專(zhuān)利名稱(chēng)：光盤(pán)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及包含CD-ROM、CD-R、CD-RW驅(qū)動(dòng)器或者DVD驅(qū)動(dòng)器、Blue-Ray Disc(藍(lán)光盤(pán))驅(qū)動(dòng)器等的光盤(pán)裝置及其控制方法。
背景技術(shù)：
近年來(lái)，光盤(pán)媒體的種類(lèi)呈現(xiàn)多樣化。不論是什么樣的光盤(pán)媒體都具有多層構(gòu)造，并且在媒體表面?zhèn)鹊谋Ｗo(hù)層的內(nèi)側(cè)具有記錄了信號(hào)的信號(hào)面，在這一點(diǎn)上是共同的。但另一方面很多參數(shù)不同，例如盤(pán)媒體的厚度、表面到信號(hào)面的距離、信號(hào)面的個(gè)數(shù)(例如，DVD最多具有2層的信號(hào)面)以及在從信號(hào)面讀出信息時(shí)應(yīng)使用的激光的波長(zhǎng)等。
因此，以往一般是針對(duì)每種光盤(pán)媒體使用專(zhuān)用的驅(qū)動(dòng)器。但是，如果必須針對(duì)每種光盤(pán)媒體購(gòu)入并設(shè)置專(zhuān)用的驅(qū)動(dòng)器，則使用者必須熟悉各驅(qū)動(dòng)器的操作，并且經(jīng)濟(jì)負(fù)擔(dān)也大。于是，人們追求可以應(yīng)對(duì)多種類(lèi)型的光盤(pán)媒體的驅(qū)動(dòng)器(光盤(pán)裝置)。為了獲得這樣的驅(qū)動(dòng)器，人們開(kāi)發(fā)出這樣一種技術(shù)利用光盤(pán)媒體的每種類(lèi)型在讀出時(shí)所使用的光源(激光)的波長(zhǎng)不同的特點(diǎn)，使用具有波長(zhǎng)選擇性的光學(xué)元件，從而用一個(gè)物鏡來(lái)改變透鏡數(shù)值孔徑。
用于這樣的驅(qū)動(dòng)器的光學(xué)拾取器如圖5所示，構(gòu)成為包含輸出多種波長(zhǎng)的激光的發(fā)光元件11、光束分離器12、光電探測(cè)器13和物鏡體14。物鏡體14包括物鏡14L和包含衍射光柵的全息元件14H。
發(fā)光元件11例如是輸出3個(gè)相互不同波長(zhǎng)的激光的半導(dǎo)體激光元件(所謂的3波長(zhǎng)激光器)。這里，在使3個(gè)波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)例如藍(lán)光盤(pán)和DVD(數(shù)字通用光盤(pán))、CD(高密度磁盤(pán))的情況下，控制成對(duì)藍(lán)光盤(pán)輸出405nm波長(zhǎng)的激光、對(duì)DVD輸出650nm波長(zhǎng)的激光，對(duì)CD輸出780nm波長(zhǎng)的激光。
光束分離器12將發(fā)光元件11輸出的光導(dǎo)向物鏡體14側(cè)。此外，光束分離器12將被媒體反射后通過(guò)物鏡體14輸入的光導(dǎo)向光電探測(cè)器13側(cè)。光電探測(cè)器13具有配置成例如N×N的矩陣狀的多個(gè)光檢測(cè)元件。該光電探測(cè)器13具有用于測(cè)定光束束徑的例如柱面透鏡。由光束分離器12引導(dǎo)的光經(jīng)由該柱面透鏡到達(dá)多個(gè)感光元件中的每一個(gè)。然后，光電探測(cè)器13分別輸出通過(guò)多個(gè)感光元件分別檢測(cè)出的光強(qiáng)度信號(hào)。
物鏡體14的全息元件14H使經(jīng)由物鏡體14引導(dǎo)的、被媒體反射后的激光折射，從而形成與其波長(zhǎng)相對(duì)應(yīng)的數(shù)值孔徑(NA)，然后將其導(dǎo)向光束分離器12。另外，物鏡14L是非球面透鏡，使通過(guò)光束分離器12和全息元件14H從發(fā)光元件11導(dǎo)入的激光折射并輸出，從而使其在離開(kāi)針對(duì)其每種波長(zhǎng)不同的規(guī)定焦距F的位置處形成焦點(diǎn)。另外，該物鏡14L會(huì)聚被媒體反射后的激光，并將其導(dǎo)向全息元件14H。
從光電探測(cè)器13輸出的信號(hào)(RF信號(hào))生成表示激光相對(duì)光盤(pán)媒體的記錄面的聚焦偏離的信號(hào)(聚焦誤差信號(hào)FE信號(hào))和到達(dá)感光元件后的光的強(qiáng)度之和的信號(hào)(引入(プルイン)信號(hào)PI信號(hào))。通常還可以從該光電探測(cè)器13輸出的信號(hào)生成表示跟蹤誤差的信號(hào)(TE信號(hào))等，但在此省略其詳細(xì)的說(shuō)明。
這里，F(xiàn)E信號(hào)是如圖6(a)所示的信號(hào)。即，F(xiàn)E信號(hào)在聚焦的情況下近似為“0”。并且是在以聚焦位置為中心、使光盤(pán)媒體與物鏡體14的距離變動(dòng)時(shí)，物鏡體14離開(kāi)聚焦位置規(guī)定的距離時(shí)分別具有正負(fù)峰值的信號(hào)。以下將該信號(hào)波形稱(chēng)為聚焦誤差波形。
另外，PI信號(hào)是如圖6(b)所示的信號(hào)。即，該P(yáng)I信號(hào)在聚焦的位置上具有峰值。圖6(a)、6(b)分別是表示FE信號(hào)以及PI信號(hào)的概略的說(shuō)明圖。
使用該光學(xué)拾取器時(shí)，控制物鏡體14和媒體表面的距離，使物鏡14L到媒體內(nèi)部的信號(hào)面的距離為上述焦距F，即可以聚焦在信號(hào)面上，從而可以對(duì)應(yīng)于多種光盤(pán)媒體來(lái)讀出信號(hào)。這里，是否聚焦通過(guò)以下判斷使用上述FE信號(hào)以及/或者PI信號(hào)，例如在FE信號(hào)的絕對(duì)值越過(guò)峰值后下降了規(guī)定閾值(接近“0”)時(shí)判斷為聚焦?；蛘咴赑I信號(hào)超過(guò)了規(guī)定閾值時(shí)判斷為聚焦。
在具有2層以上的信號(hào)面的光盤(pán)媒體中，適當(dāng)?shù)乜刂莆镧R和媒體的位置關(guān)系的技術(shù)在特開(kāi)2002-269770號(hào)公報(bào)(對(duì)應(yīng)美國(guó)專(zhuān)利申請(qǐng)公開(kāi)US2002/136103)中公開(kāi)。
但是，如果使用上述現(xiàn)有的光學(xué)拾取器來(lái)應(yīng)對(duì)多種光盤(pán)媒體，則會(huì)產(chǎn)生以下情況在一面使物鏡體14向光盤(pán)媒體移動(dòng)、一面捕捉信號(hào)面上的反射光之前，在該物鏡體14內(nèi)改變數(shù)值孔徑時(shí)不需要的無(wú)用光作為光盤(pán)媒體的表面或信號(hào)面的反射光在物鏡體14內(nèi)部反射，從而檢測(cè)出至少一個(gè)偽信號(hào)(Fake)。
這里，由于作為對(duì)象的光盤(pán)媒體的種類(lèi)或性質(zhì)不同，會(huì)產(chǎn)生以下情況與信號(hào)面上的反射光有關(guān)的FE信號(hào)和PI信號(hào)與FE信號(hào)或PI信號(hào)中的偽信號(hào)的信號(hào)形狀類(lèi)似，從而識(shí)別困難。例如，在低反射率的媒體(CD-RW等)中，在Fake的產(chǎn)生原因是表面反射的情況下，有時(shí)信號(hào)面的反射光的強(qiáng)度小于Fake的強(qiáng)度。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明鑒于上述問(wèn)題而作出，其目的之一是提供一種可以與有無(wú)偽信號(hào)的產(chǎn)生無(wú)關(guān)地在信號(hào)面上聚焦的光盤(pán)裝置。
用于解決上述現(xiàn)有例的問(wèn)題的本發(fā)明是一種光盤(pán)裝置，其特征在于，具有物鏡，并且包含光學(xué)拾取器，輸出基于光盤(pán)的反射光的信號(hào)；驅(qū)動(dòng)部，使上述光學(xué)拾取器的物鏡相對(duì)于光盤(pán)面相對(duì)移動(dòng)；以及聚焦控制部，在通過(guò)上述驅(qū)動(dòng)部使上述物鏡相對(duì)于光盤(pán)面相對(duì)移動(dòng)的同時(shí)，在物鏡與光盤(pán)面的距離為規(guī)定距離范圍期間，進(jìn)行從上述光學(xué)拾取器的輸出信號(hào)檢測(cè)出光盤(pán)的信號(hào)面上的反射信號(hào)的聚焦檢測(cè)動(dòng)作。


圖1是表示本發(fā)明實(shí)施方式的光盤(pán)裝置的例子的結(jié)構(gòu)框圖；圖2是表示在本發(fā)明實(shí)施方式的光盤(pán)裝置中，基于來(lái)自光學(xué)拾取器的輸出信號(hào)而生成的信號(hào)的例子的說(shuō)明圖；圖3是表示本發(fā)明實(shí)施方式的光盤(pán)裝置的聚焦控制處理的例子的流程圖；圖4是表示本發(fā)明實(shí)施方式的光盤(pán)裝置的聚焦控制處理中的聚焦檢測(cè)處理的例子的流程圖；圖5是表示光學(xué)拾取器的結(jié)構(gòu)例的概要圖；圖6是表示焦點(diǎn)位置附近的聚焦誤差信號(hào)和引入信號(hào)的概要的說(shuō)明圖。
具體實(shí)施例方式
下面參照附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說(shuō)明。如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施方式的光盤(pán)裝置具有媒體支持部21、主軸電動(dòng)機(jī)22、光學(xué)拾取器23、兩軸致動(dòng)器24、進(jìn)給電動(dòng)機(jī)25、驅(qū)動(dòng)放大器26、RF放大器27、伺服信號(hào)處理部28、伺服處理控制部29以及信號(hào)處理部30。
媒體支持部21可旋轉(zhuǎn)地支持光盤(pán)媒體。此外，該媒體支持部21利用由主軸電動(dòng)機(jī)22傳遞的動(dòng)力使光盤(pán)媒體旋轉(zhuǎn)。光學(xué)拾取器23與圖5所示的光學(xué)拾取器相同，具有一個(gè)物鏡和可以放射出具有3個(gè)或3個(gè)以上的相互不同的波長(zhǎng)的光的激光器，并且選擇性地放射出例如與藍(lán)光盤(pán)、DVD、CD相對(duì)應(yīng)的各波長(zhǎng)的激光。另外，該光學(xué)拾取器23在此可通過(guò)兩軸致動(dòng)器24在光盤(pán)媒體的矢徑方向以及垂直于光盤(pán)媒體的面的方向這2個(gè)方向(兩軸)上移動(dòng)。
兩軸致動(dòng)器24由進(jìn)給電動(dòng)機(jī)25驅(qū)動(dòng)。該兩軸致動(dòng)器24具有在垂直于光盤(pán)媒體的面的方向上移動(dòng)光學(xué)拾取器23的致動(dòng)器(聚焦控制致動(dòng)器)。由此控制光學(xué)拾取器23中包含的物鏡體14與光盤(pán)媒體的表面的距離。
驅(qū)動(dòng)放大器26針對(duì)進(jìn)給電動(dòng)機(jī)25控制其驅(qū)動(dòng)量。另外，該驅(qū)動(dòng)放大器26按照從伺服信號(hào)處理部28輸入的信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)兩軸致動(dòng)器24中的聚焦控制致動(dòng)器。利用上述兩軸致動(dòng)器24和驅(qū)動(dòng)放大器26實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)部。
RF放大器27基于光學(xué)拾取器23輸出的、多個(gè)光檢測(cè)元件各自的輸出信號(hào)，生成并輸出FE信號(hào)以及/或者PI信號(hào)。伺服信號(hào)處理部28可以利用例如DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)來(lái)實(shí)現(xiàn)，用于檢測(cè)RF放大器27輸出的PI信號(hào)的峰值。另外，針對(duì)該P(yáng)I信號(hào)檢測(cè)其是否超過(guò)了預(yù)先規(guī)定的PI信號(hào)閾值(FOKFocus OK(聚焦成功))。而且，該伺服信號(hào)處理部28針對(duì)RF放大器27輸出的FE信號(hào)，進(jìn)行使用預(yù)先規(guī)定的FE信號(hào)閾值(FZCFocus Zero Cross(聚焦過(guò)零))的規(guī)定處理。有關(guān)該處理后面詳述。伺服信號(hào)處理部28將這些檢測(cè)結(jié)果或規(guī)定處理結(jié)果輸出給伺服處理控制部29。
另外，伺服信號(hào)處理部28按照從伺服處理控制部29輸入的指示，向驅(qū)動(dòng)放大器26輸出與聚焦控制致動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)有關(guān)的信號(hào)。伺服處理控制部29例如為微型計(jì)算機(jī)，含有執(zhí)行模塊和存儲(chǔ)元件。在該伺服處理控制部29的存儲(chǔ)元件中，保存有應(yīng)執(zhí)行的程序或各種參數(shù)，執(zhí)行模塊按照保存在該存儲(chǔ)元件中的程序進(jìn)行處理。該伺服處理控制部29接收由伺服信號(hào)處理部28輸入的信號(hào)(與PI信號(hào)的峰值檢測(cè)結(jié)果有關(guān)的信號(hào)或與FE信號(hào)有關(guān)的處理結(jié)果信號(hào))等的輸入，并基于這些信號(hào)，執(zhí)行將光學(xué)拾取器23與光盤(pán)媒體的距離設(shè)定為在信號(hào)面上聚焦的位置的處理(聚焦控制處理)。有關(guān)該聚焦控制處理后面詳述。利用這些伺服信號(hào)處理部28和伺服處理控制部29，來(lái)實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的聚焦控制部。
信號(hào)處理部30基于RF放大器27輸出的信號(hào)，對(duì)記錄在光盤(pán)媒體上的信號(hào)進(jìn)行解調(diào)。然后該信號(hào)處理部30輸出解調(diào)后的信號(hào)。
在此，對(duì)伺服信號(hào)處理部28以及伺服處理控制部29中的處理的具體內(nèi)容進(jìn)行敘述。在本實(shí)施方式中，伺服處理控制部29以光學(xué)拾取器23發(fā)出的光的焦點(diǎn)位于從光盤(pán)媒體的表面靠近物鏡體14側(cè)的位置(下面稱(chēng)為初始位置)為起點(diǎn)，以一定的速度使光學(xué)拾取器23相對(duì)移動(dòng)，使其接近光盤(pán)媒體的表面(盤(pán)面)，并在聚焦到信號(hào)面上的位置處使光學(xué)拾取器23的移動(dòng)停止。
即，伺服處理控制部29首先向伺服信號(hào)處理部28輸出將光學(xué)拾取器23移動(dòng)到初始位置的指示。伺服信號(hào)處理部28根據(jù)該指示向驅(qū)動(dòng)放大器26輸出與聚焦控制致動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)有關(guān)的信號(hào)，將光學(xué)拾取器23移動(dòng)到初始位置。
然后，伺服處理控制部29指示伺服信號(hào)處理部28，使光學(xué)拾取器23以大致恒定的速度向盤(pán)面移動(dòng)。伺服信號(hào)處理部28根據(jù)該指示向驅(qū)動(dòng)放大器26輸出與聚焦控制致動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)有關(guān)的信號(hào)，開(kāi)始光學(xué)拾取器23的相對(duì)移動(dòng)。
伺服信號(hào)處理部28基于光學(xué)拾取器23輸出的信號(hào)生成FE信號(hào)和PI信號(hào)。該信號(hào)伴隨著光學(xué)拾取器23的移動(dòng)，例如如圖2所示變化。即，光學(xué)拾取器23發(fā)出的光首先在光盤(pán)媒體表面上聚焦，形成表面反射光后入射到光學(xué)拾取器23。利用該表面反射形成FE信號(hào)和PI信號(hào)分別具有峰值的曲線(xiàn)(表面反射S)。
然后，在光學(xué)拾取器23接近盤(pán)面時(shí)出現(xiàn)伴隨表面反射的多個(gè)偽信號(hào)群(F1、F2、...)。從這里使光學(xué)拾取器23進(jìn)一步接近盤(pán)面時(shí)，出現(xiàn)信號(hào)面上的反射光(T)。
伺服處理控制部29在進(jìn)行了使光學(xué)拾取器23以大致恒定的速度從初始位置開(kāi)始移動(dòng)的指示后，作為聚焦控制處理，開(kāi)始圖3所示的處理。首先，利用PI信號(hào)和FE信號(hào)中的至少一個(gè)，在表面反射信號(hào)(S)出現(xiàn)之前待機(jī)(S1)。在檢測(cè)到表面反射信號(hào)后，伺服處理控制部29啟動(dòng)未圖示的計(jì)時(shí)器(S2)。
然后，伺服處理控制部29在處理S2中檢查啟動(dòng)后的計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻是否超過(guò)預(yù)先規(guī)定的超時(shí)時(shí)間Tout(S3)，如果沒(méi)有超過(guò)，則檢查是否出現(xiàn)FE信號(hào)的聚焦誤差波形或PI信號(hào)的峰值(S4)。在此檢測(cè)偽信號(hào)的出現(xiàn)。在處理S4中沒(méi)有檢測(cè)出偽信號(hào)時(shí)，返回處理S3，繼續(xù)進(jìn)行處理。而在處理S4中檢測(cè)出偽信號(hào)時(shí)，取得計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻，作為表示檢測(cè)出規(guī)定的偽信號(hào)、例如第一個(gè)偽信號(hào)的時(shí)刻的信息(偽信號(hào)檢出時(shí)刻)Tfake1(S5)。另外，利用光學(xué)拾取器23的移動(dòng)速度信息V，通過(guò)移動(dòng)速度信息V和Tfake1的相乘求出從檢測(cè)出表面反射S開(kāi)始到檢測(cè)出第一個(gè)偽信號(hào)為止，光學(xué)拾取器23的移動(dòng)距離(偽信號(hào)檢出位置)Pfake1。
此外，由于光盤(pán)媒體分別按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了從表面到信號(hào)面的距離(基板厚度)的下限以及上限，因此按照與各光盤(pán)媒體相對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)，針對(duì)對(duì)應(yīng)的每種光盤(pán)媒體，將與各光盤(pán)媒體相關(guān)的基板厚度的下限值作為檢測(cè)開(kāi)始位置Pmask、將上限值作為檢測(cè)結(jié)束位置Plimit存儲(chǔ)在伺服處理控制部29中。
這里，對(duì)于在所有波長(zhǎng)范圍內(nèi)都沒(méi)有出現(xiàn)偽信號(hào)Fake的光盤(pán)媒體，也可以不預(yù)先存儲(chǔ)這些檢測(cè)開(kāi)始位置Pmask和檢測(cè)結(jié)束位置Plimit。這種情況下，伺服處理控制部29基于另外檢測(cè)出的光盤(pán)種類(lèi)信息，檢查是否是出現(xiàn)偽信號(hào)Fake的光盤(pán)媒體，是出現(xiàn)偽信號(hào)Fake的光盤(pán)媒體時(shí)，讀出與該檢測(cè)出的光盤(pán)媒體的種類(lèi)相關(guān)聯(lián)地存儲(chǔ)的檢測(cè)開(kāi)始位置Pmask和檢測(cè)結(jié)束位置Plimit。
伺服處理控制部29然后在處理S5中通過(guò)Tmask＝Tfake1×Pmask/Pfake1Tlimit＝Tfake1×Plimit/Pfake1分別計(jì)算檢測(cè)開(kāi)始時(shí)間Tmask和檢測(cè)結(jié)束時(shí)間Tlimit。
另外，Tout的值最好大于此處測(cè)定的Tfake1。因而，例如預(yù)先通過(guò)實(shí)驗(yàn)得到Tfake1的測(cè)定值，然后將Tout設(shè)定為大于所測(cè)定的Tfake1的值。
伺服處理控制部29在計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻超過(guò)Tmask前待機(jī)(S6)，在計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻超過(guò)Tmask時(shí)，開(kāi)始聚焦檢測(cè)處理(S7)。
另外，在處理S3中計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻超過(guò)了預(yù)先規(guī)定的Tout時(shí)，即在檢測(cè)出偽信號(hào)之前花費(fèi)了Tout以上的時(shí)間時(shí)，視為在媒體支持部21上放置了不對(duì)應(yīng)的光盤(pán)媒體，從而輸出表示錯(cuò)誤的信號(hào)(S8)。
在以上的說(shuō)明中，利用與光盤(pán)媒體相關(guān)的基板厚度的下限值來(lái)確定檢測(cè)開(kāi)始時(shí)間Tmask，但也可以更簡(jiǎn)單地將該Tmask確定為T(mén)mask＝Tfake1×τ。
這里的τ為1以上的參數(shù)。一般情況下，在光盤(pán)媒體的面相對(duì)水平面具有傾角的情況下，從光學(xué)拾取器23到光盤(pán)媒體的表面的距離隨著光盤(pán)媒體的旋轉(zhuǎn)發(fā)生變化(所謂的面擺動(dòng))。因此，從檢測(cè)出偽信號(hào)Fake的位置到信號(hào)面的距離會(huì)發(fā)生變化。另外，由于光盤(pán)媒體的種類(lèi)不同，在離基于表面反射的偽信號(hào)Fake近的位置上會(huì)產(chǎn)生基于記錄層上的反射光的偽信號(hào)Fake。照顧到這種情況，可以設(shè)定τ使得Tmask在觀測(cè)到這些偽信號(hào)Fake的期間之后。例如，可以是τ＝1.25。
通過(guò)該處理，在光學(xué)拾取器23的物鏡14L與光盤(pán)面的距離移動(dòng)超過(guò)Tmask的時(shí)間后的距離范圍內(nèi)執(zhí)行聚焦檢測(cè)處理。即，在以一定的速度V驅(qū)動(dòng)光學(xué)拾取器23時(shí)，在光學(xué)拾取器23的物鏡14L與光盤(pán)面的距離小于Pmask＝Tmask×V的距離范圍內(nèi)，進(jìn)行根據(jù)光學(xué)拾取器23的輸出信號(hào)來(lái)檢測(cè)光盤(pán)的信號(hào)面上的反射信號(hào)的聚焦檢測(cè)動(dòng)作。
下面對(duì)伺服處理控制部29的聚焦檢測(cè)處理(聚焦檢測(cè)動(dòng)作)進(jìn)行說(shuō)明。在該處理中，伺服處理控制部29如圖4所示，檢查計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻是否超過(guò)在處理S5中計(jì)算的Tlimit(S11)。這里，在計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻超過(guò)在處理S5中計(jì)算的Tlimit時(shí)，轉(zhuǎn)移到處理S8，視為在媒體支持部21上設(shè)置了不對(duì)應(yīng)的光盤(pán)媒體，從而輸出表示錯(cuò)誤的信號(hào)(A)。
另一方面，當(dāng)在處理S11中計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻沒(méi)有超過(guò)在處理S5中計(jì)算的Tlimit時(shí)，檢查PI信號(hào)是否超過(guò)規(guī)定的閾值FOK(S12)，在沒(méi)有超過(guò)時(shí)，返回處理S11并繼續(xù)進(jìn)行處理。
當(dāng)在處理S12中PI信號(hào)超過(guò)規(guī)定的閾值FOK時(shí)，利用FE信號(hào)進(jìn)行聚焦在信號(hào)面上的處理。在該處理中，使用與FE信號(hào)相關(guān)的2個(gè)閾值FZC1和FZC2(FZC1＞FZC2)。即，根據(jù)FE信號(hào)的聚焦誤差波形，在沿接近光盤(pán)面的方向移動(dòng)時(shí)，隨著接近聚焦位置，信號(hào)取正的峰值，然后成為急劇變小的值，從而在聚焦位置上近似為“0”。因此，這里在暫時(shí)超過(guò)第1閾值FZC1并接著低于第2閾值FZC2的時(shí)刻判斷為已聚焦。在這些閾值FOK、FZC1、FZC2因光盤(pán)媒體的種類(lèi)而不同時(shí)，針對(duì)每種光盤(pán)媒體預(yù)先設(shè)定這些閾值FOK、FZC1、FZC2，并預(yù)先檢測(cè)出是放置了什么樣的光盤(pán)媒體(從使用者接收輸入等)，從而取得并利用與該檢測(cè)出的種類(lèi)的光盤(pán)媒體相關(guān)聯(lián)地設(shè)定的閾值。
即，當(dāng)在處理S12中PI信號(hào)超過(guò)規(guī)定的閾值FOK時(shí)，伺服處理控制部29進(jìn)一步檢查計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻是否超過(guò)在處理S5中計(jì)算的Tlimit(S13)。這里，當(dāng)計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻超過(guò)在處理S5中計(jì)算的Tlimit時(shí)，執(zhí)行重試處理(S14)。有關(guān)重試處理后面詳述。
另一方面，當(dāng)在處理S13中計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻沒(méi)有超過(guò)在處理S5中計(jì)算的Tlimit時(shí)，檢查FE信號(hào)是否超過(guò)第1閾值FZC1(S15)，在沒(méi)有超過(guò)時(shí)返回處理S13并繼續(xù)進(jìn)行處理。
另外，當(dāng)在處理S15中FE信號(hào)超過(guò)第1閾值FZC1時(shí)，進(jìn)一步檢查計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻是否超過(guò)在處理S5中計(jì)算的Tlimit(S16)。這里，在計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻超過(guò)在處理S5中計(jì)算的Tlimit時(shí)，轉(zhuǎn)移到處理S14，執(zhí)行重試處理(S14)。
另一方面，當(dāng)在處理S16中計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻沒(méi)有超過(guò)在處理S5中計(jì)算的Tlimit時(shí)，檢查FE信號(hào)是否低于第2閾值FZC2(S17)，在不低于時(shí)返回處理S16，繼續(xù)進(jìn)行處理。
另一方面，當(dāng)在處理S17中FE信號(hào)低于第2閾值FZC2時(shí)，視為在該時(shí)刻在信號(hào)面上聚焦，從而停止光學(xué)拾取器23向垂直于盤(pán)面的方向的移動(dòng)，并指示閉合聚焦伺服環(huán)路(接通聚焦伺服)(聚焦鎖定控制S18)。
另外，在處理S14的重試處理中，向伺服信號(hào)處理部28輸出將光學(xué)拾取器23移動(dòng)到初始位置的指示，并按照規(guī)定的方法更新第1、第2閾值FZC1、FZC2，返回處理S1并重復(fù)進(jìn)行處理。在此，閾值的更新例如通過(guò)使FZC1、FZC2分別降低一定比例等方法進(jìn)行。此外，在上述說(shuō)明中使用了第1、第2閾值，但也可以例如只使用這里的第2閾值FZC2來(lái)進(jìn)行二值化，從而在超過(guò)FZC2時(shí)使FE信號(hào)為“H”、沒(méi)有超過(guò)時(shí)使FE信號(hào)為“L”，并在檢測(cè)到該二值化后的FE信號(hào)的下降沿時(shí)，視為在該時(shí)刻聚焦在信號(hào)面上，從而停止光學(xué)拾取器23向垂直于盤(pán)面的方向的移動(dòng)，指示閉合聚焦伺服環(huán)路(接通聚焦伺服)(聚焦鎖定控制)。
如這里的處理S11、S13、S16，從光學(xué)拾取器23的相對(duì)移動(dòng)開(kāi)始后的規(guī)定基準(zhǔn)時(shí)刻(在此為表面反射的檢出時(shí)刻)開(kāi)始，在經(jīng)過(guò)了預(yù)先設(shè)定的檢測(cè)結(jié)束時(shí)間的時(shí)刻，停止聚焦檢測(cè)動(dòng)作，從而可以降低光學(xué)拾取器23接觸光盤(pán)媒體的機(jī)會(huì)。即，由此以光學(xué)拾取器23的聚焦方向的移動(dòng)速度為V，在從Tmask×V到Tlimit×V之間的規(guī)定距離范圍內(nèi)進(jìn)行聚焦檢測(cè)處理。
此外，也可以在該圖3、圖4所示的處理(聚焦控制處理)的執(zhí)行過(guò)程中，停止光盤(pán)媒體的旋轉(zhuǎn)。
另外，在本例中，以第一個(gè)出現(xiàn)的偽信號(hào)Fake(F1)為基準(zhǔn)來(lái)控制屏蔽時(shí)間，但不限于此，也可以對(duì)應(yīng)所使用的光學(xué)系統(tǒng)的特性，例如以第2個(gè)出現(xiàn)的偽信號(hào)Fake(F2)為基準(zhǔn)。對(duì)于作為該基準(zhǔn)的偽信號(hào)Fake，可以按下述條件進(jìn)行選擇是可出現(xiàn)的偽信號(hào)Fake當(dāng)中、在較為接近表面反射的位置上產(chǎn)生的偽信號(hào)Fake，并且信號(hào)電平比較大、且穩(wěn)定出現(xiàn)。
并且，在此前的說(shuō)明中，規(guī)定每次測(cè)量Tfake1，但由于Tfake1或Pfake1這樣的參數(shù)一般依賴(lài)于光學(xué)拾取器23的特性，因此也可以針對(duì)每種光學(xué)拾取器23，在制造光盤(pán)裝置時(shí)，使用從表面到信號(hào)面的距離(D)為已知的基準(zhǔn)盤(pán)來(lái)檢測(cè)Tfake1，同時(shí)使用從聚焦到表面反射到聚焦到信號(hào)面的時(shí)間Tsignal，通過(guò)Pfake1＝(Tfake1/Tsignal)×D來(lái)確定Pfake1，并在伺服處理控制部29中存儲(chǔ)這些Tfake1以及pfake1。
而且，這里預(yù)先設(shè)定了與PI信號(hào)有關(guān)的閾值FOK或與FE信號(hào)有關(guān)的閾值FZC1、2，但伺服處理控制部29也可以在進(jìn)行聚焦控制處理之前，在預(yù)先確定的預(yù)搜索距離范圍內(nèi)使光學(xué)拾取器23相對(duì)于光盤(pán)媒體相對(duì)移動(dòng)，進(jìn)行預(yù)搜索控制處理，并基于在此期間根據(jù)來(lái)自光學(xué)拾取器23的輸出信號(hào)生成的PI信號(hào)或FE信號(hào)，來(lái)確定上述各閾值。
這里，預(yù)搜索距離范圍例如以檢測(cè)出表面反射的位置為基準(zhǔn)預(yù)先確定。而且，伺服處理控制部29也可以測(cè)量在預(yù)搜索控制處理期間輸入的PI信號(hào)的峰值電平(最大值)或FE信號(hào)的峰值電平(最大/最小值)，并通過(guò)基于該測(cè)量結(jié)果的規(guī)定方法來(lái)確定FOK或FZC1、2。
作為具體例子，也可以針對(duì)PI信號(hào)的峰值電平的值PImax，使用規(guī)定的比例值η(0＜η＜1)，取閾值FOK為FOK＝η×PImax。對(duì)于FZC1、2也可以同樣預(yù)先確定各自對(duì)應(yīng)的比例值，并使用該比例值進(jìn)行設(shè)定。這樣，在反射率因光盤(pán)媒體的種類(lèi)而變化時(shí)，不需要另外檢測(cè)所設(shè)置的光盤(pán)媒體的種類(lèi)，就可使閾值不同。
而且，在此前的說(shuō)明中，以光學(xué)拾取器23的初始位置作為離開(kāi)光盤(pán)面的位置，在使光學(xué)拾取器23從該初始位置向盤(pán)面方向移動(dòng)的同時(shí)，檢測(cè)表面反射或偽信號(hào)、信號(hào)面上的反射光，但也可以與之相反，以比聚焦到信號(hào)面上的位置更靠近盤(pán)面的位置為初始位置，在使光學(xué)拾取器23從該初始位置向離開(kāi)盤(pán)面的方向移動(dòng)的同時(shí)，檢測(cè)信號(hào)面上的反射光。此時(shí)，在聚焦到比信號(hào)面更靠近盤(pán)內(nèi)側(cè)時(shí)，也出現(xiàn)偽信號(hào)，因此通過(guò)從初始位置開(kāi)始相對(duì)移動(dòng)并在移動(dòng)規(guī)定距離(時(shí)間經(jīng)過(guò))后進(jìn)行聚焦檢測(cè)處理，來(lái)降低偽信號(hào)導(dǎo)致的影響。
此外，例如在第一個(gè)出現(xiàn)的偽信號(hào)Fake的強(qiáng)度F1與后續(xù)出現(xiàn)的偽信號(hào)Fake的強(qiáng)度F2，...Fn相比大規(guī)定比率以上時(shí)，即F1＞＞F2...Fn時(shí)，可以在檢測(cè)出F1之前的時(shí)間停止聚焦檢測(cè)處理，在檢測(cè)出F1后開(kāi)始聚焦檢測(cè)處理。
另外，伺服處理控制部29也可以使用在圖4的處理S18中停止光學(xué)拾取器23的移動(dòng)的時(shí)刻的計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)刻Tsignal和光學(xué)拾取器23的移動(dòng)速度V，通過(guò)Psignal＝Tsignal×V來(lái)計(jì)算從光盤(pán)媒體的表面到信號(hào)面的距離Psignal，并輸出該計(jì)算結(jié)果。另外，還可以使用該計(jì)算結(jié)果來(lái)控制用于進(jìn)行光學(xué)拾取器23的聚焦方向的移動(dòng)的聚焦控制致動(dòng)器，從而將該計(jì)算結(jié)果用于規(guī)定的處理。
而且，伺服處理控制部29也可以在進(jìn)行聚焦控制處理之前，在預(yù)先確定的預(yù)搜索距離范圍內(nèi)使光學(xué)拾取器23相對(duì)于光盤(pán)媒體相對(duì)移動(dòng)，進(jìn)行預(yù)搜索控制處理，并基于在此期間根據(jù)來(lái)自光學(xué)拾取器23的輸出信號(hào)而生成的PI信號(hào)或FE信號(hào)，來(lái)確定Tmask或Tlimit的值。
即，在預(yù)搜索控制處理期間，基于所輸入的PI信號(hào)或FE信號(hào)，例如在PI信號(hào)中，在接近信號(hào)面的位置上的偽信號(hào)的峰值與聚焦到信號(hào)面上時(shí)的峰值相比低于規(guī)定比例時(shí)，從檢測(cè)出表面反射的時(shí)刻開(kāi)始使計(jì)時(shí)器計(jì)時(shí)，生成與該時(shí)刻后的PI信號(hào)的峰值及其檢出時(shí)刻相關(guān)聯(lián)地記錄的表格。然后，對(duì)于該生成的表格，從i＝1開(kāi)始順序地比較第i個(gè)記錄的峰值Pki和第i+1個(gè)記錄的峰值Pki+1，檢索出Pkn+1/Pkn＞α的n。這里的α為1或1以上的規(guī)定的比例閾值。伺服處理控制部29以該檢索出的第n個(gè)記錄中所記錄的時(shí)刻作為信號(hào)面跟前的偽信號(hào)的檢出時(shí)刻Tfakelast，將第n+1個(gè)記錄中所記錄的時(shí)刻作為聚焦到信號(hào)面上的時(shí)刻(Tsignal)而取得。
伺服處理控制部29基于這些取得的信息確定Tsignal＞Tmask≥Tfakelast的Tmask。例如，可以按照Tmask＝(Tsignal+Tfakelast)/2等來(lái)確定。
而且，伺服處理控制部29確定Tlimit，使得Tlimit≥Tsignal。例如可以按照Tlimit＝1.2×Tsignal來(lái)確定。
這樣，通過(guò)在預(yù)先取得表示在規(guī)定距離范圍內(nèi)PI信號(hào)或FE信號(hào)如何變化的信息后進(jìn)行聚焦控制處理，還可以應(yīng)對(duì)例如因環(huán)境(溫度或濕度)條件而使fake1等的值波動(dòng)的情況。
根據(jù)本實(shí)施方式，在產(chǎn)生偽信號(hào)的位置范圍內(nèi)檢測(cè)是否聚焦等，從而不停止光學(xué)拾取器的聚焦方向的移動(dòng)動(dòng)作，可以與有無(wú)偽信號(hào)的產(chǎn)生無(wú)關(guān)地聚焦到信號(hào)面上。
另外，產(chǎn)生偽信號(hào)的位置等的信息除了用于此處的聚焦控制外，也可以用于反射率的測(cè)量、使用相同波長(zhǎng)的光的多種光盤(pán)間的種類(lèi)判別(例如CD、CD-R、CD-RW的區(qū)別)等的處理。
盡管以?xún)?yōu)選或示例性實(shí)施方式說(shuō)明了本發(fā)明，但本發(fā)明不限于此。
權(quán)利要求
1.一種光盤(pán)裝置，其特征在于，具有物鏡，并且包含光學(xué)拾取器，輸出基于光盤(pán)的反射光的信號(hào)；驅(qū)動(dòng)部，使上述光學(xué)拾取器的物鏡相對(duì)于光盤(pán)面相對(duì)移動(dòng)；以及聚焦控制部，在通過(guò)上述驅(qū)動(dòng)部使上述物鏡相對(duì)于光盤(pán)面相對(duì)移動(dòng)的同時(shí)，在物鏡與光盤(pán)面的距離為規(guī)定距離范圍的期間，進(jìn)行從上述光學(xué)拾取器的輸出信號(hào)檢測(cè)出光盤(pán)的信號(hào)面上的反射信號(hào)的聚焦檢測(cè)動(dòng)作。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤(pán)裝置，其特征在于上述規(guī)定距離范圍是從檢測(cè)出伴隨上述光盤(pán)面上的表面反射的偽信號(hào)的時(shí)刻的上述光學(xué)拾取器的物鏡的位置開(kāi)始、到上述光盤(pán)面為止的范圍的至少一部分。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤(pán)裝置，其特征在于上述聚焦控制部在進(jìn)行上述聚焦檢測(cè)動(dòng)作之前，進(jìn)行通過(guò)上述驅(qū)動(dòng)部使上述物鏡相對(duì)于光盤(pán)面在預(yù)定的預(yù)搜索距離范圍內(nèi)相對(duì)移動(dòng)的預(yù)搜索控制動(dòng)作，并基于在上述預(yù)搜索控制動(dòng)作期間的上述光學(xué)拾取器的輸出信號(hào)，來(lái)確定上述規(guī)定距離范圍。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤(pán)裝置，其特征在于上述聚焦控制部在進(jìn)行上述聚焦檢測(cè)動(dòng)作之前，進(jìn)行通過(guò)上述驅(qū)動(dòng)部使上述物鏡相對(duì)于光盤(pán)面在預(yù)定的預(yù)搜索距離范圍內(nèi)相對(duì)移動(dòng)的預(yù)搜索控制動(dòng)作，并基于在上述預(yù)搜索控制動(dòng)作期間上述光學(xué)拾取器的輸出信號(hào)，來(lái)確定與上述信號(hào)面上的反射信號(hào)的檢測(cè)有關(guān)的參數(shù)，并且在聚焦檢測(cè)動(dòng)作中，使用該確定的參數(shù)，在物鏡與光盤(pán)面的距離為規(guī)定距離范圍期間，從上述光學(xué)拾取器的輸出信號(hào)檢測(cè)出光盤(pán)的信號(hào)面上的反射信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤(pán)裝置，其特征在于上述驅(qū)動(dòng)部以實(shí)質(zhì)上恒定的速度使上述物鏡從規(guī)定初始位置開(kāi)始相對(duì)于光盤(pán)面的相對(duì)移動(dòng)，上述聚焦控制部從上述相對(duì)移動(dòng)開(kāi)始后的規(guī)定基準(zhǔn)時(shí)刻起，在經(jīng)過(guò)了預(yù)先設(shè)定的檢測(cè)開(kāi)始時(shí)間后，通過(guò)從上述光學(xué)拾取器的輸出信號(hào)檢測(cè)出光盤(pán)的信號(hào)面上的反射信號(hào)，來(lái)進(jìn)行在規(guī)定距離范圍期間的聚焦檢測(cè)動(dòng)作。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤(pán)裝置，其特征在于上述規(guī)定的基準(zhǔn)時(shí)刻是檢測(cè)出伴隨上述光盤(pán)面上的表面反射的偽信號(hào)的時(shí)刻，上述檢測(cè)開(kāi)始時(shí)間根據(jù)從上述相對(duì)移動(dòng)開(kāi)始起、到上述規(guī)定的基準(zhǔn)時(shí)刻為止的時(shí)間來(lái)確定。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤(pán)裝置，其特征在于上述聚焦控制部從上述相對(duì)移動(dòng)開(kāi)始后的規(guī)定基準(zhǔn)時(shí)刻起，在經(jīng)過(guò)了預(yù)先設(shè)定的檢測(cè)結(jié)束時(shí)間的時(shí)刻，停止聚焦檢測(cè)動(dòng)作。
8.一種光盤(pán)裝置，其特征在于，具有物鏡，并且包含光學(xué)拾取器，輸出基于光盤(pán)的反射光的信號(hào)；驅(qū)動(dòng)部，使上述光學(xué)拾取器的物鏡相對(duì)于光盤(pán)面相對(duì)移動(dòng)；以及檢測(cè)部，在通過(guò)上述驅(qū)動(dòng)部使上述物鏡相對(duì)于光盤(pán)面相對(duì)移動(dòng)的同時(shí)，從規(guī)定的定時(shí)開(kāi)始，在規(guī)定時(shí)間范圍的期間，從上述光學(xué)拾取器的輸出信號(hào)檢測(cè)出光盤(pán)的信號(hào)面上的反射信號(hào)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光盤(pán)裝置，其特征在于上述規(guī)定的定時(shí)是根據(jù)檢測(cè)出伴隨上述光盤(pán)面上的表面反射的偽信號(hào)的時(shí)刻而確定的定時(shí)，上述規(guī)定時(shí)間范圍是從上述規(guī)定的定時(shí)開(kāi)始、到在上述光學(xué)拾取器的物鏡到達(dá)上述光盤(pán)面的定時(shí)以前確定的時(shí)刻為止的范圍。
10.一種光盤(pán)裝置的控制方法，以光盤(pán)裝置作為控制對(duì)象，該光盤(pán)裝置具有物鏡，并且包含光學(xué)拾取器，輸出基于光盤(pán)的反射光的信號(hào)；和驅(qū)動(dòng)部，使上述光學(xué)拾取器的物鏡相對(duì)于光盤(pán)面相對(duì)移動(dòng)，上述控制方法在通過(guò)上述驅(qū)動(dòng)部使上述物鏡相對(duì)于光盤(pán)面相對(duì)移動(dòng)的同時(shí)，在物鏡與光盤(pán)面的距離為規(guī)定距離范圍期間，從上述光學(xué)拾取器的輸出信號(hào)檢測(cè)出光盤(pán)的信號(hào)面上的反射信號(hào)；并且將該信號(hào)面上的反射信號(hào)的檢測(cè)結(jié)果用于設(shè)定物鏡和光盤(pán)面的距離的處理。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤(pán)裝置，可以與有無(wú)偽信號(hào)的產(chǎn)生無(wú)關(guān)地在信號(hào)面上聚焦，該光盤(pán)裝置具有物鏡，并且包含光學(xué)拾取器，輸出基于光盤(pán)的反射光的信號(hào)；驅(qū)動(dòng)部，使上述光學(xué)拾取器的物鏡相對(duì)于光盤(pán)面相對(duì)移動(dòng)；以及聚焦控制部，在通過(guò)上述驅(qū)動(dòng)部使上述物鏡相對(duì)于光盤(pán)面相對(duì)移動(dòng)的同時(shí)，在物鏡與光盤(pán)面的距離為規(guī)定距離范圍期間，進(jìn)行從上述光學(xué)拾取器的輸出信號(hào)檢測(cè)出光盤(pán)的信號(hào)面上的反射信號(hào)的聚焦檢測(cè)動(dòng)作。
文檔編號(hào)G11B7/09GK1901048SQ20061010559
公開(kāi)日2007年1月24日 申請(qǐng)日期2006年7月19日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月19日
發(fā)明者小林俊和 申請(qǐng)人:索尼計(jì)算機(jī)娛樂(lè)公司