專利名稱：盤的判別方法和光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及對光盤進(jìn)行信息的記錄或再現(xiàn)的光盤裝置。
背景技術(shù)：
近年來，為了實現(xiàn)光盤的大容量化而開發(fā)出使光盤的信息層多層化的技術(shù)，在與多層光盤的記錄再現(xiàn)相對應(yīng)的光盤裝置中，在判別盤時必須檢測盤的信息層的層數(shù)。其中，作為檢測信息層的層數(shù)的方法，例如有在日本特開平08-185636號公報中揭示的方法。
隨著技術(shù)的開發(fā)，作為光信息介質(zhì)的光盤正向著比現(xiàn)有技術(shù)的CD、DVD密度更高的高密度化發(fā)展。近年來，還開發(fā)出一種稱為藍(lán)光盤(BDBlu-rayDisc)的高密度大容量光盤。就BD而言，為了實現(xiàn)密度高于CD、DVD的高密度化，而增大在光盤上進(jìn)行聚光的物鏡的數(shù)值孔徑(NA)，使進(jìn)行記錄再現(xiàn)的光斑更小地聚焦。但是，由于保護(hù)光盤的信息層的基板的厚度偏差對球面像差的影響與NA的4次方成比例，所以，對于該BD來說，球面像差修正控制與現(xiàn)有技術(shù)的CD、DVD相比變得更加困難。因此，必須設(shè)置對因盤基板的厚度偏差而引起的球面像差進(jìn)行修正的裝置。
圖1表示的是設(shè)置有球面像差修正單元的光拾取裝置的一個例子。108表示的是激光源。從激光源108射出的激光通過校準(zhǔn)透鏡107而從散射光變成大致平行光。然后，通過球面像差修正元件104，由物鏡102聚焦到光盤101的信息面上。被光盤101反射的激光沿著原來的光路，在物鏡102中被變換成大致平行光。然后，由光束分裂器106反射，并通過校準(zhǔn)透鏡109而聚光到檢測器110上。聚光到檢測器110上的光被變換成電信號，在再現(xiàn)信號處理電路115中讀出盤上的信息。作為光盤的控制信號，可使用在伺服電路111中檢測到的信號。其中，球面像差修正元件104和物鏡102可分別通過執(zhí)行機(jī)構(gòu)(actuator)103、105進(jìn)行驅(qū)動。
檢測器110采用圖2所示的構(gòu)成。相對于軌道的行進(jìn)方向，配置有四分割為A/B/C/D的副檢測器。中央部分的圓是模式地表示由盤反射的激光進(jìn)行聚光的情況。在這里，設(shè)各個副檢測器A、B、C、D的檢測輸出信號為a、b、c、d，可以使用圖2所示的運(yùn)算電路生成聚焦誤差信號((b+d)-(a +c))以及跟蹤(tracking)誤差信號((b+c)-(a+d))。
這些信號可用于對盤上的光斑的失真進(jìn)行修正。光入射方向的盤的位置控制是使用聚焦誤差信號進(jìn)行的聚焦控制。此外，以追蹤盤上的軌道溝的方式而與軌道溝垂直的方向的盤的位置控制是使用軌道誤差信號進(jìn)行的跟蹤控制。聚焦誤差信號在聚焦誤差檢測電路112中，跟蹤誤差信號在跟蹤誤差檢測電路113中，分別對執(zhí)行機(jī)構(gòu)103進(jìn)行驅(qū)動，以修正誤差成分。此外，再現(xiàn)信號處理電路115和伺服電路111內(nèi)的聚焦誤差檢測電路、跟蹤誤差檢測電路、球面像差修正電路則分別可以通過與微型計算機(jī)116之間的通信而被控制。在存儲器中保存有微型計算機(jī)控制的初始值、調(diào)整值等。
其中，作為對因盤基板的厚度偏差而引起的球面像差進(jìn)行修正的裝置，利用的是液晶像差修正元件或者光束擴(kuò)展器(beam expander)等。對于液晶像差修正元件來說，雖然圖中沒有示出，但是，通過采用施加電壓來變化元件內(nèi)的折射率的方法，而可以對光束的波面進(jìn)行調(diào)制。其次，對光束擴(kuò)展器進(jìn)行說明。圖3表示的是光束擴(kuò)展器的一個例子。在圖3中，采用正透鏡群301和負(fù)透鏡群302的組合。在該像差修正透鏡群中，通過調(diào)整正透鏡群301與負(fù)透鏡群302的間隔來對光束的波面進(jìn)行調(diào)制。作為這些透鏡群的驅(qū)動方法，可以列舉出壓電(piezo)元件、螺旋送出方式等。
使用圖4A～4C對多層盤的信息層的檢測方法進(jìn)行簡單說明。圖4A～4C表示的是例如有4層信息層的光盤進(jìn)行焦點搜尋動作的示意圖。所謂焦點搜尋是指例如以沿著2Hz左右的頻率的三角波信號的軌跡驅(qū)動聚焦驅(qū)動電路，并使光拾取裝置在焦點控制方向上往返運(yùn)動。圖4A表示的是光拾取裝置的位置信息。圖4B表示的是聚焦誤差信號的變化，圖4C表示的是全光量的變化。橫軸表示的是經(jīng)過時間。在正好通過信息層的地點，如圖4B的401、402、403、404所示，存在換極點。在這種換極點處，在聚焦誤差信號正好通過0點的前后，由于正負(fù)振動較大，所以通過在聚焦誤差信號的正負(fù)兩側(cè)設(shè)置期望的基準(zhǔn)電壓1、基準(zhǔn)電壓2，檢測超過各自的基準(zhǔn)電壓的閾值檢測，來對通過0點的情況進(jìn)行檢測。規(guī)定由微型計算機(jī)116對這時檢測的信息層的層數(shù)進(jìn)行計數(shù)。
在該閾值檢測時，若如現(xiàn)有技術(shù)的DVD那樣，數(shù)值孔徑在0.6前后，則球面像差的影響較小，易于進(jìn)行閾值檢測。
但是，在如BD那種數(shù)值孔徑較大的光盤裝置中，由于因盤基板的厚度偏差而引起的球面像差的影響、非點像差的影響的原因，進(jìn)行焦點搜尋時的聚焦誤差信號的檢測精度會惡化。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于解決該問題，提供一種能夠良好地判定多層盤的信息層的層數(shù)的方法和使用該方法的光盤裝置。
上述課題可通過下述光盤判別方法和使用該方法的光盤裝置而解決。
該光盤判別方法是光盤裝置再現(xiàn)層積有多層信息層的光盤的信息時的光盤判別方法，其中，所述光盤裝置包括發(fā)出記錄或再現(xiàn)光盤信息的激光用的激光源；使上述激光從散射光變換成大致平行光的校準(zhǔn)透鏡；使上述激光作為光斑而聚焦在所述光盤上的物鏡；對上述光斑的球面像差進(jìn)行修正的球面像差修正單元；檢測來自上述光盤的反射光的光檢測單元；檢測上述光盤的信息層的層數(shù)的層數(shù)檢測單元；以及將檢測出的上述信息層的層數(shù)存儲起來的存儲單元，所述光盤判別方法的特征在于在判別上述信息層的層數(shù)時，包括兩次以上在上述球面像差修正單元中設(shè)定球面像差修正值的步驟，在各個步驟中在上述球面像差修正單元中設(shè)定的上述球面像差修正值分別不同。
若采用本發(fā)明，則可以提供一種能夠應(yīng)對多種層數(shù)光盤的光盤判別方法和光盤裝置。


圖1是表示光盤裝置的簡圖。
圖2是表示聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號的示意圖。
圖3是表示光束擴(kuò)展器的一個例子的示意圖。
圖4A～4C是表示現(xiàn)有技術(shù)的聚焦誤差信號的示意圖。
圖5是表示本發(fā)明實施方式的流程圖。
圖6A～6C是表示本發(fā)明的聚焦誤差信號的示意圖。
圖7是表示球面像差修正的圖。
圖8是表示盤基板厚度與球面像差修正量的關(guān)系的示意圖。
具體實施例方式
以下，根據(jù)附圖對本發(fā)明的實施方式進(jìn)行說明。
首先，預(yù)先將各個光盤裝置的標(biāo)準(zhǔn)球面像差修正量保存在存儲器內(nèi)。這是在出廠時的光盤裝置的調(diào)整等中，使用標(biāo)準(zhǔn)盤(例如藍(lán)光盤的標(biāo)準(zhǔn)雙層盤)，對于調(diào)整后的結(jié)果，將各層(L0層、L1層)的最佳值預(yù)先保存在存儲器內(nèi)。這里，設(shè)從光盤面至L0層的距離為x1、至L1層的距離為x2。這種調(diào)整方法可以通過現(xiàn)有技術(shù)中使用的調(diào)整方法得到。但是，作為預(yù)先進(jìn)行調(diào)整的盤，優(yōu)選使用兩層以上的盤。
圖5是表示本發(fā)明的實施方式的流程圖。在開始的步驟S1中，例如將在上述出廠時的調(diào)整中預(yù)先得到的L0層的球面像差修正值設(shè)定為y1。即，在步驟S1中設(shè)定與距離光盤面的距離x1對應(yīng)的球面像差修正值y1。
其次，在步驟S2中進(jìn)行焦點搜尋。通過此時得到的閾值檢測數(shù)，可以得到與球面像差修正值y1對應(yīng)的信息層的層數(shù)L1作為第一次的層數(shù)檢測結(jié)果。由于這里所得到的信息層的層數(shù)L1在以后的步驟中將成為比較對照，所以存放在存儲區(qū)域內(nèi)。此外，同樣將聚焦誤差信號的0點前后的最大值、最小值一起存放在存儲器內(nèi)。
接著，在步驟S3中，例如將在上述出廠時的調(diào)整中預(yù)先得到的L1層的球面像差修正值設(shè)定為y2。即，在S3中設(shè)定與距離光盤面的距離x2對應(yīng)的球面像差修正值y2。但是，在步驟S1和S3中，雖然將球面像差修正量定為兩層盤的L0層和L1層的值，但是，該值只是推薦值，并不局限于該值。當(dāng)然，優(yōu)選該值在各個光盤裝置中設(shè)定固有的值。
其次，在步驟S4中進(jìn)行焦點搜尋。通過此時得到的閾值檢測的數(shù)，可以得到與球面像差修正值y2對應(yīng)的信息層的層數(shù)L2作為第二次的層數(shù)檢測結(jié)果。這里所得到的信息層的層數(shù)L2也同樣存放在存儲區(qū)域內(nèi)。此外，同樣將聚焦誤差信號的0點前后的最大值、最小值一起存放在存儲器內(nèi)。
接著，在步驟S5中，對通過兩次焦點搜尋所得到的信息層的層數(shù)進(jìn)行比較。如果信息層的層數(shù)一致，則可以正確地檢測信息層的層數(shù)而與球面像差的影響無關(guān)，結(jié)束層數(shù)的判定。另一方面。如果兩次焦點搜尋的結(jié)果不一致，則意味著未能用任何一方或兩方的檢測成功地進(jìn)行檢測。
使用圖6A～6C對在步驟S5中結(jié)果不一致的情況進(jìn)行說明。圖6A～6C表示的是進(jìn)行與圖4A～4C同樣的焦點搜尋后的結(jié)果。圖6A表示的是光拾取裝置的位置信息，圖6B表示的是聚焦誤差信號的變化，圖6C表示的是全光量的變化。橫軸表示的是經(jīng)過時間。與圖4A～4C不同之處在于數(shù)值孔徑從0.6左右變化至0.85左右。通過數(shù)值孔徑的變化可以顯著地發(fā)現(xiàn)球面像差的影響。這雖然是模式地示出的圖，但是，例如圖7表示的是，將球面像差修正值設(shè)定為使得在基板厚度為100微米時聚焦誤差信號成為最大時的盤基板厚度和進(jìn)行焦點搜尋時的聚焦誤差信號振幅的曲線圖。例如，在標(biāo)準(zhǔn)的BD雙層盤的情況下，相對于L0層盤基板厚度為100微米，L1層則為75微米，存在著25微米的盤基板厚度的差異。對于25微米的盤基板厚度的差異，在測定結(jié)果中振幅惡化至正常值的約1/4左右。在這種情況下，如果上述x1為100微米，則雖然在S1中在基板厚度為100微米時，可以將y1設(shè)定為使得聚焦誤差信號成為最大那樣的球面像差修正值，0點602(基板厚度約83.3微米位置)、603(基板厚度約91.6微米位置)、604(基板厚度100微米位置)正確地超過基準(zhǔn)電壓1、基準(zhǔn)電壓2，但是0點601(基板厚度75微米位置)則不超過基準(zhǔn)電壓1或基準(zhǔn)電壓2。為此，L1被計數(shù)為602、603、604這三層(S2)。此外，如果上述x2約為91.6微米，則在S3中，在基板厚度約為91.6微米時，可以將y2設(shè)定為使得聚焦誤差信號成為最大那樣的球面像差修正值，在601～604全部四層中聚焦誤差信號都會超過基準(zhǔn)電壓1和基準(zhǔn)電壓2，L2被計數(shù)為四層(S4)。如上所述，在L1和L2的結(jié)果變?yōu)椴灰恢轮螅谄浯蔚牟襟E中，若設(shè)x約為83.3微米，在基板厚度約83.3微米時將y設(shè)定成使得聚焦誤差信號成為最大那樣的球面像差修正值，則在601～604全部四層中聚焦誤差信號都會超過基準(zhǔn)電壓1和基準(zhǔn)電壓2，L被計數(shù)為四層。若將該結(jié)果與作為L2結(jié)果的四層進(jìn)行比較，則變?yōu)橐恢拢梢越Y(jié)束層數(shù)判別(S5)。因此，可以說檢測多層盤的信息層的檢測方法使用至少兩種設(shè)定值檢測球面像差修正值的必要是有效的。另外，在這里，在NA為0.85的情況下，可以在設(shè)定聚焦誤差信號變?yōu)樽畲蟮那蛎嫦癫钚拚档幕搴穸鹊姆较蛏蠙z測基板前后各兩層的層數(shù)。即，說明的是能夠以設(shè)定聚焦誤差信號成為最大的球面像差修正值的基板為中心檢測2×2+1＝5層的量的層數(shù)的例子。但是，由于可檢測的層數(shù)會隨著作為閾值的電壓變化等而變化，因此并不局限于5層，可以一般化而考慮為2N+1(N為整數(shù))層。
將上述步驟示于S6以后。當(dāng)在S5中比較結(jié)果變?yōu)镹O后，在其次的步驟S6中，相對于預(yù)先設(shè)定的球面像差修正量y1的值，設(shè)定與在其次的步驟S3中給出的球面像差修正量y2相反的方向上恰好相同的球面像差修正量y3(就是說，y2n+1，在這里n＝1)(S6)。圖8表示的是盤基板厚度與球面像差修正量之間的關(guān)系。此外，對于x1、x2、x3……，表示的是盤基板厚度，y1、y2、y3……表示的是在各個盤基板厚度中被預(yù)測為最佳的球面像差修正量。對于各個數(shù)字來說，都與實際上進(jìn)行設(shè)定的順序?qū)?yīng)。
但是，對于該順序來說，卻不一定非要遵從圖8不可。例如，首先也可以只對盤基板厚度較大的一方設(shè)定球面像差修正量。此外，也可以計算在層數(shù)計數(shù)的步驟中存放于存儲器內(nèi)的聚焦誤差信號的0點前后的振幅(最大值-最小值)，根據(jù)對各層振幅進(jìn)行比較的結(jié)果，將成為最大振幅的層設(shè)定為中心或中心附近。此外，根據(jù)設(shè)定的球面像差修正量，被檢測的層數(shù)減少的情況下，由于要考慮從設(shè)想為實際上有記錄層的盤基板厚度偏離的方向上進(jìn)行設(shè)定的可能性，所以必須在相反的方向上變更球面像差修正量。
接著，在步驟S7中進(jìn)行焦點搜尋。通過此時得到的閾值檢測的數(shù)，而可以得到第三次的信息層的層數(shù)L3(就是說，L2n+1，這里，n＝1)。這里得到的信息層的層數(shù)L3同樣也存放于存儲區(qū)域內(nèi)。此外，同樣地，聚焦誤差信號的0點前后的最大值、最小值也存放于存儲器內(nèi)。
接著，在步驟S8中，對由第一次和第三次的焦點搜尋得到的信息層的層數(shù)進(jìn)行比較。這里，將進(jìn)行比較的對象定為兩次前的結(jié)果只是一個例子，也可以根據(jù)聚焦誤差信號的檢測靈敏度(檢測閾值)與要進(jìn)行測定的兩點間的盤基板厚度的偏差的關(guān)系(檢測精度)，變更進(jìn)行測定的兩點的盤基板厚度的差。
如上所述，在本實施例中，在上述球面像差修正電路內(nèi)設(shè)定與距光盤表面的距離x1對應(yīng)的球面像差修正值y1(S1)，在上述步驟S1之后進(jìn)行焦點搜尋，檢測層數(shù)檢測結(jié)果L1(S2)，在上述步驟S2之后，在上述球面像差修正電路內(nèi)設(shè)定與距上述光盤表面的距離x2(x2＜x1)對應(yīng)的球面像差修正值y2(y2＜y1)(S3)，在上述步驟S3之后進(jìn)行焦點搜尋，檢測層數(shù)檢測結(jié)果L2(S4)，根據(jù)L1和L2來判別上述信息層的層數(shù)。然后，在步驟S4之后比較L1和L2(S5)，當(dāng)在上述步驟S5中L1與L2相等的情況下，將該信息層的層數(shù)作為上述光盤的信息層的層數(shù)。此外，在步驟S5之后，在上述球面像差修正單元內(nèi)設(shè)定作為通過將距上述光盤記錄面的距離x2n+1(x2n+1＞x2n-1，n為大于等于1的自然數(shù))代入到連接(x1，y1)和(x2，y2)的直線而得到的球面像差修正值的、與x2n+1對應(yīng)的y2n+1(y2n+1＞y2n-1)(S6)，在上述步驟S6之后進(jìn)行焦點搜尋，檢測層數(shù)檢測結(jié)果L2n+1(S7)，在上述步驟S7之后對L2n+1和L2n-1進(jìn)行比較(S8)，當(dāng)在上述步驟S5中L1和L2不同的情況下，進(jìn)行步驟S6～S8，當(dāng)在上述步驟S6～S8中L2n+1和L2n-1相等的情況下，將該信息層的層數(shù)作為上述光盤的信息層的層數(shù)。
其次，若在步驟S8中也未檢測同一層數(shù)，則要與S6～S8同樣，考慮在與設(shè)定為初始值的盤基板厚度相反的方向上具有記錄層來設(shè)定球面像差修正量，進(jìn)行層數(shù)檢測。在未能正確檢測的情況下，認(rèn)為與所設(shè)想的盤基板厚度不同，變更球面像差修正量后從步驟S5開始重新進(jìn)行。
即，在步驟S8之后，在上述球面像差修正單元內(nèi)設(shè)定作為通過將距上述光盤記錄面的距離x2(n+1)(x2(n+1)＜x2n)代入到連接(x1，y1)和(x2，y2)的直線而得到的球面像差修正值的、與x2(n+1)對應(yīng)的y2 (n+1)(y2(n+1)＜y2n)(S9)，在上述步驟S9之后進(jìn)行焦點搜尋，檢測層數(shù)檢測結(jié)果L2(n+1)(S10)，在上述步驟S10之后，對L2(n+1)和L2n進(jìn)行比較(S11)，當(dāng)在上述步驟S8中L2n+1和L2n-1不同的情況下，進(jìn)行上述步驟S9～S11，當(dāng)在上述步驟S11中L2(n+1)和L2n相等的情況下，將該信息層的層數(shù)作為上述光盤的信息層的層數(shù)。
此外，在步驟S11之后，具有在進(jìn)行n＝n+1的運(yùn)算之后返回到上述步驟S6的步驟S12，當(dāng)在上述步驟S11中L2(n+1)和L2n不同的情況下，在進(jìn)行上述步驟S12之后，反復(fù)進(jìn)行上述步驟6～12，直到在上述步驟8中L2n+1和L2n-1相等為止或者在上述步驟11中L2(n+1)和L2n相等為止，當(dāng)在上述步驟8中L2n+1和L2n-1變?yōu)橄嗟然蛘咴谏鲜霾襟E11中L2(n+1)和L2n變?yōu)橄嗟葧r，將該信息層的層數(shù)作為上述光盤的信息層的層數(shù)。
此外，在本發(fā)明中，雖然對焦點補(bǔ)償量未進(jìn)行揭示，但是，也可以結(jié)合球面像差修正量向球面像差修正電路(114)的設(shè)定，與盤基板厚度相對應(yīng)，用與球面像差修正量的設(shè)定相同的定時，與球面像差修正量同樣地，在物鏡執(zhí)行機(jī)構(gòu)103設(shè)定焦點補(bǔ)償量。
通過上述步驟，即便是在數(shù)值孔徑為0.8以上的盤裝置中，也可以通過本發(fā)明的光盤裝置，正確地判定信息層的層數(shù)。
權(quán)利要求
1.一種光盤判別方法，其是當(dāng)光盤裝置再現(xiàn)層積有多層信息層的光盤的信息時的光盤判別方法，其中，所述光盤裝置包括發(fā)出記錄或再現(xiàn)光盤信息的激光的激光源；使所述激光從散射光變換成大致平行光的校準(zhǔn)透鏡；使所述激光作為光斑而聚焦在所述光盤上的物鏡；對所述光斑的球面像差進(jìn)行修正的球面像差修正單元；檢測來自所述光盤的反射光的光檢測單元；檢測所述光盤的信息層的層數(shù)的層數(shù)檢測單元；以及將檢測出的所述信息層的層數(shù)存儲起來的存儲單元，所述光盤判別方法的特征在于包括在所述球面像差修正單元內(nèi)設(shè)定第一球面像差修正值的第一步驟和在所述球面像差修正單元內(nèi)設(shè)定第二球面像差修正值的第二步驟，判別所述信息層的層數(shù)。
2.一種光盤判別方法，其是當(dāng)光盤裝置再現(xiàn)層積有多層信息層的光盤的信息時的光盤判別方法，其中，所述光盤裝置包括發(fā)出記錄或再現(xiàn)光盤信息的激光的激光源；使所述激光從散射光變換成大致平行光的校準(zhǔn)透鏡；使所述激光作為光斑而聚焦在所述光盤上的物鏡；對所述光斑的球面像差進(jìn)行修正的球面像差修正單元；檢測來自所述光盤的反射光的光檢測單元；檢測所述光盤的信息層的層數(shù)的層數(shù)檢測單元；以及將檢測出的所述信息層的層數(shù)存儲起來的存儲單元，所述光盤判別方法的特征在于包括在所述球面像差修正單元內(nèi)設(shè)定第一球面像差修正值并進(jìn)行焦點搜尋的第一步驟和在所述球面像差修正單元內(nèi)設(shè)定第二球面像差修正值并進(jìn)行焦點搜尋的第二步驟，判別所述信息層的層數(shù)。
3.一種光盤判別方法，其是當(dāng)光盤裝置再現(xiàn)層積有多層信息層的光盤的信息時的光盤判別方法，其中，所述光盤裝置包括發(fā)出記錄或再現(xiàn)光盤信息的激光的激光源；使所述激光從散射光變換成大致平行光的校準(zhǔn)透鏡；使所述激光作為光斑而聚焦在所述光盤上的物鏡；對所述光斑的球面像差進(jìn)行修正的球面像差修正單元；檢測來自所述光盤的反射光的光檢測單元；檢測所述光盤的信息層的層數(shù)的層數(shù)檢測單元；以及將檢測出的所述信息層的層數(shù)存儲起來的存儲單元，所述光盤判別方法的特征在于，包括在所述球面像差修正單元內(nèi)設(shè)定與距所述光盤表面的距離x1對應(yīng)的球面像差修正值y1的步驟1；在所述步驟1之后進(jìn)行焦點搜尋，檢測層數(shù)檢測結(jié)果L1的步驟2；在所述步驟2之后在所述球面像差修正單元內(nèi)設(shè)定與距所述光盤表面的距離x2(x2＜x1)對應(yīng)的球面像差修正值y2(y2＜y1)的步驟3；以及在所述步驟3之后進(jìn)行焦點搜尋，檢測層數(shù)檢測結(jié)果L2的步驟4，根據(jù)L1和L2判別所述信息層的層數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光盤判別方法，其特征在于包括在所述步驟4之后對L1和L2進(jìn)行比較的步驟5，當(dāng)在所述步驟5中L1與L2相等的情況下，將該信息層的層數(shù)作為所述光盤的信息層的層數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光盤判別方法，其特征在于，包括在所述步驟5之后，在所述球面像差修正單元內(nèi)設(shè)定作為通過將距所述光盤記錄面的距離x2n+1(x2n+1＞x2n-1，n為大于等于1的自然數(shù))代入到連接(x1，y1)和(x2，y2)的直線而得到的球面像差修正值的、與x2n+1對應(yīng)的y2n+1(y2n+1＞y2n-1)的步驟6；在所述步驟6之后進(jìn)行焦點搜尋，檢測層數(shù)檢測結(jié)果L2n+1的步驟7；以及在所述步驟7之后對L2n+1和L2n-1進(jìn)行比較的步驟8，當(dāng)在所述步驟5中L1和L2不同的情況下，進(jìn)行所述步驟6～8，當(dāng)在所述步驟8中L2n+1和L2n-1相等的情況下，將該信息層的層數(shù)作為所述光盤的信息層的層數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤判別方法，其特征在于，包括在所述步驟8之后，在球面像差修正單元內(nèi)設(shè)定作為通過將距所述光盤記錄面的距離x2(n+1)(x2(n+1)＜x2n)代入到連接(x1，y1)和(x2，y2)的直線而得到的球面像差修正值的、與x2(n+1)對應(yīng)的y2(n+1)(y2(n+1)＜y2n)的步驟9；在所述步驟9之后進(jìn)行焦點搜尋，檢測層數(shù)檢測結(jié)果L2(n+1)的步驟10；以及在所述步驟10之后，對L2(n+1)和L2n進(jìn)行比較的步驟11，當(dāng)在所述步驟8中L2n+1和L2n-1不同的情況下，進(jìn)行所述步驟9～11，當(dāng)在所述步驟11中L2(n+1)和L2n相等的情況下，將該信息層的層數(shù)作為所述光盤的信息層的層數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤判別方法，其特征在于，包括在所述步驟11之后，在進(jìn)行n＝n+1的運(yùn)算之后返回到所述步驟6的步驟12；當(dāng)在所述步驟11中L2(n+1)和L2n不同的情況下，在進(jìn)行所述步驟12之后，反復(fù)進(jìn)行所述步驟6～12，直到在所述步驟8中L2n+1和L2n-1相等為止或者在所述步驟11中L2(n+1)和L2n相等為止，當(dāng)在所述步驟8中L2n+1和L2n-1相等或者在所述步驟11中L2(n+1)和L2n相等時，將該信息層的層數(shù)作為所述光盤的信息層的層數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光盤判別方法，其特征在于包括當(dāng)在所述球面像差修正單元內(nèi)設(shè)定所述球面像差修正值時，進(jìn)一步在物鏡驅(qū)動單元內(nèi)設(shè)定與距所述光盤表面的距離對應(yīng)的焦點補(bǔ)償值。
9.一種光盤裝置，其特征在于使用權(quán)利要求1～3中任一項所述的光盤判別方法。
全文摘要
在多層盤的層數(shù)識別工序中，若如DVD那樣數(shù)值孔徑在0.6前后，則球面像差的影響較小，易于進(jìn)行層數(shù)判別的閾值檢測。但是，在如BD那樣的數(shù)值孔徑較大的光盤裝置中，由于因盤基板的厚度偏差引起的球面像差的影響或者非點像差的影響，進(jìn)行焦點搜尋時的聚焦誤差信號的檢測精度惡化。因此，本發(fā)明的目的在于解決該問題，提供良好地判定多層盤的信息層的層數(shù)的方法和使用該方法的光盤裝置。在判別盤的層數(shù)的工序中，采用設(shè)定至少兩種球面像差修正量進(jìn)行焦點搜尋的辦法進(jìn)行盤的層數(shù)的判別。
文檔編號G11B7/00GK1877711SQ20061007890
公開日2006年12月13日 申請日期2006年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月8日
發(fā)明者安川貴清 申請人:株式會社日立制作所, 日立樂金資料儲存股份有限公司