專利名稱：光學(xué)拾取器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種具備將被記錄在光盤的記錄面上的信息讀出或者將信息記錄在光盤上的光盤裝置的光學(xué)拾取器。
背景技術(shù)：
光盤裝置的光學(xué)拾取器上所具備的一般的物鏡驅(qū)動單元，包括搭載了物鏡的可動部；支持該可動部的支持部件；聚焦線圈以及跟蹤線圈；磁軛以及磁鐵。
若在聚焦線圈上施加驅(qū)動電流，則借助于與來自磁鐵的磁通的作用而產(chǎn)生的電磁力，將可動部在光盤面接近或遠(yuǎn)離的方向、即聚焦方向上進(jìn)行驅(qū)動。同樣地若向跟蹤線圈施加驅(qū)動電流，則借助于與來自磁鐵的磁通之間的作用而產(chǎn)生的電磁力，將可動部在光盤的半徑方向、即跟蹤方向上進(jìn)行驅(qū)動。
這里存在以下的擔(dān)心若在使可動部向聚焦方向或跟蹤方向動作時產(chǎn)生物鏡的傾斜，將會發(fā)生光學(xué)上的像差，并給光盤的信息的記錄再生(重放)帶來不良影響。從而，就要求使可動部動作時傾斜較小的物鏡驅(qū)動單元。
這樣的光學(xué)拾取器的物鏡驅(qū)動單元的以往構(gòu)造的例子記載在專利文獻(xiàn)1中。在專利文獻(xiàn)1中公開了如下構(gòu)成的例子具有第一磁軛和組裝磁鐵的第二磁軛，并可以在跟蹤方向上對第二磁軛相對第一磁軛的位置進(jìn)行調(diào)整。據(jù)此，就公開了抑制存在因零件的尺寸誤差或組裝誤差等而引起的磁路中心和可動部中心的偏移時的可動部的傾斜的技術(shù)。
專利文獻(xiàn)1日本特開2001-184683號公報(第5頁，圖2)在上述專利文獻(xiàn)1中，對第二磁軛的位置進(jìn)行調(diào)整，但是，將磁鐵相對于磁軛進(jìn)行位置調(diào)整也可以作為解決對策來考慮。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供可以將磁鐵相對于磁軛進(jìn)行位置調(diào)整的光學(xué)拾取器。
為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明構(gòu)成如下一種光學(xué)拾取器，具有物鏡；保持上述物鏡的透鏡支架；與上述透鏡支架的側(cè)面相對而配置的磁鐵；以及在內(nèi)側(cè)安裝上述磁鐵的磁軛。上述磁軛以上述物鏡的光軸方向的靠近光盤一側(cè)為上方，遠(yuǎn)離光盤一側(cè)為下方，并在上述磁鐵的至少下側(cè)具有能夠從上述磁軛的外側(cè)目視上述磁鐵的開放部。
根據(jù)本發(fā)明，通過設(shè)置在磁鐵的上下的磁軛和蓋殼的開放部，將夾住磁鐵的夾具插入，就可依照可動部相對磁鐵的傾斜，在物鏡的光軸方向上對磁鐵的位置進(jìn)行調(diào)整。從而，就可以提供將可動部動作時在線圈產(chǎn)生的力矩減少，且物鏡的傾斜較小的光學(xué)拾取器，并可以正確地進(jìn)行針對光盤的信息的記錄再生。


圖1是表示涉及本發(fā)明的光學(xué)拾取器的物鏡驅(qū)動單元的實施例的圖。
圖2說明沒有圖1所示的物鏡驅(qū)動單元的組裝誤差時的線圈和磁鐵的配置的圖。
圖3是說明圖1所示的物鏡驅(qū)動單元的可動部傾斜而組裝時在聚焦線圈中產(chǎn)生的驅(qū)動力的圖。
圖4是說明圖1所示的物鏡驅(qū)動單元的磁鐵的位置調(diào)整的圖。
圖5是說明圖1所示的物鏡驅(qū)動單元的磁鐵位置調(diào)整后的聚焦線圈和磁鐵的配置的圖。
圖6是表示圖1所示的物鏡驅(qū)動單元的磁軛、蓋殼和磁鐵的剖面圖。
圖7是表示涉及本發(fā)明的物鏡驅(qū)動單元的其他的構(gòu)成中的磁軛和蓋殼的圖。
圖8是涉及本發(fā)明的光盤裝置的實施例的框圖。
具體實施例方式
利用附圖來說明涉及本發(fā)明的光學(xué)拾取器的實施例。
首先，使用圖8的框圖對搭載了光學(xué)拾取器110的光盤裝置100進(jìn)行說明。光盤裝置100，包括使光盤101旋轉(zhuǎn)的主軸電機(jī)120；從光盤101將信息讀出或?qū)⑿畔懭牍獗P101的光學(xué)拾取器110；以及控制它們的控制器130。光學(xué)拾取器110具有細(xì)節(jié)后述的物鏡驅(qū)動單元50和激光發(fā)光元件111等光學(xué)部件。
與控制器130連接的盤旋轉(zhuǎn)控制電路131，接受來自控制器130的指令，對搭載了光盤101的主軸電機(jī)120進(jìn)行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動。另外，與控制器130連接的進(jìn)給控制電路132，接受來自控制器130的指令，使光學(xué)拾取器110向光盤101的半徑方向移動。
發(fā)光元件驅(qū)動電路133與搭載于光學(xué)拾取器110的激光發(fā)光元件111連接。若接受來自控制器130的指令并從發(fā)光元件驅(qū)動電路133將驅(qū)動信號提供給激光發(fā)光元件111，激光發(fā)光元件111就發(fā)出激光。激光借助于物鏡1在光盤101上聚光。聚光后的激光在光盤101上反射，并通過物鏡1，入射到光檢測器112。由光檢測器112得到的檢測信號134，被送到伺服信號檢測電路135以及再生信號檢測電路137。在伺服信號檢測電路135中基于被送到的檢測信號134生成伺服信號，并輸入到傳動裝置驅(qū)動電路136。
傳動裝置驅(qū)動電路136，將驅(qū)動信號輸入光學(xué)拾取器的物鏡驅(qū)動單元50，并對物鏡1進(jìn)行定位控制。
另一方面，在再生信號檢測電路137中根據(jù)被輸入的檢測信號134生成再生信號，對光盤101的信息進(jìn)行再生。
以下對在該圖8所示的光學(xué)拾取器110具有的物鏡驅(qū)動單元50進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖1是本發(fā)明的光學(xué)拾取器110的物鏡驅(qū)動單元50的分解立體圖。圖中，z方向是使物鏡1沿著物鏡1的光軸向光盤面接近或遠(yuǎn)離的聚焦方方，y方向是使物鏡1向光盤的半徑方向動作的跟蹤方向。將與y方向和z方向的雙方垂直的方向設(shè)為x方向。此外，在作為z方向的物鏡1的光軸方向上，將接近光盤的一側(cè)設(shè)為上側(cè)，將遠(yuǎn)離光盤的一側(cè)設(shè)為下側(cè)。
物鏡1被搭載在透鏡支架2的上面。在與聚焦方向以及跟蹤方向平行的透鏡支架2的兩側(cè)面，安裝了產(chǎn)生向聚焦方向的驅(qū)動力的一對聚焦線圈3和產(chǎn)生向跟蹤方向的驅(qū)動力的跟蹤線圈4。
支持部件6分別一端側(cè)被透鏡支架2固定，另一方被固定部7固定。包含物鏡1、透鏡支架2和聚焦線圈3以及跟蹤線圈4的可動部，通過支撐部件6相對于固定部7可變位地得以支撐。聚焦線圈3以及跟蹤線圈4通過焊接等與支撐部件6的一端電連接。
磁鐵11a、11b、11c、11d與平行與聚焦方向以及跟蹤方向的透鏡支架2的兩側(cè)面相對，與聚焦線圈以及跟蹤線圈隔離而安裝在作為磁性體的磁軛9的內(nèi)側(cè)。磁鐵11a、11b、11c、11d，兩極分別被磁化，并與透鏡支架2的兩側(cè)面相對分別并列設(shè)置兩個。
此外，在圖1中，為了容易理解而表示將兩個磁鐵11a、11b以及11c、11d分別并列設(shè)置在透鏡支架2的兩側(cè)方的情況，在兩個磁鐵之間設(shè)置了間隙，但是，間隙不是必要的，也可以使兩個磁鐵抵接。
磁軛9在四個磁鐵各自的中央的下側(cè)，具有可以從磁軛9的外側(cè)目視磁鐵的開放部21a、21b、21c、21d。將開放部21a、21b、21c、21d，從磁鐵下側(cè)的磁軛9的下面，遍及安裝磁鐵的磁軛9的側(cè)面設(shè)成大致L字狀的形狀。
蓋殼10被配置在可動部的上側(cè)，折彎的兩端部被安裝在磁軛9上。蓋殼10在四個磁鐵各自的中央的上側(cè)，具有可以從蓋殼10的外側(cè)目視磁鐵的開放部31a、31b、31c、31d。
圖2表示沒有組裝誤差的情況下的透鏡支架2的一方的一側(cè)的聚焦線圈3和跟蹤線圈4和磁鐵11a、11b的配置。此外，這里為了容易說明，只表示了聚焦線圈3和跟蹤線圈4和磁鐵11a、11b。另外，透鏡支架2的另一方的一側(cè)的構(gòu)成也是同樣。
磁鐵11a、11b分別具有兩極，并以不同的極性相鄰的方式進(jìn)行配置。一對的聚焦線圈3，具有產(chǎn)生聚焦方向的驅(qū)動力的線圈部3a、3b以及3c、3d，并跨越磁鐵11a以及11b的磁極邊界線而配置。另外，一對的聚焦線圈3，相對磁鐵11a和11b的邊界配置成線對稱。跟蹤線圈4跨越磁鐵11a和11b的邊界而配置。
在這樣的構(gòu)成中，例如，若將磁鐵11a和11b的表面的磁極設(shè)成圖2所示的極性，并使電流在聚焦線圈3以及跟蹤線圈4中向箭頭的朝向流經(jīng)，則可以得到聚焦線圈方向的驅(qū)動力以跟蹤方向的驅(qū)動力。
沒有組裝誤差的情況下，一對聚焦線圈3，相對磁鐵11a和11b的邊界配置成線對稱，在左右的線圈部3a、3b和3c、3d產(chǎn)生的驅(qū)動力相等，相對聚焦線圈3的中心不會產(chǎn)生力矩。
下面，對于產(chǎn)生組裝誤差、可動部相對磁鐵傾斜而被組裝的情況進(jìn)行說明。
圖3表示可動部繞x軸旋轉(zhuǎn)以后的情況下的聚焦線圈3和磁鐵11a、11b的配置。圖3(a)表示在電流沒有流經(jīng)聚焦線圈3的中立狀態(tài)下，聚焦線圈3的線圈線部3a、3b側(cè)向z方向的下側(cè)偏移，線圈線部3c、3d側(cè)向z方向的上側(cè)偏移的例子。將從中立狀態(tài)向聚焦方向上側(cè)動作了的情況表示于圖3(b)，將向聚焦方向下側(cè)動作了的情況表示于圖3(c)。
在圖3(b)中，由于原來已經(jīng)向z方向上側(cè)偏移的線圈線部3c、3b進(jìn)一步向z方向上側(cè)變位，所以，線圈線部3c、3d比線圈線部3a、3b還從各自相對的磁鐵的磁極的中心離開。從而，在線圈線部3c、3d中產(chǎn)生的驅(qū)動力Fc、Fd就比在線圈線部3a、3b中產(chǎn)生的驅(qū)動力Fa、Fb還小。因此，相對于聚焦線圈3的中心產(chǎn)生繞x軸旋轉(zhuǎn)的力矩。
在圖3(c)中，由于原來已經(jīng)向z方向下側(cè)偏移的線圈線部3a、3b進(jìn)一步向z方向下側(cè)變位，所以，線圈線部3a、3b比線圈線部3c、3d還從各自相對的磁鐵的磁極的中心離開。從而，在線圈線部3a、3b中產(chǎn)生的驅(qū)動力Fa、Fb就比在線圈線部3c、3d中產(chǎn)生的驅(qū)動力Fc、Fd還小。因此，相對于聚焦線圈3的中心產(chǎn)生繞x軸旋轉(zhuǎn)的力矩。
在本實施方式中，在磁鐵11a、11b、11c、11d的下側(cè)的磁軛9設(shè)置有開放部21a、21b、21c、21d，在磁鐵11a、11b、11c、11d的上側(cè)的蓋殼10設(shè)置有開放部31a、31b、31c、31d，所以可以通過該開放部將夾著各磁鐵的夾具插入，并依照可動部的傾斜對各磁鐵向上下進(jìn)行位置調(diào)整。
將磁鐵的上下位置調(diào)整方法表示于圖4。圖4是平行于磁鐵11a、11b側(cè)的開放部21a、21b、31a、31b的位置中的yz面的剖面圖。此外，磁鐵11c、11d以及開放部21c、21d、31c、31d側(cè)也是同樣。
從磁鐵11a、11b的上下將非磁性體的棒狀的夾具41a、41b插入蓋殼10的開放部31a、31b以及磁軛9的開放部21a、21b，將磁鐵11a、11b從上下夾住并支持。通過使該夾具41a、41b分別向上下移動，可以將磁鐵11a、11b的位置向上下調(diào)整。
例如，如圖5所示，在可動部傾斜，并將聚焦線圈3的線圈線部3a、3b側(cè)向z方向的下側(cè)、將線圈線部3c、3d側(cè)向z方向的上側(cè)偏移而組裝的情況下，使與線圈線部3a、3b相對的磁鐵11a向z方向下側(cè)移動，并使與線圈線部3c、3d相對的磁鐵11b向z方向上側(cè)移動。由此，可以相對左右的線圈線部使各磁鐵的磁極的位置接近對稱。從而，在左右線圈線部3a、3b和3c、3d產(chǎn)生的驅(qū)動力變成相同程度，可以降低針對聚焦線圈3的中心的力矩。
這里，通過將夾具41a、41b設(shè)定為非磁性體，由于即使將夾具41a、41b接近磁鐵11a、11b也不會受到磁力，所以可以容易地進(jìn)行作業(yè)。
另外，通過將磁軛9的開放部21a、21b以及蓋殼10的開放部31a、31b的位置設(shè)定為各自相對的磁鐵11a、11b的中央，可以用夾具41a、41b將磁鐵11a、11b的中央支持，所以，可以穩(wěn)定地進(jìn)行磁鐵的位置調(diào)整。
圖6是與磁鐵11b、11d側(cè)的開放部21b、21d、31b、31d的位置的xz面平行的剖面圖。為了說明簡單，只表示了磁軛9和蓋殼10和磁鐵11b、11d。此外，磁鐵11a、11c以及開放部21a、21c、31a、31c側(cè)也相同。
設(shè)置于磁軛9的開放部21b、21d從磁鐵11b、11d的下側(cè)的磁軛9的下面，遍及安裝磁鐵的磁軛9的側(cè)面成大致L字狀。而且，開放部21b、21d的上端位于比磁鐵11b、11d的下端還靠上的上側(cè)。
進(jìn)行了上述磁鐵的位置調(diào)整后，從設(shè)置于磁軛9的大致L字狀的開放部21b、21d，將粘接劑61涂敷于磁鐵11b、11d和磁軛9的邊界部，并將磁鐵11b、11d固定于磁軛9。
通過將設(shè)置于磁軛9的開放部21b、21d，從磁軛9的下面到磁鐵的下端露出的位置設(shè)置成大致L字狀，將粘接劑61涂敷于磁鐵11b、11d和磁軛9的邊界部變得容易，可以可靠地進(jìn)行磁鐵11b、11d和磁軛9的固定。
通過一邊用自動照準(zhǔn)儀等觀測將電流流入聚焦線圈3而使可動部動作時的物鏡的傾斜，一邊以使該傾斜變小的方式來調(diào)整各磁鐵，來進(jìn)行上述磁鐵的位置調(diào)整。或者，也可以是測定相對基準(zhǔn)的可動部的相對位置，來設(shè)定各磁鐵的調(diào)整量以修正其偏移量的方法。
此外，在本實施例中，設(shè)置于磁軛9的開放部21a、21b、21c、21d以及設(shè)置于蓋殼10的開放部31a、31b、31c、31d，分別是一個一個獨立的孔。但是，該開放部是可以通過將磁鐵夾住的夾具即可，所以不必要一定是一個一個獨立的孔，如圖7所示，設(shè)置于磁軛12和蓋殼13的開放部也可以分別是一個的開放部22、32。
另外，安裝磁鐵11a、11b、11c、11d的磁軛9需要是磁性體。但是也可以用磁性體、也可以用非磁性體來構(gòu)成蓋殼10。在蓋殼10是非磁性體的情況下，與蓋殼10的有無無關(guān)磁場是一定的，所以，也可以在沒有蓋殼10的狀態(tài)下進(jìn)行各磁鐵的位置調(diào)整，并在其后將蓋殼10安裝。這種情況下，也可以不在蓋殼10設(shè)置將夾具插入的開放部31a、31b、31c、31d，而只在磁軛9設(shè)置開放部21a、21b、21c、21d。
以上，根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)拾取器，即使在由于組裝誤差等將可動部相對于磁鐵傾斜而安裝了的情況下，也可以在物鏡的光軸方向上對磁鐵的位置進(jìn)行調(diào)整，由此，就可以得到將在聚焦線圈中產(chǎn)生的力矩降低，且物鏡的傾斜較小的光學(xué)拾取器，并可以正確地進(jìn)行針對光盤的信息的記錄再生。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性本發(fā)明可以利用于光盤裝置的光學(xué)拾取器。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)拾取器，具有物鏡；保持上述物鏡的透鏡支架；與上述透鏡支架的側(cè)面相對而配置的磁鐵；以及在內(nèi)側(cè)安裝上述磁鐵的磁軛，其特征在于上述磁軛以上述物鏡的光軸方向的靠近光盤一側(cè)為上方，遠(yuǎn)離光盤一側(cè)為下方，并在上述磁鐵的至少下側(cè)具有能夠從上述磁軛的外側(cè)目視上述磁鐵的開放部。
2.一種光學(xué)拾取器，具有物鏡；保持上述物鏡的透鏡支架；與上述透鏡支架的側(cè)面相對而配置的磁鐵；在內(nèi)側(cè)安裝上述磁鐵的磁軛；以及安裝在上述磁軛上的蓋殼，其特征在于上述磁軛以上述物鏡的光軸方向的靠近光盤一側(cè)為上方，遠(yuǎn)離光盤一側(cè)為下方，并在上述磁鐵的下側(cè)具有能夠從上述磁軛的外側(cè)目視上述磁鐵的開放部，上述蓋殼在上述磁鐵的上側(cè)具有能夠從上述蓋殼的外側(cè)目視上述磁鐵的開放部。
3.按照權(quán)利要求1或2所記載的光學(xué)拾取器，其特征在于磁鐵的中央部被配置于上述開放部中。
4.按照權(quán)利要求1所記載的光學(xué)拾取器，其特征在于上述開放部從上述磁軛的下面起直到安裝上述磁鐵的側(cè)面大致呈L字狀。
5.按照權(quán)利要求4所記載的光學(xué)拾取器，其特征在于在設(shè)置于上述磁軛上的大致L字狀的開放部的上述磁鐵的背面上涂敷粘接劑，并將上述磁鐵固定在上述磁軛上。
6.一種光學(xué)拾取器，具有物鏡；保持上述物鏡的透鏡支架；與上述透鏡支架的一側(cè)面相對而并設(shè)的兩個磁鐵；以及在內(nèi)側(cè)安裝上述兩個磁鐵的磁軛，其特征在于上述磁軛以上述物鏡的光軸方向的靠近光盤一側(cè)為上方，遠(yuǎn)離光盤一側(cè)為下方，并在上述兩個磁鐵各自的下側(cè)具有能夠從上述磁軛的外側(cè)目視上述磁鐵的開放部。
7.按照權(quán)利要求6所記載的光學(xué)拾取器，其特征在于上述兩個磁鐵各自的中央部被配置于上述開放部中。
8.按照權(quán)利要求6所記載的光學(xué)拾取器，其特征在于上述開放部從上述磁軛的下面起直到安裝上述兩個磁鐵的側(cè)面大致呈L字狀。
9.按照權(quán)利要求6所記載的光學(xué)拾取器，其特征在于在設(shè)置于上述磁軛上的大致L字狀的開放部的上述磁鐵的背面上涂敷粘接劑，并將上述磁鐵固定在上述磁軛上。
全文摘要
本發(fā)明提供一種可以將磁鐵相對于磁軛進(jìn)行位置調(diào)整的光學(xué)拾取器。該光學(xué)拾取器具有物鏡；保持上述物鏡的透鏡支架；與上述透鏡支架的側(cè)面相對而配置的磁鐵；以及在內(nèi)側(cè)安裝上述磁鐵的磁軛，其中，上述磁軛以上述物鏡的光軸方向的靠近光盤一側(cè)為上方，遠(yuǎn)離光盤一側(cè)為下方，并在上述磁鐵的至少下側(cè)具有能夠從上述磁軛的外側(cè)目視上述磁鐵的開放部。
文檔編號G11B7/16GK101079280SQ20071008507
公開日2007年11月28日 申請日期2007年2月28日 優(yōu)先權(quán)日2006年5月24日
發(fā)明者木村勝彥, 齋藤英直, 羽藤順, 山口高廣 申請人:株式會社日立媒介電子