專利名稱：：光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及對記錄在光盤上的信息進行再現(xiàn)和輸出的3光束式光盤裝置。
背景技術(shù)：
：一般地說，在對CD(CompactDisk)或DVD(DigitalVersatileDisk)等光盤進行再現(xiàn)的光盤裝置中，用于使來自光拾取器的光束的讀取光點跟蹤光盤上的具有坑(pit)串的軌道的跟蹤控制(跟蹤伺服)是必不可少的。該跟蹤伺服，是利用基于由光拾取器檢測的來自光盤的返回光(反射光)的信號生成跟蹤誤差信號，從而根據(jù)該跟蹤誤差信號來進行的。但是，在光盤面上有劃傷、附著了異物、或所記錄的坑有傷損的情況下(將這種情況稱為缺陷(defect))，當(dāng)光束進入缺陷部分時，缺陷將對跟蹤誤差信號產(chǎn)生干擾，使光束的跟蹤發(fā)生變化，當(dāng)光束從缺陷部分脫離出時，跟蹤將被擾亂或產(chǎn)生偏離。因此，例如，如專利文獻“日本特開昭61-96529號公報”所述，通過檢測缺陷期間(即，光束在缺陷部分上通過的期間)并且在該缺陷期間中對跟蹤誤差信號進行噪聲抑制(固定為適當(dāng)?shù)闹虚g電平信號)或?qū)⒏櫿`差信號固定于緊接在缺陷期間之前的電平，可以抑制缺陷期間中對跟蹤誤差信號的干擾。由此，可以減少由缺陷引起的跟蹤偏差的發(fā)生。以下，用圖14對現(xiàn)有的光盤裝置進行說明。圖14表示對記錄在光盤上的信息進行再現(xiàn)和輸出的現(xiàn)有的3光束式光盤裝置的結(jié)構(gòu)。在圖14中，1是光拾取器，包括用于檢測主光束的返回光(反射光)的被分成4個部分的主光束傳感器、為進行跟蹤伺服而配置在主光束傳感器的前后且配置在相對于坑的掃描方向的左右兩側(cè)的2個用于檢測副光束的副光束傳感器。這里，將在由主光束傳感器轉(zhuǎn)換為電信號的4個電信號作為A～D信號、將在主光束之前的副光束作為先行副光束、將在主光束之后的副光束作為后續(xù)副光束，進一步，將檢測先行副光束的返回光的副光束傳感器作為E、將檢測后續(xù)副光束的返回光的副光束傳感器作為F，并將由副光束傳感器E檢測出的信號作為E信號、將由副光束傳感器F檢測出的信號作為F信號。在圖14中，2和3是與光拾取器1連接的第1及第2輸出端子，在第1輸出端子2上輸出E信號，在第2輸出端子3上輸出F信號。另外，4是與上述第1及第2輸出端子連接并根據(jù)上述E信號和F信號進行E信號值-F信號值的運算從而生成跟蹤誤差信號(以下，稱為TE信號)的跟蹤誤差信號生成電路，6是用TE信號進行跟蹤伺服的跟蹤控制電路。9是與光拾取器1連接的第3輸出端子，用于輸出將來自主光束傳感器的4個A～D信號相加后的信號(RF信號(數(shù)字調(diào)制信號))。10是與上述第3輸出端子9連接并將上述RF信號按一定的振幅標準化的AGC電路，11是根據(jù)來自上述第3輸出端子9的RF信號生成聚焦誤差信號的聚焦控制電路。上述跟蹤控制電路6，根據(jù)來自上述跟蹤誤差信號生成電路4的TE信號控制上述光拾取器1的跟蹤傳動裝置的驅(qū)動放大器(圖中未表示)。由此，一邊進行跟蹤伺服一邊從記錄在光盤8上的信息生成RF信號，并且，一邊由聚焦控制電路11進行聚焦伺服，一邊根據(jù)來自AGC電路10的標準化后的RF信號對記錄在光盤8上的信息進行再現(xiàn)。進一步，在圖14中，40是根據(jù)來自AGC電路10的標準化后的RF信號檢測缺陷期間并輸出缺陷期間信號的缺陷期間檢測電路，7是包含在上述跟蹤控制電路6內(nèi)的伺服保持電路，用于根據(jù)由上述缺陷期間檢測電路40檢測出的缺陷期間信號將TE信號保持在缺陷期間前的值(電平)。此外，39是接受來自上述缺陷期間檢測電路40的缺陷期間信號的AGC保持電路，用于在缺陷期間中將AGC電路10的增益保持在固定值。圖15表示光盤表面上的主光束、副光束及缺陷部分的位置關(guān)系。在圖15中，相對于光盤的轉(zhuǎn)動方向，按先行副光束45、主光束44、后續(xù)副光束46的順序排列。這里，當(dāng)存在缺陷部分47時，在圖14所示的光盤裝置中，缺陷期間的檢測，由缺陷期間檢測電路40根據(jù)從光拾取器1通過第3輸出端子9并由AGC電路10標準化了的RF信號進行，所以從先行副光束進入缺陷部分的時刻起直到RF電平減低因而檢測出缺陷期間為止存在一定的時間滯后，但如果是光盤表面的劃傷或表面上附著了異物等存在于光盤表面的缺陷，則如圖16所示，進入缺陷部分時的RF信號的振幅的衰減，需花費遠比E信號開始變化和F信號開始變化的時間差長的時間，因此，保持伺服時的TE信號的振幅a很小，而且伺服的保持被解除的瞬間的TE信號的變化振幅b也很小，所以由缺陷引起的對跟蹤的干擾很小，不存在任何問題。
發(fā)明內(nèi)容但是，從本發(fā)明人等研究的情況可知，當(dāng)在記錄面上存在著光盤制造階段中產(chǎn)生的殘損等缺陷時，如圖17所示，進入缺陷部分時的RF信號的振幅，以與E信號開始變化和F信號開始變化的時間差同樣短的時間急劇地衰減。所以，在現(xiàn)有的光盤裝置中，如由跟蹤誤差信號生成電路4根據(jù)RF信號的電平進行缺陷期間的檢測，則保持跟蹤伺服時的TE信號的振幅A增大，而跟蹤伺服的保持被解除的瞬間的TE信號的變化振幅B也增大，因此，由缺陷引起的對跟蹤控制的干擾增大，當(dāng)該干擾過大時，會使伺服發(fā)生偏離。本發(fā)明是為解決上述現(xiàn)有技術(shù)的問題而開發(fā)的，其目的在于，提供一種光盤裝置，即使是對存在于光盤記錄面上的缺陷也能盡力地抑制對TE信號的干擾，從而可以有效地抑制因缺陷引起的對跟蹤控制的干擾的發(fā)生。為實現(xiàn)上述目的，在本發(fā)明中，當(dāng)光束進入存在于光盤記錄面上的缺陷部分時，即使RF信號的振幅急劇地衰減，也能在其衰減的早期階段檢測缺陷期間，該檢測不是根據(jù)由主光束的返回光產(chǎn)生的RF信號進行，而是根據(jù)由在主光束之前的先行副光束產(chǎn)生的RF信號進行。具體地說，本發(fā)明的第1技術(shù)方案的光盤裝置，包括將主光束和在上述主光束之前及之后的先行副光束及后續(xù)副光束輸出到光盤的光拾取器，為了對記錄在上述光盤上的信息進行再現(xiàn)，基于上述光拾取器的主光束的讀取光點進行數(shù)字調(diào)制信號和聚焦誤差信號的檢測，并基于上述光拾取器的先行及后續(xù)副光束的讀取光點進行跟蹤誤差信號的檢測，該光盤裝置的特征在于，包括上述光拾取器；跟蹤誤差信號生成裝置，與取得將上述光拾取器的先行副光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的先行副光束返回光信號的第1輸出端子及取得將上述光拾取器的后續(xù)副光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的后續(xù)副光束返回光信號的第2輸出端子連接，并根據(jù)來自該2個輸出端子的先行及后續(xù)副光束返回光信號生成跟蹤誤差信號；跟蹤控制裝置，接受上述跟蹤誤差信號生成裝置的上述跟蹤誤差信號，并根據(jù)上述跟蹤誤差信號進行跟蹤控制；缺陷期間檢測裝置，根據(jù)來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號或來自上述第1及第2輸出端子雙方的先行及后續(xù)副光束返回光信號檢測上述光盤的缺陷期間并輸出缺陷期間信號；以及保持裝置，接受上述缺陷期間檢測裝置的上述缺陷期間信號，并根據(jù)上述缺陷期間信號保持由上述跟蹤控制裝置進行的跟蹤控制。本發(fā)明的第2技術(shù)方案，其特征在于在上述第1技術(shù)方案所述的光盤裝置中，上述缺陷期間檢測裝置，包括第1基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并根據(jù)該先行副光束返回光信號的暗電平生成第1基準電平；第2基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并利用該先行副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平生成第2基準電平；第3基準電平生成裝置，生成具有由上述第1及第2基準電平生成裝置生成的上述第1及第2基準電平之間的值的第3基準電平；第1脈沖生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并以上述第3基準電平生成裝置的第3基準電平為基準將該先行副光束返回光信號二值化后生成第1脈沖；以及單穩(wěn)態(tài)電路，通過將由上述第1脈沖生成裝置生成的第1脈沖的后沿延長預(yù)定時間而生成缺陷期間檢測信號。本發(fā)明的第3技術(shù)方案，其特征在于在上述第2技術(shù)方案所述的光盤裝置中，上述缺陷期間檢測裝置，包括波谷保持裝置，配置在從上述第1輸出端子將先行副光束返回光信號輸入到第1脈沖生成裝置的路徑上，用于保持先行副光束返回光信號的波谷。本發(fā)明的第4技術(shù)方案，其特征在于在上述第2技術(shù)方案所述的光盤裝置中，上述缺陷期間檢測裝置，包括標準化電平調(diào)整裝置，配置在從上述第1輸出端子將先行副光束返回光信號輸入到第1脈沖生成裝置的路徑及將上述第3基準電平生成裝置的第3基準電平輸入到第1脈沖生成裝置的路徑中的至少一個路徑上，用于對上述先行副光束返回光信號及上述第3基準電平的一方或雙方進行調(diào)整。本發(fā)明的第5技術(shù)方案，其特征在于在上述第1技術(shù)方案所述的光盤裝置中，上述缺陷期間檢測裝置，包括第1基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并根據(jù)該先行副光束返回光信號的暗電平生成第1基準電平；第2基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并利用該先行副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平生成第2基準電平；第3基準電平生成裝置，生成具有由上述第1及第2基準電平生成裝置生成的上述第1及第2基準電平之間的值的第3基準電平；第1脈沖生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并以上述第3基準電平生成裝置的第3基準電平為基準將該先行副光束返回光信號二值化后生成第1脈沖；第4基準電平生成裝置，接受來自上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號，并根據(jù)該后續(xù)副光束返回光信號的暗電平生成第4基準電平；第5基準電平生成裝置，接受來自上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號，并利用該后續(xù)副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平生成第5基準電平；第6基準電平生成裝置，生成具有由上述第4及第5基準電平生成裝置生成的上述第4及第5基準電平之間的值的第6基準電平；第2脈沖生成裝置，接受來自上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號，并以上述第6基準電平生成裝置的第6基準電平為基準將該后續(xù)副光束返回光信號二值化后生成第2脈沖；以及第1OR(“或”)電路，接受來自上述第1及第2脈沖生成裝置的第1及第2脈沖，并求取該第1脈沖與第2脈沖的邏輯和。本發(fā)明的第6技術(shù)方案，其特征在于在上述第1技術(shù)方案所述的光盤裝置中，上述缺陷期間檢測裝置，包括第1基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并根據(jù)該先行副光束返回光信號的暗電平生成第1基準電平；第2基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并利用該先行副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平生成第2基準電平；第3基準電平生成裝置，生成具有由上述第1及第2基準電平生成裝置生成的上述第1及第2基準電平之間的值的第3基準電平；第4基準電平生成裝置，接受來自上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號，并根據(jù)該后續(xù)副光束返回光信號的暗電平生成第4基準電平；第5基準電平生成裝置，接受來自上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號，并利用該后續(xù)副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平生成第5基準電平；第6基準電平生成裝置，生成具有由上述第4及第5基準電平生成裝置生成的上述第4及第5基準電平之間的值的第6基準電平；第1波谷保持裝置，輸出上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號的下側(cè)包絡(luò)；第1波峰保持裝置，輸出上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號的上側(cè)包絡(luò)；第2波谷保持裝置，輸出上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號的下側(cè)包絡(luò)；第2波峰保持裝置，輸出上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號的上側(cè)包絡(luò)；第1脈沖生成裝置，根據(jù)上述第3基準電平生成裝置的第3基準電平將上述第1波谷保持裝置的輸出信號二值化后生成第1脈沖；第2脈沖生成裝置，根據(jù)第6基準電平生成裝置的第6基準電平將上述第2波谷保持裝置的輸出信號二值化后生成第2脈沖；第3脈沖生成裝置，根據(jù)上述第3基準電平生成裝置的第3基準電平將上述第1波峰保持裝置的輸出信號二值化后生成第3脈沖；第4脈沖生成裝置，根據(jù)上述第6基準電平生成裝置的第6基準電平將上述第2波峰保持裝置的輸出信號二值化后生成第4脈沖；第1下降率可變裝置，利用上述第1脈沖生成裝置的第1脈沖的上升加快上述第1波峰保持裝置的下降率，另一方面，利用上述第3脈沖生成裝置的第3脈沖的下降延緩上述第1波峰保持裝置的下降率；第2下降率可變裝置，利用上述第2脈沖生成裝置的第2脈沖的上升加快上述第2波峰保持裝置的下降率，另一方面，利用上述第4脈沖生成裝置的第4脈沖的下降延緩上述第2波峰保持裝置的下降率；第1OR電路，接受來自上述第1及第3脈沖生成裝置的第1及第3脈沖，并求取該第1脈沖與第3脈沖的邏輯和；第2OR電路，接受來自上述第2及第4脈沖生成裝置的第2及第4脈沖，并求取該第2脈沖與第4脈沖的邏輯和；以及第5脈沖生成裝置，生成由上述第1OR電路的輸出信號的上升表明上述缺陷期間的開始的脈沖，并生成由上述第2OR電路的輸出信號的下降表明從上述缺陷期間脫出的脈沖。本發(fā)明的第7技術(shù)方案，其特征在于在上述第1技術(shù)方案所述的光盤裝置中，包括AGC裝置，與取得將上述光拾取器的主光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的主光束返回光信號的第3輸出端子連接，并生成將上述主光束返回光信號的振幅按一定值標準化了的RF信號；第2缺陷期間檢測裝置，生成與上述缺陷期間檢測裝置生成的缺陷期間信號相比進入缺陷期間的檢測晚而從缺陷期間脫出的檢測早的用于表明第2缺陷檢測期間的第2缺陷期間信號；以及AGC保持裝置，在由上述第2缺陷期間檢測裝置的第2缺陷期間信號表明的上述第2缺陷檢測期間內(nèi)，將上述AGC裝置的增益固定在一定值。本發(fā)明的第8技術(shù)方案，其特征在于在上述第7技術(shù)方案所述的光盤裝置中，上述第2缺陷期間檢測裝置，接受來自上述AGC裝置的RF信號，并根據(jù)該RF信號生成上述第2缺陷期間信號。本發(fā)明的第9技術(shù)方案的光盤裝置，包括將主光束和在上述主光束之前及之后的先行副光束及后續(xù)副光束輸出到光盤的光拾取器，為了對記錄在上述光盤上的信息進行再現(xiàn)，基于上述光拾取器的主光束的讀取光點進行數(shù)字調(diào)制信號和聚焦誤差信號的檢測，并基于上述光拾取器的先行及后續(xù)副光束的讀取光點進行跟蹤誤差信號的檢測，該光盤裝置的特征在于，包括上述光拾取器；跟蹤誤差信號生成裝置，與取得將上述光拾取器的先行副光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的先行副光束返回光信號的第1輸出端子及取得將上述光拾取器的后續(xù)副光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的后續(xù)副光束返回光信號的第2輸出端子連接，并根據(jù)來自該2個輸出端子的先行及后續(xù)副光束返回光信號生成跟蹤誤差信號；跟蹤控制裝置，接受上述跟蹤誤差信號生成裝置的上述跟蹤誤差信號，并根據(jù)上述跟蹤誤差信號進行跟蹤控制；缺陷期間檢測裝置，根據(jù)來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號或來自上述第1及第2輸出端子雙方的先行及后續(xù)副光束返回光信號檢測上述光盤的缺陷期間，并生成第1缺陷期間信號、和與上述第1缺陷期間信號相比進入缺陷期間的檢測晚而從缺陷期間脫出的檢測早的用于表明第2缺陷檢測期間的第2缺陷期間信號；保持裝置，接受上述缺陷期間檢測裝置的上述第1缺陷期間信號，并根據(jù)上述第1缺陷期間信號保持由上述跟蹤控制裝置進行的跟蹤控制；AGC裝置，與取得將上述光拾取器的主光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的主光束返回光信號的第3輸出端子連接，并生成將上述主光束返回光信號的振幅按一定值標準化了的RF信號；及AGC保持裝置，在由上述第2缺陷期間檢測裝置的第2缺陷期間信號表明的上述第2缺陷檢測期間內(nèi)，將上述AGC裝置的增益固定在一定值。由上述可知，在第1～第9技術(shù)方案所述的光盤裝置中，由于用先行副光束返回光信號進行缺陷期間的檢測，與以往那樣用主光束返回光信號檢測的情況相比，可以按主光束和先行副光束之間的時間差更快地檢測缺陷期間。因此，可以將保持伺服時的TE信號的振幅抑制得很小，因而對跟蹤的干擾很小。另外，在第2技術(shù)方案所述的光盤裝置中，可以由缺陷期間檢測裝置檢測作為缺陷期間的從先行副光束進入缺陷部分因而使先行副光束返回光信號降低到第3基準電平以下的時刻起直到先行副光束返回光信號超過第3基準電平并經(jīng)過了預(yù)定時間(例如，先行副光束返回光信號和后續(xù)副光束返回光信號開始變化的時間差)的期間。進一步，在第3技術(shù)方案所述的光盤裝置中，在缺陷期間檢測裝置中，在將先行副光束返回光信號二值化之前的階段，由波谷保持電路對該先行副光束返回光信號進行波谷保持，因此可以防止對先行副光束返回光信號進行二值化時產(chǎn)生振蕩。此外，在第4技術(shù)方案所述的光盤裝置中，在缺陷期間檢測裝置中，當(dāng)對先行副光束返回光信號進行二值化時，由標準化電平調(diào)整裝置對上述先行副光束返回光信號及上述第3基準電平的一方或雙方進行電平調(diào)整，所以，即使是先行副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平變化很大的光盤，也可以調(diào)整缺陷期間的檢測靈敏度，以使缺陷期間的錯誤檢測減少，因而可以穩(wěn)定地進行缺陷期間的檢測。另外，在第5技術(shù)方案所述的光盤裝置中，將從先行副光束和后續(xù)副光束的任何一方進入缺陷部分的時刻起直到先行副光束和后續(xù)副光束雙方從缺陷部分脫出的期間作為缺陷期間進行檢測，因此，即使是缺陷部分的邊界相對于光盤的半徑方向偏斜這樣形狀的缺陷部分，也能精確地檢測缺陷期間。進一步，在第6技術(shù)方案所述的光盤裝置中，除上述第5技術(shù)方案所述的光盤裝置的結(jié)構(gòu)以外，在將先行副光束返回光信號及后續(xù)副光束返回光信號二值化之前的階段，還由第1及第2波谷保持電路對該先行及后續(xù)副光束返回光信號進行波谷保持，因此，除第5技術(shù)方案所述的光盤裝置的作用以外，還可以防止對先行及后續(xù)副光束返回光信號分別進行二值化時產(chǎn)生振蕩。此外，在第7技術(shù)方案所述的光盤裝置中，與缺陷期間檢測裝置檢測的缺陷期間相比，第2缺陷期間檢測裝置檢測的第2缺陷期間，進入該期間晚且從該期間脫出早。因此，在AGC裝置中，僅限于在上述短的第2缺陷期間保持RF信號振幅的標準化，因此，在數(shù)據(jù)檢測上很少失效。另外，在第8技術(shù)方案所述的光盤裝置中，第2缺陷期間檢測裝置，根據(jù)來自AGC裝置的RF信號生成第2缺陷期間信號，因此，對跟蹤控制的干擾很小，同時，能夠?qū)GC裝置的增益的保持延遲到可以對RF信號的振幅進行標準化的限度，因此，在數(shù)據(jù)檢測上很少失效。進一步，在第9技術(shù)方案所述的光盤裝置中，由1個缺陷期間檢測裝置根據(jù)先行副光束返回光信號生成靈敏度不同的第1及第2缺陷期間信號，所以，與第8技術(shù)方案所述的光盤裝置相比，電路結(jié)構(gòu)簡單且成本減低。如上所述，根據(jù)本發(fā)明第1～第9技術(shù)方案所述的光盤裝置，根據(jù)先行副光束返回光信號進行缺陷期間的檢測，與以往相比可以更早地檢測出缺陷期間，因此，即使是存在于記錄面上的缺陷部分，也可以將保持跟蹤伺服時的跟蹤誤差信號的振幅抑制得很小，因而具有可以減少對跟蹤控制的干擾的效果。特別是，根據(jù)本發(fā)明第3技術(shù)方案所述的光盤裝置，可以防止對先行副光束返回光信號進行二值化時產(chǎn)生的振蕩。另外，根據(jù)本發(fā)明第4技術(shù)方案所述的光盤裝置，由于可以調(diào)整檢測缺陷期間的檢測靈敏度，因此，即使先行副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平變化很大時，也可以穩(wěn)定地進行缺陷期間的檢測。進一步，根據(jù)本發(fā)明第5技術(shù)方案所述的光盤裝置，即使是缺陷部分的形狀為其邊界相對于光盤的半徑方向偏斜的缺陷部分，也能精確地檢測缺陷期間。進一步，根據(jù)本發(fā)明第6技術(shù)方案所述的光盤裝置，能有效地防止對先行及后續(xù)副光束返回光信號分別進行二值化時產(chǎn)生振蕩，并且即使是缺陷部分的形狀為其邊界相對于光盤的半徑方向偏斜的缺陷部分，也能精確地檢測缺陷期間。此外，根據(jù)本發(fā)明第7技術(shù)方案所述的光盤裝置，可以減小由光盤的缺陷部分引起的對跟蹤控制的干擾，同時，將保持RF信號振幅的標準化的期間限制為短的期間，因此可以減少數(shù)據(jù)檢測的失效。另外，根據(jù)本發(fā)明第8技術(shù)方案所述的光盤裝置，只在根據(jù)來自AGC裝置的RF信號生成的第2缺陷期間信號的期間內(nèi)，將AGC裝置的增益保持在固定值，所以，能夠?qū)⑵浔３制陂g延遲到可以對RF信號進行二值化的限度，因而具有使數(shù)據(jù)檢測的失效很少的效果。進一步，根據(jù)本發(fā)明第9技術(shù)方案所述的光盤裝置，用1個缺陷期間檢測裝置根據(jù)先行副光束返回光信號生成靈敏度不同的第1及第2缺陷期間信號，所以，電路結(jié)構(gòu)簡單且成本減低，并可以取得與第8技術(shù)方案所述的光盤裝置相同的效果。圖1是表示本發(fā)明第1實施方式的光盤裝置的圖。圖2是表示第1實施方式的光盤裝置中的缺陷期間檢測電路的圖。圖3是表示當(dāng)通過存在于光盤的記錄面上的缺陷部分時第1實施方式的缺陷期間檢測電路中的主要部分的波形的圖。圖4是表示本發(fā)明第2實施方式的光盤裝置的圖。圖5是表示第2實施方式的光盤裝置中的缺陷期間檢測電路的圖。圖6是表示當(dāng)通過存在于光盤的記錄面上的缺陷部分時第2實施方式的缺陷期間檢測電路中的主要部分的波形的圖。圖7是表示本發(fā)明第3實施方式的光盤裝置中的缺陷期間檢測電路的圖。圖8(a)～圖8(c)是表示當(dāng)通過存在于光盤的記錄面上的缺陷部分時第3實施方式的缺陷期間檢測電路中的主要部分的波形的圖。圖9是表示本發(fā)明第4實施方式的光盤裝置的圖。圖10是表示當(dāng)通過通常的缺陷部分時第4實施方式的光盤裝置中的主要部分的波形的圖。圖11是表示本發(fā)明第5實施方式的光盤裝置的圖。圖12是表示該光盤裝置中的缺陷期間檢測電路的圖。圖13是當(dāng)通過通常的缺陷部分時該缺陷期間檢測電路中的主要部分的波形的圖。圖14是表示現(xiàn)有的光盤裝置的圖。圖15是表示光盤表面上的主光束、副光束及缺陷部分的位置關(guān)系的圖。圖16是表示當(dāng)通過通常的缺陷部分時現(xiàn)有的光盤裝置中的主要部分的波形的圖。圖17是表示當(dāng)通過存在于光盤的記錄面上的缺陷部分時現(xiàn)有的光盤裝置中的主要部分的波形的圖。具體實施例方式以下，根據(jù)附圖詳細說明本發(fā)明。(第1實施方式)圖1表示本發(fā)明第1實施方式的光盤裝置。在圖1表示的光盤裝置中，1是光拾取器，8是光盤，2是取得先行副光束返回光的第1輸出端子，3取得后續(xù)副光束返回光的第2輸出端子，9是取得主光束返回光的第3輸出端子，4是TE信號生成電路(跟蹤誤差信號生成裝置)，6是跟蹤控制電路(跟蹤控制裝置)，7是伺服保持電路(保持裝置)，10是AGC電路(AGC裝置)，11是聚焦控制電路(聚焦控制裝置)，39是AGC保持電路(AGC保持裝置)。以上的結(jié)構(gòu)，與已說明過的圖14的光盤裝置相同，所以其詳細的說明省略。如第1技術(shù)方案所示，本發(fā)明與圖14中表示的現(xiàn)有例的不同點在于，將缺陷期間檢測電路(缺陷期間檢測裝置)5與輸出E信號的第1輸出端子2連接，而不是與AGC裝置10的輸出連接。因此，可以使用進入缺陷部分比主光束早的E信號檢測缺陷期間，從而可以將保持跟蹤伺服時的跟蹤誤差信號的振幅抑制得很小，所以可以提供對跟蹤控制的干擾很小的光盤裝置。其次，用圖2說明本發(fā)明第1實施方式的光盤裝置中的缺陷期間檢測電路的結(jié)構(gòu)(第2技術(shù)方案)。將第1基準電平生成電路(第1基準電平生成裝置)12與上述第1輸出端子2連接，基準電平生成電路12，根據(jù)E信號的暗電平生成第1基準電平。此外，與第1輸出端子2連接的第2基準電平生成電路(第2基準電平生成裝置)14，通過對E信號進行波谷保持，根據(jù)E信號的RF分量的下側(cè)電平生成第2基準電平。另外，在本實施方式中，采用了波谷保持作為第2基準電平生成方法，但當(dāng)然也可以不使用該波谷保持而是根據(jù)E信號的平均電平和E信號的RF分量的振幅的1/2求出E信號的RF分量的下側(cè)電平。此外，當(dāng)然也可以根據(jù)對E信號進行了波峰保持的電平和E信號的RF分量的振幅求出E信號的RF分量的下側(cè)電平。其次，與上述第1基準電平生成電路12的輸出及上述第2基準電平生成電路14的輸出連接的第3基準電平生成電路(第3基準電平生成裝置)16，生成具有上述第1基準電平和上述第2基準電平之間的固定值的第3基準電平。與上述第1輸出端子2及上述第3基準電平生成電路16的輸出連接的第1脈沖生成電路17，用上述第3基準電平將E信號二值化。由此，生成用于表明從E信號進入缺陷期間到從缺陷期間脫出的第1脈沖。另外，在本實施方式中，也可以在第1輸出端子2和第1脈沖生成電路17之間設(shè)置波谷保持電路(第3技術(shù)方案)。由此，可以有效地抑制將E信號二值化時產(chǎn)生的振蕩，因而可以穩(wěn)定地進行缺陷期間的檢測。此外，當(dāng)然也可以將第1脈沖生成電路17用作帶有滯后的脈沖生成電路。進一步，在本實施方式中，由于將第3基準電平作為固定值，如將第3基準電平設(shè)定為接近于E信號的RF分量的下側(cè)電平的固定值，則在E信號的RF分量的下側(cè)電平變化很大的光盤上，當(dāng)確定了上述第3基準電平之后E信號的RF分量的下側(cè)電平變化時，有時會發(fā)生錯誤檢測。為防止發(fā)生這種情況，也可以在第1脈沖生成電路17的輸入側(cè)設(shè)置標準化電平調(diào)整電路(第4技術(shù)方案)，并利用該電路對E信號或上述第3基準電平的一方或雙方進行調(diào)整。根據(jù)這種結(jié)構(gòu)，可以調(diào)整檢測缺陷期間的檢測靈敏度，并調(diào)整檢測靈敏度使得當(dāng)E信號的RF分量的下側(cè)電平變化時不發(fā)生錯誤檢測，因此可以穩(wěn)定地進行缺陷期間的檢測。接著，在圖2中，由連接于第1脈沖生成電路17的輸出側(cè)的單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器(monostablemultivibrator，單穩(wěn)態(tài)電路)18，將上述第1脈沖生成電路17的第1脈沖的后沿延長((光盤上的先行副光束和后續(xù)副光束的光點間距離)/光盤的轉(zhuǎn)速)時間或該時間以上。由此，生成表明缺陷期間的缺陷期間檢測信號。用圖3說明當(dāng)光束通過存在于光盤8的記錄面上的缺陷時按如上方式構(gòu)成的缺陷期間檢測電路5中的主要部分的波形。在圖3中，自上而下地表示由先行副光束產(chǎn)生的E信號、由主光束產(chǎn)生的A～D信號、由后續(xù)副光束產(chǎn)生的F信號、TE信號、本實施方式的缺陷期間信號、現(xiàn)有例的缺陷期間信號、及采樣周期。此外，對于TE信號，虛線表示未進行保持時的波形，實線表示進行保持時的波形，當(dāng)先行副光束進入存在于光盤8的記錄面上的缺陷部分時，E信號先開始衰減。當(dāng)E信號這樣開始衰減時，TE信號的振幅開始增大，在E信號的電平降低到第3基準電平以下的時刻檢測缺陷期間，并將TE信號保持在先前值、即前1個采樣時間的值。因此，例如，當(dāng)先行副光束和主光束的時間差為采樣周期的2倍時，在本實施方式中，與以往的用主光束進行的缺陷期間的檢測相比，可以提前2個采樣周期進行缺陷期間的檢測，因此，保持了TE信號時的振幅C很小，從而可以防止跟蹤伺服在缺陷期間進入異常動作狀態(tài)。另外，未保持的TE信號，直到后續(xù)副光束從缺陷部分脫出為止是不穩(wěn)定的，因此，當(dāng)只用E信號檢測缺陷期間時，TE信號的保持的恢復(fù)將提前相當(dāng)于E信號和F信號的時間差的時間，但在本實施方式的缺陷期間檢測電路5中，將只用E信號檢測出的缺陷期間信號的后沿延長了預(yù)定時間、例如相當(dāng)于E信號和F信號的時間差的時間，因此，可以將TE信號的保持延遲到F信號從缺陷期間脫出為止。(第2實施方式)圖4表示本發(fā)明第2實施方式中的光盤裝置。對與圖1相同的部分標以相同的符號而將其說明省略。本實施方式的光盤裝置與圖1中表示的第1實施方式的不同點在于，不僅將缺陷期間檢測電路5與輸出E信號的第1輸出端子2連接，而且還與輸出F信號的第2輸出端子3連接。由此，可以用進入缺陷期間比主光束早的E信號和從缺陷期間脫出比主光束晚的F信號檢測缺陷期間，從而既可以將保持跟蹤伺服時的跟蹤誤差信號的振幅抑制得很小又可以精確地檢測從缺陷期間的脫出，因此可以提供對跟蹤控制的干擾很小的光盤裝置，其次，用圖5說明本實施方式的光盤裝置中的缺陷期間檢測電路5的結(jié)構(gòu)(第5技術(shù)方案)。此外，對與圖2相同的部分標以相同的符號而將其說明省略。將第1基準電平生成電路(第1基準電平生成裝置)12與上述第1輸出端子2連接，該基準電平生成電路12，根據(jù)E信號的暗電平生成第1基準電平。另外，將第4基準電平生成電路(第4基準電平生成裝置)19與第2輸出端子3連接，該第4基準電平生成電路19，根據(jù)F信號的暗電平生成第4基準電平。進一步，與上述第1輸出端子2連接的第2基準電平生成電路(第2基準電平生成裝置)14，通過對E信號進行波谷保持，根據(jù)E信號的RF分量的下側(cè)電平生成第2基準電平。此外，與上述第2輸出端子3連接的第5基準電平生成電路(第5基準電平生成裝置)21，通過對F信號進行波谷保持，由此根據(jù)F信號的RF分量的下側(cè)電平生成第5基準電平。另外，在本實施方式中，采用了波谷保持作為第2及第5基準電平生成方法，但當(dāng)然也可以不使用該波谷保持而是分別根據(jù)E信號及F信號的平均電平和E信號及F信號的RF分量的振幅的1/2求出E信號及F信號的RF分量的下側(cè)電平。此外，當(dāng)然也可以根據(jù)分別對E信號及F信號進行了波峰保持的電平和E信號及F信號的RF分量的振幅求出E信號的RF分量的下側(cè)電平。接著，與上述第1基準電平生成電路12的輸出及上述第2基準電平生成電路14的輸出連接的第3基準電平生成電路(第3基準電平生成裝置)16，生成具有上述第1基準電平和上述第2基準電平之間的固定值的第3基準電平。與上述第1輸出端子2及上述第3基準電平生成電路16的輸出側(cè)連接的第1脈沖生成電路17，用第3基準電平將E信號二值化。由此，生成用于表明從E信號進入缺陷期間到從缺陷期間脫出的第1脈沖。同樣，與第4基準電平生成電路19的輸出及第5基準電平生成電路21的輸出連接的第6基準電平生成電路(第6基準電平生成裝置)23，生成具有第4基準電平和第5基準電平之間的固定值的第6基準電平。然后，與上述第2輸出端子3及上述第6基準電平生成電路23的輸出連接的第2脈沖生成電路25，用第6基準電平將F信號二值化。由此，生成用于表明從F信號進入缺陷期間到從缺陷期間脫出的第2脈沖。另外，在本實施方式中，由于將E信號及F信號直接二值化，有可能產(chǎn)生振蕩，但當(dāng)然也可以與第1實施方式所示一樣在第1輸出端子2和第1脈沖生成電路17之間及第2輸出端子3和第2脈沖生成電路25之間設(shè)置波谷保持電路。此外，當(dāng)然也可以將第1脈沖生成電路17及第2脈沖生成電路25用作帶有滯后的脈沖生成電路。另外，在本實施方式中，由于將第3及第6基準電平作為固定值，如將第3基準電平設(shè)定為接近于E信號的RF分量的下側(cè)電平的固定值、或?qū)⒌?基準電平設(shè)定為接近于F信號的RF分量的下側(cè)電平的固定值，則在E信號或F信號的RF分量的下側(cè)電平變化很大的光盤上，當(dāng)確定了上述第3及第6基準電平之后E信號或F信號的RF分量的下側(cè)電平變化時，會發(fā)生錯誤檢測。為處理這種情況，當(dāng)然也可以與第1實施方式所示電路一樣在第1脈沖生成電路17的輸入側(cè)設(shè)置標準化電平調(diào)整電路(圖中未表示)，并對E信號或上述第3基準電平的一方或雙方進行調(diào)整，或在第2脈沖生成電路25的輸入側(cè)設(shè)置標準化電平調(diào)整電路(圖中未表示)，并對F信號或上述第6基準電平的一方或雙方進行調(diào)整。另外，在本實施方式中，分別設(shè)定了對E信號的二值化的基準電平和對F信號的二值化的基準電平，但當(dāng)然也可以將第3基準電平或第6基準電平的任何一個公共地用作E信號和F信號的二值化的基準。進一步，在圖5中，上述第1脈沖生成電路17的輸出和上述第2脈沖生成電路25的輸出，輸入到第1OR電路27。該OR電路27，求取表明從E信號進入缺陷期間到從缺陷期間脫出的第1脈沖與表明從F信號進入缺陷期間到從缺陷期間脫出的第2脈沖的邏輯和。因此，即使是對于缺陷期間的邊界相對于光盤8的半徑方向偏斜這樣的形狀的缺陷部分，也能利用上述OR電路27的輸出將從先行副光束和后續(xù)副光束的任何一方進入缺陷部分的時刻起直到先行副光束和后續(xù)副光束雙方從缺陷部分脫出的期間作為缺陷期間來精確地檢測。但是，在本實施方式中，僅當(dāng)在第1輸出端子2和第1脈沖生成電路17之間、以及在第2輸出端子3和第2脈沖生成電路25之間分別設(shè)置了波谷保持電路(圖中未表示)時，從缺陷部分脫出的檢測才比實際脫出的時間晚。用圖6說明當(dāng)通過存在于光盤8的記錄面上的缺陷部分時按如上方式構(gòu)成的缺陷期間檢測電路5中的主要部分的波形。在圖6中，自上而下地按順序表示由先行副光束產(chǎn)生的E信號、由主光束產(chǎn)生的A～D信號、由后續(xù)副光束產(chǎn)生的F信號、TE信號、來自第1脈沖生成電路17的第1脈沖、來自第2脈沖生成電路25的第2脈沖、及采樣周期。此外，對于TE信號，虛線表示未進行保持時的波形，實線表示進行了保持時的波形，當(dāng)先行副光束進入存在于光盤8的記錄面上的缺陷部分時，E信號先開始衰減。當(dāng)E信號這樣開始衰減時，TE信號的振幅開始增大，在E信號的電平降低到第3基準電平以下的時刻，根據(jù)該E信號的變化檢測缺陷期間，并將TE信號保持在先前值、即前1個采樣時間的值。例如，當(dāng)先行副光束和主光束的時間差為采樣周期的2倍時，與以往的用主光束進行的缺陷期間的檢測相比，可以提前2個采樣周期進行缺陷期間的檢測，因此，保持有TE信號時的振幅E很小，從而可以防止跟蹤伺服在缺陷期間進入異常動作狀態(tài)。接著，當(dāng)從缺陷期間脫出時，E信號先從缺陷部分脫出，但是，根據(jù)F信號的缺陷期間檢測結(jié)果，直到F信號從缺陷部分脫出為止TE信號的保持仍未解除。在E信號和F信號都從缺陷部分脫出后，TE信號的保持才被解除。因此，在本實施方式的缺陷期間檢測電路5中，可以在從E信號進入缺陷部分的時刻起直到F信號從缺陷期間脫出的期間保持TE信號。另外，在圖6中，舉例說明了E信號對缺陷期間的進入和脫出在F信號之前的情況，但是，本實施方式的缺陷期間檢測電路5，即使是缺陷部分具有其邊界相對于光盤8的半徑方向偏斜的形狀因而使根據(jù)E信號和F信號檢測出的各缺陷期間的長度各不相同的例子、或F信號對缺陷期間的進入和脫出在E信號的進入和脫出之前的例子，也仍可以將從先行副光束和后續(xù)副光束的任何一方進入缺陷部分的時刻起直到先行副光束和后續(xù)副光束雙方從缺陷部分脫出的期間作為缺陷期間精確地進行檢測。(第3實施方式)以下，說明第3實施方式的光盤裝置。本實施方式，表示缺陷期間檢測電路的進一步的實施方式。圖7表示本實施方式的缺陷期間檢測電路的結(jié)構(gòu)(第6技術(shù)方案)。對與圖5相同的部分標以相同的符號而將其說明省略。與圖5的不同點在于，在E信號及F信號和二值化電路(脈沖生成電路)之間連接了波峰保持電路和波谷保持電路，并在上述波峰保持電路和二值化電路的輸出之間連接了下降率可變電路。以下，說明詳細的結(jié)構(gòu)。但是，與第3及第6基準電平生成有關(guān)的結(jié)構(gòu)，因與圖5完全相同而省略。第1脈沖生成電路(第1脈沖生成裝置)17，通過用第3基準電平將由連接于第1輸出端子2的第1波谷保持電路(第1波谷保持裝置)28進行了波谷保持的E信號二值化，生成由上升表明E信號進入缺陷期間的第1脈沖。同樣，第3脈沖生成電路(第3脈沖生成裝置)30，通過用第3基準電平將由連接于第1輸出端子2的第1波峰保持電路(第1波峰保持裝置)29進行了波峰保持的E信號二值化，生成由下降表明E信號從缺陷期間脫出的第3脈沖。這時，第1下降率可變電路32，利用來自第1脈沖生成電路17的第1脈沖的上升加快與第1輸出端子2連接的第1波峰保持電路29的下降率(drooprate)。因此，在E信號進入缺陷期間后，由于第3脈沖快速上升，即使是缺陷期間短的情況下，第3脈沖也能可靠地上升。第1下降率可變電路32，利用來自第3脈沖生成電路30的第3脈沖的上升，使第1波峰保持電路29的下降率快速地恢復(fù)到原來的速度。因此，可以使從缺陷期間脫出后的波峰保持波形變得穩(wěn)定。同樣，第2脈沖生成電路25，通過用第6基準電平將由連接于第2輸出端子3的第2波谷保持電路(第2波谷保持裝置)33進行了波谷保持的F信號二值化，生成由上升表明F信號進入缺陷期間的第2脈沖。與此同時，第4脈沖生成電路(第4脈沖生成裝置)35，通過用第6基準電平將由連接于第2輸出端子3的第2波峰保持電路(第2波峰保持裝置)34進行了波峰保持的F信號二值化，生成由下降表明F信號從缺陷期間脫出的第4脈沖。這時，第2下降率可變電路37，利用來自第2脈沖生成電路25的第2脈沖的上升加快與第2輸出端子3連接的第2波峰保持電路33的下降率。因此，在F信號進入缺陷期間后，由于第4脈沖快速上升，即使是缺陷期間短的情況下，第4脈沖也能可靠地上升。第2下降率可變電路37，利用來自上述第4脈沖生成電路35的第4脈沖的上升，使第2波峰保持電路33的下降率快速地恢復(fù)到原來的速度。因此，可以使從缺陷期間脫出后的波峰保持波形變得穩(wěn)定。進一步，在圖7中，第1OR電路27，通過求取上述第1脈沖生成電路17的輸出信號與上述第2脈沖生成電路25的輸出信號的邏輯和，生成由上升表明E信號或F信號進入缺陷期間的第5脈沖。同樣，第2OR電路37，通過求取上述第3脈沖生成電路30的輸出信號與上述第4脈沖生成電路35的輸出信號的邏輯和，生成由下降表明E信號或F信號從缺陷期間脫出的第6脈沖。最后，與上述第1OR電路27的輸出及上述第2OR電路37的輸出連接的第5脈沖生成電路38，利用第5脈沖的上升和第6脈沖的下降，生成表明從E信號或F信號進入缺陷期間的時刻起直到E信號和F信號從缺陷期間脫出的檢測脈沖(缺陷期間信號)。因此，通過波峰保持和波谷保持，可以防止振蕩，并且，對于即使是通過存在于光盤8的記錄面上的缺陷部分的邊界相對于半徑方向偏斜這樣的形狀的缺陷部分時使根據(jù)E信號和F信號檢測出的缺陷期間的長度各不相同的例子、或F信號對缺陷期間的進入和脫出在E信號的進入和脫出之前的例子，也仍可以將從先行副光束和后續(xù)副光束的任何一方進入缺陷部分的時刻起直到先行副光束和后續(xù)副光束雙方從缺陷部分脫出為止的期間作為缺陷期間精確地檢測。用圖8(a)～圖8(c)說明當(dāng)通過存在于光盤8的記錄面上的缺陷部分時按如上方式構(gòu)成的缺陷期間檢測電路中的主要部分的波形。圖8(a)，自上而下地按順序表示由先行副光束產(chǎn)生的E信號、來自第1脈沖生成電路17的第1脈沖、來自第3脈沖生成電路30的第3脈沖。圖8(b)，表示由后續(xù)副光束產(chǎn)生的F信號、來自第2脈沖生成電路25的第2脈沖、來自第4脈沖生成電路35的第4脈沖。此外，圖8(c)，自上而下地按順序表示上述第1脈沖、第2脈沖、第1OR電路27的輸出信號、上述第3脈沖、第4脈沖、第2OR電路37的輸出信號、及第5脈沖生成電路38的輸出信號即缺陷期間信號。以下，說明本實施方式的動作。當(dāng)先行副光束進入存在于光盤8的記錄面上的缺陷部分時，對E信號進行波谷保持后得到的信號和進行波峰保持后得到的信號先開始衰減。由于波谷保持后的信號比該波峰保持后的信號下降得早，在對E信號進行波谷保持后得到的信號的電平先下降到第3基準電平以下的時刻，第1脈沖生成電路17的第1脈沖上升。與此同時，通過加快第1波峰保持電路29的下降率，使對E信號進行波峰保持后得到的信號也快速下降，而第3脈沖生成電路30的第3脈沖上升。這時，由第1脈沖的上升精確地表示E信號進入缺陷期間，第3脈沖比第1脈沖稍微延遲后上升。然后，當(dāng)E信號從缺陷期間脫出時，由于波峰保持后的信號比波谷保持后的信號上升得早，在對E信號進行波峰保持后得到的信號的電平先超過了第3基準電平的時刻，第3脈沖生成電路30的第3脈沖下降。與此同時，為使從缺陷脫出后的波峰保持波形穩(wěn)定，延緩第1波峰保持電路29的下降率。這時，由第3脈沖的下降精確地表示E信號從缺陷期間的脫出，第1脈沖比第3脈沖稍微延遲后下降。同樣，當(dāng)后續(xù)副光束進入存在于光盤8的記錄面上的缺陷部分時，對F信號進行波谷保持后得到的信號和進行波峰保持后得到的信號先開始衰減。由于波谷保持后的信號比該波峰保持后的信號下降得早，在對F信號進行波谷保持后得到的信號的電平先下降到第6基準電平以下的時刻，第2脈沖生成電路25的第2脈沖上升。與此同時，通過加快第2波峰保持電路29的下降率，使對F信號進行波峰保持后得到的信號也快速下降，而第4脈沖生成電路35的第4脈沖上升。這時，由第2脈沖的上升精確地表示F信號進入缺陷期間，第4脈沖比第2脈沖稍微延遲后上升。當(dāng)F信號從缺陷期間脫出時，由于波峰保持后的信號比波谷保持后的信號上升得早，在對F信號進行波谷保持后得到的信號的電平先超過了第6基準電平的時刻，第4脈沖生成電路35的第4脈沖下降。與此同時，為使從缺陷脫出后的波峰保持波形穩(wěn)定，延緩第2波峰保持電路34的下降率。這時，由第4脈沖的下降精確地表示F信號從缺陷期間的脫出，第2脈沖比第4脈沖稍微延遲后下降。因此，上述第1OR電路27的輸出，其上升精確地表示進入缺陷期間，上述第2OR電路37的輸出，其下降精確地表示從缺陷期間脫出，因此，通過取得第1OR電路27的輸出脈沖的上升沿和第2OR電路37的輸出脈沖的下降沿，生成精確地表示缺陷期間的缺陷期間信號。另外，在圖8中，舉例說明了E信號對缺陷期間的進入和脫出在F信號之前的情況，但是，本實施方式的缺陷期間檢測電路，即使是通過缺陷部分的邊界相對于光盤8的半徑方向偏斜這樣的形狀的缺陷部分時使根據(jù)E信號和F信號檢測出的缺陷期間的長度不同的例子、或F信號對缺陷期間的進入和脫出在E信號進入和脫出之前的例子，也仍可以將從先行副光束和后續(xù)副光束的任何一方進入缺陷部分的時刻起直到先行副光束和后續(xù)副光束雙方從缺陷部分脫出的期間作為缺陷期間精確地進行檢測。(第4實施方式)以下，根據(jù)圖9說明本發(fā)明第4實施方式中的光盤裝置。此外，對與圖1相同的部分標以相同的符號而將其說明省略。本實施方式的光盤裝置與圖1中表示的第1實施方式的不同點在于，不是將使用E信號的缺陷期間檢測電路5而是將第8技術(shù)方案中給出的第2缺陷期間檢測電路40與AGC保持電路(AGC保持裝置)39的輸入側(cè)連接。上述第2缺陷期間檢測電路(第2缺陷期間檢測裝置)40，與AGC電路10的輸出側(cè)連接，根據(jù)RF信號的電平檢測缺陷期間。例如，如A～D信號的電平降低到AGC電路10的標準化振幅除以AGC電路10的最大增益后得到的基準電平以下，該第2缺陷期間檢測電路40就檢測為進入缺陷期間。另外，在本實施方式中，作為缺陷期間檢測電路5，只使用了E信號，但當(dāng)然也可以如第2實施方式那樣采用E信號和F信號這兩者都使用的缺陷期間檢測電路。用圖10說明當(dāng)光束通過光盤8上有劃傷或附著了異物等通常的缺陷部分時按如上方式構(gòu)成的缺陷期間檢測電路中的主要部分的波形。在圖10中，自上而下地按順序表示由先行副光束產(chǎn)生的E信號、由主光束產(chǎn)生的A～D信號、由后續(xù)副光束產(chǎn)生的F信號、第1缺陷期間檢測電路5的缺陷期間信號、第2缺陷期間檢測電路40的缺陷期間信號、及采樣周期。當(dāng)先行副光束進入光盤8的缺陷部分時，E信號先開始衰減。在該E信號的電平降低到第3基準電平以下的時刻，由第1缺陷期間檢測電路5根據(jù)上述E信號檢測進入缺陷期間。接著，A～D信號衰減，在A～D信號的電平降低到例如AGC電路10的標準化振幅除以AGC電路10的最大增益后得到的基準電平以下的時刻，由第2缺陷期間檢測電路40根據(jù)A～D信號檢測進入缺陷期間。這時，第1缺陷期間檢測電路5，從穩(wěn)定和保持跟蹤伺服的目的考慮，構(gòu)成為盡可能早地檢測進入缺陷期間、且盡可能地避免直到延遲后才檢測脫出。另一方面，第2缺陷期間檢測電路40，構(gòu)成為在A～D信號變成AGC電路中能夠標準化的最小的振幅之前不對進入缺陷期間進行檢測，在A～D信號變成了能夠由AGC電路10標準化的振幅的時刻，開始檢測脫出。因此，與采用缺陷期間檢測電路5并保持AGC電路10的增益的情況相比，無需將AGC電路10的增益的保持延長到超過需要，并且數(shù)據(jù)檢測的失效將減少。因此，在本實施方式中，可以將缺陷期間中的AGC電路10的增益的保持期間做成所需的最小限度，減少跟蹤控制的干擾，并且，可以將數(shù)據(jù)檢測的失效抑制為最低限度。(第5實施方式)接著，用圖11說明本發(fā)明第5實施方式中的光盤裝置。此外，對與圖1相同的部分標以相同的符號而將其說明省略。本實施方式的光盤裝置與圖1中表示的第1實施方式的不同點在于，備有第3缺陷期間檢測電路5′(第9技術(shù)方案)，由該第3缺陷期間檢測電路5′生成第1缺陷期間信號、及與表明上述第1缺陷期間的信號相比進入缺陷期間的檢測晚且從缺陷期間脫出的檢測早的第2缺陷期間信號。另外，在本實施方式中，作為第3缺陷期間檢測電路5′，只使用了E信號，但當(dāng)然也可以如第2實施方式那樣采用E信號和F信號兩者都使用的缺陷期間檢測電路。其次，用圖12說明本發(fā)明第5實施方式的光盤裝置中的缺陷期間檢測電路5′的結(jié)構(gòu)。本實施方式的缺陷期間檢測電路5′與圖2中表示的第1實施方式的不同點在于，備有第7基準電平生成電路41和第6脈沖生成電路42。上述第7基準電平生成電路41，根據(jù)第1基準電平生成電路12的第1基準電平及第2基準電平生成電路14的第2基準電平，生成其電平比第3基準電平生成電路16的第3基準電平低預(yù)定電平的第7基準電平。另外，上述第6脈沖生成電路42，與上述第7基準電平生成電路41的輸出及第1輸出端子2連接，用第7基準電平將E信號二值化。此外，在缺陷期間檢測電路5′中，關(guān)于用于保持跟蹤伺服的第1缺陷期間信號的生成，與圖2的缺陷期間檢測電路5相同，因此將其說明省略。在本實施方式中，第3缺陷期間檢測電路5′，使用與第3基準電平不同的第7基準電平將E信號二值化，并且還生成與第1缺陷期間信號相比進入缺陷期間的檢測晚且從缺陷期間脫出的檢測早的第2缺陷期間信號，因此，無需如第4實施方式那樣準備2個缺陷期間檢測電路5、40，即可實現(xiàn)與第4實施方式相同的光盤裝置。用圖13說明當(dāng)通過通常的缺陷部分時按如上方式構(gòu)成的缺陷期間檢測電路5′中的主要部分的波形。在圖13中，自上而下地按順序表示由先行副光束產(chǎn)生的E信號、由主光束產(chǎn)生的A～D信號、由后續(xù)副光束產(chǎn)生的F信號、第1缺陷期間信號、第2缺陷期間信號、及采樣周期。當(dāng)先行副光束進入光盤8的缺陷部分時，E信號先開始衰減。在該E信號的電平降低到第3基準電平以下的時刻，由第3缺陷期間檢測電路5′根據(jù)上述E信號輸出第1缺陷期間信號。然后，在上述E信號的電平降低到第7基準電平以下的時刻，由缺陷期間檢測電路5′根據(jù)E信號輸出第2缺陷期間信號。這時，第1缺陷期間信號，從穩(wěn)定和保持跟蹤伺服的目的考慮，盡可能早地檢測進入、且直到盡可能地延遲后才檢測脫出，另一方面，第2缺陷期間信號，比上述第1缺陷期間信號晚地檢測進入、且比其早地檢測脫出。因此，與使用第1缺陷期間信號保持AGC電路10的增益的情況相比，可以縮短AGC電路10的增益保持期間，可以減少數(shù)據(jù)檢測的失效。如上所述，本發(fā)明根據(jù)先行副光束返回光信號進行缺陷期間的檢測，與以往相比可以更早地檢測出缺陷期間，因此，作為跟蹤控制的干擾即使在位于記錄面上的缺陷部分也很小的光盤裝置等是非常有用的。權(quán)利要求1.一種光盤裝置，包括將主光束和在上述主光束之前及之后的先行副光束與后續(xù)副光束輸出到光盤的光拾取器，為了對記錄在上述光盤上的信息進行再現(xiàn)，基于上述光拾取器的主光束的讀取光點進行數(shù)字調(diào)制信號和聚焦誤差信號的檢測，并基于上述光拾取器的先行及后續(xù)副光束的讀取光點進行跟蹤誤差信號的檢測，該光盤裝置的特征在于，包括上述光拾取器；跟蹤誤差信號生成裝置，與取得將上述光拾取器的先行副光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的先行副光束返回光信號的第1輸出端子和取得將上述光拾取器的后續(xù)副光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的后續(xù)副光束返回光信號的第2輸出端子連接，并根據(jù)來自該2個輸出端子的先行及后續(xù)副光束返回光信號生成跟蹤誤差信號；跟蹤控制裝置，接受上述跟蹤誤差信號生成裝置的上述跟蹤誤差信號，并根據(jù)上述跟蹤誤差信號進行跟蹤控制；缺陷期間檢測裝置，根據(jù)來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號或來自上述第1及第2輸出端子雙方的先行及后續(xù)副光束返回光信號，檢測上述光盤的缺陷期間并輸出缺陷期間信號；以及保持裝置，接受上述缺陷期間檢測裝置的上述缺陷期間信號，并根據(jù)上述缺陷期間信號保持由上述跟蹤控制裝置進行的跟蹤控制。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于上述缺陷期間檢測裝置，包括第1基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并根據(jù)該先行副光束返回光信號的暗電平生成第1基準電平；第2基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并利用該先行副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平生成第2基準電平；第3基準電平生成裝置，生成具有由上述第1及第2基準電平生成裝置生成的上述第1及第2基準電平之間的值的第3基準電平；第1脈沖生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并以上述第3基準電平生成裝置的第3基準電平為基準將該先行副光束返回光信號二值化后生成第1脈沖；以及單穩(wěn)態(tài)電路，通過將由上述第1脈沖生成裝置生成的第1脈沖的后沿延長預(yù)定時間而生成缺陷期間檢測信號。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤裝置，其特征在于上述缺陷期間檢測裝置，包括波谷保持裝置，配置在從上述第1輸出端子將先行副光束返回光信號輸入到第1脈沖生成裝置的路徑上，用于保持先行副光束返回光信號的波谷。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤裝置，其特征在于上述缺陷期間檢測裝置，包括標準化電平調(diào)整裝置，配置在從上述第1輸出端子將先行副光束返回光信號輸入到第1脈沖生成裝置的路徑和將上述第3基準電平生成裝置的第3基準電平輸入到第1脈沖生成裝置的路徑中的至少一個路徑上，用于對上述先行副光束返回光信號和上述第3基準電平的一方或雙方進行調(diào)整。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于上述缺陷期間檢測裝置，包括第1基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并根據(jù)該先行副光束返回光信號的暗電平生成第1基準電平；第2基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并利用該先行副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平生成第2基準電平；第3基準電平生成裝置，生成具有由上述第1及第2基準電平生成裝置生成的上述第1及第2基準電平之間的值的第3基準電平；第1脈沖生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并以上述第3基準電平生成裝置的第3基準電平為基準將該先行副光束返回光信號二值化后生成第1脈沖；第4基準電平生成裝置，接受來自上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號，并根據(jù)該后續(xù)副光束返回光信號的暗電平生成第4基準電平；第5基準電平生成裝置，接受來自上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號，并利用該后續(xù)副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平生成第5基準電平；第6基準電平生成裝置，生成具有由上述第4及第5基準電平生成裝置生成的上述第4及第5基準電平之間的值的第6基準電平；第2脈沖生成裝置，接受來自上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號，并以上述第6基準電平生成裝置的第6基準電平為基準將該后續(xù)副光束返回光信號二值化后生成第2脈沖；以及第1OR電路，接受來自上述第1及第2脈沖生成裝置的第1及第2脈沖，并求取該第1脈沖與第2脈沖的邏輯和。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于上述缺陷期間檢測裝置，包括第1基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并根據(jù)該先行副光束返回光信號的暗電平生成第1基準電平；第2基準電平生成裝置，接受來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號，并利用該先行副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平生成第2基準電平；第3基準電平生成裝置，生成具有由上述第1及第2基準電平生成裝置生成的上述第1及第2基準電平之間的值的第3基準電平；第4基準電平生成裝置，接受來自上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號，并根據(jù)該后續(xù)副光束返回光信號的暗電平生成第4基準電平；第5基準電平生成裝置，接受來自上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號，并利用該后續(xù)副光束返回光信號的RF分量的下側(cè)電平生成第5基準電平；第6基準電平生成裝置，生成具有由上述第4及第5基準電平生成裝置生成的上述第4及第5基準電平之間的值的第6基準電平；第1波谷保持裝置，輸出上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號的下側(cè)包絡(luò)；第1波峰保持裝置，輸出上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號的上側(cè)包絡(luò)；第2波谷保持裝置，輸出上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號的下側(cè)包絡(luò)；第2波峰保持裝置，輸出上述第2輸出端子的后續(xù)副光束返回光信號的上側(cè)包絡(luò)；第1脈沖生成裝置，根據(jù)上述第3基準電平生成裝置的第3基準電平將上述第1波谷保持裝置的輸出信號二值化后生成第1脈沖；第2脈沖生成裝置，根據(jù)上述第6基準電平生成裝置的第6基準電平將上述第2波谷保持裝置的輸出信號二值化后生成第2脈沖；第3脈沖生成裝置，根據(jù)上述第3基準電平生成裝置的第3基準電平將上述第1波峰保持裝置的輸出信號二值化后生成第3脈沖；第4脈沖生成裝置，根據(jù)上述第6基準電平生成裝置的第6基準電平將上述第2波峰保持裝置的輸出信號二值化后生成第4脈沖；第1下降率可變裝置，利用上述第1脈沖生成裝置的第1脈沖的上升加快上述第1波峰保持裝置的下降率，另一方面，利用上述第3脈沖生成裝置的第3脈沖的下降延緩上述第1波峰保持裝置的下降率；第2下降率可變裝置，利用上述第2脈沖生成裝置的第2脈沖的上升加快上述第2波峰保持裝置的下降率，另一方面，利用上述第4脈沖生成裝置的第4脈沖的下降延緩上述第2波峰保持裝置的下降率；第1OR電路，接受來自上述第1及第3脈沖生成裝置的第1及第3脈沖，并求取該第1脈沖與第3脈沖的邏輯和；第2OR電路，接受來自上述第2及第4脈沖生成裝置的第2及第4脈沖，并求取該第2脈沖與第4脈沖的邏輯和；以及第5脈沖生成裝置，生成由上述第1OR電路的輸出信號的上升表明上述缺陷期間的開始的脈沖，并生成由上述第2OR電路的輸出信號的下降表明從上述缺陷期間脫出的脈沖。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于，包括AGC裝置，與取得將上述光拾取器的主光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的主光束返回光信號的第3輸出端子連接，并生成將上述主光束返回光信號的振幅按一定值標準化了的RF信號；第2缺陷期間檢測裝置，生成與上述缺陷期間檢測裝置生成的缺陷期間信號相比進入缺陷期間的檢測晚而從缺陷期間脫出的檢測早的用于表明第2缺陷檢測期間的第2缺陷期間信號；以及AGC保持裝置，在由上述第2缺陷期間檢測裝置的第2缺陷期間信號表明的上述第2缺陷檢測期間內(nèi)，將上述AGC裝置的增益固定在一定值。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體集成電路，其特征在于上述第2缺陷期間檢測裝置，接受來自上述AGC裝置的RF信號，并根據(jù)該RF信號生成上述第2缺陷期間信號。9.一種光盤裝置，包括將主光束和在上述主光束之前及之后的先行副光束與后續(xù)副光束輸出到光盤的光拾取器，為了對記錄在上述光盤上的信息進行再現(xiàn)，基于上述光拾取器的主光束的讀取光點進行數(shù)字調(diào)制信號和聚焦誤差信號的檢測，并基于上述光拾取器的先行及后續(xù)副光束的讀取光點進行跟蹤誤差信號的檢測，該光盤裝置的特征在于，包括上述光拾取器；跟蹤誤差信號生成裝置，與取得將上述光拾取器的先行副光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的先行副光束返回光信號的第1輸出端子及取得將上述光拾取器的后續(xù)副光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的后續(xù)副光束返回光信號的第2輸出端子連接，并根據(jù)來自該2個輸出端子的先行及后續(xù)副光束返回光信號生成跟蹤誤差信號；跟蹤控制裝置，接受上述跟蹤誤差信號生成裝置的上述跟蹤誤差信號，并根據(jù)上述跟蹤誤差信號進行跟蹤控制；缺陷期間檢測裝置，根據(jù)來自上述第1輸出端子的先行副光束返回光信號或來自上述第1及第2輸出端子雙方的先行及后續(xù)副光束返回光信號檢測上述光盤的缺陷期間，并生成第1缺陷期間信號、和與上述第1缺陷期間信號相比進入缺陷期間的檢測晚而從缺陷期間脫出的檢測早的用于表明第2缺陷檢測期間的第2缺陷期間信號；保持裝置，接受上述缺陷期間檢測裝置的上述第1缺陷期間信號，并根據(jù)上述第1缺陷期間信號保持由上述跟蹤控制裝置進行的跟蹤控制；AGC裝置，與取得將上述光拾取器的主光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的主光束返回光信號的第3輸出端子連接，并生成將上述主光束返回光信號的振幅按一定值標準化了的RF信號；以及AGC保持裝置，在由上述第2缺陷期間檢測裝置的第2缺陷期間信號表明的上述第2缺陷檢測期間內(nèi)，將上述AGC裝置的增益固定在一定值。全文摘要本發(fā)明提供一種光盤裝置，該光盤裝置即使在記錄面上存在光盤制造階段中產(chǎn)生的殘損等的缺陷部分時，也能將對跟蹤控制的干擾限制得很小。輸出端子(2)，與光拾取器(1)連接，輸出將在主光束之前的先行副光束的返回光轉(zhuǎn)換為電信號后得到的先行副光束返回光信號。缺陷期間檢測電路(5)，根據(jù)來自上述輸出端子(2)的先行副光束返回光信號，檢測光束通過光盤(8)的缺陷部分的過程中的缺陷期間。伺服保持電路(7)，在上述檢測出的缺陷期間中，保持跟蹤伺服。因此，即使在缺陷期間中RF信號的振幅急劇地衰減，也能在其衰減的早期階段檢測缺陷期間，并能將跟蹤誤差信號的振幅的變化抑制得很小。文檔編號G11B7/09GK1767013SQ200510097940公開日2006年5月3日申請日期2005年8月31日優(yōu)先權(quán)日2004年9月15日發(fā)明者越田浩旨,春井正德,中田康夫,坂善光,金野耕壽,片田真三康申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社