專利名稱：光學(xué)頭聚焦誤差信號線性度的自動測量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光學(xué)頭聚焦誤差信號(FE)線性度的測量方法，尤其是一種操作 簡單、結(jié)果準(zhǔn)確、勞動強(qiáng)度低、檢測效率高的光學(xué)頭聚焦誤差信號線性度的自動測量方法。
背景技術(shù)：
光盤刻錄機(jī)或播放器光盤控制驅(qū)動模塊的聚焦誤差信號生成電路中有一個 FEbalance參數(shù)，調(diào)整聚焦誤差信號生成電路的FE balance參數(shù)可使光學(xué)頭的聚焦點(diǎn)沿聚 焦誤差信號(FE)的S字線性區(qū)移動。光盤刻錄機(jī)或播放器光盤控制驅(qū)動模塊中還存在一個聚焦增益(FGAIN)自動調(diào) 整電路，其功能是對伺服系統(tǒng)的聚焦增益進(jìn)行自動調(diào)整。使調(diào)整后的聚焦伺服系統(tǒng)幅頻特 性曲線的截止頻率《c滿足設(shè)計值(DVD的截止頻率設(shè)計值一般為1. 8kHz,⑶的截止頻率 設(shè)計值一般為1. IkHz……)。S字的線性度即光學(xué)頭(OPU)聚焦誤差信號的線性度，是光學(xué)頭重要的性能指標(biāo)， 線性度差就會影響光學(xué)頭聚焦伺服的穩(wěn)定性。目前，對光學(xué)頭聚焦誤差信號的線性度的測 量均使用目測方法，即通過觀察示波器上測得的光學(xué)頭聚焦誤差信號(FE)的S字圖形來判 斷。此方法操作復(fù)雜、勞動強(qiáng)度高、效率低，因此在實(shí)際生產(chǎn)中并不能對光學(xué)頭進(jìn)行全數(shù)檢 查，即便這樣還存在著檢測結(jié)果受人為因素影響大、精確度低等問題，直接影響了產(chǎn)品的可 靠性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為了解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的操作復(fù)雜、勞動強(qiáng)度高、效率及精確度低等 技術(shù)問題，提供一種操作簡單、結(jié)果準(zhǔn)確、勞動強(qiáng)度低、檢測效率高的光學(xué)頭聚焦誤差信號 線性度的自動測量方法。本發(fā)明的技術(shù)解決方案是一種光學(xué)頭聚焦誤差信號線性度的自動測量方法，其 特征在于按如下步驟進(jìn)行a.將上位計算機(jī)與光盤控制驅(qū)動模塊連接，實(shí)現(xiàn)相互通信；b.程序開始，上位計算機(jī)向光盤控制驅(qū)動模塊發(fā)送聚焦指令控制光學(xué)頭工作在 聚焦?fàn)顟B(tài)；c.上位計算機(jī)向光盤控制驅(qū)動模塊發(fā)送調(diào)整聚焦誤差信號生成電路參數(shù)及聚焦 增益自動調(diào)整指令調(diào)整聚焦誤差信號生成電路的參數(shù)，移動聚焦點(diǎn)位置分別在聚焦誤差 信號S字線性區(qū)的2n+l個點(diǎn)上，并在每個點(diǎn)上進(jìn)行聚焦增益自動調(diào)整，得到2n+l個聚焦增 益自動調(diào)整值；2n+l個點(diǎn)在S字線性區(qū)上下均勻分布，η為不等于零的正整數(shù)，當(dāng)η = 1時， 兩端的點(diǎn)不是最高或最低點(diǎn)；d.上位計算機(jī)向光盤控制驅(qū)動模塊發(fā)送寄存器數(shù)據(jù)讀取指令光盤控制驅(qū)動模 塊返回2n+l個聚焦增益自動調(diào)整值至上位計算機(jī)；e.上位計算機(jī)根據(jù)預(yù)存的聚焦誤差信號S字線性區(qū)斜率和聚焦增益值的關(guān)系公3式，計算得到2n+l個點(diǎn)的斜率值并存儲；f.上位計算機(jī)計算2n+l個斜率值中最大值與最小值之間的比值，即光學(xué)頭聚焦誤差信號線性度。本發(fā)明是用計算機(jī)進(jìn)行操作，通過上位計算機(jī)向光盤控制驅(qū)動模塊發(fā)送指令，調(diào) 整聚焦誤差信號生成電路的參數(shù)，使聚焦位置分別移動到聚焦誤差信號S字線性區(qū)范圍內(nèi) 至少3個等距的點(diǎn)上，在每個點(diǎn)上分別進(jìn)行聚焦增益自動調(diào)整；上位計算機(jī)根據(jù)聚焦增益 自動調(diào)整值和聚焦增益值和聚焦誤差信號S字線性區(qū)斜率的關(guān)系公式計算每個點(diǎn)的斜率， 并將這2n+l個斜率值中的的最大值與最小值相比，其比值即光學(xué)頭聚焦誤差信號線性度， 可在1 2秒鐘內(nèi)完成線性度的自動測量。本發(fā)明應(yīng)用在光盤刻錄機(jī)或播放器光學(xué)頭(OPU) 的生產(chǎn)環(huán)節(jié)中，具有操作簡單、結(jié)果準(zhǔn)確、勞動強(qiáng)度低及檢測效率高等優(yōu)點(diǎn)。


圖1是本發(fā)明實(shí)施例的程序流程圖。圖2是本發(fā)明實(shí)施例S字線性區(qū)內(nèi)2n+l個點(diǎn)的位置示意圖。
具體實(shí)施例方式對大批量同一型號光學(xué)頭測量前，需要用標(biāo)準(zhǔn)的、正常的光學(xué)頭作為樣本，確定聚 焦增益值和聚焦誤差信號S字線性區(qū)斜率的關(guān)系公式，并將此關(guān)系公式存于上位計算機(jī) 中。因不同型號0PU，其信號特性是不同的，聚焦增益和S字線性區(qū)斜率的關(guān)系曲線和關(guān)系 公式也是有差異的，需要針對不同型號0PU，建立相應(yīng)的關(guān)系公式。確定聚焦增益值和聚焦誤差信號S字線性區(qū)斜率的關(guān)系公式的方法很多，可以手 動改變聚焦增益值，同時通過數(shù)字示波器或記錄儀測定在當(dāng)前聚焦增益值的條件下的S字 線性區(qū)的斜率，建立聚焦增益和S字線性區(qū)斜率的一一對應(yīng)的二維數(shù)據(jù)表，根據(jù)《數(shù)值計算 與分析方法》確定聚焦誤差信號S字線性區(qū)斜率和聚焦增益值的關(guān)系公式。本發(fā)明實(shí)施例是采用如下方法確定關(guān)系公式的(以中國華錄 松下電子信息有限 公司內(nèi)制8. ^cL OPU為例)1.上位計算機(jī)發(fā)送修改聚焦增益調(diào)整寄存器值命令，光盤控制驅(qū)動模塊執(zhí)行命令 改變聚焦增益值。2.上位計算機(jī)發(fā)送物鏡上下移動命令，光盤控制驅(qū)動模塊執(zhí)行命令，控制光學(xué)頭 上下移動，同時用示波器記錄聚焦誤差信號S字波形。3.根據(jù)示波器上的聚焦誤差信號S字波形，利用微分學(xué)中關(guān)于微分定義的工程中 近似應(yīng)用，來測量聚焦誤差信號S字線性區(qū)的斜率。4.重復(fù)1 3，并記錄至少2組聚焦增益值和聚焦誤差信號S字線性區(qū)的斜率測 量值的對應(yīng)數(shù)據(jù)，建立二維數(shù)據(jù)表(見表1)，表 1NO.聚焦增益值S字線性區(qū)斜率NO.聚焦增益值S字線性區(qū)斜率HexDecDecHexDecDec00x00801281. 12150x044010884.371OxOOCO1921.45160x048011524. 5120x01002561. 53170x04C012164. 7430x01403201. 67180x050012804. 9840x01803841.82190x054013445. 225OxOlCO4481.98200x058014085. 5360x02005122. 13210x05C014725. 7870x02405762. 24220x060015366. 2380x02806402.48230x064016006.4190x02C07042. 76240x068016646. 67100x03007683. 01250x06C017286.88110x03408323. 25260x070017927. 12120x03808963. 47270x074018567. 45130x03C09603.7280x078019207. 77140x040010244. 13290x07C019848. 215.利用數(shù)值計算與分析方法或者直接利用Excel表中的圖表向?qū)У玫骄劢拐`差 信號S字線性區(qū)斜率(y)和聚焦增益值(χ)的關(guān)系公式為y = 6E-07x2+0. 0025x+0. 7857。對每個光學(xué)頭的聚焦誤差信號線性度的測量方法，只需如圖1所示，由上位計算 機(jī)控制操作a.將上位計算機(jī)與光盤控制驅(qū)動模塊連接，通過RS232實(shí)現(xiàn)相互通信；b.上位計算機(jī)向光盤控制驅(qū)動模塊發(fā)送聚焦指令使光學(xué)頭處于聚焦?fàn)顟B(tài)；c.上位計算機(jī)向光盤控制驅(qū)動模塊發(fā)送調(diào)整聚焦誤差信號生成電路參數(shù)及聚焦 增益自動調(diào)整指令，使聚焦點(diǎn)移動至指定位置且在該位置進(jìn)行聚焦增益自動調(diào)整調(diào)整聚 焦誤差信號生成電路的參數(shù)，移動聚焦點(diǎn)位置分別在聚焦誤差信號S字線性區(qū)的2n+l個點(diǎn) 上(如圖2所示)，并在每個點(diǎn)上進(jìn)行聚焦增益自動調(diào)整，得到2n+l個聚焦增益自動調(diào)整 值；2n+l個等距的點(diǎn)在S字線性區(qū)上下均勻分布，η為不等于零的正整數(shù)，當(dāng)η = 1時，兩端 的點(diǎn)不是最高或最低點(diǎn)；當(dāng)2η+1個聚焦點(diǎn)完成后，再進(jìn)行下一步；d.上位計算機(jī)向光盤控制驅(qū)動模塊發(fā)送寄存器數(shù)據(jù)讀取指令光盤控制驅(qū)動模 塊返回2n+l個聚焦增益自動調(diào)整值至上位計算機(jī)；e.上位計算機(jī)根據(jù)預(yù)存的聚焦誤差信號S字線性區(qū)斜率和聚焦增益值的關(guān)系公 式，計算得到2n+l個點(diǎn)的斜率值并存儲；f.上位計算機(jī)計算2n+l個斜率值中最大值與最小值之間的比值，即光學(xué)頭聚焦誤差信號線性度。光盤控制驅(qū)動模塊接受上位計算機(jī)所發(fā)送指令后即執(zhí)行命令，執(zhí)行命令的過程同 現(xiàn)有技術(shù)。權(quán)利要求
1. 一種光學(xué)頭聚焦誤差信號線性度的自動測量方法，其特征在于依次按如下步驟進(jìn)行a.將上位計算機(jī)與光盤控制驅(qū)動模塊連接，實(shí)現(xiàn)相互通信；b.上位計算機(jī)向光盤控制驅(qū)動模塊發(fā)送聚焦指令使光學(xué)頭處于聚焦?fàn)顟B(tài)；c.上位計算機(jī)向光盤控制驅(qū)動模塊發(fā)送調(diào)整聚焦誤差信號生成電路參數(shù)及聚焦增益 自動調(diào)整指令調(diào)整聚焦誤差信號生成電路的參數(shù)，移動聚焦點(diǎn)位置分別在聚焦誤差信號 S字線性區(qū)的2n+l個點(diǎn)上，并在每個點(diǎn)上進(jìn)行聚焦增益自動調(diào)整，得到2n+l個聚焦增益自 動調(diào)整值；2n+l個點(diǎn)在S字線性區(qū)上下均勻分布，η為不等于零的正整數(shù)，當(dāng)η = 1時，兩端 的點(diǎn)不是最高或最低點(diǎn)；d.上位計算機(jī)向光盤控制驅(qū)動模塊發(fā)送寄存器數(shù)據(jù)讀取指令光盤控制驅(qū)動模塊返 回2n+l個聚焦增益自動調(diào)整值至上位計算機(jī)；e.上位計算機(jī)根據(jù)預(yù)存的聚焦誤差信號S字線性區(qū)斜率和聚焦增益值的關(guān)系公式，計 算得到2n+l個點(diǎn)的斜率值并存儲；f.上位計算機(jī)計算2n+l個斜率值中最大值與最小值之間的比值，即光學(xué)頭聚焦誤差 信號線性度。
全文摘要
本發(fā)明公開一種光學(xué)頭聚焦誤差信號線性度的自動測量方法，是用計算機(jī)進(jìn)行操作，調(diào)整聚焦誤差信號生成電路的參數(shù)，使聚焦點(diǎn)位置分別移動到聚焦誤差信號S字線性區(qū)范圍內(nèi)至少3個等距的點(diǎn)上，在每個點(diǎn)上分別進(jìn)行聚焦增益自動調(diào)整，上位計算機(jī)根據(jù)聚焦增益自動調(diào)整值和聚焦增益值和聚焦誤差信號S字線性區(qū)斜率的關(guān)系公式計算每個點(diǎn)的斜率，并將每個點(diǎn)斜率的最大值與最小值相比，其比值即光學(xué)頭聚焦誤差信號線性度。可在1～2秒鐘內(nèi)完成線性度的自動測量，應(yīng)用在光盤刻錄機(jī)或播放器光學(xué)頭(OPU)的生產(chǎn)環(huán)節(jié)中，具有操作簡單、結(jié)果準(zhǔn)確、勞動強(qiáng)度低及檢測效率高等優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號G11B7/09GK102054492SQ201010540728
公開日2011年5月11日 申請日期2010年11月12日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月12日
發(fā)明者余永立, 周傳輝, 周稟楨 申請人:中國華錄·松下電子信息有限公司