同；零級(jí)光譜和第一級(jí)光譜的比率為1∶1。因此，當(dāng)透鏡垂直移動(dòng)時(shí)，S形信號(hào)的零級(jí)光譜的最大幅值和第一級(jí)光譜的最大幅值之間的關(guān)系表示如下(FED0/FED1)＞(FEC0/FEC1)式中FED0DVD的零級(jí)光譜S形信號(hào)的最大幅值電壓。
FED1DVD第一級(jí)光譜S形信號(hào)的最大幅值電壓。
FEC0CD零級(jí)光譜S形信號(hào)的最大幅值電壓。
FEC1CD第一級(jí)光譜S形信號(hào)的最大幅值電壓。
圖2中(a)示出聚焦驅(qū)動(dòng)電壓SFD用以表示透鏡位置的電壓。標(biāo)記UH是透鏡(最靠近光盤20的透鏡的位置)的最高位置，標(biāo)記UL是透鏡的最低的位置(離光盤最遠(yuǎn)的位置)。
圖2中(b)、(c)分別示出對(duì)CD和DVD具有S形的聚焦信號(hào)(FE)的電壓，它們是在透鏡向上向下運(yùn)動(dòng)時(shí)獲得的。
標(biāo)記TH1是一貯存在ROM33內(nèi)用來(lái)檢測(cè)S形信號(hào)的閾值電壓。該TH1設(shè)定值必須小于CD和DVD零級(jí)光譜獲得的最大幅值電壓。通過(guò)比較TH1產(chǎn)生FZC信號(hào)。標(biāo)記TH2是CD第一級(jí)光譜FEC1 S形信號(hào)的最大幅值電壓和DVD第一級(jí)光譜FED1 S形信號(hào)的最大幅值電壓之間的設(shè)定閾值(FEC1＞TH2＞2FED1)，TH2是貯存在ROM33內(nèi)或通過(guò)由零級(jí)光譜產(chǎn)生的S形信號(hào)乘以系數(shù)得出。在這種狀況下可防止光盤反射的影響。
圖2中的(d)示出對(duì)CD和DVD分別通過(guò)FZC產(chǎn)生電路26檢測(cè)零交叉的S形信號(hào)時(shí)，獲得的零交叉檢測(cè)脈沖信號(hào)FZC。
圖2中的(e)示出了微機(jī)25產(chǎn)生的CD和DVD復(fù)位脈沖信號(hào)RST。
圖2中的(f)示出了來(lái)自CD和DVD峰值保持回路24的峰值電壓的輸出信號(hào)。標(biāo)記V1是零級(jí)光譜的S形信號(hào)最大幅值電壓的波形和測(cè)量點(diǎn)。標(biāo)記V2是第一光譜S形信號(hào)最大幅值電壓的波形和測(cè)量點(diǎn)。
圖2中的(e)和(f)中的標(biāo)記T1和T2是通過(guò)微機(jī)25提供的計(jì)時(shí)器測(cè)定的時(shí)間。如圖2中的(e)所示，時(shí)間T1表示用零級(jí)光譜S形信號(hào)形成的FZC測(cè)得零級(jí)光譜峰值電壓后，重新設(shè)定的峰值電壓時(shí)間。如，當(dāng)偽S形信號(hào)大，而時(shí)間設(shè)定在偽光譜和第一級(jí)光譜中間，在通過(guò)偽S形信號(hào)測(cè)得峰值電壓后，偽S形信號(hào)被掩蓋(Mask)。時(shí)間T2表示從FZC通過(guò)第一級(jí)光譜的時(shí)間和測(cè)量第一級(jí)光譜的峰值電壓的時(shí)間，或者是透鏡到達(dá)最低位置UL的時(shí)間。
圖2中的(g)示出了CD和DVD每個(gè)RFOK信號(hào)，詳細(xì)敘述如下系統(tǒng)的操作參考圖3的流程圖步驟S1，光盤20置于光盤機(jī)上。步驟S2，回路開(kāi)關(guān)27開(kāi)路(切斷狀態(tài))，拾光器22中的雙焦距透鏡向上移動(dòng)至最高位置UH。步驟S3，峰值電壓復(fù)位，透鏡在一預(yù)定速度下從最高位置UH向最低位置UL方向移動(dòng)；在透鏡向下運(yùn)動(dòng)時(shí)，拾光器22產(chǎn)生聚焦錯(cuò)誤信號(hào)。步驟S4，如果FE超過(guò)閾值TH1，S形信號(hào)的FE的最大電壓會(huì)受到FZC信號(hào)的監(jiān)控。步驟S5，當(dāng)FE≥TH1，計(jì)時(shí)器被設(shè)定計(jì)時(shí)。步驟S6，經(jīng)過(guò)一段預(yù)置時(shí)間，先由峰值保持回路24獲取S形信號(hào)正極面的峰值電壓V1，并存貯在RAM32中。步驟S7，通過(guò)計(jì)時(shí)器測(cè)得時(shí)間T，并與存貯在ROM33中的預(yù)置時(shí)間T1比較。步驟S8，如果T≥T1，微機(jī)25發(fā)出復(fù)位信號(hào)RST給峰值保持回路24使峰值電壓V1放電、歸零。
如果步驟S7比較中，時(shí)間T小于預(yù)置時(shí)間T1，計(jì)時(shí)器繼續(xù)計(jì)時(shí)，直到T≥T1為止。
步驟S9，計(jì)時(shí)器測(cè)得時(shí)間T與存貯在ROM33中的預(yù)置時(shí)間T2進(jìn)行比較。
步驟S10，當(dāng)計(jì)時(shí)器計(jì)錄時(shí)間T≥T2時(shí)，峰值保持回路24產(chǎn)生的峰值電壓V2被存貯在RAM32中。
步驟S11，將峰值電壓V2與存貯在ROM33中的閾值TH2進(jìn)行比較。
步驟S12，如果V2＜TH2則可判定光盤為DVD。
步驟S13，如果V2≥TH2則可判定此光盤為CD。
步驟S14，透鏡位置一直受到監(jiān)控，直到SFD≥UL。
步驟S15，當(dāng)SFD≥UL計(jì)時(shí)器被復(fù)位。
步驟S16，透鏡上移。
步驟S17，透鏡位置受到監(jiān)控，直到SFD≥UH。
步驟S18，當(dāng)SFD≥UH透鏡向下移。
步驟S19，首先獲得的S形信號(hào)受到FZC監(jiān)控，直至FE超過(guò)閾值TH1。
步驟S20，當(dāng)FE≥TH1，在步驟S11中確定的光盤在本步驟中被確定為CD。
步驟S21，計(jì)時(shí)器被設(shè)定，如果在步驟S20判斷的是DVD，則程序便進(jìn)入步驟S23。
步驟S22，測(cè)得時(shí)間T被監(jiān)控直至T≥T1。
步驟S23，當(dāng)T≥T1，微機(jī)控制關(guān)閉回路開(kāi)關(guān)27。
步驟S24，當(dāng)零交叉信號(hào)FZC產(chǎn)生時(shí)，可判定激光光束已被聚焦。
步驟S25，識(shí)別光盤的一系列操作終止。
在步驟S11中，雖然光盤靠V2≥TH2來(lái)識(shí)別，但還有其它的識(shí)別方法。
如前面所提到的，盡管(FEC0/FEC1)＜(FED0/FED1)，光盤可由峰值保持回路24中的峰值電壓V1和V2來(lái)識(shí)別。
如果確定值β被設(shè)定為(FEC0/FEC1)＜β＜(FED0/FED1)，并可用β值來(lái)區(qū)別光盤，那么光盤的識(shí)別就不受光盤反射的影響了。
也就是說(shuō)，如圖2中(f)所示，如果零級(jí)光譜產(chǎn)生的S形信號(hào)的峰值電壓為V1，第一級(jí)光譜產(chǎn)生的S形信號(hào)的峰值電壓為V2，步驟S11確定V2×β＞V1是否成立；當(dāng)V2×β＞V1，在步驟S13中光盤被確定為CD；如果不是，在步驟S12中光盤被確定為DVD。
圖2中的(g)顯示了CD和DVD的RFOK信號(hào)。
在實(shí)施例中，測(cè)量時(shí)間T1和T2的計(jì)時(shí)起始可以用RFOK信號(hào)確定，而不是通過(guò)零級(jí)光譜的FZC來(lái)確定，此外，當(dāng)峰值電壓輸出超過(guò)閾值TH1時(shí)，有可能確定計(jì)時(shí)。
透鏡也可以從最低位置移向最高位置，用這種方法，盡管S形信號(hào)順序成為第一級(jí)光譜→偽光譜→零級(jí)光譜，但仍然可以用同樣的方法識(shí)別光盤。
在上述實(shí)施例中，當(dāng)檢測(cè)到最大電壓V2時(shí)，透鏡有可能處于最低位置，或者移向最高位置。
盡管重新設(shè)定聚焦的計(jì)時(shí)被設(shè)定在偽S形信號(hào)和一級(jí)光譜產(chǎn)生的S形信號(hào)中間，但如果偽S形信號(hào)較弱，測(cè)量到V1后仍可以重新設(shè)定。
為了避免光盤記錄表面的影響，在步驟S2，光盤可以以預(yù)定速度旋轉(zhuǎn)。
圖4顯示本發(fā)明的第二和第三實(shí)施例所采用的系統(tǒng)。在該系統(tǒng)內(nèi)，提供了一個(gè)用于校正激勵(lì)線圈30的驅(qū)動(dòng)電壓的均衡器(EQ equalizer)34，和帶有基準(zhǔn)電壓源35作為檢測(cè)電壓的比較器36，該基準(zhǔn)電壓源35作為檢測(cè)電壓的參考電壓。第一實(shí)施例中的峰值保持電路24被省略，其它結(jié)構(gòu)與第一種實(shí)施例中的一樣，相同部分的指示與圖1所示的符號(hào)相同，因此省略了說(shuō)明。
均衡器34的運(yùn)行是為了使激勵(lì)線圈30的驅(qū)動(dòng)電壓和透鏡位置之間保持線性關(guān)系。均衡器34的輸出電壓提供給比較器36的輸入端子，比較器的另一輸入端同基準(zhǔn)電壓源35相連。
圖5a和5b顯示的是本發(fā)明第二和第三實(shí)施例系統(tǒng)的工作信號(hào)，標(biāo)記FD是由均衡器34轉(zhuǎn)換的激勵(lì)線圈30的驅(qū)動(dòng)電壓的聚焦驅(qū)動(dòng)電壓，F(xiàn)D隨位置電壓SFD變化而線性變動(dòng)。
在圖5a中，如果透鏡的位置低于對(duì)應(yīng)于基準(zhǔn)電壓E的位置，分別由DVD和CD的拾光器22最初產(chǎn)生的S形信號(hào)的時(shí)間互不同。此外，標(biāo)記TD1是DVD的檢測(cè)時(shí)間，標(biāo)記TC1是CD的檢測(cè)時(shí)間。檢測(cè)時(shí)間TD1和TC1作為設(shè)定值被存入ROM33。
在圖5b中，在檢測(cè)時(shí)間TD1或TC1時(shí)，產(chǎn)生的FD作為設(shè)定值被存入ROM33，標(biāo)記E1和E2為由此產(chǎn)生的電壓。
下面請(qǐng)參閱圖6，詳細(xì)描述本發(fā)明的第二實(shí)施例。
步驟S1，光盤20裝在光盤機(jī)上。
步驟S2，透鏡向上移動(dòng)至最高位置UH。
步驟S3，透鏡以預(yù)置速度從最高位置UH移向最低位置UL。
步驟S4，監(jiān)控FD。
步驟S5，當(dāng)FD≥E，計(jì)時(shí)器被設(shè)定。
步驟S6，光被檢測(cè)到的S形信號(hào)由FZC的監(jiān)控。
步驟S7，當(dāng)EF≥TH1，計(jì)時(shí)器停止計(jì)時(shí)。
步驟S8，計(jì)時(shí)器置位期間的計(jì)時(shí)存貯在RAM32中。
步驟S9，時(shí)間T與存貯在ROM33中的設(shè)定時(shí)間TD1進(jìn)行比較。
步驟S10，時(shí)間T被設(shè)定為TC1＜T＜TD1，如果T≤TD1，則光盤被識(shí)別為DVD。
步驟S11，如果T＞TD1，則光盤被識(shí)別為CD。
步驟S12～步驟S23的程序與第一實(shí)施例的圖3中所示的步驟S14～步驟S25的程序是相同的。因此，省略這些說(shuō)明。
第三實(shí)施例系統(tǒng)操作可參考圖7加以說(shuō)明。
步驟S1，光盤20置放于光盤機(jī)中。
步驟S2，透鏡向上移動(dòng)到最高位置UH處。
步驟S3，透鏡從最高位置UH以預(yù)設(shè)的速度向下移動(dòng)到最低置UL處。
步驟S4，首先獲得的S形信號(hào)由FZC監(jiān)控并一直到FE超過(guò)閾值為止。
步驟S5，當(dāng)FE≥TH1，F(xiàn)D存入RAM32。
步驟S6，存貯在RAM32中的FD(E1或E2)與存貯在ROM33中的參考電壓E0進(jìn)行比較，參考電壓E0被設(shè)定滿足E1＜E0＜E2。
步驟S7，當(dāng)E0≥E1確定光盤是CD。
步驟S8，如果E0＜E1確定光盤是DVD。
步驟S9～步驟S20的程序與圖3中所示的第一實(shí)施例的步驟S14～S25的程序是相同的。因此，省略說(shuō)明。
在第二和第三實(shí)施例中，控制程序的零級(jí)光譜的FZC在第一實(shí)施例的圖2中的(g)所示的RFOK信號(hào)下會(huì)顯示其功效?；虍?dāng)最大電壓輸出超過(guò)TH1時(shí)也同樣有效。
如前面提到的，透鏡可以由最低位置處移到最高位置處。
均衡器34是用來(lái)去除聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)高頻段的噪音。如果無(wú)噪音，均衡器34就可以省掉。
為了防止光盤傾斜和振動(dòng)產(chǎn)生的影響，在步驟S2，光盤可以以預(yù)設(shè)的速度旋轉(zhuǎn)。
本發(fā)明的實(shí)施例，可用于把光束聚焦在光盤上的物鏡從預(yù)定位置移動(dòng)，因而得到聚焦錯(cuò)誤信號(hào)。當(dāng)?shù)谝粋€(gè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)出現(xiàn)時(shí)，時(shí)間即被測(cè)定了。當(dāng)時(shí)間變成預(yù)定的時(shí)間時(shí)，預(yù)定時(shí)間的聚焦錯(cuò)誤信號(hào)電平即與設(shè)定的參考電平進(jìn)行比較，這樣，識(shí)別CD和DVD以及根據(jù)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)和測(cè)定時(shí)間聚焦正常S形信號(hào)都成為可能。
另外在第二和第三實(shí)施例中，當(dāng)?shù)谝粋€(gè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)出現(xiàn)時(shí)，聚焦驅(qū)動(dòng)電壓即被測(cè)定。
已測(cè)定的聚焦驅(qū)動(dòng)電壓和參考電壓進(jìn)行比較，同時(shí)，檢測(cè)電壓的時(shí)間與參考時(shí)間也進(jìn)行比較，這樣，識(shí)別CD與DVD以及根據(jù)聚焦驅(qū)動(dòng)電壓和測(cè)量時(shí)間來(lái)聚焦正常S形信號(hào)，都成為可能。
本發(fā)明已經(jīng)結(jié)合最佳實(shí)施例作了描述，因此可以理解這些描述是為了說(shuō)明本發(fā)明而不是用來(lái)限制本發(fā)明的范圍，本發(fā)明的范圍由權(quán)利要求書(shū)中的權(quán)項(xiàng)限定。
權(quán)利要求
1.一種光盤機(jī)的光盤識(shí)別系統(tǒng)，至少識(shí)別二種不同厚度的光盤，該光盤機(jī)的拾光器包括把激光光束聚焦在該拾光器光軸上不同焦點(diǎn)位置的聚焦裝置，該光軸上焦點(diǎn)位置的數(shù)目與光盤的種類數(shù)相對(duì)應(yīng)；沿光軸移動(dòng)該聚焦裝置的移動(dòng)裝置；接收光盤反射來(lái)的激光光束和生成聚焦錯(cuò)誤信號(hào)的光探測(cè)裝置；檢測(cè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)差和識(shí)別光盤種類的檢測(cè)裝置，該聚焦錯(cuò)誤信號(hào)差由光盤厚度差和激光光束對(duì)焦位置偏離產(chǎn)生。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤機(jī)的光盤識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于聚焦裝置包括一衍射光柵和一物鏡。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤機(jī)的光盤識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于檢測(cè)裝置檢測(cè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)的電平差。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤機(jī)的光盤識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于檢測(cè)裝置檢測(cè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)生成計(jì)時(shí)間。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤機(jī)的光盤識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于檢測(cè)裝置檢測(cè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)生成時(shí)的該聚焦裝置的位置偏離。
全文摘要
一種光盤機(jī)的光盤識(shí)別系統(tǒng),由一聚焦裝置將激光光束聚焦在拾光器的光軸上,其聚焦在該光軸上的焦點(diǎn)數(shù)目與不同厚度的光盤種類數(shù)相當(dāng);移動(dòng)裝置使聚焦裝置沿光軸移動(dòng);光探測(cè)裝置接收光盤反射來(lái)的激光光束和生成的聚焦錯(cuò)誤信號(hào),檢測(cè)裝置檢測(cè)聚焦錯(cuò)誤信號(hào)電平差,這些信號(hào)電平差由光盤厚度差和激光光束焦點(diǎn)位置差造成的,因而可用來(lái)識(shí)別光盤種類。
文檔編號(hào)G11B7/135GK1177797SQ97112739
公開(kāi)日1998年4月1日 申請(qǐng)日期1997年6月11日 優(yōu)先權(quán)日1996年6月11日
發(fā)明者神山英世, 川上聡 申請(qǐng)人:日本先鋒公司