專利名稱：盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)中的缺陷管理的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)，尤其涉及其中對(duì)超出ECC(糾錯(cuò)碼)能力之外的缺陷的缺陷管理。
2.現(xiàn)有技術(shù)描述一般說(shuō)來(lái)，從/向諸如可重寫CD-RW、CD-MRW、DVD±R/W、DVD-RAM、和DVD+MRW等的光盤再現(xiàn)/寫入信息的系統(tǒng)利用拾取單元來(lái)訪問(wèn)光盤的軌道。可重寫光盤的制造規(guī)范保證了按預(yù)定次數(shù)在光盤上可重復(fù)寫入信息。
但是，當(dāng)重復(fù)使用可重寫光盤時(shí)，由于盤的退化或其它各種各樣原因，可能在光盤上產(chǎn)生缺陷。如圖1所示，這樣的缺陷可能包括黑點(diǎn)、劃痕、和指印等。如圖2所示，在光盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)、節(jié)目區(qū)、或?qū)С鰠^(qū)中都有可能產(chǎn)生這些缺陷。
光盤上的缺陷可能是致命的，使得不能通過(guò)播放光盤時(shí)實(shí)現(xiàn)的糾錯(cuò)碼(ECC)來(lái)管理缺陷。在那種情況下，由于盤不再是可重寫的，在現(xiàn)有技術(shù)中不得不扔掉光盤。在諸如CD-MRW和DVD+MRW之類的可重寫光盤的情況中，有關(guān)光盤開(kāi)頭的信息和有關(guān)缺陷管理的信息被記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)中。另外，音頻或視頻數(shù)據(jù)被記錄在節(jié)目區(qū)中，和有關(guān)光盤末端的信息被記錄在導(dǎo)出區(qū)中。
一般說(shuō)來(lái)，在現(xiàn)有技術(shù)中，可重寫光盤上的缺陷通過(guò)播放光盤時(shí)執(zhí)行的ECC來(lái)管理。當(dāng)光盤含有諸如黑點(diǎn)、劃痕、或指印之類的輕微缺陷時(shí)，不進(jìn)行拾取單元的伺服跟蹤，和當(dāng)解碼從拾取單元輸出的RF(射頻)信號(hào)再現(xiàn)來(lái)自光盤的再現(xiàn)信息時(shí)，根據(jù)RS(里德-索洛蒙)算法等執(zhí)行ECC。
隨著光盤記錄密度的增加，疏忽地管理光盤可能更容易產(chǎn)生缺陷。但是，光盤上的嚴(yán)重缺陷不能僅僅依靠跟蹤中止的ECC來(lái)修復(fù)，在那種情況下，光盤系統(tǒng)可能不正常工作。并且，在現(xiàn)有技術(shù)中，即使光盤存在不明顯的缺陷，但當(dāng)不能精確地進(jìn)行伺服跟蹤時(shí)，不得不扔掉光盤。
因此，在不能精確地進(jìn)行伺服跟蹤時(shí)也能管理光盤上的嚴(yán)重缺陷的機(jī)制是眾望所歸。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的是管理這樣的嚴(yán)重缺陷或不恰當(dāng)伺服跟蹤。
在數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)中管理數(shù)據(jù)盤上的缺陷的方法中，缺陷檢測(cè)器包括缺陷估計(jì)單元和缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器。缺陷檢測(cè)器輸入來(lái)自拾取單元的RF信號(hào)，以便將RF信號(hào)與缺陷閾值相比較生成缺陷信號(hào)。缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器利用擺動(dòng)(wobble)信號(hào)和首標(biāo)位置(ESFS)信號(hào)解釋缺陷信號(hào)以生成缺陷長(zhǎng)度信息。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器生成與數(shù)據(jù)盤的每個(gè)扇區(qū)相對(duì)應(yīng)的缺陷長(zhǎng)度信息。另外，系統(tǒng)控制器輸入缺陷長(zhǎng)度信息，以便從缺陷長(zhǎng)度信息中確定數(shù)據(jù)盤的哪個(gè)扇區(qū)含有不可接受缺陷。并且，系統(tǒng)控制器將存在不可接受缺陷的任何扇區(qū)重新指定(reassign)到數(shù)據(jù)盤上的另一個(gè)可用扇區(qū)。
在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，缺陷長(zhǎng)度信息包括缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)、缺陷長(zhǎng)度中斷信號(hào)、和隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)。在本發(fā)明的示范性實(shí)施例中，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)取決于在扇區(qū)的首標(biāo)中是否存在缺陷。
在本發(fā)明的進(jìn)一步實(shí)施例中，缺陷檢測(cè)器進(jìn)一步包括伺服保持缺陷檢測(cè)單元和缺陷標(biāo)志單元。伺服保持缺陷檢測(cè)單元通過(guò)比較RFO信號(hào)和保持閾值生成伺服保持信號(hào)。缺陷標(biāo)志單元從RFO信號(hào)中生成指示數(shù)據(jù)盤上缺陷的類型的至少一個(gè)標(biāo)記信號(hào)。
當(dāng)數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)是光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)時(shí)，本發(fā)明可能特別有優(yōu)勢(shì)。但是，本發(fā)明也可應(yīng)用于任何類型的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)。


通過(guò)結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明的示范性實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述，本發(fā)明的上面和/或其它特征和優(yōu)點(diǎn)將更加清楚，在附圖中圖1示出了一般可重寫光盤上的示范性缺陷；圖2示出了從圖1中橫穿光盤的直線A-A′所指的區(qū)域的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；
圖3是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的包括缺陷檢測(cè)器的光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)的方塊圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的圖3的缺陷檢測(cè)器的方塊圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的圖4的缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)單元的方塊圖；圖6示出了隨缺陷類型而改變的反射光通量(duantity)的曲線圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的生成圖4中的PLWOBB信號(hào)的擺動(dòng)信號(hào)發(fā)生器的方塊圖；圖8是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例，當(dāng)該當(dāng)前扇區(qū)的首標(biāo)沒(méi)有缺陷時(shí)，圖3的缺陷檢測(cè)器操作期間的時(shí)序圖；圖9是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例、當(dāng)該當(dāng)前扇區(qū)的首標(biāo)存在缺陷時(shí)，圖3的缺陷檢測(cè)器操作期間的時(shí)序圖；圖10是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例、當(dāng)下一個(gè)扇區(qū)的首標(biāo)存在缺陷時(shí)，圖3的缺陷檢測(cè)器操作期間的時(shí)序圖；和圖11是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例、圖3的缺陷檢測(cè)器操作期間步驟的流程圖。
這里涉及的圖是為了清楚地舉例說(shuō)明而畫出的，無(wú)需按比例畫出。圖1、2、3、4、5、6、7、8、9、10和11中標(biāo)號(hào)相同的單元表示結(jié)構(gòu)和/或功能相似的單元。
本發(fā)明詳述圖3是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的含有缺陷檢測(cè)器360的光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)300的方塊圖。光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)300是示范性數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，本發(fā)明可應(yīng)用于其它類型的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)。系統(tǒng)300還包括主軸電機(jī)310、滑架(sled)電機(jī)320、拾取單元330、伺服控制器340、再現(xiàn)和寫入單元350、和系統(tǒng)控制器370。
將光盤裝在主軸電機(jī)310的旋轉(zhuǎn)軸上使它旋轉(zhuǎn)?；茈姍C(jī)320使拾取單元330橫過(guò)光盤作水平運(yùn)動(dòng)。這里，光盤是可重寫盤。拾取單元330在伺服控制器340的控制下，讀取記錄在光盤上的信息或?qū)⒕幋a數(shù)據(jù)寫在光盤上。伺服控制器340驅(qū)動(dòng)拾取單元330內(nèi)的跟蹤致動(dòng)器和聚焦致動(dòng)器。系統(tǒng)控制器370控制主軸電機(jī)310、滑架電機(jī)320、和用于光盤跟蹤的伺服控制器340。
音頻或視頻信息以坑的形式被寫在光盤的螺旋形軌道上。包括在拾取單元330中的光學(xué)元件跟蹤螺旋形軌道，從寫在光盤上的信息中生成RF(射頻)信號(hào)RFO。并且，拾取單元330從再現(xiàn)和寫入單元350接收編碼數(shù)據(jù)和處理編碼數(shù)據(jù)，以便驅(qū)動(dòng)激光二極管以坑的形式將編碼數(shù)據(jù)寫在光盤的軌道上。
再現(xiàn)和寫入單元350解碼RF信號(hào)RFO以生成再現(xiàn)數(shù)據(jù)和將再現(xiàn)數(shù)據(jù)輸出到系統(tǒng)控制器370。另外，再現(xiàn)和寫入單元350從系統(tǒng)控制器370接收要寫入的數(shù)據(jù)以生成編碼數(shù)據(jù)。系統(tǒng)控制器370與主計(jì)算機(jī)交接將再現(xiàn)數(shù)據(jù)發(fā)送到主計(jì)算機(jī)或從主計(jì)算機(jī)接收要寫入的數(shù)據(jù)。并且，系統(tǒng)控制器370確定光盤的扇區(qū)缺陷狀態(tài)以進(jìn)行跟蹤控制和光盤扇區(qū)管理。
當(dāng)在再現(xiàn)或?qū)懭霐?shù)據(jù)的同時(shí)，在光盤的扇區(qū)上發(fā)現(xiàn)超出ECC能力之外的嚴(yán)重缺陷時(shí)，本發(fā)明將有缺陷扇區(qū)重新指定到另一個(gè)可用扇區(qū)。缺陷檢測(cè)器360處理拾取單元330生成的RF信號(hào)RFO，以生成用于伺服保持和與缺陷長(zhǎng)度有關(guān)的信息的信號(hào)。系統(tǒng)控制器370利用來(lái)自缺陷檢測(cè)器360的信號(hào)確定光盤的扇區(qū)缺陷狀態(tài)以進(jìn)行跟蹤控制和光盤扇區(qū)管理。
系統(tǒng)控制器370利用從RF信號(hào)RFO中提取的跟蹤誤差信號(hào)和鏡像信號(hào)控制光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)300的總體操作。另外，再現(xiàn)和寫入單元350為ECC進(jìn)行解碼和編碼操作。系統(tǒng)控制器370以及再現(xiàn)和寫入單元350進(jìn)行的這樣操作是本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員所熟知的，這里省略對(duì)這樣操作的詳細(xì)描述。這里，ECC的基本組成單元是光盤的一個(gè)扇區(qū)。
圖4示出了根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例，從RF信號(hào)RFO中生成用于伺服保持和與缺陷長(zhǎng)度有關(guān)的信息的信號(hào)的缺陷檢測(cè)器360的方塊圖。參照?qǐng)D4，缺陷檢測(cè)器360包括缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)單元410、伺服保持缺陷檢測(cè)單元420、和缺陷標(biāo)志單元430。
缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)單元410從拾取單元33接收的RF信號(hào)RFO中生成缺陷信號(hào)DEFECT。并且，缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)單元410利用擺動(dòng)信號(hào)PLWOBB和ESFS(編碼器子碼幀同步)信號(hào)解釋缺陷信號(hào)DEFECT，以便生成缺陷長(zhǎng)度信息信號(hào)DLINTR、DLCNT、和SDLCNT。ESFS信號(hào)表示光盤上扇區(qū)的位置。對(duì)缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)單元410將參照?qǐng)D5作更詳細(xì)說(shuō)明。
伺服保持缺陷檢測(cè)單元420從RF信號(hào)RFO中生成用于伺服保持的保持信號(hào)DPINFO。用于伺服保持的保持閾值HDTHR和用于提取缺陷信號(hào)DEFECT的缺陷檢測(cè)閾值FDTHR將參照?qǐng)D6加以說(shuō)明。缺陷標(biāo)志單元430生成與缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)單元410檢測(cè)的缺陷有關(guān)的標(biāo)志信息信號(hào)。另外，缺陷標(biāo)志單元430從保持信息信號(hào)DPINFO中生成與伺服保持缺陷檢測(cè)單元420檢測(cè)的缺陷有關(guān)的標(biāo)志信息信號(hào)。
與缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)單元410檢測(cè)的缺陷有關(guān)的標(biāo)志信息信號(hào)包括首標(biāo)標(biāo)志信號(hào)HFLG和當(dāng)前狀態(tài)標(biāo)志信號(hào)PFLG。首標(biāo)標(biāo)志信號(hào)HFLAG表示扇區(qū)的首標(biāo)是否存在缺陷。如果扇區(qū)的首標(biāo)存在缺陷，將首標(biāo)標(biāo)志信號(hào)HFLAG從第一邏輯狀態(tài)(邏輯低狀態(tài))激勵(lì)(activate)到第二邏輯狀態(tài)(邏輯高狀態(tài))。當(dāng)前狀態(tài)標(biāo)志信號(hào)PFLAG表示當(dāng)前跟蹤的光盤軌道是否存在缺陷。當(dāng)這樣的軌道存在缺陷時(shí)，將當(dāng)前狀態(tài)標(biāo)志信號(hào)從第一邏輯狀態(tài)(邏輯低狀態(tài))激勵(lì)到第二邏輯狀態(tài)(邏輯高狀態(tài))。
與伺服保持缺陷檢測(cè)單元420檢測(cè)的缺陷有關(guān)的標(biāo)志信息信號(hào)包括黑點(diǎn)/劃痕標(biāo)志信號(hào)BFLAG。黑點(diǎn)/劃痕標(biāo)志信號(hào)BFLAG表示當(dāng)前跟蹤的軌道是否存在黑點(diǎn)或劃痕。當(dāng)這樣的軌道存在缺陷時(shí)，將黑點(diǎn)/劃痕標(biāo)志信號(hào)BFLAG從第一邏輯狀態(tài)(邏輯低狀態(tài))激勵(lì)到第二邏輯狀態(tài)(邏輯高狀態(tài))。
如上所述，缺陷檢測(cè)器360處理RF信號(hào)RFO，以便生成缺陷信號(hào)DEFECT、保持信息信號(hào)DPINFO、缺陷長(zhǎng)度信息信號(hào)DLINTR、DLCNT和SDLCNT、和標(biāo)志信息信號(hào)HFLAG、PFLAG和BFLAG。于是，系統(tǒng)控制器370利用缺陷長(zhǎng)度信息信號(hào)DLINTR、DLCNT和SDLCNT、標(biāo)志信息信號(hào)HFLAG、PFLAG和BFLAG、和保持信息信號(hào)DPINFO確定光盤的扇區(qū)缺陷狀態(tài)。根據(jù)確定結(jié)果，系統(tǒng)控制器370保持對(duì)拾取單元330的跟蹤，或當(dāng)光盤的扇區(qū)存在超過(guò)ECC能力之外的嚴(yán)重缺陷時(shí)，系統(tǒng)控制器370將有缺陷扇區(qū)重新指定到另一個(gè)可用扇區(qū)。
圖5是缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)單元410的方塊圖。參照?qǐng)D5，缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)單元410包括缺陷估計(jì)單元411、缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412、寄存器413、和隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器414。缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)單元410的操作將參照?qǐng)D8、9和10加以說(shuō)明。
缺陷估計(jì)單元411生成當(dāng)對(duì)RF信號(hào)RFO濾波獲得的信號(hào)比缺陷閾值FDTHR低時(shí)激勵(lì)的缺陷信號(hào)DEFECT。當(dāng)為了獲取缺陷信號(hào)DEFECT而濾波RF信號(hào)RFO時(shí)，濾波信號(hào)的幅度與從光盤反射到拾取單元330的激光束的強(qiáng)度成正比。
示出了隨缺陷類型而改變的反射光通量的曲線圖。例如，當(dāng)濾波RF信號(hào)RFO獲得的信號(hào)比缺陷閾值FDTHR低時(shí)激勵(lì)缺陷信號(hào)DEFECT。在圖4中，伺服保持缺陷檢測(cè)單元420當(dāng)處理RF信號(hào)RFO獲得的信號(hào)比保持閾值HDTHR低時(shí)生成激勵(lì)的保持信息信號(hào)DPINFO。
參照?qǐng)D6，用于伺服跟蹤保持的保持閾值HDTHR比用于適當(dāng)扇區(qū)管理的缺陷閾值FDTHR低。當(dāng)由于在跟蹤期間遇到的黑點(diǎn)或劃痕，反射光的強(qiáng)度變得非常小時(shí)，一般說(shuō)來(lái)，保持跟蹤和執(zhí)行ECC。對(duì)于與相當(dāng)大指印相對(duì)應(yīng)的反射光通量，不執(zhí)行ECC。但是，即使通過(guò)處理RF信號(hào)RFO獲得的信號(hào)比保持閾值HDTHR高，但比缺陷閾值FDTHR低，在本發(fā)明中，根據(jù)其長(zhǎng)度，也可以不通過(guò)ECC處理缺陷。因此，本發(fā)明意在管理超出ECC能力之外的缺陷。
缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412處理缺陷信號(hào)DEFECT生成缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)信號(hào)DLCNT。缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412還當(dāng)缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)信號(hào)DLCNT比缺陷長(zhǎng)度閾值DLTHR高時(shí)生成激勵(lì)的缺陷長(zhǎng)度中斷信號(hào)DLINTR。這里，當(dāng)缺陷長(zhǎng)度中斷信號(hào)DLINTR被激勵(lì)時(shí)，重置缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)信號(hào)DLCNT。缺陷長(zhǎng)度閾值DLTHR存儲(chǔ)在寄存器413中。隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器414處理前一個(gè)扇區(qū)的缺陷信號(hào)DEFECT生成隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)信號(hào)SDLCNT。
缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412和隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器414使用被PLL(鎖相環(huán))鎖相的擺動(dòng)信號(hào)PLWOBB。用于生成擺動(dòng)信號(hào)PLWOBB的擺動(dòng)信號(hào)發(fā)生器700顯示在圖7中?，F(xiàn)在說(shuō)明擺動(dòng)信號(hào)發(fā)生器700的操作。
擺動(dòng)信號(hào)發(fā)生器700包括低通濾波器710、比較器720、和PLL 730。低通濾波器710從拾取單元330生成的RF信號(hào)RFO中除去噪聲，生成頻帶與擺動(dòng)信號(hào)PLWOBB相對(duì)應(yīng)的信號(hào)。比較器720將低通濾波器710的輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制數(shù)字信號(hào)。PLL 730鎖住比較器720的輸出信號(hào)的頻率，輸出擺動(dòng)信號(hào)PLWOBB。
對(duì)于每個(gè)光盤，擺動(dòng)信號(hào)PLWOBB具有唯一頻率。生成的擺動(dòng)信號(hào)由系統(tǒng)控制器370用作當(dāng)前跟蹤的軌道的位置信息。擺動(dòng)信號(hào)PLWOBB還用作生成用于再現(xiàn)或?qū)懭霐?shù)據(jù)的定時(shí)時(shí)鐘信號(hào)的基本信號(hào)。另外，擺動(dòng)信號(hào)PLWOBB被缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412和隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器414用于與缺陷信號(hào)DEFECT一起計(jì)數(shù)，生成計(jì)數(shù)信號(hào)DLCNT和SDLCNT。例如，在激勵(lì)缺陷信號(hào)DEFECT的同時(shí)對(duì)擺動(dòng)信號(hào)PLWOBB的周期計(jì)數(shù)，生成計(jì)數(shù)信號(hào)DLCNT和SDLCNT。
現(xiàn)在更詳細(xì)地說(shuō)明圖3的缺陷檢測(cè)器360的操作。圖8是當(dāng)扇區(qū)的首標(biāo)沒(méi)有缺陷時(shí)，缺陷檢測(cè)器360操作期間的時(shí)序圖。圖9是當(dāng)扇區(qū)的首標(biāo)存在缺陷時(shí)的時(shí)序圖，和圖10是當(dāng)下一個(gè)扇區(qū)的首標(biāo)存在缺陷時(shí)的時(shí)序圖。下面參照?qǐng)D8、9、和10和圖11的流程圖描述缺陷檢測(cè)器360的操作。
參照?qǐng)D5和8，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412識(shí)別當(dāng)前扇區(qū)n的首標(biāo)的位置(圖11的步驟S110)。再現(xiàn)和寫入單元350處理RF信號(hào)RFO生成ESFS信號(hào)。系統(tǒng)控制器370根據(jù)ESFS信號(hào)識(shí)別當(dāng)前跟蹤位置的扇區(qū)。ESFS信號(hào)的觸發(fā)位置對(duì)應(yīng)于扇區(qū)首標(biāo)位置。缺陷標(biāo)志單元430生成的首標(biāo)標(biāo)志信號(hào)HFLAG表示當(dāng)前扇區(qū)n的首標(biāo)是否存在缺陷(圖11的步驟S120)。當(dāng)在扇區(qū)首標(biāo)位置期間激勵(lì)缺陷信號(hào)DEFECT時(shí)，缺陷標(biāo)志單元430將首標(biāo)標(biāo)志信號(hào)HFLAG激勵(lì)到第二邏輯狀態(tài)。
當(dāng)該當(dāng)前扇區(qū)n的首標(biāo)沒(méi)有缺陷時(shí)(如圖8所示)，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412在扇區(qū)首標(biāo)位置重置缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)信號(hào)DLCNT(圖11的步驟S130)。當(dāng)缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)信號(hào)DLCNT比缺陷長(zhǎng)度閾值高時(shí)，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412激勵(lì)缺陷長(zhǎng)度中斷信號(hào)DLINTR。當(dāng)缺陷長(zhǎng)度中斷信號(hào)DLINTR被激勵(lì)時(shí)，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412重置缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)信號(hào)DLCNT。如果當(dāng)前扇區(qū)n的首標(biāo)存在缺陷(如圖9所示)，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412不重置缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)信號(hào)DLCNT，從最后扇區(qū)開(kāi)始繼續(xù)對(duì)DLCNT計(jì)數(shù)(圖11的步驟S170)。
然后，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412響應(yīng)首標(biāo)標(biāo)志信號(hào)，確定下一個(gè)扇區(qū)(n+1)的首標(biāo)是否存在缺陷(圖11的步驟S140)。當(dāng)下一個(gè)扇區(qū)(n+1)的首標(biāo)沒(méi)有缺陷時(shí)，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器412重置缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)信號(hào)DLCNT和對(duì)扇區(qū)(n+1)進(jìn)行與對(duì)扇區(qū)n進(jìn)行的操作相同的操作。
另外，當(dāng)DLCNT大于DLTHR時(shí)，為當(dāng)前扇區(qū)n激勵(lì)缺陷長(zhǎng)度中斷信號(hào)DLINTR。而且，在那種情況下，系統(tǒng)控制器370將當(dāng)前扇區(qū)n和前一個(gè)扇區(qū)(n-1)確定為不可寫扇區(qū)(圖11的步驟S180)，和將這樣的不可寫扇區(qū)n和(n-1)重新指定到其它可用扇區(qū)(圖11的步驟S200)。
這里，考慮到當(dāng)在ECC處理期間根據(jù)RS(里德-索洛蒙)算法進(jìn)行CIRC(相互交織里德-索洛蒙碼)交織時(shí)，當(dāng)前扇區(qū)的數(shù)據(jù)和相鄰扇區(qū)的數(shù)據(jù)的加擾或解擾，除了當(dāng)前扇區(qū)n之外，還將前一個(gè)扇區(qū)(n-1)確定為不可寫扇區(qū)。也就是說(shuō)，由于當(dāng)該當(dāng)前扇區(qū)n存在缺陷時(shí)，扇區(qū)(n-1)的信息不可用，也為扇區(qū)(n-1)重新指定另一個(gè)扇區(qū)。
另外，系統(tǒng)控制器370響應(yīng)隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器414生成的隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)信號(hào)SDLCNT，對(duì)前一個(gè)扇區(qū)(n-1)前面的扇區(qū)(n-2)確定另一個(gè)扇區(qū)的重新指定(圖11的步驟S190)。如果如SDLCNT所指，前一個(gè)扇區(qū)(n-1)存在缺陷，考慮到CIRC交織，扇區(qū)(n-2)也被確定為不可寫扇區(qū)，和為扇區(qū)(n-2)重新指定另一個(gè)扇區(qū)(圖11的步驟S200)。
圖10示出了為當(dāng)前扇區(qū)n連續(xù)累計(jì)缺陷信號(hào)DEFECT，為當(dāng)前扇區(qū)n激勵(lì)缺陷長(zhǎng)度中斷信號(hào)DLINTR，和下一個(gè)扇區(qū)(n+1)的首標(biāo)存在缺陷的情況。當(dāng)為當(dāng)前扇區(qū)n激勵(lì)缺陷長(zhǎng)度中斷信號(hào)DLI NTR和下一個(gè)扇區(qū)(n+1)的首標(biāo)存在缺陷時(shí)，系統(tǒng)控制器370將前一個(gè)扇區(qū)(n-1)、當(dāng)前扇區(qū)n、和下一個(gè)扇區(qū)(n+1)確定為不可寫扇區(qū)(圖11的步驟S150)，和重新指定其它可用扇區(qū)，取代這樣的扇區(qū)(n-1)、n、和(n+1)(圖11的步驟S200)。
并且，系統(tǒng)控制器370響應(yīng)隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器414生成的隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)信號(hào)SDLCNT，對(duì)前面扇區(qū)(n-2)確定另一個(gè)扇區(qū)的重新指定(圖11的步驟S160)。如果如SDLCNT所指，前一個(gè)扇區(qū)(n-1)存在缺陷，考慮到CI RC交織，扇區(qū)(n-2)也被確定為不可寫扇區(qū)，和為扇區(qū)(n-2)重新指定另一個(gè)可用扇區(qū)(圖11的步驟S200)。
這樣，根據(jù)本發(fā)明的光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)300包括生成與光盤上的缺陷的類型和長(zhǎng)度有關(guān)的信息信號(hào)DPINFO、DLINTR、DLCNT、SDLCNT、HFLAG、PFLAG和BFLAG的缺陷檢測(cè)器360。系統(tǒng)控制器370響應(yīng)這樣的信號(hào)控制伺服保持，和為存在超過(guò)ECC能力的缺陷的扇區(qū)重新指定可用扇區(qū)。因此，即使存在缺陷，光盤也可以用得更長(zhǎng)久些。并且，由于在寫入和再現(xiàn)操作期間有效地進(jìn)行伺服跟蹤保持和扇區(qū)重新指定，本發(fā)明可以提供穩(wěn)定光盤跟蹤控制。
雖然通過(guò)參照本發(fā)明的某些示范性實(shí)施例，已經(jīng)對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了圖示和描述，但本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員會(huì)理解，可以在形式上和細(xì)節(jié)上對(duì)其作各種各樣的改變，而不偏離所附權(quán)利要求書所限定的本發(fā)明的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種管理數(shù)據(jù)盤上的缺陷的方法，包括從讀取數(shù)據(jù)盤中生成RF信號(hào)；通過(guò)將RF信號(hào)與缺陷閾值相比較生成缺陷信號(hào)；和利用擺動(dòng)信號(hào)和首標(biāo)位置(ESFS)信號(hào)解釋缺陷信號(hào)以生成缺陷長(zhǎng)度信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括生成與數(shù)據(jù)盤的每個(gè)扇區(qū)相對(duì)應(yīng)的缺陷長(zhǎng)度信息；和從缺陷長(zhǎng)度信息中確定數(shù)據(jù)盤的哪個(gè)扇區(qū)含有不可接受缺陷。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，進(jìn)一步包括將存在不可接受缺陷的任何扇區(qū)重新指定到數(shù)據(jù)盤上的另一個(gè)可用扇區(qū)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，缺陷長(zhǎng)度信息包括缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)、缺陷長(zhǎng)度中斷信號(hào)、和隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)取決于在扇區(qū)的首標(biāo)中是否存在缺陷。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括通過(guò)比較RFO信號(hào)和保持閾值生成伺服保持信號(hào)；和從RFO信號(hào)中生成指示數(shù)據(jù)盤上缺陷的類型的至少一個(gè)標(biāo)記信號(hào)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，數(shù)據(jù)盤是光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)的一部分。
8.一種在數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)中的缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)器，包括輸入RF信號(hào)的缺陷估計(jì)單元，用于通過(guò)將RF信號(hào)與缺陷閾值相比較生成缺陷信號(hào)；和缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器，用于利用擺動(dòng)信號(hào)和首標(biāo)位置(ESFS)信號(hào)解釋缺陷信號(hào)以生成缺陷長(zhǎng)度信息。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)器，其中，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器生成與數(shù)據(jù)盤的每個(gè)扇區(qū)相對(duì)應(yīng)的缺陷長(zhǎng)度信息。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)器，其中，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器將缺陷長(zhǎng)度信息發(fā)送到系統(tǒng)控制器，系統(tǒng)控制器從缺陷長(zhǎng)度信息中確定數(shù)據(jù)盤的哪個(gè)扇區(qū)含有不可接受缺陷。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)器，其中，系統(tǒng)控制器將存在不可接受缺陷的任何扇區(qū)重新指定到數(shù)據(jù)盤上的另一個(gè)可用扇區(qū)。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)器，其中，缺陷長(zhǎng)度信息包括缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)、缺陷長(zhǎng)度中斷信號(hào)、和隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求8所述的缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)器，其中，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)取決于在扇區(qū)的首標(biāo)中是否存在缺陷。
14.根據(jù)權(quán)利要求8所述的缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)器，其中，數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)是光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)。
15.一種數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，包括數(shù)據(jù)盤；從讀取數(shù)據(jù)盤中生成RF信號(hào)的拾取單元；和缺陷檢測(cè)器，包括如下輸入RF信號(hào)的缺陷估計(jì)單元，用于通過(guò)將RF信號(hào)與缺陷閾值相比較生成缺陷信號(hào)；和缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器，用于利用擺動(dòng)信號(hào)和首標(biāo)位置(ESFS)信號(hào)解釋缺陷信號(hào)以生成缺陷長(zhǎng)度信息。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器生成與數(shù)據(jù)盤的每個(gè)扇區(qū)相對(duì)應(yīng)的缺陷長(zhǎng)度信息。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，進(jìn)一步包括輸入缺陷長(zhǎng)度信息的系統(tǒng)控制器，用于從缺陷長(zhǎng)度信息中確定數(shù)據(jù)盤的哪個(gè)扇區(qū)含有不可接受缺陷。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，系統(tǒng)控制器將存在不可接受缺陷的任何扇區(qū)重新指定到數(shù)據(jù)盤上的另一個(gè)可用扇區(qū)。
19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，缺陷長(zhǎng)度信息包括缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)、缺陷長(zhǎng)度中斷信號(hào)、和隱蔽缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)取決于在扇區(qū)的首標(biāo)中是否存在缺陷。
21.根據(jù)權(quán)利要求15所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，缺陷檢測(cè)器進(jìn)一步包括伺服保持缺陷檢測(cè)單元，用于通過(guò)比較RFO信號(hào)和保持閾值生成伺服保持信號(hào)；和缺陷標(biāo)志單元，用于從RFO信號(hào)中生成指示數(shù)據(jù)盤上缺陷的類型的至少一個(gè)標(biāo)記信號(hào)。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)是光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)。
全文摘要
數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)中的缺陷檢測(cè)器包括缺陷估計(jì)單元和缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器。缺陷檢測(cè)器輸入來(lái)自拾取單元的RF信號(hào)，以便生成缺陷信號(hào)。缺陷長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器利用擺動(dòng)信號(hào)和首標(biāo)位置(ESFS)信號(hào)解釋缺陷信號(hào)以生成缺陷長(zhǎng)度信息。系統(tǒng)控制器從缺陷長(zhǎng)度信息中確定數(shù)據(jù)盤的哪個(gè)扇區(qū)含有不可接受缺陷，以便將這樣的扇區(qū)重新指定到數(shù)據(jù)盤上的另一個(gè)可用扇區(qū)。
文檔編號(hào)G11B20/18GK1750160SQ20051008977
公開(kāi)日2006年3月22日 申請(qǐng)日期2005年8月9日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月10日
發(fā)明者吳基煥 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社