專利名稱：回放設(shè)備、回放方法和程序的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本公開涉及回放設(shè)備、回放方法和程序。
背景技術(shù)：
由于在光學(xué)記錄介質(zhì)(光盤)的記錄和再現(xiàn)中使用的光學(xué)拾取器的物鏡的傾斜或者由于光盤的傾斜而發(fā)生慧形象差(coma aberration)。為了最小化慧形象差，調(diào)整物鏡的傾斜和光盤的傾斜等。例如在日本專利申請(qǐng)公開No. JP-A-2005-209283中公開了校正球面像差 (spherical aberration)和慧形象差以獲得在多層光記錄介質(zhì)的任何信息記錄表面上的期望的斑點(diǎn)特性(spot characteristic)的技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容
在這種情況下，利用具有多個(gè)信息記錄表面的多層光學(xué)記錄介質(zhì)，當(dāng)校正慧形象差時(shí)，當(dāng)一次校正每一層時(shí)調(diào)整時(shí)間顯著增加。例如，當(dāng)光盤具有四層信息記錄表面時(shí)，執(zhí)行四次調(diào)整，并且與具有一層或兩層的光盤相比，調(diào)整時(shí)間增加。此外，在日本專利申請(qǐng)公開No. JP-A-2005-209283中不考慮初始的慧形象差。在此，初始的慧形象差是在光學(xué)拾取器的制造中產(chǎn)生的由物鏡等引起的慧形象差。因此，在日本專利申請(qǐng)公開No. JP-A-2005-209283中，精度在實(shí)際使用中是不足的?？紤]到前面所述，期望提供能夠在多層光學(xué)記錄介質(zhì)中快速調(diào)整傾斜和減少慧形象差的新穎的和改進(jìn)的回放設(shè)備、回放方法和程序。按照本公開的實(shí)施例，提供了回放設(shè)備，包括調(diào)整部件，其基于光學(xué)記錄介質(zhì)的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面之中的第一數(shù)據(jù)記錄表面，調(diào)整關(guān)于第一數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜；調(diào)整量測(cè)量部件，其從傾斜調(diào)整的結(jié)果測(cè)量第一傾斜調(diào)整量；獲取部件，其獲取回放設(shè)備的慧形象差；和計(jì)算部件，其基于第一傾斜調(diào)整量和慧形象差，計(jì)算第二傾斜調(diào)整量以調(diào)整關(guān)于與第一數(shù)據(jù)記錄表面不同的第二數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜。計(jì)算部件可以基于第一傾斜調(diào)整量、第二傾斜調(diào)整量和慧形象差，計(jì)算第三傾斜調(diào)整量以調(diào)整關(guān)于與第一數(shù)據(jù)記錄表面和第二數(shù)據(jù)記錄表面不同的第三數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜。獲取部件可以通過直接測(cè)量回放設(shè)備的物鏡的慧形象差來獲取慧形象差。當(dāng)物鏡是傾斜的和固定的時(shí)，獲取部件可以測(cè)量其余的慧形象差作為透鏡傾斜并獲取慧形象差。計(jì)算部件可以基于第二傾斜調(diào)整量和慧形象差，計(jì)算第三傾斜調(diào)整量以調(diào)整關(guān)于與第一數(shù)據(jù)記錄表面和第二數(shù)據(jù)記錄表面不同的第三數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜。按照本公開的另一實(shí)施例，提供了回放方法，包括步驟基于光學(xué)記錄介質(zhì)的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面之中的第一數(shù)據(jù)記錄表面，調(diào)整關(guān)于第一數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜；從傾斜調(diào)整的結(jié)果測(cè)量第一傾斜調(diào)整量；獲取回放設(shè)備的慧形象差；和基于第一傾斜調(diào)整量和慧形象差，計(jì)算第二傾斜調(diào)整量以調(diào)整關(guān)于第二數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜，該第二數(shù)據(jù)記錄表面與第一數(shù)據(jù)記錄表面不同。按照本公開的另一實(shí)施例，提供了程序，包括命令計(jì)算機(jī)以執(zhí)行以下步驟的指令 基于光學(xué)記錄介質(zhì)的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面之中的第一數(shù)據(jù)記錄表面，調(diào)整關(guān)于第一數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜；從傾斜調(diào)整的結(jié)果測(cè)量第一傾斜調(diào)整量；獲取回放設(shè)備的慧形象差；和基于第一傾斜調(diào)整量和慧形象差，計(jì)算第二傾斜調(diào)整量以調(diào)整關(guān)于第二數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜， 該第二數(shù)據(jù)記錄表面與第一數(shù)據(jù)記錄表面不同。按照上面描述的本公開，可以在多層光學(xué)記錄介質(zhì)中快速調(diào)整傾斜并且減少慧形象差。


圖1是示出按照本公開第一實(shí)施例的光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備的硬件電路塊的硬件電路配置的框圖；圖2示出按照本實(shí)施例的系統(tǒng)控制器的框圖；圖3是示出多層光盤的示例的部分截面圖；圖4是示出光盤、支撐并旋轉(zhuǎn)光盤的主軸電機(jī)和光學(xué)拾取器的基本單元的部分側(cè)視圖；圖5是示出在可以直接測(cè)量的情況下推導(dǎo)出計(jì)算傾斜調(diào)整量的計(jì)算公式的方法的流程圖；圖6是在物鏡在制造時(shí)被傾斜并且附加的情況下推導(dǎo)出計(jì)算傾斜調(diào)整量的計(jì)算公式的方法的流程圖；和圖7是示出用于估計(jì)關(guān)于多層光盤2的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜校正量的方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式以下參考附圖詳細(xì)描述本公開的優(yōu)選實(shí)施例。注意，在該說明書和附圖中，具有基本上相同功能和結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)元件用相同的附圖標(biāo)記表示，并且省略對(duì)這些結(jié)構(gòu)元件的重復(fù)解釋。注意，將按照以下順序給出說明。1.第一實(shí)施例2.第二實(shí)施例3.調(diào)整LO層的傾斜優(yōu)選的原因1.第一實(shí)施例第一實(shí)施例的配置圖1示出按照本公開第一實(shí)施例的光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1的硬件電路塊的硬件電路配置。光盤2可以被內(nèi)部地加載到光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1中。光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1提供有光學(xué)拾取器3， 以使得光學(xué)拾取器3面向內(nèi)部地加載的光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面。此外，光學(xué)拾取器3由線程機(jī)構(gòu)4保持為使得其可以在光盤2的徑向方向上(以下稱為盤徑向方向)移動(dòng)。在用于在光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1中再現(xiàn)數(shù)據(jù)的光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面上形成擺動(dòng)(已擺動(dòng)的)溝槽(引導(dǎo)溝槽)。例如，溝槽預(yù)先擺動(dòng)以具有恒定的線速度和均勻的頻率。溝槽 (和在溝槽之間的槽脊)形成在其上記錄數(shù)據(jù)的軌道。關(guān)于溝槽的擺動(dòng)，將數(shù)據(jù)記錄表面中的地址信息(以下稱為盤地址信息)(被稱為前溝槽中地址(ADIP)信息)嵌入到光盤2 中。在光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1中，系統(tǒng)控制器5 (例如是微型計(jì)算機(jī))響應(yīng)于從外部的音頻視頻(AV)系統(tǒng)AVSl發(fā)布的各種命令，例如讀命令，整體地執(zhí)行設(shè)備的中央控制。系統(tǒng)控制器5 還執(zhí)行多種處理。以這種方式，在光盤2被加載到光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1中并且光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1被激活的狀態(tài)中，當(dāng)輸入開啟電源命令時(shí)，或者在激活完成之后可以進(jìn)行操作的狀態(tài)中(即， 電源開啟的狀態(tài)中)，當(dāng)光盤2被加載到光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1中時(shí)，系統(tǒng)控制器5進(jìn)入啟動(dòng)模式。在此時(shí)，基于系統(tǒng)控制器5的控制，伺服電路6驅(qū)動(dòng)線程機(jī)構(gòu)4并使得光學(xué)拾取器 3例如移動(dòng)到面對(duì)光盤2的最里面的圓周的位置。此外，基于系統(tǒng)控制器5的控制，主軸驅(qū)動(dòng)電路7驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)8并且因此使得光盤2以恒定速度旋轉(zhuǎn)。此外，當(dāng)光盤2旋轉(zhuǎn)時(shí)，激光驅(qū)動(dòng)器9基于系統(tǒng)控制器5的控制而產(chǎn)生激光控制信號(hào)。所產(chǎn)生的激光控制信號(hào)(該激光控制信號(hào)使得連續(xù)發(fā)射激光束)被發(fā)送到光學(xué)拾取器3。當(dāng)光學(xué)拾取器3從激光驅(qū)動(dòng)器9接收到激光控制信號(hào)時(shí)，基于激光控制信號(hào)，光學(xué)拾取器3使得激光束從激光二極管連續(xù)發(fā)射并且使得發(fā)射的激光束聚焦在物鏡上并且照射光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面。此外，例如使用多個(gè)光接收元件，光學(xué)拾取器3接收并且光電轉(zhuǎn)換當(dāng)激光束由光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面反射時(shí)獲得的反射光。以這種方式，光學(xué)拾取器3產(chǎn)生與由多個(gè)光接收元件中的每一個(gè)接收的反射光的量對(duì)應(yīng)的電流值的信號(hào)(以下稱為光電信號(hào))并且將光電信號(hào)發(fā)送到矩陣電路10。當(dāng)矩陣電路10從光學(xué)拾取器3接收由多個(gè)光接收元件產(chǎn)生的光電信號(hào)時(shí)，在將每個(gè)光電信號(hào)轉(zhuǎn)換為電壓值之后，矩陣電路10選擇性地使用電壓值以執(zhí)行矩陣計(jì)算處理、放大處理等。以這種方式，基于光電信號(hào)，矩陣電路10產(chǎn)生焦點(diǎn)誤差信號(hào)，該焦點(diǎn)誤差信號(hào)指示激光束的焦點(diǎn)關(guān)于光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面配合(correct)到何種程度。此外，基于光電信號(hào)，矩陣電路10產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)，該跟蹤誤差信號(hào)指示激光束的照射位置關(guān)于光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面的軌道配合到何種程度。矩陣電路10然后將焦點(diǎn)誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)發(fā)送到伺服電路6。要指出的是，在此時(shí)，基于系統(tǒng)控制器5的控制，伺服電路6產(chǎn)生焦點(diǎn)搜索信號(hào)并且將焦點(diǎn)搜索信號(hào)發(fā)送到光學(xué)拾取器3。產(chǎn)生焦點(diǎn)搜索信號(hào)以搜索物鏡的期望的位置，以使得激光束正確地聚焦在光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面上。以這種方式，伺服電路6使用焦點(diǎn)搜索信號(hào)以使得光學(xué)拾取器3的物鏡沿著光軸移動(dòng)，以例如逐步地移動(dòng)靠近光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面。在此時(shí)，基于從矩陣電路10提供的焦點(diǎn)誤差信號(hào)，執(zhí)行焦點(diǎn)拉進(jìn)(pull-in)操作，以使得激光束正確地聚焦在數(shù)據(jù)記錄表面上。然后，當(dāng)這種焦點(diǎn)拉進(jìn)操作完成時(shí)，伺服電路6基于從矩陣電路10連續(xù)提供的焦點(diǎn)誤差信號(hào)，產(chǎn)生焦點(diǎn)控制信號(hào)并且將焦點(diǎn)控制信號(hào)發(fā)送到光學(xué)拾取器3。以這種方式，伺服電路6通過使用焦點(diǎn)控制信號(hào)以在沿著光軸的方向上適當(dāng)?shù)匾苿?dòng)光學(xué)拾取器3的物鏡， 使得其接近(即移動(dòng)靠近)光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面(該方向在以下稱為接近方向)并且在相反方向上適當(dāng)?shù)匾苿?dòng)光學(xué)拾取器3的物鏡以使得其與數(shù)據(jù)記錄表面分開(S卩，移動(dòng)離開) (該方向在以下稱為遠(yuǎn)離方向)，來使得激光束聚焦在光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面上。通過這樣做，伺服電路6與光學(xué)拾取器3和矩陣電路10 —起形成焦點(diǎn)伺服回路，并且因此關(guān)于光盤 2的數(shù)據(jù)記錄表面跟蹤激光束的焦點(diǎn)。此外，基于系統(tǒng)控制器5的控制，伺服電路6產(chǎn)生軌道搜索信號(hào)，產(chǎn)生該軌道搜索信號(hào)以將激光束的照射位置對(duì)準(zhǔn)在光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面上的軌道上，并且將軌道搜索信號(hào)傳輸?shù)焦鈱W(xué)拾取器3。以這種方式，伺服電路6使用軌道搜索信號(hào)以例如在盤徑向方向上逐步移動(dòng)光學(xué)拾取器3的物鏡。在此時(shí)，基于從矩陣電路10提供的跟蹤誤差信號(hào)，執(zhí)行激光束的軌道拉進(jìn)操作，使得激光束的照射位置對(duì)準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄表面的軌道。然后，當(dāng)激光束的這種軌道拉進(jìn)(pull-in)操作完成時(shí)，伺服電路6基于從矩陣電路10連續(xù)提供的跟蹤誤差信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤控制信號(hào)并且將跟蹤控制信號(hào)發(fā)送到光學(xué)拾取器3。以這種方式，伺服電路6通過使用跟蹤控制信號(hào)以在盤徑向方向上適當(dāng)?shù)匾苿?dòng)光學(xué)拾取器3的物鏡，使得激光束照射到光盤2的軌道上。通過這樣做，伺服電路6與光學(xué)拾取器 3和矩陣電路10 —起形成跟蹤伺服回路，并且因此關(guān)于光盤2的軌道跟蹤激光束的照射位置。此外，當(dāng)焦點(diǎn)拉進(jìn)操作和軌道拉進(jìn)操作完成時(shí)，在將從光學(xué)拾取器3提供的多個(gè)光電信號(hào)中的每一個(gè)轉(zhuǎn)換為電壓值之后，矩陣電路10選擇性地使用電壓值以執(zhí)行矩陣計(jì)算處理、放大處理等。以這種方式，除了基于光電信號(hào)產(chǎn)生焦點(diǎn)誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)， 矩陣電路10還產(chǎn)生擺動(dòng)信號(hào)，該擺動(dòng)信號(hào)指示在光盤2上形成的溝槽的擺動(dòng)的幅度(以下稱為擺動(dòng)幅度)。矩陣電路10然后將擺動(dòng)信號(hào)發(fā)送到擺動(dòng)電路11。 擺動(dòng)電路11解調(diào)從矩陣電路10提供的擺動(dòng)信號(hào)并且產(chǎn)生流數(shù)據(jù)以檢測(cè)盤地址信息。擺動(dòng)電路11將流數(shù)據(jù)發(fā)送到地址產(chǎn)生電路12。地址產(chǎn)生電路12對(duì)從擺動(dòng)電路11提供的流數(shù)據(jù)執(zhí)行解碼處理，并且將作為解碼處理的結(jié)果獲得的盤地址信息發(fā)送到系統(tǒng)控制 5 ο以這種方式，系統(tǒng)控制器5可以按照從地址產(chǎn)生電路12提供的盤地址信息來檢測(cè)關(guān)于光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面的激光束的照射位置。注意，系統(tǒng)控制器5處于如下狀態(tài)，在該狀態(tài)中其可以檢測(cè)并且獲得激光束關(guān)于光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面的照射位置作為例如盤地址信息，并且然后，當(dāng)從AV系統(tǒng)AVSl發(fā)布讀命令時(shí)，系統(tǒng)控制器5從啟動(dòng)模式轉(zhuǎn)換到再現(xiàn)模式。在此時(shí)，當(dāng)由AV系統(tǒng)AVSl指定了指示數(shù)據(jù)讀開始位置的地址信息時(shí)，系統(tǒng)控制器5使得在那時(shí)從地址產(chǎn)生電路12提供的盤地址信息(即，在那個(gè)時(shí)間點(diǎn)激光束關(guān)于光盤 2的數(shù)據(jù)記錄表面的照射位置)與指示讀開始位置的地址信息比較，并且必要時(shí)產(chǎn)生搜尋 (seek)命令信號(hào)。然后系統(tǒng)控制器5將搜尋命令信號(hào)發(fā)送到伺服電路6。當(dāng)伺服電路6從系統(tǒng)控制器5接收搜尋命令信號(hào)時(shí)，伺服電路6臨時(shí)分離跟蹤伺服回路。然后，伺服電路6基于搜尋命令信號(hào)產(chǎn)生搜尋控制信號(hào)，并且將搜尋控制信號(hào)發(fā)送到線程機(jī)構(gòu)4。伺服電路6因此使用搜尋控制命令信號(hào)驅(qū)動(dòng)線程機(jī)構(gòu)4，并且使得光學(xué)拾取器3執(zhí)行搜尋操作，以使得其在盤徑向方向上跳過多個(gè)軌道。應(yīng)當(dāng)指出，當(dāng)系統(tǒng)控制器5使得光學(xué)拾取器3在盤徑向方向上執(zhí)行搜尋操作時(shí)，其產(chǎn)生軌道跳躍命令信號(hào)并且將軌道跳躍命令信號(hào)發(fā)送到伺服電路6。當(dāng)伺服電路6從系統(tǒng)控制器5接收軌道跳躍命令信號(hào)時(shí)，基于軌道跳躍命令信號(hào)，伺服電路6在跟蹤伺服回路處于分離狀態(tài)的同時(shí)產(chǎn)生跳躍控制信號(hào)，并且將跳躍控制信號(hào)發(fā)送到線程機(jī)構(gòu)4。據(jù)讀開始位置的軌道。注意，當(dāng)相對(duì)于軌道拉動(dòng)激光束的照射位置完成時(shí)，伺服電路6再次形成跟蹤伺服回路。此外，在此時(shí)，系統(tǒng)控制器5向激光驅(qū)動(dòng)器9指定激光束的讀出輸出值。由此，按照系統(tǒng)控制器5的命令，激光驅(qū)動(dòng)器9產(chǎn)生激光控制信號(hào)從而以讀出輸出值連續(xù)發(fā)射激光束，并且將激光控制信號(hào)發(fā)送到光學(xué)拾波器3。以這種方式，基于從激光驅(qū)動(dòng)器9提供的激光控制信號(hào)，光學(xué)拾取器3使得以讀出輸出值從激光二極管連續(xù)發(fā)射激光束。發(fā)射的激光束被聚焦在物鏡上并且照射到光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面上。此外，使用多個(gè)光接收元件，光學(xué)拾取器3接收并光電轉(zhuǎn)換當(dāng)激光束由光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面反射時(shí)獲得的反射光。以這種方式，光學(xué)拾取器3產(chǎn)生光電信號(hào)并且然后將光電信號(hào)發(fā)送到矩陣電路10。當(dāng)矩陣電路10從光學(xué)拾取器3接收多個(gè)光電信號(hào)時(shí)，在將每個(gè)光電信號(hào)轉(zhuǎn)換為電壓值之后，矩陣電路10選擇性地使用電壓值以執(zhí)行矩陣計(jì)算處理、放大處理等。以這種方式，基于光電信號(hào)，矩陣電路10產(chǎn)生焦點(diǎn)誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)和擺動(dòng)信號(hào)。此外，矩陣電路10還產(chǎn)生與再現(xiàn)目標(biāo)的數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的高頻信號(hào)(以下稱為RF信號(hào))。然后，除了將焦點(diǎn)誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)發(fā)送到伺服電路6并且將擺動(dòng)信號(hào)發(fā)送到擺動(dòng)電路11之后，矩陣電路10還將RF信號(hào)發(fā)送到讀取器電路13。讀取器電路13對(duì)從矩陣電路10提供的RF信號(hào)執(zhí)行二進(jìn)制處理，并且將作為二進(jìn)制處理的結(jié)果獲得的調(diào)制數(shù)據(jù)發(fā)送到解調(diào)電路14。此外，讀取器電路13在那時(shí)使用RF信號(hào)以執(zhí)行鎖相回路(PLL)處理，并且由此產(chǎn)生用于再現(xiàn)處理的操作時(shí)鐘(以下稱為再現(xiàn)操作時(shí)鐘)。然后讀取器電路13將再現(xiàn)操作時(shí)鐘提供到其它部件。解調(diào)電路14與從讀取器電路13提供的再現(xiàn)操作時(shí)鐘同步地操作。然后，解調(diào)電路14對(duì)從讀取器電路13提供的調(diào)制數(shù)據(jù)執(zhí)行解調(diào)處理，諸如運(yùn)行長度受限的解碼處理，并且將作為結(jié)果獲得的編碼數(shù)據(jù)發(fā)送到解碼器15。解碼器15也與在那時(shí)從讀取器電路13提供的再現(xiàn)操作時(shí)鐘同步地操作。然后， 例如對(duì)從解調(diào)電路14提供的添加了誤差校正碼的編碼的數(shù)據(jù)的每個(gè)單元塊，解碼器15執(zhí)行誤差檢測(cè)/校正處理和解碼處理，諸如解交織處理。解碼器15由此產(chǎn)生再現(xiàn)目標(biāo)數(shù)據(jù)并且將產(chǎn)生的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在內(nèi)部緩沖器中。此外，按照來自AV系統(tǒng)AVSl的命令，例如每次解碼器15將與預(yù)定數(shù)量的單元塊、 諸如四個(gè)單元塊對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在緩沖器中時(shí)，解碼器15從緩沖器中讀出預(yù)定數(shù)量的單元塊的數(shù)據(jù)并且將數(shù)據(jù)發(fā)送到AV系統(tǒng)AVSl。以這種方式，系統(tǒng)控制器5可以再現(xiàn)記錄在光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面上的數(shù)據(jù)并且將數(shù)據(jù)傳送到AV系統(tǒng)AVSl。在此時(shí)應(yīng)當(dāng)注意，例如基于從讀取器電路13提供的再現(xiàn)操作時(shí)鐘，主軸驅(qū)動(dòng)電路 7檢測(cè)主軸電機(jī)8的當(dāng)前旋轉(zhuǎn)速度。此外，例如主軸驅(qū)動(dòng)電路7使得當(dāng)前旋轉(zhuǎn)速度與預(yù)定參考速度比較，這使得光盤2以恒定的線速度旋轉(zhuǎn)。主軸驅(qū)動(dòng)電路7由此產(chǎn)生主軸誤差信號(hào)， 該主軸誤差信號(hào)指示主軸電機(jī)8的旋轉(zhuǎn)速度在何種程度上與參考速度匹配。然后，基于主軸誤差信號(hào)，主軸驅(qū)動(dòng)電路7產(chǎn)生主軸控制信號(hào)，并且將主軸控制信號(hào)發(fā)送到主軸電機(jī)8。主軸驅(qū)動(dòng)電路7以這種方式使用控制信號(hào)來使得主軸電機(jī)8旋轉(zhuǎn)，并且由此使得光盤2以恒定的線速度旋轉(zhuǎn)。光學(xué)拾取器3具有用于監(jiān)視激光束的輸出的光接收元件(以下，這些被特別地稱為監(jiān)視光接收元件)。為此原因，光學(xué)拾取器3使用監(jiān)視光接收元件，接收并光電轉(zhuǎn)換當(dāng)激光束由光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面反射時(shí)獲得的一些反射光。由此，光學(xué)拾取器3產(chǎn)生激光束輸出監(jiān)視信號(hào)(以下稱為輸出監(jiān)視信號(hào))并且將輸出監(jiān)視信號(hào)發(fā)送到激光驅(qū)動(dòng)器9。激光驅(qū)動(dòng)器9具有自動(dòng)功率控制(APC)電路。作為結(jié)果，在控制光學(xué)拾取器3的激光二極管的同時(shí)，激光驅(qū)動(dòng)器9將從光學(xué)拾取器3提供的輸出監(jiān)視信號(hào)饋送到APC電路。 以這種方式，激光驅(qū)動(dòng)器9使用APC電路基于輸出監(jiān)視信號(hào)監(jiān)視激光束的輸出，并且適當(dāng)?shù)卣{(diào)整激光控制信號(hào)的值，由此執(zhí)行控制，以使得以恒定的讀出輸出來輸出激光束，而無論環(huán)境溫度的變化等如何。此外，當(dāng)激光束正被照射到光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面上時(shí)，伺服電路6基于例如作為跟蹤誤差信號(hào)的低頻分量獲得的線程誤差信號(hào)產(chǎn)生線程控制信號(hào)。伺服電路6將線程控制信號(hào)發(fā)送到線程機(jī)構(gòu)4。伺服電路6由此使用線程控制信號(hào)驅(qū)動(dòng)線程機(jī)構(gòu)4并且使得光學(xué)拾取器3在盤徑向方向上逐漸移動(dòng)。以這種方式，伺服電路6可以使得從光盤2的數(shù)據(jù)記錄表面沿著軌道讀取再現(xiàn)目標(biāo)數(shù)據(jù)。接下來參考圖2解釋按照本實(shí)施例的光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1的系統(tǒng)控制器5。圖2是示出按照本實(shí)施例的系統(tǒng)控制器5的框圖。如圖2所示，系統(tǒng)控制器5包括測(cè)量部件102和估計(jì)部件104。測(cè)量部件102是調(diào)整部件的示例，并且調(diào)整關(guān)于光盤2的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面之中的一個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜。此外，測(cè)量部件102是調(diào)整量測(cè)量部件的示例，并且從調(diào)整傾斜的結(jié)果計(jì)算用于數(shù)據(jù)記錄表面之一的傾斜調(diào)整量。注意，在傾斜調(diào)整中，通過檢測(cè)激光束的光軸方向等，將光學(xué)拾取器3的物鏡傾斜并調(diào)整以使得減少慧形象差。公知技術(shù)可用于傾斜調(diào)整，并且在本說明書中省略詳細(xì)解釋。估計(jì)部件104是獲取部件的示例，并且獲取光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1和光學(xué)拾取器3本身的慧形象差。估計(jì)部件104可以測(cè)量物鏡的慧形象差并且獲取慧形象差。替代地，當(dāng)物鏡在制造光學(xué)拾取器3時(shí)被傾斜和固定時(shí)，估計(jì)部件104可以測(cè)量其余的慧形象差作為透鏡傾斜并且可以獲取慧形象差。估計(jì)部件104是計(jì)算部件的示例?；趯?duì)于另一層的和關(guān)于慧形象差的測(cè)量的傾斜調(diào)整結(jié)果量和/或估計(jì)的傾斜調(diào)整量，估計(jì)部件104計(jì)算另一層的傾斜調(diào)整量。第一實(shí)施例的操作接下來，將解釋按照本實(shí)施例的用于估計(jì)多層光盤2的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜校正量的方法。圖7是示出用于估計(jì)多層光盤2的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜校正量的方法的流程圖。在本實(shí)施例中，示出了一種方法，在該方法中，通過傾斜物鏡來執(zhí)行傾斜調(diào)整。注意，甚至當(dāng)使用不同于物鏡的其它組件，諸如液晶元件來執(zhí)行傾斜調(diào)整時(shí)，可以采用類似的方法。首先，將多層光盤2插入到光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1中(步驟S31)。通過這樣做，開始準(zhǔn)備將數(shù)據(jù)記錄到多層光盤2上或再現(xiàn)在多層光盤2上的數(shù)據(jù)。以下，作為用于記錄或用于再現(xiàn)的準(zhǔn)備，將解釋傾斜調(diào)整。更具體地，關(guān)于多層光盤2的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面的某單個(gè)層(例如LO層)執(zhí)行傾斜調(diào)整(步驟S32)。因?yàn)橛捎诠鈱W(xué)拾取器3的物鏡傾斜并且由于光盤2的傾斜而發(fā)生慧形象差，所以可以通過傾斜物鏡來減少慧形象差。然后，當(dāng)調(diào)整完成時(shí)，獲取傾斜調(diào)整結(jié)果量[deg]，其指示用于某單個(gè)層的傾斜調(diào)整的物鏡的傾斜角度。接下來，從存儲(chǔ)器6讀出預(yù)先估計(jì)或計(jì)算的初始慧形象差I(lǐng)c。然后，基于獲取的傾斜調(diào)整結(jié)果量和基于初始慧形象差I(lǐng)c，估計(jì)每個(gè)其它層(例如Ll層、L2層和L3層)的傾斜調(diào)整量(步驟S3； )。傾斜調(diào)整量是一角度[deg]，對(duì)于關(guān)于其它層的傾斜調(diào)整以該角度傾斜物鏡。正如后面將解釋的，如果對(duì)于某單個(gè)層獲取傾斜調(diào)整結(jié)果量，則可以估計(jì)用于其它層之一的傾斜調(diào)整量，并且如果可以對(duì)于其它層之一估計(jì)傾斜調(diào)整量，則可以對(duì)于其它層中的另一個(gè)估計(jì)傾斜調(diào)整量。然后，當(dāng)數(shù)據(jù)實(shí)際被寫到數(shù)據(jù)記錄表面上或從數(shù)據(jù)記錄表面讀取時(shí)，基于每一層的估計(jì)的傾斜調(diào)整量，傾斜物鏡，并且將數(shù)據(jù)記錄到多層光盤2上或者再現(xiàn)多層光盤2上的數(shù)據(jù)。接下來，將解釋用于估計(jì)或計(jì)算初始慧形象差I(lǐng)c的方法和用于計(jì)算傾斜調(diào)整量的方法。初始慧形象差I(lǐng)c是在光學(xué)拾取器3的制造時(shí)發(fā)生的由物鏡等導(dǎo)致的慧形象差。 圖5是示出在可以直接測(cè)量的情況下用于推導(dǎo)出計(jì)算傾斜調(diào)整量的計(jì)算公式的方法的流程圖。圖6是在物鏡在制造時(shí)被傾斜和附加的情況下用于推導(dǎo)出計(jì)算傾斜調(diào)整量的計(jì)算公式的方法的流程圖。初始慧形象差I(lǐng)c存在兩種模式，即，可以直接測(cè)量初始慧形象差的情況(第一工作示例)和當(dāng)制造時(shí)物鏡被傾斜和安裝時(shí)測(cè)量其余的慧形象差作為透鏡傾斜并且計(jì)算初始慧形象差I(lǐng)c的情況(第二工作示例)。在第一工作示例中，當(dāng)獲取了初始慧形象差I(lǐng)c時(shí)，將初始慧形象差I(lǐng)c存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器16中。在第二工作示例中，代替初始慧形象差I(lǐng)c，將用于計(jì)算初始慧形象差I(lǐng)c的參數(shù)預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器16中。讀出參數(shù)并且計(jì)算初始慧形象差I(lǐng)c。在物鏡被傾斜和調(diào)整之后的誤差[λ rms]如以下公式所示[公式1]Error = DTsLiDt+Ic-LTsLiTLiadJ 公式 1這里，Dt是加載的多層光盤2的歪斜(skew)量[deg]。初始慧形象差I(lǐng)c是對(duì)光學(xué)拾取器3特定的慧形象差[λ rms]。當(dāng)初始慧形象差 Ic的方向與如圖4所示當(dāng)傾斜Dt時(shí)發(fā)生的象差的方向相同時(shí)，初始慧形象差I(lǐng)c被定義為正的。TLiadj是一角度[deg]，對(duì)于Li層以該角度傾斜和調(diào)整物鏡。LTsli是從透鏡傾斜[deg]轉(zhuǎn)換為慧形象差[Arms]的轉(zhuǎn)換因數(shù)。通過在物鏡的設(shè)計(jì)時(shí)的仿真和通過物鏡的實(shí)際測(cè)量計(jì)算上述轉(zhuǎn)換因數(shù)LTsu。是從盤傾斜[deg]轉(zhuǎn)換為慧形象差[Arms]的轉(zhuǎn)換因數(shù)，并且由公式2表示。[公式2]
權(quán)利要求
1.一種回放設(shè)備，包括調(diào)整部件，基于光學(xué)記錄介質(zhì)的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面之中的第一數(shù)據(jù)記錄表面，調(diào)整關(guān)于所述第一數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜；調(diào)整量測(cè)量部件，從傾斜調(diào)整的結(jié)果測(cè)量第一傾斜調(diào)整量； 獲取部件，獲取所述回放設(shè)備的慧形象差；和計(jì)算部件，基于所述第一傾斜調(diào)整量和所述慧形象差，計(jì)算第二傾斜調(diào)整量以調(diào)整關(guān)于與所述第一數(shù)據(jù)記錄表面不同的第二數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的回放設(shè)備，其中，所述計(jì)算部件基于所述第一傾斜調(diào)整量、第二傾斜調(diào)整量和慧形象差，計(jì)算第三傾斜調(diào)整量以調(diào)整關(guān)于與所述第一數(shù)據(jù)記錄表面和第二數(shù)據(jù)記錄表面不同的第三數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的回放設(shè)備，其中，所述獲取部件通過直接測(cè)量所述回放設(shè)備的物鏡的慧形象差來獲取所述慧形象差。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的回放設(shè)備，其中，當(dāng)物鏡傾斜并且固定時(shí)，所述獲取部件測(cè)量其余的慧形象差作為透鏡傾斜并獲取慧形象差。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的回放設(shè)備，其中，所述計(jì)算部件基于所述第二傾斜調(diào)整量和慧形象差，計(jì)算第三傾斜調(diào)整量以調(diào)整關(guān)于與所述第一數(shù)據(jù)記錄表面和第二數(shù)據(jù)記錄表面不同的第三數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的回放設(shè)備，其中，所述獲取部件通過直接測(cè)量所述回放設(shè)備的物鏡的慧形象差來獲取所述慧形象差。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的回放設(shè)備，其中，當(dāng)物鏡傾斜并且固定時(shí)，所述獲取部件測(cè)量其余的慧形象差作為透鏡傾斜并獲取慧形象差。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的回放設(shè)備，其中，所述獲取部件通過直接測(cè)量所述回放設(shè)備的物鏡的慧形象差來獲取所述慧形象差。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的回放設(shè)備，其中，當(dāng)物鏡傾斜并且固定時(shí)，所述獲取部件測(cè)量其余的慧形象差作為透鏡傾斜并獲取慧形象差。
10.一種回放方法，包括步驟基于光學(xué)記錄介質(zhì)的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面之中的第一數(shù)據(jù)記錄表面，調(diào)整關(guān)于所述第一數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜；從傾斜調(diào)整的結(jié)果測(cè)量第一傾斜調(diào)整量； 獲取所述回放設(shè)備的慧形象差；和基于所述第一傾斜調(diào)整量和慧形象差，計(jì)算第二傾斜調(diào)整量以調(diào)整關(guān)于第二數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜，所述第二數(shù)據(jù)記錄表面與第一數(shù)據(jù)記錄表面不同。
11. 一種程序，包括命令計(jì)算機(jī)以執(zhí)行以下步驟的指令基于光學(xué)記錄介質(zhì)的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面之中的第一數(shù)據(jù)記錄表面，調(diào)整關(guān)于所述第一數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜；從傾斜調(diào)整的結(jié)果測(cè)量第一傾斜調(diào)整量； 獲取所述回放設(shè)備的慧形象差；和基于所述第一傾斜調(diào)整量和慧形象差，計(jì)算第二傾斜調(diào)整量以調(diào)整關(guān)于第二數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜，其中所述第二數(shù)據(jù)記錄表面與第一數(shù)據(jù)記錄表面不同。
全文摘要
提供了回放設(shè)備、回放方法和程序。該回放設(shè)備包括調(diào)整部件，基于光學(xué)記錄介質(zhì)的多個(gè)數(shù)據(jù)記錄表面之中的第一數(shù)據(jù)記錄表面，調(diào)整關(guān)于第一數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜；調(diào)整量測(cè)量部件，從傾斜調(diào)整的結(jié)果測(cè)量第一傾斜調(diào)整量；獲取部件，獲取回放設(shè)備的慧形象差；和計(jì)算部件，基于第一傾斜調(diào)整量和慧形象差，計(jì)算第二傾斜調(diào)整量以調(diào)整關(guān)于與第一數(shù)據(jù)記錄表面不同的第二數(shù)據(jù)記錄表面的傾斜。
文檔編號(hào)G11B7/095GK102314898SQ201110170849
公開日2012年1月11日 申請(qǐng)日期2011年6月23日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月30日
發(fā)明者植村嘉門, 相樂誠一, 米澤健 申請(qǐng)人:索尼公司