專利名稱：記錄設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本公開涉及在光盤記錄介質(zhì)上執(zhí)行記錄的記錄設(shè)備，其中光盤記錄介質(zhì)具有帶位置導(dǎo)向裝置的參考面以及在與參考面的深度不同的深度位置處形成的記錄層。
背景技術(shù)：
作為通過(guò)光的照射記錄/再現(xiàn)信號(hào)的光盤記錄介質(zhì)(光盤)，例如CD (緊致盤)、 DVD (數(shù)字多功能光盤)以及BD (藍(lán)光光盤注冊(cè)商標(biāo))已經(jīng)廣泛應(yīng)用。作為諸如⑶、DVD或BD等已經(jīng)廣泛使用的光盤的下一代光盤，申請(qǐng)人早先已經(jīng)提出了在日本未審查專利申請(qǐng)公開No. 2008-135144和日本未審查專利申請(qǐng)公開 2008-176902中公開的所謂體記錄(bulk recording)光盤。這里，體記錄是通過(guò)在連續(xù)改變焦點(diǎn)位置的同時(shí)向光學(xué)記錄介質(zhì)(體記錄介質(zhì) 100)照射激光束并且在體層102中進(jìn)行多層記錄來(lái)實(shí)現(xiàn)大容量記錄的技術(shù)(如圖25所示)，其中光學(xué)記錄介質(zhì)(體記錄介質(zhì)100)至少具有覆層101和體層(記錄層)102。對(duì)于體記錄，日本未審查專利申請(qǐng)公開No. 2008-135144中公開了稱為微全息方法的記錄技術(shù)。在微全息方法中，使用所謂的全息記錄材料作為體層102的記錄材料。例如，廣泛地使用光致聚合感光樹脂作為全息記錄材料。微全息方法大致分為主動(dòng)型微全息方法和被動(dòng)型微全息方法。主動(dòng)型微全息方法是這樣的方法，其中將彼此相對(duì)的兩個(gè)光束(光束A和B)匯聚在相同的位置處并且形成微小的干涉條紋(全息圖)，使得這些干涉條紋構(gòu)成記錄標(biāo)記。作為與主動(dòng)型微全息方法思路相反的被動(dòng)型微全息方法是這樣的方法，其中通過(guò)照射激光束來(lái)擦除預(yù)先形成的干涉條紋以使得被擦除的部分構(gòu)成記錄標(biāo)記。具體而言，在被動(dòng)型微全息方法中，執(zhí)行初始化處理以在執(zhí)行記錄處理之前在體層102中預(yù)先形成干涉條紋。即，以平行光照射光束C和D以在整個(gè)體層102中形成干涉條紋。然后，在以這種方式通過(guò)初始化處理形成干涉條紋以后，通過(guò)形成擦除標(biāo)記來(lái)執(zhí)行信息記錄。具體而言，通過(guò)在使焦點(diǎn)處于任意層位置的狀態(tài)下根據(jù)將要記錄的信息照射激光束、利用擦除標(biāo)記來(lái)執(zhí)行信息記錄。如在日本未審查專利申請(qǐng)公開No. 2008-176902中所公開的，申請(qǐng)人還提出了與微全息方法不同的體記錄方法，即形成空位(孔或空白)作為記錄標(biāo)記的記錄方法?？瘴挥涗浄椒ㄊ窍蛴芍T如光致聚合感光材料等記錄材料制成的體層102照射較高能量的激光束以在體層102中形成孔的方法。如在日本未審查專利審查公開 No. 2008-176902中所公開的，以這種方式形成的孔成為具有與體層102中的其他部分的折射率不同的折射率的部分，并且因此能夠增強(qiáng)在邊界部分中的光的反射。因此，這些孔用作記錄標(biāo)記，因而信息記錄通過(guò)形成孔標(biāo)記來(lái)實(shí)現(xiàn)。由于全息圖未通過(guò)空位記錄方法來(lái)形成，因此通過(guò)從一側(cè)照射光來(lái)實(shí)現(xiàn)記錄。即， 不需要像在主動(dòng)型微全息方法中那樣，通過(guò)將兩個(gè)光束匯聚在相同的位置處來(lái)形成記錄標(biāo)記。與被動(dòng)型微全息方法相比，具有不需要初始化處理的優(yōu)勢(shì)。日本未審查專利申請(qǐng)公開No. 2008-176902公開了如下示例，其中當(dāng)執(zhí)行空位記錄時(shí)在記錄前照射固化光。然而，即使當(dāng)省略固化光的照射時(shí)也能夠執(zhí)行空位記錄。在上述各種記錄方法中提出的體記錄型(簡(jiǎn)稱為體型)光學(xué)記錄介質(zhì)已經(jīng)被使用。然而，體光學(xué)記錄介質(zhì)的記錄層(體層)沒(méi)有其中形成有多個(gè)反射膜的明確的多層配置。即，在體層102中，沒(méi)有形成通常的多層光盤所具有的個(gè)記錄層的反射膜和導(dǎo)溝。在上述圖25所示的體記錄介質(zhì)100的配置中，在標(biāo)記沒(méi)有形成的記錄期間不執(zhí)行聚焦伺服或?qū)ぼ壦欧Ｒ虼?，?shí)際上，在體記錄介質(zhì)100中形成用作具有導(dǎo)溝的參考的反射面(參考面 Ref)，如圖26所示。具體而言，由凹坑或槽構(gòu)成的導(dǎo)溝(位置導(dǎo)引體)形成在覆層101的表面上并且在導(dǎo)溝上形成選擇反射膜103。體層102層壓在覆層101的下層側(cè)上，其中選擇反射膜103 夾在體層102與中間層104之間，中間層104利用諸如UV固化樹脂之類的粘合材料形成 (如圖所示)。當(dāng)介質(zhì)具有上述配置時(shí)，如圖27所示，利用與標(biāo)記記錄激光束(記錄激光束)分開的作為位置控制激光束的伺服激光照射體記錄介質(zhì)100。如圖所示，利用記錄激光束和伺服激光束經(jīng)由共用物鏡照射體記錄介質(zhì)100。此時(shí)，當(dāng)伺服激光束到達(dá)體層102時(shí)，存在伺服激光束可能對(duì)體層102中的標(biāo)記記錄產(chǎn)生負(fù)面影響的問(wèn)題。為此，在根據(jù)相關(guān)技術(shù)的體記錄方法中，使用與記錄激光束的波長(zhǎng)范圍不同的激光束作為伺服激光束，并且從形成在導(dǎo)溝形成表面(參考面Ref)上的反射膜反射伺服激光束。形成具有反射伺服激光束并且透射記錄激光束的波長(zhǎng)選擇性質(zhì)的選擇反射膜103。下面，將參考圖27描述基于上述假設(shè)的在體記錄介質(zhì)100中記錄標(biāo)記的過(guò)程。首先，當(dāng)對(duì)沒(méi)有導(dǎo)溝或沒(méi)有反射面的體層102執(zhí)行多層記錄時(shí)，預(yù)先設(shè)置在體層 102的深度方向上的記錄標(biāo)記的層位置。圖27示出了第一信息記錄層位置Ll至第五信息記錄層位置L5共五個(gè)信息記錄層位置L被設(shè)置為層位置(約稱為標(biāo)記形成層位置信息形成層位置)的示例，其中標(biāo)記在所述層位置處形成在體層102中。如圖所示，第一信息記錄層位置Ll設(shè)置為在聚焦方向(深度方向)以第一偏移量of-Ll遠(yuǎn)離其中形成由導(dǎo)溝的選擇反射膜103(參考面Ref)的位置處。此外，第二信息記錄層位置L2、第三信息記錄層位置 L3、第四信息記錄層位置L4以及第五信息記錄層位置L5分別設(shè)置在以第二偏移量of_L2、 第三偏移量of-L3、第四偏移量of-L4和第五偏移量of-L5遠(yuǎn)離參考面Ref的位置處。在沒(méi)有標(biāo)記形成的記錄期間，可能不能基于記錄激光束的反射光在體層102中的每個(gè)層位置L處執(zhí)行聚焦伺服或?qū)ぼ壦欧?。因此，在記錄期間基于用作位置控制光的伺服激光束的反射光、使伺服激光束的點(diǎn)位置跟蹤在參考面Ref上的導(dǎo)溝，來(lái)執(zhí)行物鏡的聚焦伺服或軌道伺服。然而，需要允許記錄激光束到達(dá)形成在選擇反射膜103的下方的體層102以記錄標(biāo)記。因此在這種情況下，除了用于物鏡的聚焦系統(tǒng)以外，光學(xué)系統(tǒng)還包括調(diào)整記錄激光束的的聚焦位置的聚焦機(jī)構(gòu)。
圖觀是圖示了用于體記錄介質(zhì)100的記錄設(shè)備的內(nèi)部配置的示例的示圖，其中所述記錄設(shè)備包括獨(dú)立地調(diào)整記錄激光束的聚焦位置的機(jī)構(gòu)。在圖28中，由LDl所指的第一激光二極管111是記錄激光束的光源，并且由LD2 所指的第二激光二極管119是用于伺服激光束的光源。如上所述，第一激光二極管111和第二激光二極管119分別發(fā)射具有不同波長(zhǎng)范圍的激光束。如圖所示，從第一激光二極管111發(fā)射的記錄激光束經(jīng)由準(zhǔn)直透鏡112、入射在包括的固定透鏡113、可移動(dòng)透鏡114和透鏡驅(qū)動(dòng)單元115的聚焦機(jī)構(gòu)上。當(dāng)透鏡驅(qū)動(dòng)單元 115在與記錄激光束的光軸平行的方向上驅(qū)動(dòng)可移動(dòng)透鏡114時(shí)，能夠改變圖中入射在物鏡117上的記錄激光束的準(zhǔn)直狀態(tài)(匯聚/平行/發(fā)散狀態(tài))，并且能夠與通過(guò)驅(qū)動(dòng)物鏡 117來(lái)改變聚焦位置相獨(dú)立地調(diào)整記錄激光束的聚焦位置。在這個(gè)意義上，聚焦機(jī)構(gòu)也稱為記錄光聚焦系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)了記錄光聚焦系統(tǒng)的記錄激光束入射在分色鏡116上，分色鏡116配置成透射具有與記錄激光束相同的波長(zhǎng)范圍的光、并且反射具有其他波長(zhǎng)范圍的光。如圖所示，利用透過(guò)分色鏡116、經(jīng)由物鏡117的記錄激光束來(lái)照射體記錄介質(zhì) 100。物鏡117被雙軸執(zhí)行器118保持為在聚焦方向和尋軌方向上可移動(dòng)。從第二激光二極管119發(fā)射的伺服激光束經(jīng)由準(zhǔn)直透鏡120、通過(guò)分光器121并且入射在上述分色鏡116上。伺服激光束從物鏡117反射并且如上在物鏡117上，以使得伺服激光束的光軸與通過(guò)了分色鏡116的記錄激光束的光軸一致。當(dāng)雙軸執(zhí)行器118在下述伺服電路125的聚焦伺服控制下被驅(qū)動(dòng)時(shí)，入射在物鏡 117上的伺服激光束被聚焦在體記錄介質(zhì)100的選擇反射膜103(參考面Ref)上。同時(shí)，當(dāng)雙軸執(zhí)行器118在伺服電路125的尋軌伺服控制下被驅(qū)動(dòng)時(shí)，伺服激光束在尋軌方向上的位置被配置為跟蹤在選擇反射膜103中形成的導(dǎo)溝。來(lái)自選擇反射膜103的伺服激光束的反射光經(jīng)由物鏡117、從分色鏡116反射，并且然后從分光器121反射。來(lái)自分光器121的伺服激光束的反射光經(jīng)由聚光透鏡122匯聚到光檢測(cè)器123的檢測(cè)表面。矩陣電路IM基于由光檢測(cè)器123所接收的光學(xué)信號(hào)分別生成聚焦和尋軌的誤差信號(hào)，并且將每個(gè)誤差信號(hào)供給到伺服電路125。伺服電路125根據(jù)各個(gè)誤差信號(hào)生成聚焦伺服信號(hào)和尋軌伺服信號(hào)。當(dāng)基于聚焦伺服信號(hào)和尋軌伺服信號(hào)驅(qū)動(dòng)上述雙軸執(zhí)行器118時(shí)，通過(guò)物鏡117實(shí)現(xiàn)聚焦伺服控制和尋軌伺服控制。這里，當(dāng)在預(yù)先設(shè)置在體記錄介質(zhì)100中的信息記錄層位置L當(dāng)中需要的信息記錄層位置L處記錄標(biāo)記時(shí)，控制透鏡驅(qū)動(dòng)單元115的驅(qū)動(dòng)以根據(jù)與所選的信息記錄層位置 L對(duì)應(yīng)的偏移量來(lái)改變記錄激光束的聚焦位置。具體而言，通過(guò)，例如，執(zhí)行整個(gè)記錄設(shè)備的控制的控制器1 來(lái)執(zhí)行信息記錄位置的設(shè)置控制。即，當(dāng)控制器1 基于與目標(biāo)信息記錄層位置Lx對(duì)應(yīng)的、預(yù)先設(shè)置的偏移量of-Lx來(lái)控制透鏡驅(qū)動(dòng)單元115的驅(qū)動(dòng)時(shí)，記錄激光束的信息記錄位置(聚焦位置)與目標(biāo)信息記錄層位置Lx相匹配。如上所述，通過(guò)由伺服電路125基于伺服激光的反射光執(zhí)行對(duì)物鏡117的尋軌伺服控制，來(lái)自動(dòng)地執(zhí)行在記錄期間的記錄激光束的尋軌伺服。具體而言，控制記錄激光束在
6尋軌方向上的點(diǎn)位置，以使其位于形成在參考面Ref上的導(dǎo)溝的正下方。當(dāng)再現(xiàn)經(jīng)過(guò)了標(biāo)記記錄的體記錄介質(zhì)100時(shí)，不需要像在記錄期間一樣，基于來(lái)自參考面Ref的伺服激光束的反射光來(lái)控制物鏡117的位置。即，在再現(xiàn)期間，能夠通過(guò)對(duì)形成在要被再現(xiàn)的信息記錄層位置L處的標(biāo)記列照射再現(xiàn)激光束、基于再現(xiàn)激光束的反射光，來(lái)執(zhí)行物鏡117的聚焦伺服控制和尋軌伺服控制。在體記錄方法中，如上所述，利用用作標(biāo)記記錄光的記錄激光束和用作位置控制光的伺服激光束(被合成在同一光軸上)經(jīng)由共用物鏡117對(duì)體記錄介質(zhì)100進(jìn)行照射。 此外，即使當(dāng)體層102中沒(méi)有形成導(dǎo)溝或具有導(dǎo)溝的反射表面時(shí)，也能夠通過(guò)基于伺服激光束的反射光執(zhí)行物鏡117的聚焦伺服控制和尋軌伺服控制，來(lái)執(zhí)行記錄激光束的聚焦伺服和尋軌伺服。當(dāng)采用上述伺服控制方法時(shí)，存在如下問(wèn)題，即，由于體記錄介質(zhì)100的偏心或光學(xué)讀取器的滑動(dòng)機(jī)構(gòu)等的反沖所造成的物鏡117的鏡頭移位，信息記錄位置在尋軌方向上發(fā)生偏差。這里，由滑動(dòng)機(jī)構(gòu)的反沖造成的鏡頭移位意味著，隨著在滑動(dòng)伺服控制期間光學(xué)讀取器的位置由于滑動(dòng)機(jī)構(gòu)的機(jī)械反沖突然(瞬間地)移動(dòng)，經(jīng)受尋軌伺服控制的物鏡117 的位置發(fā)生偏移以吸收位置的位移。圖29々至^C是用于說(shuō)明由于上述鏡頭移位導(dǎo)致信息記錄位置的偏差的原理的示圖。圖29A示出了體記錄介質(zhì)100沒(méi)有偏心或沒(méi)有發(fā)生滑動(dòng)機(jī)構(gòu)的反沖并且沒(méi)有發(fā)生物鏡 117的鏡頭移位的理想狀態(tài)。圖29B示出了發(fā)生朝向圖的左側(cè)(稱為外周方向)的鏡頭移位(稱為+方向偏心)的情況。圖29C示出了發(fā)生朝向圖的右側(cè)(稱為內(nèi)周方向)的鏡頭移位(稱為-方向偏心)的情況。圖中的中心軸C是在光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中設(shè)置的中心軸。在圖29A所示的理想狀態(tài)下，物鏡117的中心與中心軸C 一致。當(dāng)在+方向上發(fā)生鏡頭移位時(shí)，如圖29B所示，物鏡117的中心相對(duì)于光學(xué)系統(tǒng)的中心軸C在+方向上發(fā)生移位。此時(shí)，由于伺服激光束(圖中有圖案的光線)以平行光的方式入射在物鏡117上， 因此盡管物鏡117相對(duì)于中心軸發(fā)生了移位，但焦點(diǎn)位置的位置未發(fā)生變化。另一方面，由于記錄激光束(圖中的白色光)在參考面Ref的下方、體層102中的需要的信息記錄層位置L處聚焦，如上所述，因此記錄激光束以非平行光的方式入射在物鏡117上。因此，記錄激光束在+方向上相對(duì)于物鏡117發(fā)生移位，并且如圖所示，記錄激光束的焦點(diǎn)位置(信息記錄位置)以對(duì)應(yīng)于+方向上的鏡頭移位量(在圖中，以偏差量+d)的距離發(fā)生變化。如圖29C所示，當(dāng)在-方向上發(fā)生鏡頭移位時(shí)，記錄激光束的信息記錄位置以對(duì)應(yīng)于-方向上的鏡頭移位量(在圖中，以偏差量-d)的距離發(fā)生變化。在參考圖觀的上述體記錄設(shè)備的配置中，即，在這樣的配置中，其中以經(jīng)由共用物鏡117發(fā)射記錄激光束和伺服激光束、以使得伺服激光束在體記錄介質(zhì)100的參考面Ref 上聚焦的方式來(lái)執(zhí)行物鏡117的聚焦伺服控制，其中通過(guò)改變?nèi)肷湓谖镧R117上的記錄激光束準(zhǔn)直狀態(tài)來(lái)調(diào)整記錄激光束的焦點(diǎn)位置(信息記錄位置)，并且其中執(zhí)行物鏡117的尋軌伺服控制以使得伺服激光束的焦點(diǎn)位置跟蹤在參考面Ref上形成的導(dǎo)溝，發(fā)生如下問(wèn)題，即，體記錄介質(zhì)100的信息記錄位置由于光盤的偏心或滑動(dòng)機(jī)構(gòu)的反沖在尋軌方向上發(fā)生偏差。此時(shí)，根據(jù)偏心等的大小或軌道間距(導(dǎo)溝的形成間隔)，在相鄰的導(dǎo)溝之間信息記錄位置可能重疊。那么，不能適當(dāng)?shù)卦佻F(xiàn)記錄信號(hào)。如上所示，信息記錄位置的偏差的主要起因是物鏡117的鏡頭移位。然而，信息記錄位置的偏差類似地由光盤傾斜造成。作為解決信息記錄位置的偏差的一個(gè)對(duì)策，可以采用使軌道間距大于信息記錄位置的變化的方法。然而，這種方法存在由于鏡頭移位等的最大量不確定而很難確定軌道間距的尺寸的問(wèn)題。最重要的是，存在由于軌道間距的放大記錄容量可能減小的問(wèn)題。作為解決信息記錄位置的偏差的另一對(duì)策，可以采用使光盤在系統(tǒng)中不可拆卸的方法。這里，例如，光盤的內(nèi)徑與主軸電機(jī)的夾具直徑之間的誤差是偏心的原因。由于在工藝期間很難完全消除兩者之間的誤差，因此偏心不可避免。此外，即使當(dāng)能夠完全消除兩者之間的誤差時(shí)，在光盤的參考面上的記錄信號(hào)的中心也可能與記錄設(shè)備的主軸中心不一致。因此，在這種情況下也發(fā)生偏心。因此，在光盤不可拆卸的系統(tǒng)中，由于偏心的影響彼此相同，因此可以避免記錄位置相互重疊的問(wèn)題。因此，由于軌道間距可以緊縮，能夠以相應(yīng)的量增大記錄容量。然而，當(dāng)然，在這種方法中光盤不可替換。因此，例如當(dāng)光盤發(fā)生故障時(shí)，光盤不可替換。此外，由記錄設(shè)備所記錄的數(shù)據(jù)不能通過(guò)其他的記錄設(shè)備讀取。因此，損害了便利性。作為解決上述問(wèn)題的有效方法，可以考慮所謂的ATS(相鄰軌道伺服)方法。ATS 最初在硬盤驅(qū)動(dòng)中作為自伺服軌道編寫器(SSTW)被研究。圖30圖示了 ATS的示圖。在ATS中，如圖所示，在記錄介質(zhì)上形成記錄點(diǎn)Srec和相鄰軌道伺服點(diǎn)Mts。記錄點(diǎn)Srec和相鄰軌道伺服點(diǎn)Mts通過(guò)利用繪制圓圈的光經(jīng)由共用物鏡照射記錄介質(zhì)而形成。此時(shí)，這些點(diǎn)之間的距離配置成固定的。在ATS中，當(dāng)記錄點(diǎn)Srec用作先行點(diǎn)(即，當(dāng)記錄的行進(jìn)方向上從內(nèi)周到外周時(shí)的外周側(cè))并且相鄰軌道伺服點(diǎn)&its用作后行點(diǎn)時(shí)，對(duì)通過(guò)用作先行點(diǎn)的記錄點(diǎn)Srec形成的標(biāo)記列進(jìn)行尋軌控制。最終，執(zhí)行物鏡的尋軌伺服控制，以使得相鄰軌道伺服點(diǎn)&its 跟蹤記錄點(diǎn)Srec在其中形成的前一軌道。根據(jù)ATS，由于軌道間距隨著點(diǎn)S之間的距離而保持恒定，因此不會(huì)出現(xiàn)由偏心等的影響造成的軌道相互重疊(信息記錄位置相互重疊)的問(wèn)題。即，不需要如上所述考慮到由偏心等造成的信息記錄位置的偏差而額外地增大軌道間距或?qū)⒐獗P配置成在系統(tǒng)中不可拆卸。

發(fā)明內(nèi)容
然而，在ATS中，當(dāng)利用根據(jù)相關(guān)技術(shù)的相鄰軌道伺服點(diǎn)Mts執(zhí)行來(lái)施行尋軌伺服方法時(shí)，已經(jīng)證明尋軌誤差組分隨著旋轉(zhuǎn)的重復(fù)而逐漸增大并且可能發(fā)散。下面將描述這一點(diǎn)。圖31是利用傳遞函數(shù)塊圖示了 ATS控制系統(tǒng)的示圖。
在圖31中，K(Z)所指的傳遞函數(shù)塊指示作為尋軌伺服系統(tǒng)的控制器的伺服計(jì)算器(伺服濾波器)的離散傳遞函數(shù)。P(ζ)所指的傳遞函數(shù)塊指示驅(qū)動(dòng)物鏡的執(zhí)行器的離散傳遞函數(shù)。在圖中，r表示控制目標(biāo)位置并且e表示尋軌誤差信號(hào)。此外，u表示控制器的輸出(對(duì)應(yīng)于尋軌驅(qū)動(dòng)信號(hào))并且ys表示相鄰軌道伺服點(diǎn)Mts的位置。此外，dr_a是記錄點(diǎn)Srec和相鄰軌道伺服點(diǎn)Mts之間的距離。如圖所示，相鄰軌道伺服點(diǎn)Mts的位置ls與目標(biāo)位置r之間的差是誤差信號(hào)e。 與在一般的尋軌伺服控制系統(tǒng)中一樣，在該伺服系統(tǒng)中操作控制系統(tǒng)(K(z))以消除誤差信號(hào)e。從參考圖30的上述說(shuō)明中可以明白，在ATS中，在記錄前一軌道時(shí)的記錄點(diǎn)Srec 的位置是記錄當(dāng)前要被記錄的軌道時(shí)的目標(biāo)位置r。在圖31中的前提下，利用與一個(gè)光盤圈的旋轉(zhuǎn)時(shí)間對(duì)應(yīng)的時(shí)間延遲組分z_k和距離來(lái)表示目標(biāo)位置r。具體而言，目標(biāo)位置由記錄點(diǎn)Srec的位置L通過(guò)上述時(shí)間延遲組分來(lái)表示，其中記錄點(diǎn)Srec的位置通過(guò)將距離cU加到相鄰軌道伺服點(diǎn)的位置ys來(lái)表示。換句話說(shuō)，僅一個(gè)光盤圈的時(shí)間之間的記錄點(diǎn)Srec的位置是目標(biāo)位置r。在圖31所示的控制系統(tǒng)中從目標(biāo)位置r到位置ys的傳輸特性通常是圖32A和32B 所示的特性。圖32A是圖示了幅頻特性的示圖，并且圖32B是圖示了相頻特性的示圖。從圖32A 和32B可以明白，對(duì)于從目標(biāo)位置r到位置ys的傳輸特性(即，ATS控制系統(tǒng)的傳輸特性)， 在伺服帶寬附近的帶寬中傳輸特性增益大于OdB。此外，對(duì)于相位，在伺服帶寬附近有發(fā)生延遲的傾向。從增益在伺服帶寬附近大于OdB的特性可以明白，伺服帶寬的組分光盤每轉(zhuǎn)一圈均增大。結(jié)果，如圖33所示，相鄰軌道伺服點(diǎn)Mts的位置ls隨時(shí)間而發(fā)散?？紤]到該事實(shí)，在根據(jù)相關(guān)技術(shù)的ATS中很難穩(wěn)定地執(zhí)行尋軌伺服控制。期望提供一種具有如下配置的記錄設(shè)備。即，該記錄設(shè)備包括光發(fā)射/接收單元，其經(jīng)由共用物鏡向光盤記錄介質(zhì)發(fā)射記錄光、ATS光和位置控制光，其中光盤記錄介質(zhì)具有帶有位置導(dǎo)引體的參考面以及在與參考面的深度不同的深度處形成的記錄層，記錄光用于在記錄層中執(zhí)行標(biāo)記記錄，ATS光用于相鄰軌道伺服，位置控制光用于基于形成在參考面中的位置導(dǎo)引體來(lái)執(zhí)行位置控制，并且光發(fā)射/接收單元單獨(dú)地接收來(lái)自記錄層的ATS光的反射光和來(lái)自參考面的位置控制光的反射光。所述記錄設(shè)備還包括尋軌機(jī)構(gòu)，其在與光盤記錄介質(zhì)的半徑方向平行的尋軌方向上驅(qū)動(dòng)物鏡。所述記錄設(shè)備還包括參考面端尋軌誤差信號(hào)生成單元，其基于由光發(fā)射/接收單元所獲得的針對(duì)位置控制光的光接收信號(hào)來(lái)生成參考面端尋軌誤差信號(hào)，參考面端尋軌誤差信號(hào)指示位置控制光的照射點(diǎn)位置相對(duì)于形成在參考面上的位置導(dǎo)引體的誤差。所述記錄設(shè)備還包括參考面端尋軌伺服信號(hào)生成單元，其通過(guò)對(duì)參考面端尋軌誤差信號(hào)進(jìn)行用于尋軌伺服的濾波處理、來(lái)生成參考面端尋軌伺服信號(hào)以消除由參考面端尋軌誤差信號(hào)所指示的尋軌誤差。
所述記錄設(shè)備還包括尋軌驅(qū)動(dòng)單元，其基于參考面端尋軌伺服信號(hào)驅(qū)動(dòng)尋軌機(jī)構(gòu)。所述記錄設(shè)備還包括ATS端尋軌誤差信號(hào)生成單元，其基于由光發(fā)射/接收單元所獲得的針對(duì)ATS光的光接收信號(hào)生成ATS端尋軌誤差信號(hào)，ATS端尋軌誤差信號(hào)指示ATS 光的照射點(diǎn)位置相對(duì)于記錄在記錄層中的標(biāo)記列的誤差。 所述記錄設(shè)備還包括ATS控制信號(hào)生成單元，其通過(guò)對(duì)ATS端尋軌誤差信號(hào)執(zhí)行用于尋軌伺服的濾波處理、來(lái)生成ATS控制信號(hào)以消除由ATS端尋軌誤差信號(hào)所指示的尋軌誤差。所述記錄設(shè)備還包括信號(hào)提供單元，其將ATS控制信號(hào)提供到包括參考面端尋軌伺服信號(hào)生成單元的尋軌伺服環(huán)。根據(jù)本公開的實(shí)施例，參考面端尋軌伺服控制系統(tǒng)配置成包括參考面端尋軌誤差信號(hào)生成單元、參考面端尋軌伺服信號(hào)生成單元以及尋軌驅(qū)動(dòng)單元，并且配置成基于參考面的位置導(dǎo)引體來(lái)執(zhí)行尋軌伺服控制。換句話說(shuō)，形成尋軌伺服環(huán)以基于參考面的位置導(dǎo)引體來(lái)執(zhí)行尋軌伺服控制。根據(jù)本公開的實(shí)施例，對(duì)于ATS(相鄰軌道伺服)，作為為了獲得用于對(duì)提前一圈的標(biāo)記列進(jìn)行尋軌伺服的配置，還提供了 ATS端尋軌誤差信號(hào)生成單元和ATS控制信號(hào)生成單元，其中ATS控制信號(hào)根據(jù)由ATS端尋軌誤差信號(hào)生成單元生成的ATS端尋軌誤差信號(hào)生成用于ATS的控制信號(hào)(ATS控制信號(hào))。根據(jù)本公開的示例，信號(hào)提供單元將ATS信號(hào)提供到尋軌伺服環(huán)，在尋軌伺服環(huán)中，基于參考面的位置導(dǎo)引體來(lái)執(zhí)行尋軌伺服控制。即，ATS控制系統(tǒng)的輸出被設(shè)置為參考面端尋軌伺服控制系統(tǒng)的目標(biāo)值。換句話說(shuō)，參考面端尋軌伺服環(huán)被設(shè)置為子環(huán)，并且ATS 控制系統(tǒng)的輸出被作為目標(biāo)值輸入到子環(huán)。以這樣的配置，可以防止在根據(jù)相關(guān)技術(shù)的單個(gè)ATS控制系統(tǒng)中的傳輸特性增益的峰值的出現(xiàn)。因此，可以使尋軌伺服環(huán)的傳輸特性增益在整個(gè)頻帶上不超過(guò)OdB。根據(jù)本公開的實(shí)施例，可以改善在根據(jù)相關(guān)技術(shù)的單個(gè)ATS中在伺服帶寬的附近傳輸特性增益大于OdB的特性。結(jié)果，可以防止尋軌誤差信號(hào)隨時(shí)間增大并且發(fā)散的問(wèn)題。因此，與根據(jù)相關(guān)技術(shù)的ATS的情況相比，可以穩(wěn)定地實(shí)現(xiàn)記錄標(biāo)記列不重疊或交叉的尋軌伺服控制。


圖1是圖示了根據(jù)本實(shí)施例將被記錄的光盤的截面配置的示圖；圖2是主要圖示了根據(jù)實(shí)施例的記錄設(shè)備的光學(xué)系統(tǒng)的配置的示圖；圖3是圖示了根據(jù)實(shí)施例的記錄設(shè)備的整體內(nèi)部配置的示圖；圖4A和圖4B是圖示了根據(jù)實(shí)施例的尋軌伺服控制系統(tǒng)的輸出特性的示圖；圖5是圖示了根據(jù)實(shí)施例的體記錄介質(zhì)的參考面的表面的局部放大示圖；圖6是圖示了在整個(gè)參考面上形成凹坑的方法的示圖；圖7A至7C是圖示了地址信息的格式的示圖；圖8是示意性地圖示了隨著體記錄介質(zhì)被旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)在參考面上的伺服激光束的點(diǎn)的移動(dòng)，以及此時(shí)獲得的sum信號(hào)、sum微分信號(hào)和PP (推挽式)信號(hào)的波形之間的關(guān)系的示圖；圖9是圖示了檢測(cè)峰值位置的具體方法的示圖；圖10是示意性地圖示了根據(jù)指示峰值時(shí)序的時(shí)序信號(hào)所生成的時(shí)鐘、基于時(shí)鐘所生成的各選擇器信號(hào)的波形以及在參考面Ref上形成的各個(gè)凹坑列(各凹坑列的部分) 之間的關(guān)系的示圖；圖IlA和IlB是圖示了鏡頭移位或傾斜情況下的反射光的光接收點(diǎn)位置偏差的示圖；圖12是圖示了生成各個(gè)尋軌誤差信號(hào)的方法的示圖；圖13是圖示了當(dāng)點(diǎn)位置在半徑方向上移位時(shí)獲得的各尋軌誤差信號(hào)的波形的示圖；圖14是圖示了線性尋軌誤差信號(hào)的生成圖像的示圖；圖15是圖示了生成線性尋軌誤差信號(hào)的具體方法的示圖；圖16是主要圖示了根據(jù)實(shí)施例的記錄設(shè)備的信號(hào)生成單元(參考面端尋軌誤差信號(hào)生成單元)的內(nèi)部配置的示圖；圖17是圖示了時(shí)鐘生成電路的內(nèi)部配置的示圖；圖18是圖示了根據(jù)實(shí)施例的記錄設(shè)備的各相位誤差信號(hào)生成電路的內(nèi)部配置的示圖；圖19是圖示了當(dāng)點(diǎn)位置在半徑方向上移動(dòng)時(shí)獲得的各尋軌誤差信號(hào)的波形的示圖；圖20A和20B是圖示了激光束的照射點(diǎn)跟蹤預(yù)定凹坑列的狀態(tài)的示圖；圖21是圖示了在根據(jù)修改示例的生成線性尋軌誤差信號(hào)的方法中生成的各尋軌誤差信號(hào)的波形的示圖；圖22是圖示了根據(jù)修改示例的生成線性尋軌誤差信號(hào)的方法的示圖；圖23是圖示了根據(jù)修改示例的光學(xué)記錄介質(zhì)的截面配置的示圖；圖M是圖示了根據(jù)修改示例的參考面的配置的示圖；圖25是圖示了體記錄方法的示圖；圖沈是圖示了具有參考面的實(shí)際體記錄介質(zhì)的截面配置的示例的示圖；圖27是圖示了在體記錄介質(zhì)中記錄標(biāo)記的過(guò)程的示圖；圖觀是圖示了根據(jù)相關(guān)技術(shù)的在體記錄介質(zhì)上執(zhí)行記錄的記錄設(shè)備的內(nèi)部配置的示圖；圖29々至^C是用于說(shuō)明由于鏡頭移位在尋軌方向上發(fā)生信息記錄位置的位置偏差的原理的示圖；圖30是圖示了 ATS的示圖；圖31是圖示了根據(jù)相關(guān)技術(shù)利用傳輸函數(shù)塊的ATS控制系統(tǒng)的示圖；圖32A和32B是圖示了根據(jù)相關(guān)技術(shù)的ATS控制示圖的傳輸特性的示圖；以及圖33是圖示了根據(jù)相關(guān)技術(shù)的在ATS控制系統(tǒng)中隨時(shí)間的輸出特性的示圖。
具體實(shí)施例方式下面，將描述實(shí)施本公開的方式(下文中稱為實(shí)施例)。
將以如下順序描述實(shí)施例。1.根據(jù)實(shí)施例的伺服控制方法的概述1-1要被記錄的光盤記錄介質(zhì)的示例1-2根據(jù)實(shí)施例的記錄設(shè)備的內(nèi)部配置1-3伺服控制方法2.大于等于1/2的軌道寬度的點(diǎn)位置偏差的對(duì)策2-1點(diǎn)位置偏差的問(wèn)題2-2參考面的配置2-3地址信息2-4選擇伺服目標(biāo)凹坑列的方法2-5對(duì)推挽式信號(hào)進(jìn)行采樣的方法的問(wèn)題和對(duì)策2-6生成線性尋軌誤差信號(hào)的方法2-7信號(hào)生成單元的具體配置的示例3.修改示例1.根據(jù)實(shí)施例的伺服控制方法的概述1-1將被記錄的光盤記錄介質(zhì)的示例圖1是圖示了根據(jù)本實(shí)施例通過(guò)記錄設(shè)備將被記錄的光盤記錄介質(zhì)的截面配置的示圖。下文中，根據(jù)本實(shí)施例將被記錄的光盤記錄介質(zhì)假設(shè)為體記錄型光盤記錄介質(zhì)， 并且稱為體記錄介質(zhì)1。在體記錄介質(zhì)1由記錄設(shè)備旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的狀態(tài)下，作為光盤記錄介質(zhì)的體記錄介質(zhì) 1被激光束照射以執(zhí)行標(biāo)記記錄(信息記錄)。光盤記錄介質(zhì)是用于通過(guò)光的照射來(lái)記錄(或再現(xiàn))信息的盤狀記錄媒體的總稱。如圖1所示，體記錄介質(zhì)1從上層側(cè)依次包括覆層2、選擇反射膜3、中間層4和體層5。在說(shuō)明書中，“上層側(cè)”意指假設(shè)當(dāng)來(lái)自根據(jù)本實(shí)施例的下述記錄設(shè)備(記錄設(shè)備 10)的激光束入射的表面是上表面的情況下的上層側(cè)。在本說(shuō)明書中，使用了“深度方向”。該“深度方向”意指根據(jù)“上層側(cè)”的定義、與向上和向下方向(垂直方向)相同的方向(即，與在記錄設(shè)備側(cè)的激光束的入射方向平行的方向聚焦方向)。在體記錄介質(zhì)1中，覆層2由諸如聚碳酸酯或丙烯酸樹脂之類的樹脂制成。并且如圖所示，在覆層2的下表面上形成用于導(dǎo)引記錄位置的位置導(dǎo)引體。在這種情況下，由連續(xù)槽或凹坑列形成的導(dǎo)溝形成為位置導(dǎo)引體，并且具有凹凸剖面形狀。在本示例中，用作位置導(dǎo)引體的導(dǎo)溝假設(shè)為以螺旋形狀形成。覆層2利用形成有上述導(dǎo)溝的模具(凹凸形狀)、通過(guò)注模成型來(lái)形成。在形成有導(dǎo)溝的覆層2的下表面上形成選擇反射層3。如上所述，在體記錄方法中，不僅用于記錄標(biāo)記的記錄光(記錄激光束)而且用于基于導(dǎo)溝獲取尋軌或聚焦的誤差信號(hào)的伺服光(也稱為位置控制光或伺服激光束)也照射用作記錄層的體層5。在這種情況下，當(dāng)伺服光到達(dá)體層5時(shí)，有一種擔(dān)心是伺服光可能對(duì)體層5的內(nèi)部生成不利影響。為此，需要形成具有反射伺服光和透射記錄光的選擇性能的反射膜。根據(jù)相關(guān)技術(shù)的體記錄方法使用彼此波長(zhǎng)范圍不同的記錄光和伺服光。為了與使用不同波長(zhǎng)范圍的光相對(duì)應(yīng)，使用反射與伺服光波長(zhǎng)范圍相同的光并且透射其他波長(zhǎng)范圍的光的選擇反射膜用作選擇反射膜3。用作記錄層的體層5形成在(粘貼到)選擇反射層3的下層側(cè)，諸如UV固化樹脂之類的粘合材料制成的中間層4夾在選擇反射層3和體層5之間。根據(jù)上述諸如主動(dòng)型微全息方法、被動(dòng)型微全息方法或空位記錄方法之類的體記錄方法使用例如最佳材料作為體層5的材料(記錄材料)。在根據(jù)本公開的實(shí)施例的光盤記錄介質(zhì)中記錄標(biāo)記的方法不具體地限制。在體記錄方法的范圍內(nèi)可以使用任何方法。在下文中，作為示例將根據(jù)空位記錄方法繼續(xù)描述。在以上述配置的體記錄介質(zhì)1中，如下所述，具有與上述導(dǎo)溝的構(gòu)造對(duì)應(yīng)的界面形狀的選擇反射層3這樣的反射面，其用作在基于伺服激光束的記錄激光束的位置控制中的參考。因此，形成選擇反射層3的表面下文稱為參考面Ref。如上所述參考圖27，預(yù)先設(shè)定將要經(jīng)受信息記錄的各個(gè)層位置(信息記錄層位置L)，以在體光學(xué)記錄介質(zhì)的體型記錄層中執(zhí)行多層記錄。在上述參考圖27的情況下， 在體記錄介質(zhì)1的信息記錄層位置L中，設(shè)定了第一信息記錄層位置Li、第二信息記錄層位置L2、第三信息記錄層位置L3、第四信息記錄層位置L4和第五信息記錄層位置L5，從而在深度方向上分別以第一偏移量of-Ll、第二偏移量of-L2、第三偏移量of_L3、第四偏移量 of-L4和第五偏移量of-L5遠(yuǎn)離參考面Ref。在記錄設(shè)備中預(yù)先設(shè)定與各個(gè)記錄層位置L遠(yuǎn)離參考面Ref的偏移量of_L有關(guān)的信息。信息記錄層位置L的數(shù)目不限于5。1-2根據(jù)實(shí)施例的記錄設(shè)備的內(nèi)部配置圖2是主要圖示了根據(jù)本實(shí)施例在圖1所示的體記錄介質(zhì)1上執(zhí)行記錄的記錄設(shè)備的光學(xué)系統(tǒng)的配置的示圖。具體而言，主要圖示了包括在記錄設(shè)備中的光學(xué)讀取器OP的內(nèi)部配置。在圖2中，裝在記錄設(shè)備中的體記錄介質(zhì)1設(shè)定為使其中心孔箍緊在記錄設(shè)備中的預(yù)定位置處。體記錄介質(zhì)1被保持在通過(guò)主軸電機(jī)(未示出)使其旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的狀態(tài)下。安裝光學(xué)讀取器OP以朝向由主軸電機(jī)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的體記錄介質(zhì)1發(fā)射記錄激光束、 伺服激光束和ATS光，其中ATS光用于形成相鄰軌道伺服點(diǎn)Sats (參見(jiàn)圖30)。從下面的描述中可以看出，在這種情況下，ATS光用作再現(xiàn)光，其用于在再現(xiàn)期間再現(xiàn)通過(guò)標(biāo)記所記錄的信號(hào)。光學(xué)讀取器OP包括記錄激光Ilr和伺服激光M，其中記錄激光Ilr用作通過(guò)標(biāo)記進(jìn)行信號(hào)記錄的激光束的光源，并且伺服激光M用作伺服激光束的光源，其中伺服激光束是利用形成在參考面Ref上的位置導(dǎo)引體的進(jìn)行位置控制的光。光學(xué)讀取器OP還包括ATS再現(xiàn)激光llap，其用作在記錄期間發(fā)射ATS光并且在再現(xiàn)期間發(fā)射用于讀取記錄信號(hào)的激光束的光源。這里，如上所述，記錄激光束和伺服激光束使用具有不同波長(zhǎng)范圍的光。在這種情況下，假設(shè)記錄激光束的波長(zhǎng)是大約405nm(所謂的藍(lán)紫色激光束)并且伺服激光束的波長(zhǎng)是大約650nm(所謂的紅色激光束)。需要使來(lái)自作為光源的ATS再現(xiàn)激光llap、用作ATS光或用于讀取信號(hào)的再現(xiàn)光的激光(下文簡(jiǎn)稱為ATS光)透過(guò)選擇反射層3并且到達(dá)體層5的內(nèi)部。此外，由于記錄和再現(xiàn)的波長(zhǎng)彼此相同，因此ATS光的波長(zhǎng)與記錄激光束的波長(zhǎng)相同。光學(xué)讀取器OP包括物鏡20，其用作記錄激光束、伺服激光束和ATS光到體記錄介質(zhì)1的共同輸出端。光學(xué)讀取器OP還包括第一光接收單元23和第二光接收單元四，其中第一光接收單元23接收來(lái)自體記錄介質(zhì)1的、ATS光的反射光，并且第二光接收單元四接收來(lái)自體記錄介質(zhì)1的、伺服激光束的反射光。光學(xué)讀取器OP包括如下光學(xué)系統(tǒng)，其朝向物鏡20引導(dǎo)從記錄激光Ilr發(fā)出的記錄激光束和從ATS再現(xiàn)激光Ilap發(fā)出的ATS光，并且朝向第一光接收單元23引導(dǎo)從體記錄介質(zhì)1入射到物鏡20上的、ATS光的反射光。具體而言，從記錄激光Ilr發(fā)出的記錄激光束和從ATS再現(xiàn)激光Ilap發(fā)出的ATS 光兩者均經(jīng)由準(zhǔn)直透鏡12變?yōu)槠叫泄馐?，并且然后入射在偏振分光?3上。偏振分光器 13布置成透射從光源入射的記錄激光束和ATS光。透過(guò)偏振分光器13的記錄激光束和ATS光入射在擴(kuò)展器上，其中該擴(kuò)展器包括固定透鏡14、可移動(dòng)透鏡15和透鏡驅(qū)動(dòng)單元16。在該擴(kuò)展器中，固定透鏡14布置在更靠近光源側(cè)上并且可移動(dòng)透鏡15布置在遠(yuǎn)離光源側(cè)上。透鏡驅(qū)動(dòng)單元16通過(guò)在與入射光的光軸平行的方向上驅(qū)動(dòng)可移動(dòng)透鏡15、來(lái)對(duì)記錄激光束和ATS光進(jìn)行獨(dú)立的聚焦控制。該擴(kuò)展器對(duì)應(yīng)于上述記錄光聚焦機(jī)構(gòu)。如下所述，在記錄光聚焦機(jī)構(gòu)中的透鏡驅(qū)動(dòng)單元16由圖3所示的控制器44、根據(jù)與將被記錄的信息記錄層位置L相應(yīng)地設(shè)定的偏移量of-L來(lái)驅(qū)動(dòng)。如圖所示，通過(guò)記錄光聚焦機(jī)構(gòu)的固定透鏡14和可移動(dòng)透鏡15的各激光束均從鏡17反射，然后經(jīng)由1/4波長(zhǎng)板18入射在分色棱鏡19上。分色棱鏡19的選擇反射表面配置成，反射與記錄激光束和ATS激光束的波長(zhǎng)范圍相同的光，并且透射其他波長(zhǎng)的光。因此，以這種方式如上的各激光束被分色棱鏡19反射。如圖所示，體記錄介質(zhì)1被從分色棱鏡19反射的經(jīng)由物鏡20的各激光束照射。當(dāng)體記錄介質(zhì)1被經(jīng)由物鏡20的記錄激光束和ATS光照射時(shí)，在體層5中的將被記錄的信息記錄層位置L處形成上述參考圖30的記錄點(diǎn)Srec和相鄰軌道伺服點(diǎn)Mts。在這種情況下，光學(xué)系統(tǒng)被設(shè)計(jì)為，使得記錄點(diǎn)Srec和相鄰軌道伺服點(diǎn)Mts之間的位置關(guān)系固定為預(yù)設(shè)的位置關(guān)系。在本示例中，假設(shè)記錄點(diǎn)Srec和相鄰軌道伺服點(diǎn)Mts在半徑方向上的分隔距離設(shè)定為與形成在參考面Ref中的軌道的間距(螺旋間距)一致。對(duì)物鏡20安裝雙軸執(zhí)行器21，其將物鏡20保持成在聚焦方向(相對(duì)于體記錄介質(zhì)1的靠近和遠(yuǎn)離的方向)和尋軌方向(與聚焦方向垂直的方向與體記錄介質(zhì)1的半徑方向平行的方向)上可移動(dòng)。由于雙軸執(zhí)行器21包括聚焦線圈和尋軌線圈，因此當(dāng)給出各個(gè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)(下述的驅(qū)動(dòng)信號(hào)FD和TD)時(shí)，雙軸執(zhí)行器21在聚焦方向和尋軌方向上移動(dòng)物鏡20。如上所述，在記錄或再現(xiàn)期間，可以通過(guò)用ATS光照射體記錄介質(zhì)1來(lái)獲得來(lái)自體層5中的標(biāo)記線的、ATS光的反射光。以這種方式獲得的ATS光的反射光經(jīng)由物鏡20被引導(dǎo)向分色棱鏡19，并且從分色棱鏡19反射。從分色棱鏡19反射的、ATS光的反射光經(jīng)由1/4波長(zhǎng)板18 —鏡17 —記錄光聚焦系統(tǒng)(可移動(dòng)透鏡15 —固定透鏡14)而入射在偏振分光器13上。由于1/4波長(zhǎng)板18的作用和體記錄介質(zhì)1在反射時(shí)的作用，入射在偏振分光器13 上的、ATS光的反射光(返回光)的偏振方向，與從ATS再現(xiàn)激光Ilap入射在偏振分光器 13上的光(前進(jìn)光)的偏振方向相比變化了 90度。結(jié)果，以這種方式入射的ATS光的反射光被偏振分光器13反射。從偏振分光器13反射的ATS光的反射光經(jīng)由聚光透鏡22聚集到第一光接收單元 23的光接收表面。這里，雖然沒(méi)有參考附圖進(jìn)行描述，但是第一光接收單元23包括多個(gè)光接收元件 (例如，四個(gè)光接收元件)。在下文中，從第一光接收單元23的多個(gè)光接收元件獲得的光接收信號(hào)總稱為光接收信號(hào)DT-ap。除了用于記錄激光束和ATS光的上述光學(xué)系統(tǒng)以外，光學(xué)讀取器OP還包括如下光學(xué)系統(tǒng)，其朝向物鏡20引導(dǎo)從伺服激光M發(fā)出的伺服激光束并且朝向第二光接收單元四引導(dǎo)入射在物鏡20上的來(lái)自體記錄介質(zhì)1的、伺服激光束的反射光。如圖所示，從伺服激光M發(fā)出的伺服激光束通過(guò)準(zhǔn)直透鏡25變?yōu)槠叫泄?，然后入射在偏振分光器沈上。偏振分光器沈配置成透射以這種方式從伺服激光M入射的伺服激光束(前進(jìn)光)。透過(guò)偏振分光器沈的伺服激光束經(jīng)由1/4波長(zhǎng)板27入射在分色棱鏡19上。如上所述，分色棱鏡19配置成反射與記錄激光束和ATS光的波長(zhǎng)范圍相同的光并且透射其他波長(zhǎng)的光。因此，伺服激光透過(guò)分色棱鏡19并且經(jīng)由物鏡20發(fā)射到體記錄介質(zhì)1上。通過(guò)利用伺服激光束照射體記錄介質(zhì)1獲得的、伺服激光束的反射光(來(lái)自參考面Ref的反射光)經(jīng)由物鏡20透過(guò)分色棱鏡19，并且經(jīng)由1/4波長(zhǎng)板27入射在偏振分光器洸上。與上述ATS光的情況一樣，由于1/4波長(zhǎng)板27的作用和反射時(shí)體記錄介質(zhì)1的作用，從體記錄介質(zhì)1入射的、伺服激光束的反射光(返回光)與前進(jìn)光相比偏振方向變化了 90度。結(jié)果，作為返回光的、伺服激光束的反射光被偏振分光器沈反射。被偏振分光器沈反射的、伺服激光束的反射光經(jīng)由聚光透鏡觀聚集到第二光接收單元四的光接收表面。第二光接收單元四還包括多個(gè)光接收元件(例如，四個(gè)光接收元件)。在下文中， 從第二光接收單元四的多個(gè)光接收元件獲得的光接收信號(hào)總稱為光接收信號(hào)DT-sv。雖然沒(méi)有參考附圖進(jìn)行描述，但是記錄設(shè)備實(shí)際上包括滑動(dòng)驅(qū)動(dòng)單元，該滑動(dòng)驅(qū)動(dòng)單元在尋軌方向上可滑動(dòng)地驅(qū)動(dòng)上述整個(gè)光學(xué)讀取器0P。因此，滑動(dòng)驅(qū)動(dòng)單元配置成使得，通過(guò)驅(qū)動(dòng)光學(xué)讀取器OP廣泛地移動(dòng)激光束的照射位置。圖3是圖示了根據(jù)本實(shí)施例的記錄設(shè)備的整體內(nèi)部配置的示圖。在圖3中，在光學(xué)讀取器OP的內(nèi)部配置中圖示了圖2所示的記錄激光1 Ir、透鏡驅(qū)動(dòng)單元16和雙軸執(zhí)行器21。在圖3中，在記錄設(shè)備中，安裝有記錄處理單元31、矩陣電路32、再現(xiàn)處理單元33、 再現(xiàn)伺服電路34和ATS端濾波器35，以作為用于記錄激光束和ATS光的信號(hào)處理系統(tǒng)。將要記錄在體記錄介質(zhì)1上的數(shù)據(jù)(記錄數(shù)據(jù))被輸入到記錄處理單元31。記錄處理單元31通過(guò)對(duì)輸入的記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行糾錯(cuò)碼加法、預(yù)定記錄調(diào)制編碼、地址信息加法等，獲得實(shí)際記錄在體記錄介質(zhì)1上的記錄調(diào)制數(shù)據(jù)列，該記錄調(diào)制數(shù)據(jù)列例如是“0”和 “ 1，，的二進(jìn)制數(shù)據(jù)列。利用基于記錄調(diào)制數(shù)據(jù)列所生成的記錄脈沖信號(hào)RCP來(lái)驅(qū)動(dòng)光學(xué)讀取器OP中的記錄激光Ilr發(fā)光。來(lái)自上述第一光接收單元23的光接收信號(hào)DT-ap被輸入到矩陣電路32。矩陣電路32基于光接收信號(hào)DT-ap生成矩陣計(jì)算處理所需要的各種信號(hào)。在本示例中，假設(shè)ATS光用作在體層5中利用標(biāo)記列所記錄的信號(hào)的再現(xiàn)期間 (用戶數(shù)據(jù)的再現(xiàn)期間)的再現(xiàn)激光束。此外，在再現(xiàn)期間，利用ATS光的反射光對(duì)先前記錄的標(biāo)記列執(zhí)行聚焦伺服控制和尋軌伺服控制。另一方面，矩陣電路32配置成基于光接收信號(hào)DT-ap生成與上述記錄調(diào)制數(shù)據(jù)列的再現(xiàn)信號(hào)對(duì)應(yīng)的高頻波信號(hào)(總信號(hào)下文稱為再現(xiàn)信號(hào)RF)，用于聚焦伺服控制的聚焦誤差信號(hào)FE-ap (即指示標(biāo)記列的聚焦誤差的信號(hào))，以及用于尋軌伺服控制的尋軌誤差信號(hào)TE-ap (即指示相鄰軌道伺服點(diǎn)&its相對(duì)于預(yù)先記錄的標(biāo)記列在半徑方向上的位置誤差的信號(hào))。由矩陣電路32生成的再現(xiàn)信號(hào)RF被供給到再現(xiàn)處理單元33。聚焦誤差信號(hào)FE-ap被供給到再現(xiàn)伺服電路34。尋軌誤差信號(hào)TE-ap被供給到再現(xiàn)伺服電路34和ATS端濾波器35，以在下述的記錄期間用于位置控制。再現(xiàn)處理單元33對(duì)再現(xiàn)信號(hào)RF進(jìn)行諸如二進(jìn)制化處理或針對(duì)記錄調(diào)制編碼的解碼糾錯(cuò)處理之類的再現(xiàn)處理以恢復(fù)上述記錄數(shù)據(jù)，并且得到通過(guò)記錄數(shù)據(jù)的再現(xiàn)而獲得的再現(xiàn)數(shù)據(jù)。再現(xiàn)處理單元33還檢測(cè)嵌入在利用標(biāo)記列所記錄的數(shù)據(jù)中的地址信息。雖然在附圖中沒(méi)有示出，但是所檢測(cè)到的地址信息被供給到控制器44。再現(xiàn)伺服電路34在來(lái)自控制器44的指示下基于聚焦誤差信號(hào)FE_ap和尋軌誤差信號(hào)TE-ap分別生成聚焦伺服信號(hào)FS-ap和尋軌伺服信號(hào)TS_ap。這里，聚焦伺服信號(hào) TS-ap是用于跟蹤(消除聚焦誤差)ATS光相對(duì)于將被記錄的信息記錄層位置(標(biāo)記形成層位置)L的聚焦位置的信號(hào)。尋軌伺服信號(hào)TS-ap是用于跟蹤(消除尋軌誤差)ATS光相對(duì)于標(biāo)記列的點(diǎn)位置。聚焦伺服信號(hào)FS-ap和尋軌伺服信號(hào)TS_ap在再現(xiàn)期間使用。如圖所示，聚焦伺服信號(hào)FS-ap被供給到選擇器40并且尋軌伺服信號(hào)TS_ap被供給到選擇器41。
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ATS端濾波器35在來(lái)自控制器44的指示下基于尋軌誤差信號(hào)TE_ap生成尋軌伺服信號(hào)TS-ats。具體而言，ATS端濾波器35對(duì)尋軌誤差信號(hào)TE_ap執(zhí)行諸如相位補(bǔ)償之類的用于尋軌伺服的濾波處理，以生成用于消除在尋軌誤差信號(hào)TE-ap中所示的尋軌誤差的尋軌伺服信號(hào)TS-ats。此時(shí)，ATS端濾波器35配置成在諸如全集成或初級(jí)LPF (低通濾波器)之類的ATS 環(huán)中不產(chǎn)生峰值。如圖所示，尋軌伺服信號(hào)TE-ats被供給到加法單元39。記錄設(shè)備還包括作為用于伺服激光束的反射光的信號(hào)處理系統(tǒng)的信號(hào)生成單元 36、參考面端伺服濾波器37和記錄聚焦伺服電路38。信號(hào)生成單元36基于來(lái)自圖2所示的第二光接收單元四的多個(gè)光接收元件的光接收信號(hào)DT-sv生成需要的信號(hào)。具體而言，信號(hào)生成單元36基于光接收信號(hào)DT-sv生成尋軌誤差信號(hào)TE_sv，其指示伺服激光束的照射點(diǎn)位置在半徑方向上相對(duì)于形成在參考面Ref上的位置導(dǎo)引體(軌道)的位置誤差。信號(hào)生成單元36生成聚焦誤差信號(hào)FE-sv，其作為在記錄期間的用于聚焦伺服控制的信號(hào)、指示伺服激光束相對(duì)于參考面Ref (選擇反射層3)的聚焦誤差。在本示例中，如從后面的描述中可明顯看出的，記錄設(shè)備具有用于檢測(cè)在參考面 Ref上所記錄的位置信息的配置(圖16中的選擇器信號(hào)選擇電路56和地址檢測(cè)電路57)。 在這樣的配置中，信號(hào)生成單元36還生成用于檢測(cè)上述位置信息的信號(hào)。在圖3中為了便于描述沒(méi)有圖示用于檢測(cè)參考面Ref的位置信息的配置。然而， 后面將再次進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。由信號(hào)生成單元36所生成的聚焦誤差信號(hào)FE-sv被供給到記錄聚焦伺服電路38。記錄聚焦伺服電路38在來(lái)自44的指示下基于聚焦誤差信號(hào)FE_sv生成聚焦伺服信號(hào)FS-sv，并且將該聚焦伺服信號(hào)FS-sv輸出到上述選擇器40。這里，選擇器40配置成在來(lái)自控制器44的指示下、在記錄期間選擇來(lái)自記錄聚焦伺服電路38的聚焦伺服信號(hào)FS-sv(即，用于跟蹤伺服激光束相對(duì)于參考面Ref的焦點(diǎn)位置的伺服控制信號(hào))，并且在再現(xiàn)期間選擇來(lái)自ATS端濾波器35的聚焦伺服信號(hào) Fs-ap(即，用于跟蹤ATS光相對(duì)于將被再現(xiàn)的信息記錄層位置L的焦點(diǎn)位置的伺服控制信號(hào))。由選擇器40選擇的聚焦伺服信號(hào)FS被供給聚焦驅(qū)動(dòng)器42。聚焦驅(qū)動(dòng)器42驅(qū)動(dòng)基于根據(jù)被供給的聚焦伺服信號(hào)FS而生成的聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)FD 來(lái)驅(qū)動(dòng)雙軸執(zhí)行器21的聚焦線圈。因此，在記錄期間，物鏡20被驅(qū)動(dòng)以跟蹤伺服激光束相對(duì)于參考面Ref的焦點(diǎn)位置。在再現(xiàn)期間，物鏡20被驅(qū)動(dòng)以跟蹤ATS光相對(duì)于將被再現(xiàn)的信息記錄層位置L的焦點(diǎn)位置。如下所述，在記錄期間的ATS光(以及記錄激光束)的聚焦控制(用于對(duì)將被記錄的信息記錄層位置L的聚焦的聚焦控制)通過(guò)透鏡驅(qū)動(dòng)單元16的控制來(lái)實(shí)現(xiàn)。由信號(hào)生成單元36生成的尋軌誤差信號(hào)TE-sv也被供給到參考面端伺服濾波器370參考面端伺服濾波器37在來(lái)自控制器44的指示下，基于尋軌誤差信號(hào)TE_sv生成尋軌伺服信號(hào)TS-sv，其用于跟蹤(消除尋軌誤差)伺服激光束相對(duì)于在參考面Ref上的位置導(dǎo)引體的點(diǎn)位置。參考面端伺服濾波器37通過(guò)對(duì)尋軌誤差信號(hào)TE-sv執(zhí)行諸如相位補(bǔ)償之類的用于尋軌伺服的濾波處理、生成尋軌伺服信號(hào)TS-sv。由參考面端伺服濾波器37生成的尋軌伺服信號(hào)TS-sv被供給到加法單元39。加法單元39計(jì)算尋軌伺服信號(hào)TS-sv和如上所述從ATS端濾波器35供給的尋軌伺服信號(hào)TS-ats的和，并且將其結(jié)果——尋軌伺服信號(hào)TS-arf輸出到選擇器41。選擇器41在來(lái)自控制器44的指示下，在記錄期間選擇來(lái)自加法單元39的尋軌伺服信號(hào)TS-arf，并且在再現(xiàn)期間選擇來(lái)自再現(xiàn)伺服電路34的尋軌伺服信號(hào)TS_ap。由選擇器41選擇的尋軌伺服信號(hào)TS被供給到尋軌驅(qū)動(dòng)器43。尋軌驅(qū)動(dòng)器43基于根據(jù)被供給的尋軌伺服信號(hào)TS所生成的尋軌驅(qū)動(dòng)信號(hào)TD來(lái)驅(qū)動(dòng)雙軸執(zhí)行器21的尋軌線圈。因此，在再現(xiàn)期間，基于尋軌伺服信號(hào)TS-ap驅(qū)動(dòng)物鏡20以跟蹤ATS光相對(duì)于標(biāo)記列的點(diǎn)位置。此外，在記錄期間，基于作為尋軌伺服信號(hào)TS-arf的、反映了 ATS光的尋軌誤差組分和伺服激光束的尋軌誤差組分兩者的伺服控制信號(hào)，來(lái)驅(qū)動(dòng)物鏡20?？刂破?4由微型計(jì)算機(jī)構(gòu)成，該微型計(jì)算機(jī)包括CPU(中央處理器)和諸如 R0M(只讀存儲(chǔ)器)或RAM(隨機(jī)存儲(chǔ)器)之類的存儲(chǔ)器(存儲(chǔ)設(shè)備)。例如，整個(gè)記錄設(shè)備通過(guò)根據(jù)存儲(chǔ)在ROM等中的程序執(zhí)行控制處理來(lái)控制。例如，控制器44基于如上所述與各信息記錄層位置L對(duì)應(yīng)地預(yù)先設(shè)定的偏移量 of-L的值、在記錄期間控制(設(shè)置)記錄激光束和ATS光的聚焦位置。具體而言，通過(guò)基于與將被記錄的信息記錄層位置L對(duì)應(yīng)地設(shè)定的偏移量of-L的值來(lái)驅(qū)動(dòng)光學(xué)讀取器OP的透鏡驅(qū)動(dòng)單元16，來(lái)選擇在深度方向上的記錄位置和ATS光的聚焦位置。控制器44執(zhí)行針對(duì)對(duì)應(yīng)于記錄期間和再現(xiàn)期間的方法的聚焦伺服和尋軌伺服的控制。具體而言，在聚焦伺服側(cè)，在記錄期間，使記錄聚焦伺服電路38生成聚焦伺服信號(hào)FS-sv并且使選擇器40選擇聚焦伺服信號(hào)FS-sv，以基于伺服激光束的反射光執(zhí)行物鏡 20的聚焦伺服控制。此外，在再現(xiàn)期間，使再現(xiàn)伺服電路34生成聚焦伺服信號(hào)FS-ap并且使選擇器40 選擇聚焦伺服信號(hào)FS-ap，以基于來(lái)自標(biāo)記列的ATS光的反射光來(lái)執(zhí)行物鏡20的聚焦伺服控制。對(duì)于尋軌伺服，在記錄期間，使參考面端伺服濾波器37和ATS端濾波器35生成尋軌伺服信號(hào)TS-sv并且使選擇器41選擇作為合成組分的尋軌伺服信號(hào)TS-arf，以基于伺服激光束的反射光和ATS光的反射光來(lái)執(zhí)行物鏡20的尋軌伺服控制。此外，在再現(xiàn)期間，使再現(xiàn)伺服電路34生成尋軌伺服信號(hào)TS-ap并且使選擇器41 選擇尋軌伺服信號(hào)TS-ap，以基于ATS光的反射光來(lái)執(zhí)行物鏡20的尋軌伺服控制。1-3伺服控制方法
這里，根據(jù)本實(shí)施例的所述記錄設(shè)備具有伺服控制系統(tǒng)(參考面端伺服控制系統(tǒng))，該伺服控制系統(tǒng)包括信號(hào)生成單元36、參考面端伺服濾波器37和尋軌驅(qū)動(dòng)器43，并且基于在參考面Ref上形成的位置導(dǎo)引體執(zhí)行物鏡20的尋軌伺服控制。S卩，形成了尋軌伺服環(huán)，其中基于參考面Ref的位置導(dǎo)引體來(lái)執(zhí)行尋軌伺服控制。在該實(shí)施例中，在記錄期間，參考面端的伺服控制系統(tǒng)和ATS的伺服控制系統(tǒng)構(gòu)成尋軌伺服控制系統(tǒng)。具體而言，設(shè)置了矩陣電路32和ATS端濾波器35，其中矩陣電路32 基于ATS光的反射光生成指示ATS光相對(duì)于標(biāo)志列的尋軌誤差的尋軌誤差信號(hào)TE-ap，并且 ATS端濾波器35根據(jù)尋軌誤差信號(hào)TE-ap生成尋軌伺服信號(hào)TS_as。由ATS端濾波器35 生成的尋軌伺服信號(hào)TS-as配置成通過(guò)加法單元39提供到參考面端伺服控制環(huán)。S卩，尋軌伺服信號(hào)TS-ats配置成作為參考面端伺服控制系統(tǒng)的目標(biāo)值(控制目標(biāo)值)提供。換句話說(shuō)，參考面端伺服控制系統(tǒng)的尋軌伺服環(huán)是子環(huán)，并且尋軌伺服信號(hào) TS-ats被作為子環(huán)的目標(biāo)值輸出。以這樣的配置，上述參考圖^A至^C的、由點(diǎn)位置偏差(在此情況下，伺服激光束與ATS光束之間的點(diǎn)位置偏差)而導(dǎo)致的ATS控制系統(tǒng)的尋軌誤差主要是由物鏡20的鏡頭偏移等引起的。當(dāng)ATS端尋軌誤差信息被提供為參考面端伺服控制系統(tǒng)的控制目標(biāo)值時(shí)，驅(qū)動(dòng)物鏡20以使得ATS的點(diǎn)位置遵循標(biāo)記列。從本說(shuō)明中可以明白，根據(jù)本實(shí)施例的尋軌伺服控制方法，與單個(gè)ATS的情況相同，可以防止發(fā)生記錄標(biāo)記列與相鄰的標(biāo)記列重疊或交叉的問(wèn)題。從本說(shuō)明中可以明白，包括參考面端伺服濾波器37的參考面端伺服控制系統(tǒng)承擔(dān)著主要跟蹤通常的干擾組分(即，頻率高于造成包括上述鏡頭偏移在內(nèi)的點(diǎn)位置偏差的光盤偏心組分等的干擾組分)的功能。因此，參考面端伺服控制系統(tǒng)的控制頻帶設(shè)置為與一般的伺服控制系統(tǒng)的控制頻帶相同。具體而言，在本示例中，參考面端伺服控制系統(tǒng)的控制頻帶設(shè)置為約10kHz。另一方面，由于包括ATS端濾波器35的ATS控制系統(tǒng)必須配置成不跟蹤上述通常的干擾組分，因此控制頻帶至少設(shè)置成低于參考面?zhèn)人欧刂葡到y(tǒng)的控制頻帶。具體而言， 在本示例中，將約IkHz設(shè)置為ATS控制系統(tǒng)的控制頻帶(ATS端濾波器35的截止頻率)。在根據(jù)本實(shí)施例的尋軌伺服控制系統(tǒng)中，其中尋軌伺服信號(hào)TS-ats被作為ATS控制系統(tǒng)的控制信號(hào)提供給參考面端伺服控制系統(tǒng)的尋軌伺服環(huán)(子環(huán))，可以防止根據(jù)相關(guān)技術(shù)的在單個(gè)ATS系統(tǒng)中發(fā)生的輸出特性增益的峰值(上面參考圖32所述)圖4A和圖4B是圖示了根據(jù)本實(shí)施例的尋軌伺服控制系統(tǒng)的輸出特性的模擬結(jié)果。圖4A圖示了頻率-幅度特性并且圖4B示出了頻率-相位特性。從圖4A和圖4B中可以看出，在根據(jù)本實(shí)施例的尋軌伺服控制系統(tǒng)中，在整個(gè)控制頻帶上輸出特性增益被抑制為不超過(guò)OdB。因此，可以防止根據(jù)相關(guān)技術(shù)在單個(gè)ATS控制系統(tǒng)中發(fā)生的輸出特性增益的峰值。由于可以防止輸出特性增益的峰值的出現(xiàn)，因此可以防止尋軌誤差信號(hào)隨時(shí)間推移而增大并發(fā)散。結(jié)果，與根據(jù)相關(guān)技術(shù)的單個(gè)ATS的情況相比，可以穩(wěn)定地實(shí)現(xiàn)防止記錄標(biāo)記列的重疊和交叉的尋軌伺服控制。2大于等于1/2軌道寬度的點(diǎn)位置偏差的對(duì)策
2-1點(diǎn)位置偏差的問(wèn)題如上所述，根據(jù)本實(shí)施例的尋軌伺服控制系統(tǒng)配置成使得，通過(guò)將ATS端尋軌誤差信息作為參考面端伺服控制系統(tǒng)的控制目標(biāo)值提供來(lái)使得ATS光的點(diǎn)位置遵循標(biāo)記列。S卩，換句話說(shuō)，在某些情況下，伺服激光束在參考面Ref上的點(diǎn)位置可能從伺服目標(biāo)軌道偏離與作為ATS端尋軌誤差信息的、上述點(diǎn)位置偏差對(duì)應(yīng)的程度。在這種情況下，存在這樣的可能性，即點(diǎn)位置偏差達(dá)到與多個(gè)軌道的寬度相對(duì)應(yīng)的量。即，例如，當(dāng)體記錄介質(zhì)1的制造精度相對(duì)較低并且光盤的偏心度或光盤的傾斜度相對(duì)較大時(shí)，點(diǎn)位置偏差相應(yīng)地變大。因此，可能發(fā)生與一個(gè)或多個(gè)軌道的寬度相對(duì)應(yīng)的點(diǎn)位置偏差。當(dāng)點(diǎn)位置偏差較大時(shí)，在參考面端伺服控制系統(tǒng)中誤差信號(hào)也變得較大。因此，存在尋軌伺服發(fā)生偏離的可能性。例如，這是因?yàn)楫?dāng)在諸如推挽式信號(hào)之類的通常尋軌誤差信號(hào)中、點(diǎn)位置以大于等于1/2軌道的量偏離目標(biāo)軌道時(shí)，在波形中會(huì)發(fā)生折疊，因此可能不能適當(dāng)?shù)貓?zhí)行尋軌伺服控制。因此，在本實(shí)施例中，即使當(dāng)在參考面Ref上點(diǎn)位置在軌道寬度上以大于等于1/2 軌道的量偏離時(shí)，必須執(zhí)行對(duì)抗措施以維持尋軌伺服控制狀態(tài)。具體而言，即使當(dāng)在尋軌誤差信號(hào)TE-sv中以大于等于1/2軌道的量發(fā)生了尋軌誤差，也生成用于使波形回歸并且線性地表示誤差量的線性誤差尋軌信號(hào)。2-2參考面的配置首先，在生成線性尋軌誤差信號(hào)時(shí)，形成下述的凹坑列以作為在參考面Ref上形成的位置導(dǎo)引體。將參考圖5和圖6描述在本示例中在體記錄介質(zhì)1的參考面Ref上形成凹坑列的方法。圖5是圖示了體記錄介質(zhì)1的參考面Ref (選擇反射層幻的表面的局部放大平面圖。在圖5中，將從圖的左側(cè)指向右側(cè)的方向稱為凹坑列形成方向、即軌道形成方向 (線方向)。在這種情況下，伺服激光束的照射點(diǎn)隨著體記錄介質(zhì)1被旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)從圖的左側(cè)向右側(cè)移動(dòng)。與凹坑列形成方向垂直的方向(圖中的豎直方向)是體記錄介質(zhì)1的半徑方向。在圖5中，由白色圓圈所指示的A至F表示凹坑可形成位置。S卩，在參考面Ref上的凹坑僅形成在凹坑可形成位置處，并且不形成在除凹坑可形成位置以外的位置處。圖中的符號(hào)A至F用于區(qū)分凹坑列(區(qū)分在半徑方向上分布的凹坑列)。符號(hào)A 至F所附的數(shù)字用于區(qū)分在凹坑列中的凹坑可形成位置。圖中的黑色粗線所指示的間隔代表根據(jù)相關(guān)技術(shù)在體記錄介質(zhì)1中可實(shí)現(xiàn)的最小軌道間距(相關(guān)技術(shù)的極限軌道間距)。從本說(shuō)明中可以明白，根據(jù)本實(shí)施例，在體記錄介質(zhì)1中，在一個(gè)相關(guān)技術(shù)的極限軌道寬度中形成有六個(gè)凹坑列A至F。S卩，凹坑列在半徑方向上以超過(guò)光學(xué)極限的間距布置。然而，當(dāng)多個(gè)凹坑列根據(jù)相關(guān)技術(shù)簡(jiǎn)單地布置在一個(gè)極限軌道寬度內(nèi)時(shí)，可能出現(xiàn)凹坑形成位置在凹坑形成方向上相互重疊的問(wèn)題。即，存在凹坑在凹坑列形成方向上的間隔超過(guò)光學(xué)極限的問(wèn)題。
因此，在本示例中，規(guī)定以下條件以使得凹坑在凹坑列形成方向上的間隔不超過(guò)布置在相關(guān)技術(shù)的一個(gè)極限軌道寬度內(nèi)的多個(gè)凹坑列A至F之間的光學(xué)極限。SP，上述條件如下1)在凹坑列A至F中，將凹坑可形成位置的間隔限制為預(yù)定的第一間隔。2)其中限制了凹坑可形成位置的間隔的凹坑列A至F布置成使得，凹坑可形成位置在凹坑列形成方向上以預(yù)定的第二間隔偏移(即，凹坑列的相位以第二間隔偏移)。在布置在半徑方向上的凹坑列A至F中，設(shè)置各個(gè)凹坑可形成位置在凹坑列形成方向上的間隔(第二間隔)η。此時(shí)，通過(guò)將凹坑列A至F布置成滿足條件2)，凹坑列Α-Β、 凹坑列B-C、凹坑列C-D、凹坑列D-E、凹坑列E-F以及凹坑列F-A的凹坑可形成位置之間的間隔全部變?yōu)棣?。由于?shí)現(xiàn)了六個(gè)凹坑列A至F的相位和，在凹坑列A-F中凹坑可形成位置之間的間隔(第一間隔)變?yōu)?η。在本示例中，通過(guò)在參考面Ref上的伺服激光束、在與DVD(數(shù)字多功能盤)相同的、波長(zhǎng)約等于650nm且孔徑值NA約等于0. 65的條件下、執(zhí)行信息再現(xiàn)和伺服控制。在本示例中，與DVD中的最短標(biāo)記一樣，各個(gè)凹坑可形成位置的節(jié)長(zhǎng)度設(shè)置成3T的節(jié)長(zhǎng)度(其中T是信道比特)。將A至F的凹坑可形成位置的邊緣在凹坑列形成方向上之間的間隔設(shè)置成與相同的3T對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)度。S卩，η因此等于6T。結(jié)果，滿足了條件1)和2)。將參考圖6描述形成凹坑列的具體方法，以理解在整個(gè)參考面Ref中形成凹坑的方法。在圖6中，為了便于圖示僅以三種凹坑列A至C為示例。在圖中，黑色圓圈表示凹坑可形成位置。參考圖6可以明白，在體記錄介質(zhì)1的參考面Ref上，使用具有不同相位的多種凹坑列(在圖6中，圖示了三種凹坑列A至C，但是實(shí)際上使用六種凹坑列A至F)作為一個(gè)組。一組多種凹坑列以螺旋形狀形成。因此，通過(guò)對(duì)多種凹坑列當(dāng)中所需的一種凹坑列連續(xù)地執(zhí)行尋軌伺服來(lái)螺旋形狀地繪制點(diǎn)位置。通過(guò)CAV(恒定角速度)方法在參考面Ref上形成凹坑。因此，如圖所示，多種凹坑在角位置上是均勻的，其中在角位置上，凹坑形成位置(凹坑可形成位置)在半徑方向上彼此相同。根據(jù)CAV方法在參考面Ref上記錄凹坑的原因是為了在光盤的任何區(qū)域中維持凹坑列A至F之間的相位關(guān)系(如圖5所示)。2-3地址信息下面，將參考圖7Α至圖7C描述在參考面Ref上所記錄的地址信息的格式的示例。為了方便，在假設(shè)生成基于推挽式信號(hào)的信號(hào)作為尋軌誤差信號(hào)(單獨(dú)的尋軌誤差信號(hào))的情況下進(jìn)行下面的描述(直到圖10)。從下面的描述中可以看出，在實(shí)際配置中，生成基于sum信號(hào)的信號(hào)來(lái)作為尋軌誤差信號(hào)。圖7A是示意性地圖示了配置成具有相互不同的凹坑列相位的凹坑列(A至F)的凹坑可形成位置的關(guān)系的示圖。在圖7A中，“*”標(biāo)記表示凹坑可形成位置。
在本實(shí)施例中，如下所述，從凹坑列A至F當(dāng)中選擇一個(gè)凹坑列，并且對(duì)所選擇的凹坑列執(zhí)行尋軌伺服。然而，存在凹坑列A至F各個(gè)在半徑方向上以超過(guò)光學(xué)極限的間距布置的問(wèn)題。 艮口，由于在這種情況下，反應(yīng)了全部凹坑列A至F的信號(hào)被作為通過(guò)在軌道上移動(dòng)(掃描) 伺服激光的照射點(diǎn)而得到的尋軌誤差信號(hào)(推挽式信號(hào))使用，因此即使當(dāng)基于尋軌誤差信號(hào)來(lái)執(zhí)行尋軌伺服時(shí)也可能不能跟蹤所選擇的凹坑列。為此，在本實(shí)施例中的基本理念是在所選擇的凹坑列中的凹坑可形成位置的時(shí)序處對(duì)尋軌誤差信號(hào)進(jìn)行采樣，并且利用所采樣的尋軌誤差信號(hào)的值(間歇地)執(zhí)行尋軌伺服。類似地，即使在讀取地址信息時(shí)，在所選凹坑列的凹坑可形成位置的時(shí)序處對(duì)sum 信號(hào)進(jìn)行采樣，以選擇性地讀取僅記錄在所述凹坑列中的信息，并且采用基于所述值檢測(cè)地址信息的方法。在本示例中，為了與檢測(cè)地址信息的方法相對(duì)應(yīng)，根據(jù)在凹坑可形成位置處是否形成有凹坑、使用表示信道比特(記錄符號(hào))的“0”和“1”的格式。即，一個(gè)凹坑可形成位置具有對(duì)應(yīng)于一個(gè)信道比特的信息。此外，假設(shè)用利用多個(gè)信道比特的“0”和“ 1 ”的數(shù)據(jù)樣式表示數(shù)據(jù)比特的一個(gè)比特。具體而言，在本示例中，如圖7B所示，例如，當(dāng)數(shù)據(jù)比特“0”和“ 1 ”用四個(gè)信道比特表示時(shí)，四個(gè)信道比特的樣式“1011”表示數(shù)據(jù)比特“0”，并且四個(gè)信道比特的樣式“1101” 表示數(shù)據(jù)比特“1”。此時(shí)，重要的點(diǎn)是“0”不能連續(xù)。即，這是因?yàn)椋诶盟蓸拥膶ぼ壵`差信號(hào)間歇地執(zhí)行尋軌伺服的上述基本理念、信道比特“0”連續(xù)意味著可能不能獲取誤差信號(hào)的周期的持續(xù)，因此很難確保尋軌伺服的精度。為此，在本示例中，例如，設(shè)置成滿足基于數(shù)據(jù)比特的上述定義的信道比特“0”不連續(xù)的條件。即，將尋軌伺服的精度基于數(shù)據(jù)比特的上述定義、降低為足夠小。圖7C是圖示了同步樣式的示例。例如，如圖所示，同步樣式用十二個(gè)信道比特表示。同步樣式的前八個(gè)比特配置成不適合數(shù)據(jù)比特的定義的“11111111”的信道比特樣式，并且后四個(gè)信道比特的樣式配置成指示同步的類別(種類)。當(dāng)跟在前八個(gè)信道比特后面的四個(gè)信道比特的樣式是“1011”時(shí)， 四個(gè)信道比特的樣式配置為Syncl。當(dāng)四個(gè)信道比特的樣式是“1101”時(shí)，四個(gè)信道比特的樣式配置為Sync2。在體記錄介質(zhì)1中，假設(shè)地址信息在上述同步之后記錄。如上所述，在光盤上的絕對(duì)位置信息(半徑位置信息和旋轉(zhuǎn)角度位置信息)被作為地址信息記錄。在本示例中，如上所述，多個(gè)凹坑列A至F布置在相關(guān)技術(shù)的一個(gè)極限軌道寬度內(nèi)。然而，地址信息被記錄成使得，單獨(dú)的信息被分派到各個(gè)凹坑列以分開地指示各個(gè)凹坑列的半徑位置(識(shí)別各個(gè)凹坑列)。即，在布置在相關(guān)技術(shù)的一個(gè)極限軌道寬度內(nèi)的各個(gè)凹坑列A至F中不記錄相同的地址信息。從圖7A至圖7C的描述中可以明白，在體記錄介質(zhì)1的參考面Ref上對(duì)凹坑進(jìn)行位置記錄。位置記錄指的是用信道數(shù)據(jù)“1”記錄凹坑(標(biāo)記)形成部分并且用信道數(shù)據(jù)“0” 記錄其他部分的記錄方法。2-4選擇伺服目標(biāo)凹坑列的方法作為對(duì)布置在相關(guān)技術(shù)的一個(gè)極限軌道寬度內(nèi)的凹坑列當(dāng)中的任何目標(biāo)凹坑列執(zhí)行尋軌伺服的方法，具體而言，下述方法被用作基本方法。圖8是示意性地圖示了隨著體記錄介質(zhì)1被旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)在參考面Ref上的伺服激光束點(diǎn)的移動(dòng)，以及此時(shí)獲得的sum信號(hào)、sum微分信號(hào)和推挽式信號(hào)PP (也稱為PP信號(hào))的波形之間的關(guān)系的示圖。上述sum信號(hào)是來(lái)自用作圖2所示的第二光接收單元四的多個(gè)光接收元件的光接收信號(hào)DT-sv的sum信號(hào)。上述sum微分信號(hào)是對(duì)所述sum信號(hào)進(jìn)行微分而獲得的信號(hào)。這里，為了方便描述，在圖中假設(shè)在所有的凹坑可形成位置處都形成了凹坑。如圖所示，在伺服激光束的光束點(diǎn)隨著體記錄介質(zhì)1的旋轉(zhuǎn)而移動(dòng)的情況下，sum 信號(hào)在與凹坑列A至F在凹坑列形成方向上的布置間隔相對(duì)應(yīng)的周期內(nèi)具有信號(hào)水平的峰值。即，sum信號(hào)表示凹坑列A至F在凹坑列形成方向上的間隔(形成周期)。在附圖的示例中，由于伺服激光束的點(diǎn)沿著凹坑列A移動(dòng)，因此sum信號(hào)具有如下趨勢(shì)，S卩，當(dāng)sum信號(hào)在凹坑列形成方向上經(jīng)過(guò)凹坑A的形成位置時(shí)，其峰值變得最大(絕對(duì)值)，并且其峰值沿著從凹坑B至凹坑D的形成位置逐漸減小。其后，所述趨勢(shì)變成，其峰值在凹坑E的形成位置一凹坑F的形成位置逐漸增大，并且峰值在凹坑A的形成位置處再次變得最大。即，由于在鄰近外周側(cè)的凹坑列E和F中的凹坑影響在凹坑列形成方向上的凹坑E和F的形成位置，因此sum信號(hào)的峰值在凹坑E和F處順次地增加。 此外，如圖所示，可以獲得通過(guò)對(duì)sum信號(hào)進(jìn)行微分而生成的sum微分信號(hào)以及用作尋軌誤差信號(hào)的PP信號(hào)。sum微分信號(hào)用來(lái)生成與各個(gè)凹坑列A至F的凹坑形成位置(精確地說(shuō)，凹坑可形成位置)在凹坑列形成方向上之間的間隔對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘CLK。具體而言，對(duì)于時(shí)鐘CLK，利用sum微分信號(hào)，生成利用與各凹坑的中心位置(峰值位置)對(duì)應(yīng)的位置(時(shí)序)作為初始位置(時(shí)序)所形成的信號(hào)。如圖9所示，作為生成時(shí)鐘CLK的方法，首先生成通過(guò)利用預(yù)定閾值Thl對(duì)sum信號(hào)進(jìn)行限幅段而形成的信號(hào)，并且生成通過(guò)利用預(yù)定閾值Th2對(duì)sum微分信號(hào)進(jìn)行限幅而形成的信號(hào)。然后，通過(guò)取所生成的信號(hào)的和來(lái)生成具有與峰值位置對(duì)應(yīng)的上升時(shí)間的時(shí)序信號(hào)。通過(guò)利用所生成的時(shí)序信號(hào)作為輸入信號(hào)(參考信號(hào))來(lái)執(zhí)行PLL(鎖相環(huán))處理，來(lái)生成時(shí)鐘CLK。圖10是示意性地圖示了以上述順序生成的時(shí)鐘CLK、基于所生成的時(shí)鐘CLK而生成的各個(gè)選擇器信號(hào)的波形以及在參考面Ref上形成的各個(gè)凹坑列(凹坑列的部分)之間的關(guān)系的示圖。從圖中可以看出，時(shí)鐘CLK是具有與凹坑A至F的形成間隔對(duì)應(yīng)的周期的信號(hào)。具體而言，時(shí)鐘CLK是在凹坑A至F的峰值位置處具有上升時(shí)間的信號(hào)。根據(jù)時(shí)鐘CLK生成指示凹坑A至F各個(gè)的凹坑可形成位置的時(shí)序的六種選擇器信號(hào)。
具體而言，通過(guò)將時(shí)鐘CLK除以六來(lái)生成這些選擇器信號(hào)，并且選擇器信號(hào)的相位均偏移1/6周期。換句話說(shuō)，這些選擇器信號(hào)是通過(guò)在各個(gè)時(shí)序處將時(shí)鐘CLK除以六來(lái)生成的，以使得上升時(shí)間各個(gè)均偏移1/6周期。選擇器信號(hào)是指示與A至F對(duì)應(yīng)的凹坑列的凹坑可形成位置的時(shí)序的信號(hào)。因此， 通過(guò)生成這些選擇器信號(hào)、選擇任意選擇器信號(hào)并且由所選的選擇器信號(hào)指示的時(shí)序下對(duì)尋軌誤差信號(hào)(推挽式信號(hào))進(jìn)行采樣和保持處理，能夠獲得用于跟蹤凹坑列A至F中的一個(gè)凹坑列的尋軌誤差信號(hào)。即，通過(guò)基于所生成的尋軌誤差信號(hào)對(duì)物鏡20進(jìn)行尋軌伺服控制，伺服激光束的點(diǎn)可以在凹坑列A至F中的任意凹坑列上進(jìn)行描繪(即，跟蹤)。2-5采樣推挽式信號(hào)的方法的問(wèn)題及對(duì)策在上面的描述中，當(dāng)任意凹坑列被選為伺服目標(biāo)時(shí)，對(duì)作為尋軌誤差信號(hào)的推挽式信號(hào)進(jìn)行采樣和保持處理。然而，當(dāng)使用推挽式信號(hào)時(shí)，存在可能由于物鏡20的所謂傾斜(歪斜)或鏡頭移位而不能獲得所提取的尋軌誤差信息的問(wèn)題。圖IlA和IlB是圖示了由鏡頭移位或傾斜造成的反射光的光接收點(diǎn)位置偏差的示圖。圖IlA示出了在沒(méi)有發(fā)生鏡頭移位或傾斜的理想狀態(tài)下的第二光接收單元四上的反射光點(diǎn)(光接收點(diǎn))。圖IlB示出了在發(fā)生了鏡頭移位或傾斜的狀態(tài)下在第二光接收單元四上的反射光點(diǎn)。在圖IlA和IlB的反射光點(diǎn)中的斜線表示來(lái)自在光盤上形成的凹坑的衍射光組分的重疊區(qū)域(推挽式信號(hào)組分重疊區(qū)域)。假設(shè)圖中的光接收元件對(duì)A和B以及光接收元件C和D對(duì)，是在與光盤的半徑方向?qū)?yīng)的方向上相鄰的對(duì)，則推挽式信號(hào)(PP)由下面的表達(dá)式計(jì)算。PP = (Ai+Bi)-(Ci+Di)…表達(dá)式 1在表達(dá)式1中，Ai、Bi、Ci和Di分別是光接收元件A、B、C和D的光接收信號(hào)。這里，假設(shè)伺服激光束的照射點(diǎn)精確地跟蹤目標(biāo)凹坑列。在這種情況下，在圖IlA 中沒(méi)有發(fā)生鏡頭移位或傾斜的理想狀態(tài)下，由表達(dá)式1所計(jì)算的推挽式信號(hào)PP的值是“0”。然而，當(dāng)如圖11B、發(fā)生了由鏡頭移位或傾斜所導(dǎo)致的反射光點(diǎn)位置偏差時(shí)，由表達(dá)式1所計(jì)算的推挽式信號(hào)PP的值變?yōu)榕c“0”不同的最初獲得的值。因此，可能發(fā)生錯(cuò)誤。從該事實(shí)可以明白，在推挽式信號(hào)PP中發(fā)生了由鏡頭移位或傾斜導(dǎo)致的偏移。當(dāng)由鏡頭移位或傾斜造成的偏移組分可以忽略時(shí)，上述生成尋軌誤差信號(hào)的方法是有效的。然而，為了提高尋軌伺服控制的可靠性，上述偏移組分優(yōu)選地不重疊在尋軌誤差信號(hào)中。為了避免由鏡頭移位或傾斜造成的偏移的影響，已知根據(jù)相關(guān)技術(shù)的所謂的3點(diǎn)方法作為檢測(cè)尋軌誤差的方法。然而在3點(diǎn)方法中，額外地需要諸如光柵之類的光學(xué)部件， 從而增加了部件成本或調(diào)整成本。為了避免偏移的影響，還已知DPP (差動(dòng)推挽)方法作為檢測(cè)尋軌誤差的方法。然而，即使在DPP方法中，也額外地需要諸如光柵之類的光學(xué)部件，從而增加了部件成本或調(diào)整成本。為了解決根據(jù)相關(guān)技術(shù)的檢測(cè)尋軌誤差的方法的問(wèn)題，并且避免由鏡頭移位或傾斜造成的偏移組分，在本示例中，提供了一種根據(jù)使用sum信號(hào)的方法的生成尋軌誤差信號(hào)的方法(如下所述)。圖12是圖示了生成在各個(gè)凹坑列中的各個(gè)尋軌誤差信號(hào)的方法的示圖。
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圖12示出了形成在參考面Ref上的凹坑列A至F，在執(zhí)行尋軌伺服以跟蹤凹坑列 D的狀態(tài)下伺服激光束的點(diǎn)位置的移動(dòng)軌跡(斜線部分)，以及隨伺服激光束的移動(dòng)而獲得的sum信號(hào)的波形。例如，當(dāng)伺服激光束的點(diǎn)精確地跟蹤凹坑列D時(shí)(如圖12所示)，與在凹坑列D上的凹坑形成位置一致的時(shí)序的最小值(圖中的η)被用作sum信號(hào)的值，在相對(duì)于該凹坑列 D相位差變大的凹坑列的凹坑形成位置處的值傾向于逐漸變大。此時(shí)，作為sum信號(hào)的值，在與緊鄰(S卩，具有相同的相位差)凹坑列D的凹坑列C 和E的凹坑形成位置一致的時(shí)序(圖中的n-1和n+1)處、取相同的值，并且在與以相同距離(在半徑方向上的距離)遠(yuǎn)離(即，具有相同的相位差)凹坑列D的凹坑列B和F的凹坑形成位置一致的時(shí)序(圖中的n-2和n+2)處、取相同的值。這里，與圖中所示的狀態(tài)不同，當(dāng)伺服激光束的點(diǎn)以偏離半徑方向的位置跟蹤凹坑列D時(shí)，可以理解，在相對(duì)于凹坑列D具有相同的相位差的凹坑形成位置處的sum信號(hào)的
值會(huì)發(fā)生偏差。從上述事實(shí)可以明白，在相對(duì)于作為尋軌伺服目標(biāo)的凹坑列具有相同相位差的凹坑列對(duì)的凹坑形成位置處的sum信號(hào)的值，反映了對(duì)作為尋軌伺服目標(biāo)的凹坑列在尋軌方向上的誤差。具體而言，通過(guò)計(jì)算在具有相同相位差的凹坑列對(duì)的凹坑形成位置處的sum 信號(hào)的值之間的差，可以獲得尋軌誤差信號(hào)。具體地，在本示例中，考慮所述事實(shí)，以下面的方式基于sum信號(hào)來(lái)生成尋軌誤差信號(hào)。即，首先選擇相對(duì)于期望檢測(cè)其尋軌誤差的凹坑列具有相同相位差的兩個(gè)凹坑列。具體而言，在本示例中，選擇與目標(biāo)凹坑列相鄰的凹坑列。此外，在與所選凹坑列的凹坑可形成位置對(duì)應(yīng)的時(shí)序(圖12中的n-1和n+1)處、 對(duì)sum信號(hào)的值進(jìn)行采樣，并且計(jì)算所采樣的sum信號(hào)值的差。計(jì)算結(jié)果就是關(guān)于期望檢測(cè)其尋軌誤差的凹坑列的尋軌誤差信號(hào)。2-6生成線性尋軌誤差信號(hào)的方法可以根據(jù)上述方法生成各個(gè)凹坑列A至F的尋軌誤差信號(hào)。在本示例中，由于凹坑列A至F在相關(guān)技術(shù)的一個(gè)軌道寬度內(nèi)形成，因此，能夠同時(shí)并行地生成作為凹坑列A至F的各相位的凹坑列的尋軌誤差信號(hào)。即，通過(guò)設(shè)置根據(jù)上述方法來(lái)生成關(guān)于凹坑列A至F的尋軌誤差信號(hào)的尋軌誤差信號(hào)生成單元，可以同時(shí)并行地生成凹坑列A至F各個(gè)的尋軌誤差信號(hào)。在下文中，同時(shí)并行地得到的凹坑列A、B、C、D、E和F各個(gè)的尋軌誤差信號(hào)分別稱為尋軌誤差信號(hào) TE_A、TE_B、TE_C、TE_D、TE_E、TE_F。在本實(shí)施例中，通過(guò)同時(shí)并行地獲得尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F，然后當(dāng)伺服激光束的點(diǎn)位置由于上述點(diǎn)位置偏差而在半徑方向上移位時(shí)、順次地連接尋軌誤差信號(hào)TE_A 至TE_F在零交叉點(diǎn)附近的波形，能夠獲得線性尋軌誤差信號(hào)。圖13是圖示了當(dāng)伺服激光束的點(diǎn)位置在半徑方向上發(fā)生移位時(shí)獲得的尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的波形的示圖。參考圖13可以明白，當(dāng)由上述點(diǎn)位置偏差導(dǎo)致的伺服激光束的點(diǎn)位置在半徑方向上發(fā)生移位時(shí)，尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的波形變?yōu)檎也?。在這種情況下，由于六個(gè)凹坑列布置在一個(gè)軌道寬度內(nèi)，因此尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的相位以60°偏移(如圖所示)。當(dāng)對(duì)凹坑列A執(zhí)行尋軌伺服時(shí)，表現(xiàn)為，點(diǎn)位置存在于圖中所示的尋軌誤差信號(hào) TE_A的由負(fù)到正的零交叉點(diǎn)處。當(dāng)點(diǎn)位置由于伴隨著上述點(diǎn)位置偏差而發(fā)生的控制目標(biāo)值的變化、在半徑方向上從該狀態(tài)逐漸移位時(shí)，尋軌誤差信號(hào)TE_A的幅度逐漸增大。此時(shí)，在點(diǎn)位置從凹坑列A移動(dòng)了 1/12軌道(30° )的時(shí)間點(diǎn)tl處，可以理解，表示與凹坑列A相鄰的凹坑列B的尋軌誤差的尋軌誤差信號(hào)TE_B的幅值(絕對(duì)值)、與尋軌誤差信號(hào)TE_A的幅值(絕對(duì)值)相一致。S卩，時(shí)間點(diǎn)tl是點(diǎn)位置到達(dá)在半徑方向上凹坑列A和B的之間的中間點(diǎn)的時(shí)間點(diǎn)。類似地，時(shí)間點(diǎn)t2是點(diǎn)位置到達(dá)凹坑列B和C之間的中間點(diǎn)的時(shí)間點(diǎn)。時(shí)間點(diǎn)t3是點(diǎn)位置到達(dá)凹坑列C和D之間的中間點(diǎn)的時(shí)間點(diǎn)。時(shí)間點(diǎn) t4是點(diǎn)位置到達(dá)凹坑列D和E之間的中間點(diǎn)的時(shí)間點(diǎn)。時(shí)間點(diǎn)t5是點(diǎn)位置到達(dá)凹坑列E 和F之間的中間點(diǎn)的時(shí)間點(diǎn)。時(shí)間點(diǎn)t6是點(diǎn)位置到達(dá)凹坑列F和A之間的中間點(diǎn)的時(shí)間點(diǎn)ο從所述事實(shí)可以明白，當(dāng)點(diǎn)位置在半徑方向上移位時(shí)，如黑粗線所示，點(diǎn)位置通過(guò)尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的直線部分(零交叉點(diǎn)附近的部分)。根據(jù)上述事實(shí)，在本實(shí)施例中，如圖14所示，通過(guò)將點(diǎn)位置在半徑方向上移動(dòng)時(shí)的尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的零交叉點(diǎn)附近的波形相互連接，來(lái)生成線性尋軌誤差信號(hào)， 該線性尋軌誤差信號(hào)線性地表示大于等于1/2軌道寬度的尋軌誤差。圖14示出了將開始受到伺服ON切換的凹坑列(S卩，經(jīng)受伺服的凹坑列)假設(shè)為凹坑列D時(shí)，線性尋軌誤差信號(hào)的生成圖像。圖15是圖示了生成圖14所示的線性尋軌誤差信號(hào)(下文也稱為線性誤差信號(hào)) 的具體方法的示圖。圖15示出了當(dāng)伺服激光束的點(diǎn)位置在半徑方向上移動(dòng)時(shí)得到的尋軌誤差信號(hào) TE_A至TE_F的波形。首先，如參考圖15可以明白的，尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的幅度的大小關(guān)系根據(jù)點(diǎn)位置在半徑方向上的移動(dòng)、隨時(shí)間發(fā)生變化。在生成線性誤差信號(hào)時(shí)，尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的幅度的大小關(guān)系根據(jù)情況來(lái)區(qū)分。具體而言，在本示例中，情況分為情況1至情況12，以與凹坑列的六種相位相對(duì)應(yīng)。假設(shè)尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的幅度稱為A至F，情況1至情況12定義如下。情況1 :E < F < D < A < C < B情況2 :E <D<F<C<A<B情況3 :D <E<C<F<B<A情況4 :D <C<E<B<F<A情況5 :C <D<B<E<A<F情況6 :C <B<D<A<E<F情況7 :B <C<A<D<F<E情況8 :B <A<C<F<D<E情況9 :A <B<F<C<E<D
情況10 :A <F<B<E<C<D情況11 :F < A < E < B < D < C情況12 :F <E<A<D<B<C在本示例中，順次地監(jiān)控尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的幅度并且判定以上定義的情況。通過(guò)執(zhí)行下述計(jì)算來(lái)生成針對(duì)以這種方式判定的各種情況的線性誤差信號(hào)。在下述計(jì)算示例中，如圖15所示，假設(shè)開始經(jīng)受伺服ON切換的是凹坑列D。換句話說(shuō)，假設(shè)位于凹坑列D上的點(diǎn)位置是線性誤差信號(hào)的零點(diǎn)。在下述計(jì)算示例中，P(n)表示線性誤差信號(hào)每次的輸出值，并且A至F分別表示尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的幅值。Ppmv表示在切換前一情況的時(shí)序處、在前一情況中所選的尋軌誤差信號(hào)TE (尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F中的一者)的幅值。此外，HH(表示在情況的切換時(shí)序處、對(duì)應(yīng)于情況的切換而重新選擇的尋軌誤差信號(hào)TE (尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F中的一者)的幅值。情況1…p(n) = Pprev+D情況2... P (η) = Pprev_HPK+C情況3…P(n) = Pprev+C
情況 4... P (η) = Pprev_HPK+B情況5…P(n) = Pprev+B情況6... P (η) = Pprev_HPK+A情況7…Ρ(η) = Pprev+A情況8... P (η) = Pprev_HPK+F情況9…P(n) = Pprev+F情況10 …P (η) = Pprev_HPK+E情況11…p(n) = Pprev+E情況12 …P (η) = Pprev_HPK+D從該計(jì)算示例中可以明白，在本實(shí)施例中，通過(guò)以下方式生成線性誤差信號(hào)，即， 當(dāng)點(diǎn)位置在半徑方向上移動(dòng)時(shí)，在各相位的尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的幅度的大小關(guān)系發(fā)生變化的每個(gè)預(yù)定時(shí)序處、順次地連接在點(diǎn)位置的移動(dòng)方向上彼此相鄰的凹坑列的尋軌誤差信號(hào)TE。具體而言，在本示例中，預(yù)定時(shí)序是指情況1和情況2的切換時(shí)序、情況3和情況 4的切換時(shí)序、情況5和情況6的切換時(shí)序、情況7和情況8的切換時(shí)序、情況9和情況10 的切換時(shí)序、情況11和情況12的切換時(shí)序。在每個(gè)預(yù)定時(shí)序處順次地選擇在點(diǎn)位置的移動(dòng)方向上彼此相鄰的凹坑列的尋軌誤差信號(hào)TE。此外，在上述預(yù)定時(shí)序處，通過(guò)從作為在該時(shí)間點(diǎn)的誤差信號(hào)輸出的值(Ppmv)減去新選擇的尋軌誤差信號(hào)TE在上述預(yù)定時(shí)序處的值 (HPK)而獲得的值是參考值(Pprev_HPK)。通過(guò)將新選擇的尋軌誤差信號(hào)的值加到所述參考值而獲得的值是(P(n))作為線性誤差信號(hào)的值順次地輸出。根據(jù)所述方法，可以通過(guò)當(dāng)點(diǎn)位置在半徑方向(外周方向和內(nèi)周方向兩者)上移動(dòng)時(shí)、連接各相位的尋軌誤差信號(hào)TE在零交叉點(diǎn)附近的波形(上面參考圖14所描述的) 來(lái)生成線性誤差信號(hào)。換句話說(shuō)，即使當(dāng)距離經(jīng)過(guò)伺服ON切換的凹坑列(軌道)的誤差量達(dá)到使尋軌誤差信號(hào)TE發(fā)生折疊的誤差量，也可以生成以基本的線性形式表示尋軌誤差的尋軌誤差信號(hào)。即使當(dāng)以大于等于1/2的軌道寬度發(fā)生上述點(diǎn)位置偏差時(shí)，也可以通過(guò)基于線性誤差信號(hào)(尋軌伺服信號(hào)TE-sv)執(zhí)行尋軌伺服、來(lái)防止尋軌伺服來(lái)發(fā)生偏差。2-7信號(hào)生成單元的具體配置的示例圖16是主要圖示了根據(jù)實(shí)施例的記錄設(shè)備的信號(hào)生成單元36的內(nèi)部配置的示圖。圖16示出了記錄設(shè)備的配置，為了檢測(cè)上述位置信息(地址信息)，所述記錄設(shè)備包括選擇器信號(hào)選擇電路56和地址檢測(cè)電路57。此外，還示出了圖3所示的控制器44。如圖所示，信號(hào)生成單元36包括矩陣電路50、時(shí)鐘生成電路51、選擇器信號(hào)生成電路52、誤差信號(hào)生成電路53、情況判定電路M以及線性誤差信號(hào)生成電路55。矩陣電路50基于來(lái)自圖2所示的第二光接收單元四的多個(gè)光接收元件光接收信號(hào)DT-sv、生成上述聚焦誤差信號(hào)以及sum信號(hào)。如上所述，聚焦誤差信號(hào)FE-sv被供給到記錄聚焦伺服電路38。如圖所示，sum信號(hào)被供給到時(shí)鐘生成電路51、誤差信號(hào)生成電路53和地址檢測(cè)電路57。時(shí)鐘生成電路51以上述順序生成時(shí)鐘CLK。圖17是圖示了時(shí)鐘生成電路51的內(nèi)部配置的示圖。在圖17中，時(shí)鐘生成電路51包括限幅電路51A、sum微分電路51B、限幅電路51C、 與門電路5ID以及PLL電路5IE。如圖所示，sum信號(hào)被輸入到限幅電路5IA和sum微分電路51B。限幅電路5IA基于設(shè)定的閾值Thl對(duì)sum信號(hào)進(jìn)行限幅，并將結(jié)果輸出到與門電路51D。sum微分電路51B對(duì)sum信號(hào)進(jìn)行微分以生成上述sum微分信號(hào)。限幅電路51C 基于設(shè)定的閾值Th2對(duì)sum微分電路51B所生成的sum微分信號(hào)進(jìn)行限幅，并將結(jié)果輸出到與門電路5ID。與門電路51D對(duì)來(lái)自限幅電路51A的輸出和來(lái)自限幅電路51C的輸出執(zhí)行AND，以生成上述時(shí)序信號(hào)。PLL電路5IE通過(guò)對(duì)作為輸入信號(hào)的、由與門電路5ID所獲得的時(shí)序信號(hào)執(zhí)行PLL 處理，生成時(shí)鐘CLK。返回到圖16，由時(shí)鐘生成電路51生成的時(shí)鐘CLK被供給到選擇器信號(hào)生成電路 52。選擇器信號(hào)生成電路52基于時(shí)鐘CLK生成指示凹坑列A至F的凹坑形成位置的時(shí)序的六種選擇器信號(hào)。具體而言，選擇器信號(hào)生成電路52通過(guò)生成各個(gè)的相位均偏移1/6 周期的信號(hào)來(lái)獲得六種選擇器信號(hào)，如通過(guò)將時(shí)鐘CLK分為6而獲得的信號(hào)。在下文中，這六種選擇器信號(hào)分別稱為選擇器信號(hào)S_A、S_B、S_C、S_D、S_E和S_F。選擇器信號(hào)S_A至S_F被供給到誤差信號(hào)生成電路53，并且被供給到選擇器信號(hào)選擇電路56。誤差信號(hào)生成電路53基于選擇器信號(hào)S_A至S_F以及sum信號(hào)生成凹坑列A至 F的尋軌誤差信號(hào)TE (TE_A至TE_F)。
圖18是圖示了誤差信號(hào)生成電路53的內(nèi)部配置的示圖。如圖18所示，在誤差信號(hào)生成電路53中，相對(duì)于sum信號(hào)并行地布置了包括兩個(gè)采樣和保持電路以及減法單元的六個(gè)誤差信號(hào)生成單元以生成六種誤差信號(hào)TE作為尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F。具體而言，安裝了包括采樣和保持電路SH-A1、采樣和保持電路SH-A2以及減法單元53A的誤差信號(hào)生成單元以生成尋軌誤差信號(hào)TE_A。安裝了包括采樣和保持電路SH-B1、 采樣和保持電路SH-B2以及減法單元53B的誤差信號(hào)生成單元以生成尋軌誤差信號(hào)TE_B。 安裝了包括采樣和保持電路SH-C1、采樣和保持電路SH-C2以及減法單元53C的誤差信號(hào)生成單元以生成尋軌誤差信號(hào)TE_C。安裝了包括采樣和保持電路SH-D1、采樣和保持電路 SH-D2以及減法單元53D的誤差信號(hào)生成單元以生成尋軌誤差信號(hào)TE_D。安裝了包括采樣和保持電路SH-E1、采樣和保持電路SH-E2以及減法單元53E的誤差信號(hào)生成單元以生成尋軌誤差信號(hào)TE_E。安裝了包括采樣和保持電路SH-F1、采樣和保持電路SH-F2以及減法單元53F的誤差信號(hào)生成單元以生成尋軌誤差信號(hào)TE_F。采樣和保持電路SH-Al采樣和保持由選擇器信號(hào)S_F所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，采樣和保持電路SH-A2采樣和保持由選擇器信號(hào)S_B所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，并且減法單元53A從采樣和保持電路SH-Al的輸出減去采樣和保持電路SH-A2的輸出，從而生成尋軌誤差信號(hào)TE_A。采樣和保持電路SH-Bl采樣和保持由選擇器信號(hào)S_A所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，采樣和保持電路SH-B2采樣和保持由選擇器信號(hào)S_C所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，并且減法單元5 從采樣和保持電路SH-Bl的輸出減去采樣和保持電路SH-B2的輸出，從而生成尋軌誤差信號(hào)TE_B。采樣和保持電路SH-Cl采樣和保持由選擇器信號(hào)S_B所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，采樣和保持電路SH-C2采樣和保持由選擇器信號(hào)S_D所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，并且減法單元53C從采樣和保持電路SH-Cl的輸出減去采樣和保持電路SH-C2的輸出，從而生成尋軌誤差信號(hào)TE_C。采樣和保持電路SH-Dl采樣和保持由選擇器信號(hào)S_C所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，采樣和保持電路SH-D2采樣和保持由選擇器信號(hào)S_E所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，并且減法單元53D從采樣和保持電路SH-Dl的輸出減去采樣和保持電路SH-D2的輸出，從而生成尋軌誤差信號(hào)TE_D。采樣和保持電路SH-El采樣和保持由選擇器信號(hào)S_D所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，采樣和保持電路SH-E2采樣和保持由選擇器信號(hào)S_F所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，并且減法單元53E從采樣和保持電路SH-El的輸出減去采樣和保持電路SH-E2的輸出，從而生成尋軌誤差信號(hào)TE_E。采樣和保持電路SH-Fl采樣和保持由選擇器信號(hào)S_E所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，采樣和保持電路SH-F2采樣和保持由選擇器信號(hào)S_A所指示的時(shí)序處的sum信號(hào)，并且減法單元53F從采樣和保持電路SH-Fl的輸出減去采樣和保持電路SH-F2的輸出，從而生成尋軌誤差信號(hào)TE_F。將返回圖16進(jìn)行描述。由誤差信號(hào)生成電路53生成的尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F被供給到情況判定電路M，并且還被供給到線性誤差信號(hào)生成電路55。情況判定電路M基于尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F判定上述的情況1至情況12中的每個(gè)情況，并且將指示判定結(jié)果的判定信號(hào)Dcs供給到線性誤差信號(hào)生成電路55和選擇器信號(hào)選擇電路56。具體而言，在這種情況下，情況判定電路M檢測(cè)各個(gè)情況的切換時(shí)序。情況判定電路M生成并且輸出作為判定信號(hào)Dcs的情況的切換時(shí)序以及將這些情況相互區(qū)別開的信號(hào)。線性誤差信號(hào)生成電路55基于尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F以及判定信號(hào)Dcs生成上述線性誤差信號(hào)。具體而言，線性誤差信號(hào)生成電路55通過(guò)根據(jù)各情況的計(jì)算表達(dá)式 (如上述計(jì)算示例所示)中的、與判定信號(hào)Dcs所指示的情況相對(duì)應(yīng)的計(jì)算表達(dá)式來(lái)執(zhí)行計(jì)算，生成作為線性誤差信號(hào)的尋軌誤差信號(hào)。控制器44在參考面端伺服控制系統(tǒng)的尋軌伺服處于ON狀態(tài)的時(shí)序處，向線性誤差信號(hào)生成電路55提供復(fù)位信號(hào)。線性誤差信號(hào)生成電路55響應(yīng)于復(fù)位信號(hào)，將作為線性誤差信號(hào)的尋軌誤差信號(hào)TE-sv的值重置為0。由線性誤差信號(hào)生成電路55生成的尋軌誤差信號(hào)TE-sv被供給到參考面端伺服濾波器37，如圖3所示。選擇器信號(hào)選擇電路56基于判定信號(hào)Dcs從由選擇器信號(hào)生成電路52提供的選擇器信號(hào)S_A至S_F中選取一個(gè)選擇器信號(hào)作為選擇器信號(hào)S_Ad，并且將選擇器信號(hào)S_Ad 輸出到地址檢測(cè)電路57。具體而言，選擇器信號(hào)選擇電路56在由判定信號(hào)Dcs所指示的1情況至情況12 的切換時(shí)序當(dāng)中的預(yù)定時(shí)序處、將作為選擇器信號(hào)S_Ad的選擇器信號(hào)S改變?yōu)榕c在此之前輸出的選擇器信號(hào)S相鄰的選擇器信號(hào)S ( S卩，與在此之前輸出的選擇器信號(hào)S指示凹坑可形成位置的定時(shí)的凹坑列、在點(diǎn)移動(dòng)方向上相鄰的凹坑列所對(duì)應(yīng)的選擇器信號(hào)幻。在本示例中，選擇器信號(hào)選擇電路56在情況1和情況2的切換時(shí)序處、情況3和情況4的切換時(shí)序處、情況5和情況6的切換時(shí)序處、情況7和情況8的切換時(shí)序處、情況9和情況10的切換時(shí)序處以及情況11和情況12的切換時(shí)序處，將作為選擇性信號(hào)S_Ad輸出的選擇器信號(hào) S改變?yōu)榕c在此之前輸出的選擇器信號(hào)S相鄰的選擇器信號(hào)S。地址檢測(cè)電路57基于通過(guò)在由選擇器信號(hào)S_Ad所指示的凹坑可形成位置的時(shí)序 (在這種情況下，sum信號(hào)的H水平的一段)處對(duì)sum信號(hào)的值進(jìn)行采樣而得到的結(jié)果，來(lái)檢測(cè)在參考面Ref上記錄的信息。在本示例中，如上參考圖7A至7C所述，各個(gè)凹坑列的地址信息被作為一個(gè)信道比特記錄，其中各個(gè)凹坑列的地址信息指示在凹坑列中的凹坑可形成位置處是否形成有凹坑。因此，地址檢測(cè)電路57通過(guò)識(shí)別sum信號(hào)在選擇器信號(hào)S_Ad的上升時(shí)間處的值來(lái)識(shí)別一個(gè)信道比特的數(shù)據(jù)“0”和“1”，并且通過(guò)基于識(shí)別結(jié)果根據(jù)參考圖7A至7C的上述格式執(zhí)行地址解碼處理、來(lái)檢測(cè)(重現(xiàn))所記錄的地址信息。由地址檢測(cè)電路57所檢測(cè)的地址信息被供給到控制器44。通過(guò)選擇器信號(hào)選擇電路56的操作，點(diǎn)位置附近的凹坑列的選擇器信號(hào)S被選為選擇器信號(hào)S_Ad。因此，地址檢測(cè)電路57能夠適當(dāng)?shù)貦z測(cè)在點(diǎn)位置附近的凹坑列中記錄的地址信
肩、ο
控制器44執(zhí)行以下處理以對(duì)應(yīng)于信號(hào)處理單元36的配置方式。即，對(duì)于伺服激光束的尋軌伺服，當(dāng)選擇了凹坑列A至F中要經(jīng)受伺服的一者(即，選擇了經(jīng)受伺服ON切換的凹坑列)時(shí)，控制器44指示線性誤差信號(hào)生成電路55選擇并輸出關(guān)于尋軌誤差信號(hào) TE_A至TE_F當(dāng)中要經(jīng)受伺服的凹坑列的尋軌誤差信號(hào)TE。如上所述，控制器44響應(yīng)于在給定凹坑列處的伺服ON切換，指示線性誤差信號(hào)生成電路55將線性誤差信號(hào)(TE-sv)的幅度重置為0。以這樣的配置，通過(guò)參考面端伺服控制系統(tǒng)基于線性尋軌誤差信號(hào)來(lái)執(zhí)行尋軌伺服控制。因此，即使當(dāng)由上述鏡頭移位導(dǎo)致的伺服激光束和ATS光之間的位置偏差以1/2 大于等于軌道寬度的程度發(fā)生，尋軌伺服也不會(huì)偏離。即，因此，可以降低體記錄介質(zhì)1的為了抑制偏心度等的制作精度。結(jié)果，能夠降低體記錄介質(zhì)1的成本。3.修改示例到目前為止已經(jīng)描述了本公開的實(shí)施例。然而，本公開不限于到目前為止所描述的具體示例。在上面的說(shuō)明中，當(dāng)在參考面Ref上形成圖5或圖6所示的凹坑列時(shí)，作為針對(duì)物鏡20的鏡頭移位或歪斜的對(duì)策，根據(jù)sum信號(hào)的采樣和保持值之間的差來(lái)生成尋軌誤差信號(hào)TE。然而，當(dāng)例如通過(guò)設(shè)置用于糾正由鏡頭移位或歪斜造成的點(diǎn)位置偏差的單元，從而可以忽略由鏡頭移位或歪斜造成的影響時(shí)，通過(guò)采樣和保持推挽式信號(hào)而獲得的信號(hào)也可以用作尋軌誤差信號(hào)TE。在上面的說(shuō)明中，到目前為止已經(jīng)描述了生成線性誤差信號(hào)并且在不做任何改變的情況下使用的圖14所示的尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F的情形。然而，可以使用根據(jù)修改示例的如下方法來(lái)作為生成線性誤差信號(hào)的方法。圖19至22是圖示了根據(jù)修改示例的生成線性誤差信號(hào)的方法。首先，圖19示出了當(dāng)點(diǎn)位置在半徑方向上移動(dòng)時(shí)所獲得的尋軌誤差信號(hào)TE_A至 TE_F的波形，并且示出了時(shí)間點(diǎn)tA以及時(shí)間點(diǎn)tD，其中時(shí)間點(diǎn)tA是在波形圖中所述點(diǎn)位于凹坑列A的正上方時(shí)的時(shí)序，并且時(shí)間點(diǎn)tD是所述點(diǎn)位于凹坑列D的正上方時(shí)的時(shí)序。在圖20A和20B中，點(diǎn)在參考面Ref上跟蹤凹坑列A (圖20A)并且跟蹤凹坑列D (圖 20B)。如圖20A和20B所示，在線方向(凹坑列形成方向)上、點(diǎn)與凹坑列A上的凹坑可形成位置一致時(shí)的時(shí)序稱為tsl。類似地，在線方向上、點(diǎn)與凹坑列A、凹坑列B、凹坑列C、凹坑列D、凹坑列E和凹坑列上的凹坑可形成位置一致時(shí)的時(shí)序稱為ts2、ts3、ts4、ts5和ts6。首先，參考圖19，可以明白凹坑列A的尋軌誤差信號(hào)TE_A的相位與凹坑列D的尋軌誤差信號(hào)TE_D的相位相反，換句話說(shuō)，兩者的極性相反。即，可得到關(guān)系“A = -D”。在該修改示例中，提供了一種利用在尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F中具有極性相反關(guān)系的尋軌誤差信號(hào)TE對(duì)的方法。這里，圖20A所示的點(diǎn)跟蹤凹坑列A的狀態(tài)對(duì)應(yīng)于圖19中的時(shí)間點(diǎn)tA處的點(diǎn)位置。類似地，圖20B所示的點(diǎn)跟蹤凹坑列D的狀態(tài)對(duì)應(yīng)于圖19中的時(shí)間點(diǎn)tD處的點(diǎn)位置。S卩，從該事實(shí)可以明白，隨著點(diǎn)位置在半徑方向上移動(dòng)，圖20A所示的點(diǎn)位置的狀態(tài)過(guò)渡(或逆向過(guò)渡)到圖20B所示的點(diǎn)位置的狀態(tài)?？紤]到該事實(shí)，在圖19的時(shí)間點(diǎn)tA處(即在圖20A的狀態(tài)下)，基于經(jīng)過(guò)目標(biāo)凹坑A的正上方的點(diǎn)的反射光生成尋軌誤差信號(hào)TE_A。然而，當(dāng)點(diǎn)位置在半徑方向上移動(dòng)并且變?yōu)闀r(shí)間點(diǎn)tD(即圖20B的狀態(tài))時(shí)，在點(diǎn)位于距離目標(biāo)凹坑A最遠(yuǎn)的位置處的狀態(tài)下生成尋軌誤差信號(hào)TE_A。相同的情況適用于尋軌誤差信號(hào)TE_D。S卩，在圖19的時(shí)間點(diǎn)tD(圖20B的狀態(tài)) 處，可以基于經(jīng)過(guò)目標(biāo)凹坑D的正上方的點(diǎn)的反射光來(lái)生成尋軌誤差信號(hào)TE_D。然而，在時(shí)間點(diǎn)tA(圖20A的狀態(tài))處，在點(diǎn)位于與目標(biāo)凹坑D最遠(yuǎn)的位置處的狀態(tài)下生成尋軌誤差信號(hào)TE_D。以這種方式，在點(diǎn)在半徑方向上發(fā)生移位的情況下，基于當(dāng)點(diǎn)位置變得遠(yuǎn)離目標(biāo)凹坑列時(shí)、遠(yuǎn)離目標(biāo)凹坑列的點(diǎn)的反射光生成尋軌誤差信號(hào)TE。此時(shí)，存在在遠(yuǎn)離目標(biāo)凹坑列的部分中、值的可靠性較低的問(wèn)題。 從尋軌誤差信號(hào)TE_A和TE_D之間的關(guān)系看，在點(diǎn)位置距離關(guān)于尋軌誤差信號(hào)TE_ A的目標(biāo)凹坑列距離最遠(yuǎn)的時(shí)間點(diǎn)tD處，點(diǎn)位置位于關(guān)于尋軌誤差信號(hào)TE_D的目標(biāo)凹坑列 D的正上方。當(dāng)考慮該事實(shí)以及上述尋軌誤差信號(hào)TE_A與TE_D之間的反相關(guān)系(A = -D)時(shí)， 對(duì)于尋軌誤差信號(hào)TE_A，在點(diǎn)位置位于目標(biāo)凹坑列A附近的狀態(tài)下，不做任何變化地使用尋軌誤差信號(hào)TE_A。在點(diǎn)位置遠(yuǎn)離目標(biāo)凹坑列A的狀態(tài)下，如果使用尋軌誤差信號(hào)TE_D的相反值，結(jié)果，通過(guò)在點(diǎn)位置位于目標(biāo)凹坑列A附近的狀態(tài)下生成的信號(hào)，通常可獲得與尋軌誤差信號(hào)TE_A的波形相同的信號(hào)。相同的情況適用于尋軌誤差信號(hào)TE_E。即，對(duì)于尋軌誤差信號(hào)TE_C，與其具有反相關(guān)系的尋軌誤差信號(hào)TE_F與尋軌誤差信號(hào)TE_C成對(duì)，在點(diǎn)位置位于目標(biāo)凹坑列 C的附近時(shí)，不做任何變化地輸出尋軌誤差信號(hào)TE_C。在點(diǎn)位置遠(yuǎn)離凹坑列C的狀態(tài)下，輸出尋軌誤差信號(hào)TE_F的相反值。對(duì)于尋軌誤差信號(hào)TE_E，與其具有反相關(guān)系的尋軌誤差信號(hào)TE_B與尋軌誤差信號(hào)TE_E成對(duì)，在點(diǎn)位置位于目標(biāo)凹坑列E的狀態(tài)下，不做任何變化地輸出尋軌誤差信號(hào)TE_E。在點(diǎn)位置遠(yuǎn)離目標(biāo)凹坑列E的狀態(tài)下，輸出尋軌誤差信號(hào)TE_B 的相反值。這里，利用尋軌誤差信號(hào)TE_A和TE_D對(duì)、尋軌誤差信號(hào)TE_E和TE_B對(duì)以及尋軌誤差信號(hào)TE_C和TE_F對(duì)所生成的尋軌誤差信號(hào)TE分別稱為尋軌誤差信號(hào)TE_p、TE_q和 TE_r0尋軌誤差信號(hào)TE_p、TE_q和TE_r的波形如圖21所示。下面將描述生成尋軌誤差信號(hào)TE_p、TE_q和TE_r的具體方法。在下面的計(jì)算表達(dá)式中，si至s6表示在圖20A和20B所示的時(shí)序tsl至ts6處的sum信號(hào)的幅值。此外，A表示尋軌誤差信號(hào)TE_A的幅值并且D表示尋軌誤差信號(hào)TE_D的幅值。類似地，E、B、C和F表示尋軌誤差信號(hào)TE_E、TE_B、TE_C和TE_F的幅值。si < s4 — TE_p = Asi 彡 s4 — TE_p = -Ds5 < s2 ^ TE_q = Es5 彡 s2 — TE_q = -Bs3 < s6 — TE_r = Cs3 彡 s6 — TE_r = -F
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生成尋軌誤差信號(hào)TE_p、TE_q* TE_r的方法不限于上述方法。例如，可以使用如下方法。s6+s2 < s3+s5 — TE_p = As6+s2 彡 s3+s5 — TE_p = -D圖22是圖示了根據(jù)修改示例利用尋軌誤差信號(hào)TE_p、TE_q和TE_r生成線性誤差信號(hào)的具體方法的示圖。首先，在本示例中，尋軌誤差信號(hào)TE的幅值的大小也用情況相除。具體而言，在本示例中，與使用的尋軌誤差信號(hào)TE的三種相位對(duì)應(yīng)，情況分為情況21至情況沈的六種情況。假設(shè)尋軌誤差信號(hào)TE_p、TE_q和TE_r的幅值稱為p、q和r，情況21至情況沈的定義如下。case 21 :p < q < rcase 22 :q < ρ < rcase 23 :q < r < ρcase 24 :r < q < ρcase 25 :r < ρ < qcase 26 :p < r < q在該修改示例中，順次地監(jiān)測(cè)尋軌誤差信號(hào)TE_p、TE_r的幅值并且判定上面所定義的情況。通過(guò)執(zhí)行下述計(jì)算來(lái)生成針對(duì)以這種方式判定的各個(gè)情況線性誤差信號(hào)。在下面的計(jì)算示例中，假設(shè)開始經(jīng)受伺服ON切換的凹坑列是凹坑列E，并且位于凹坑列上的點(diǎn)位置是線性誤差信號(hào)的零點(diǎn)。在下面的計(jì)算示例中，P (n)、Ppra和HPK的定義與實(shí)施例中的相同。case 21··· P (η) = Pprev+qcase 22... P (η) = Pprev-HPK-pcase 23—P (η) = Pprev-HPK+rcase 24—P (η) = Pprev-HPK-qcase 25...P(n) = Pprev_HPK+pcase 26...P(n) = Pprev-HPK_r根據(jù)修改示例的生成線性誤差信號(hào)的方法是通過(guò)在當(dāng)點(diǎn)位置在半徑方向上移動(dòng)時(shí)、各相位的尋軌誤差信號(hào)TE的幅度的大小關(guān)系發(fā)生變化的預(yù)定時(shí)序處、順次地連接關(guān)于在點(diǎn)位置的移動(dòng)方向上彼此相鄰的凹坑列的尋軌誤差信號(hào)TE，來(lái)生成線性誤差信號(hào)的方法。具體而言，根據(jù)修改示例，當(dāng)各相位的尋軌誤差信號(hào)TE的幅度的大小關(guān)系在點(diǎn)位置在半徑方向上移動(dòng)時(shí)發(fā)生變化時(shí)，順次地選擇關(guān)于在點(diǎn)位置的移動(dòng)方向上彼此相鄰的凹坑列的尋軌誤差信號(hào)TE(尋軌誤差信號(hào)TE_q是關(guān)于凹坑列E的信號(hào)，尋軌誤差信號(hào)TE_r 是關(guān)于凹坑列C的信號(hào)，并且尋軌誤差信號(hào)TE_p是關(guān)于凹坑列A的信號(hào))。此外，在尋軌誤差信號(hào)TE的幅度的大小關(guān)系發(fā)生變化的各時(shí)序(上述預(yù)定時(shí)序)處，通過(guò)將作為此時(shí)間點(diǎn)處的線性誤差信號(hào)輸出的值(Pprev)減去新選擇的尋軌誤差信號(hào)TE在預(yù)定時(shí)序處的值(HPK)而得到的值，是參考值(Pprev-HPK)。通過(guò)將新選擇的尋軌誤差信號(hào)TE的值加到參考值而得到的值(P(η))被作為線性誤差信號(hào)的值順次地輸出。在根據(jù)修改示例的生成線性誤差信號(hào)的方法中，當(dāng)圖22與上述圖14比較時(shí)，在情況21中所選的尋軌誤差信號(hào)TE_q對(duì)應(yīng)于尋軌誤差信號(hào)TE_E，并且在情況M中所選的尋軌誤差信號(hào)TE_q對(duì)應(yīng)于尋軌誤差信號(hào)TE_B。此外，在情況22中所選的尋軌誤差信號(hào)TE_p 對(duì)應(yīng)于尋軌誤差信號(hào)TE_D，并且在情況25中所選的尋軌誤差信號(hào)TE_p對(duì)應(yīng)于尋軌誤差信號(hào)TE_A。此外，在情況23中所選的尋軌誤差信號(hào)TE_r對(duì)應(yīng)于尋軌誤差信號(hào)TE_C，并且在情況沈中所選的尋軌誤差信號(hào)TE_r對(duì)應(yīng)于尋軌誤差信號(hào)TE_F。從該事實(shí)可以明白，根據(jù)修改示例生成線性誤差信號(hào)的方法對(duì)應(yīng)于如下方法，即， 連接與形成在參考面Ref上的各相位的凹坑列A至F對(duì)應(yīng)的尋軌誤差信號(hào)TE_A至TE_F在零交叉點(diǎn)附近的波形。在根據(jù)上述修改示例的生成誤差信號(hào)的方法中，當(dāng)通過(guò)采樣和保持推挽式信號(hào)而獲得的信號(hào)用作尋軌誤差信號(hào)TE時(shí)，在點(diǎn)位于較靠近目標(biāo)凹坑列的位置處的狀態(tài)下，被采樣和保持的信號(hào)可以用作尋軌誤差信號(hào)TE。因此，即使當(dāng)通過(guò)地址調(diào)制產(chǎn)生了沒(méi)有凹坑的部分，也可以獲得具有較高可靠性的尋軌誤差信號(hào)TE。 在本說(shuō)明中，到目前為止已經(jīng)描述了如下示例，其中點(diǎn)位置通過(guò)根據(jù)在參考面Ref 上以相關(guān)技術(shù)的一個(gè)軌道寬度的間距螺旋形狀地凹坑列的形成、對(duì)給定凹坑列連續(xù)地執(zhí)行尋軌伺服，螺旋形狀地移動(dòng)。然而，點(diǎn)位置可以根據(jù)例如下述方法以任意間距螺旋形狀地移動(dòng)。S卩，通過(guò)對(duì)參考面端伺服控制系統(tǒng)的尋軌伺服環(huán)設(shè)置具有預(yù)定斜率的偏移信號(hào)， 使點(diǎn)位置在半徑方向上逐漸移位。此時(shí)，通過(guò)設(shè)置偏移信號(hào)的斜率可以任意地設(shè)置螺旋間距。即使當(dāng)凹坑列以同心圓形狀而不是螺旋形狀在參考面Ref上形成時(shí)，也能夠以螺旋形狀記錄在體層5中的標(biāo)記列。在上面的說(shuō)明中，共六個(gè)凹坑列A至F被設(shè)為具有不同凹坑列相位的多個(gè)凹坑列， 并且凹坑列以六種樣式(凹坑列相位)在半徑方向上重復(fù)地形成。多個(gè)凹坑列的數(shù)目不限于六個(gè)，而是可以使用大于或小于六個(gè)的數(shù)目。到目前為止已經(jīng)描述了這樣的示例，其中在凹坑列中的各凹坑可形成位置之間的節(jié)長(zhǎng)度被設(shè)置為對(duì)應(yīng)于3T的節(jié)長(zhǎng)度，并且凹坑可形成位置之間在凹坑列形成方向上的間隔被設(shè)置為對(duì)應(yīng)于3T的相同長(zhǎng)度(即，η = 6Τ)，但是這些長(zhǎng)度僅僅是示例。各凹坑可形成位置的邊緣之間在凹坑列形成方向上的間隔尅設(shè)置為滿足上述條件1)和幻。在上面的說(shuō)明中，布置了具有不同凹坑列相位的多個(gè)凹坑列，以使得凹坑列相位相對(duì)于外周側(cè)超前并且相對(duì)于內(nèi)周側(cè)延遲。然而，在多個(gè)凹坑列的樣式布局不超過(guò)光學(xué)極限的條件下可以設(shè)置各種樣式。例如，可以相反地布置凹坑列，使得凹坑列相位相對(duì)于內(nèi)周超前并且相對(duì)于外周延遲。在本示例中，雖然到目前為止還未描述，但是凹坑列根據(jù)CAV方法記錄在參考面 Ref上，因此以恒定的旋轉(zhuǎn)速度旋轉(zhuǎn)地驅(qū)動(dòng)體記錄介質(zhì)1。為此，在記錄層中，記錄密度向外周側(cè)逐漸減小。為了解決該問(wèn)題，可以額外地設(shè)置配置，例如，通過(guò)根據(jù)徑向位置連續(xù)地改變參考時(shí)鐘頻率，使記錄密度恒定(記錄密度可以被認(rèn)為是恒定的狀態(tài))。
在上面的說(shuō)明中，在記錄期間，為了使記錄激光束和ATS光的聚焦位置與信息記錄層位置L(即，被記錄的標(biāo)記列)一致，基于偏移量of-L來(lái)驅(qū)動(dòng)透鏡驅(qū)動(dòng)單元16，同時(shí)控制物鏡20的位置使得伺服激光束聚焦在參考面Ref上。通過(guò)基于來(lái)自標(biāo)記列的ATS光的反射光驅(qū)動(dòng)透鏡驅(qū)動(dòng)單元16，來(lái)執(zhí)行在記錄期間的記錄激光束和ATS光的聚焦位置控制(聚焦控制)。即，當(dāng)在記錄期間執(zhí)行ATS時(shí)能夠獲得來(lái)自被記錄的標(biāo)記列的ATS光的反射光。 因此，可以通過(guò)基于由接收反射光而生成的聚焦伺服信號(hào)FS-ap驅(qū)動(dòng)和控制透鏡驅(qū)動(dòng)單元 16，來(lái)執(zhí)行對(duì)要被記錄的信息記錄層位置L聚焦記錄激光束和ATS光的聚焦伺服控制。在上面的說(shuō)明中，到目前為止已經(jīng)描述了這樣的示例，其中在本公開的實(shí)施例中要被記錄的光學(xué)記錄介質(zhì)被認(rèn)為是體光學(xué)記錄介質(zhì)。在本公開的實(shí)施例中，可以使用例如具有如圖23所示的形成有多個(gè)記錄層而不是體層5的多層配置的記錄層的光學(xué)記錄介質(zhì) (也稱為多層記錄介質(zhì)60)。在圖23中，多層記錄介質(zhì)60具有與圖1所示的體記錄介質(zhì)1 相同的配置，其中從上層側(cè)依次形成有覆層2、選擇反射層3和中間層4。在這種情況下，代替體層5，層壓了具有如下層配置的記錄層，其中以預(yù)定次數(shù)重復(fù)地層壓半透明記錄膜61 和中間層4。如圖所示，形成在最底層中的半透明記錄膜61層壓在襯底62上?？梢允褂萌瓷溆涗浤ぷ鳛樾纬稍谧畹讓又械挠涗浤ぁ＿@里，必須注意在半透明記錄膜61中沒(méi)有形成由凹坑列的形成而產(chǎn)生的位置導(dǎo)引體。即，即使在多層記錄介質(zhì)60中，螺旋形狀或同心圓形狀的位置導(dǎo)引體也僅僅形成在用作參考面Ref的一個(gè)層位置中。由于在多層介質(zhì)60的記錄層中形成了用作反射膜的半透明記錄膜61，即使標(biāo)記在非記錄狀態(tài)下也可以獲得反射光。在上面的描述中，作為其中凹坑列以螺旋形狀形成的示例，到目前為止已經(jīng)描述了這樣的示例(多螺旋構(gòu)造)，其中圖6所示的各相位的凹坑列A至F以螺旋形狀單獨(dú)地形成。然而，如圖M所示，凹坑列可以單個(gè)螺旋形狀(單螺旋構(gòu)造)形成。此外，為了便于描述，在圖M中僅描述了凹坑列A至C三種相位。如圖所示，將光盤上的給定旋轉(zhuǎn)角位置確定為參考位置，并且凹坑列的相位在由參考位置所確定的每個(gè)軌道處順次地發(fā)生變化。例如，在圖5中的從外周側(cè)到內(nèi)周側(cè)(即， 凹坑列相位沿外周側(cè)方向被超前)布置凹坑列A — B — C —…的格式中，凹坑被形成為，在凹坑列A的相位在第η軌道、凹坑列C的相位在第η+1軌道、凹坑列B的相位在η+2軌道的狀態(tài)下，凹坑列的相位沿軌道逐漸超前。與上述圖6比較可知，沿半徑方向布置的凹坑列的相位關(guān)系與在單螺旋構(gòu)造中的圖6所示的相位關(guān)系相同。當(dāng)采用圖6所示的多螺旋構(gòu)造制造光盤時(shí)，可采用單獨(dú)地切割在相同光盤中的凹坑列A至F的方法。然而，在這種情況下，由于通過(guò)在半徑方向上輕微地移動(dòng)凹坑列的切割開始位置來(lái)順次地切割各個(gè)凹坑列，因此存在很難控制精度的問(wèn)題。另一方面，在圖M所示的單螺旋構(gòu)造中，只要切割數(shù)量是一，就能夠減小技術(shù)難度，并且能夠準(zhǔn)確地控制凹坑的形成時(shí)機(jī)。當(dāng)采用圖M所示的單螺旋構(gòu)造時(shí)，不容易在一個(gè)或多個(gè)軌道上對(duì)給定凹坑列進(jìn)行尋軌伺服。因此，在這種情況下，通過(guò)向?qū)ぼ壦欧h(huán)提供具有預(yù)定斜率的偏移信號(hào)，來(lái)以預(yù)定間距的螺旋形狀記錄記錄層。在上面的說(shuō)明中，其上形成有凹坑列的參考面形成在記錄層的上層側(cè)。然而，參考
3面也可以形成在記錄層的下層側(cè)。在上面地說(shuō)明中，本公開的實(shí)施例適用于對(duì)光盤記錄介質(zhì)(記錄層)執(zhí)行記錄和再現(xiàn)兩者的記錄再現(xiàn)設(shè)備。然而，本公開的實(shí)施例適用于僅能夠?qū)獗P記錄介質(zhì)(記錄層) 執(zhí)行記錄的專用記錄設(shè)備(記錄設(shè)備)。本公開包含涉及在于2010年11月10日在日本專利局提交的日本優(yōu)先專利申請(qǐng) JP 2010-251573中公開的主題，該申請(qǐng)的全部?jī)?nèi)容通過(guò)引用結(jié)合于此。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該明白，只要在所附權(quán)利要求或其等同物的范圍內(nèi)可以根據(jù)設(shè)計(jì)需求和其他因素做出各種修改、組合、子組合和變體。
權(quán)利要求
1.一種記錄設(shè)備，包括光發(fā)射/接收單元，其經(jīng)由共用物鏡向光盤記錄介質(zhì)發(fā)射記錄光、ATS光和位置控制光，其中所述光盤記錄介質(zhì)具有帶有位置導(dǎo)引體的參考面以及在與所述參考面的深度不同的深度處形成的記錄層，所述記錄光用于在所述記錄層中執(zhí)行標(biāo)記記錄，所述ATS光用于相鄰軌道伺服，所述位置控制光用于基于形成在所述參考面中的所述位置導(dǎo)引體來(lái)執(zhí)行位置控制，并且所述光發(fā)射/接收單元單獨(dú)地接收來(lái)自所述記錄層的所述ATS光的反射光和來(lái)自所述參考面的所述位置控制光的反射光；尋軌機(jī)構(gòu)，其在與所述光盤記錄介質(zhì)的半徑方向平行的尋軌方向上驅(qū)動(dòng)所述物鏡； 參考面?zhèn)葘ぼ壵`差信號(hào)生成單元，其基于由所述光發(fā)射/接收單元所獲得的針對(duì)所述位置控制光的光接收信號(hào)來(lái)生成參考面?zhèn)葘ぼ壵`差信號(hào)，所述參考面端尋軌誤差信號(hào)指示所述位置控制光的照射點(diǎn)位置相對(duì)于形成在所述參考面上的所述位置導(dǎo)引體的誤差；參考面?zhèn)葘ぼ壦欧盘?hào)生成單元，其通過(guò)對(duì)所述參考面?zhèn)葘ぼ壵`差信號(hào)進(jìn)行用于尋軌伺服的濾波處理、來(lái)生成用于消除由所述參考面?zhèn)葘ぼ壵`差信號(hào)所指示的尋軌誤差的參考面?zhèn)葘ぼ壦欧盘?hào)；尋軌驅(qū)動(dòng)單元，其基于所述參考面?zhèn)葘ぼ壦欧盘?hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)所述尋軌機(jī)構(gòu)； ATS側(cè)尋軌誤差信號(hào)生成單元，其基于由所述光發(fā)射/接收單元所獲得的針對(duì)所述ATS 光的光接收信號(hào)來(lái)生成ATS側(cè)尋軌誤差信號(hào)，所述ATS側(cè)尋軌誤差信號(hào)指示所述ATS光的照射點(diǎn)位置相對(duì)于記錄在所述記錄層中的標(biāo)記列的誤差；ATS控制信號(hào)生成單元，其通過(guò)對(duì)所述ATS側(cè)尋軌誤差信號(hào)執(zhí)行用于尋軌伺服的濾波處理、來(lái)生成用于消除由所述ATS端尋軌誤差信號(hào)所指示的尋軌誤差的ATS控制信號(hào)；以及信號(hào)提供單元，其將所述ATS控制信號(hào)提供到包括所述參考面?zhèn)葘ぼ壦欧盘?hào)生成單元的尋軌伺服環(huán)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所示的記錄設(shè)備，其中基于所述參考面?zhèn)葘ぼ壵`差信號(hào)執(zhí)行尋軌伺服控制的參考面?zhèn)人欧刂葡到y(tǒng)的控制頻帶設(shè)置成高于基于所述ATS側(cè)尋軌誤差信號(hào)執(zhí)行尋軌伺服控制的ATS控制系統(tǒng)的控制頻帶。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所示的記錄設(shè)備，其中所述光盤記錄介質(zhì)的參考面具有如下方式的多個(gè)凹坑列相位，其中以螺旋形狀或同心圓形狀來(lái)形成凹坑列，在所述凹坑列中將一周中的凹坑可形成位置之間的間隔限制為第一間隔，并且在沿半徑方向布置的凹坑列中的所述凹坑可形成位置在凹坑列形成方向上的間隔被設(shè)置在以預(yù)定第二間隔偏離的位置處， 其中所述參考面?zhèn)葘ぼ壵`差信號(hào)生成單元包括時(shí)鐘生成電路，其基于針對(duì)所述位置控制光的光接收信號(hào)來(lái)生成與所述凹坑可形成位置之間的間隔對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘，時(shí)序選擇信號(hào)生成電路，其基于由所述時(shí)鐘生成電路所生成的時(shí)鐘來(lái)生成多個(gè)時(shí)序選擇信號(hào)，其中所述多個(gè)時(shí)序選擇信號(hào)分別指示在所述參考面上形成的各個(gè)相位的凹坑列的所述凹坑可形成位置的時(shí)序，以及各相位尋軌誤差信號(hào)生成電路，其基于針對(duì)所述位置控制光的光接收信號(hào)以及由所述時(shí)序選擇信號(hào)生成電路生成的所述時(shí)序選擇信號(hào)來(lái)生成多個(gè)尋軌誤差信號(hào)，其中所述多個(gè)尋軌誤差信號(hào)分別指示形成在所述參考面上的各個(gè)相位的凹坑列的尋軌誤差，其中所述參考面?zhèn)葘ぼ壵`差信號(hào)生成單元通過(guò)順次地連接在所述位置控制光的照射點(diǎn)向半徑方向移動(dòng)時(shí)獲得的所述多個(gè)尋軌誤差信號(hào)在零交叉點(diǎn)附近的區(qū)間中的信號(hào)，來(lái)生成作為參考面?zhèn)葘ぼ壵`差信號(hào)的線性尋軌誤差信號(hào)，其中所述線性尋軌誤差信號(hào)線性地指示尋軌誤差量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所示的記錄設(shè)備，其中所述參考面?zhèn)葘ぼ壵`差信號(hào)生成單元通過(guò)在所述多個(gè)尋軌誤差信號(hào)的幅度的大小關(guān)系發(fā)生變化的每個(gè)預(yù)定時(shí)序處、順次地連接針對(duì)在所述照射點(diǎn)的移動(dòng)方向上相鄰的凹坑列的尋軌誤差信號(hào)，來(lái)生成所述線性尋軌誤差信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所示的記錄設(shè)備，其中所述參考面?zhèn)瓤刂葡到y(tǒng)的所述控制頻帶是大約10kHz，并且所述ATS側(cè)控制系統(tǒng)的所述控制頻帶是大約1kHz。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所示的記錄設(shè)備，其中所述光發(fā)射/接收單元向以體狀態(tài)的記錄層作為所述記錄層的光盤記錄介質(zhì)發(fā)射所述記錄光、所述ATS光以及所述位置控制光。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所示的記錄設(shè)備，其中所述光發(fā)射/接收單元向以具有多層結(jié)構(gòu)的記錄層作為所述記錄層的光盤記錄介質(zhì)發(fā)射所述記錄光、所述ATS光以及所述位置控制光，其中在所述多層結(jié)構(gòu)中在深度方向上的多個(gè)位置處形成有記錄膜。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種記錄設(shè)備，其包括光發(fā)射/接收單元，其經(jīng)由共用物鏡向光盤記錄介質(zhì)發(fā)射記錄光、ATS光和位置控制光；尋軌機(jī)構(gòu)，其在與光盤記錄介質(zhì)的半徑方向平行的尋軌方向上驅(qū)動(dòng)物鏡；參考面端尋軌誤差信號(hào)生成單元，其生成參考面端尋軌誤差信號(hào)；參考面端尋軌伺服信號(hào)生成單元，其生成參考面端尋軌伺服信號(hào)以消除尋軌誤差；尋軌驅(qū)動(dòng)單元，其驅(qū)動(dòng)尋軌機(jī)構(gòu)；ATS端尋軌誤差信號(hào)生成單元，其生成ATS端尋軌誤差信號(hào)；ATS控制信號(hào)生成單元，其生成ATS控制信號(hào)以消除尋軌誤差；以及信號(hào)提供單元，其將ATS控制信號(hào)提供到尋軌伺服環(huán)。
文檔編號(hào)G11B7/1374GK102467918SQ20111034850
公開日2012年5月23日 申請(qǐng)日期2011年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月10日
發(fā)明者堀米順一 申請(qǐng)人:索尼公司