專利名稱：跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置與產(chǎn)生方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置與產(chǎn)生方法，特別涉及應(yīng)用于光學讀取裝置的跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置與產(chǎn)生方法。
背景技術(shù)：
請參見

圖1，其是一光學讀取頭10設(shè)置在例如光驅(qū)的光學讀取裝置中的運動方向示意圖，其主要沿兩種方向移動，第一種方向是為垂直于光盤表面的聚焦方向(focusing direction，簡稱F)，而第二種方向是為平行于光盤表面的跟蹤方向(tracking direction，簡稱T)。而為能對該光學讀取頭進行跟蹤方向的移動進行反饋控制，如圖2所示的功能方塊示意圖，產(chǎn)生一跟蹤誤差信號(Tracking Error，簡稱TE)來提供控制系統(tǒng)進行參考，光學讀取頭上的光感應(yīng)器20接收自光盤反射的激光將產(chǎn)生A、B、C、D、E以及F六個信號，而將E以及F信號送入一運算放大器21中將可得到如圖3(a)所示的跟蹤誤差信號(TE)。
在理想狀況中，跟蹤誤差信號(TE)為一直流成份為零的交流電壓信號，而當跟蹤誤差信號(TE)的振幅為零時即代表跟蹤的最佳狀態(tài)，因此跟蹤誤差信號(TE)的零點是為進行反饋控制時一重要參考點，但實際上由光學讀取頭的光感應(yīng)器20與運算放大器21所產(chǎn)生的跟蹤誤差信號(TE)，多少皆會有一些直流成份混入該跟蹤誤差信號(TE)，而使得該跟蹤誤差信號(TE)的電平產(chǎn)生偏移(如圖3(b)所示)，導致實際零點與理想零點并不重合，而為能改善此一問題，用以調(diào)整該跟蹤誤差信號(TE)的直流電平的一偏移補償動作將被導入運用。而該偏移補償動作主要是對運算放大器21進行偏移電壓(offsetvoltage)的修正，用以將原先不應(yīng)存在的直流成份予以抵消，用以將該跟蹤誤差信號(TE)的實際零點與理想零點的誤差縮小。
而在目前慣用的技術(shù)手段中，大多僅是在光驅(qū)剛啟動期間所進行的校正動作中，連帶計算出一固定的偏移電壓值(offset voltage)后，便持續(xù)提供給運算放大器21進行修正。但是隨著光驅(qū)轉(zhuǎn)速的變化與光學讀取頭10的內(nèi)外圈軌數(shù)位置的變化，或是所讀取的光盤的品質(zhì)不良，導致該跟蹤誤差信號的直流成份在不同位置與不同轉(zhuǎn)速時都會產(chǎn)生大幅變動，使得后續(xù)利用跟蹤誤差信號(TE)所生成的跟蹤誤差零交叉信號(Tracking Error Zero Cross，TEZC)亦會出現(xiàn)錯誤，如此一來，光學讀取頭10在利用該跟蹤誤差零交叉信號來進行跳軌方向的判斷時，極有可能因跟蹤誤差零交叉信號的錯誤波形而產(chǎn)生跳錯方向的情況發(fā)生，而這種狀況若是發(fā)生在光學讀取頭10想由外圈位置跳軌移動到內(nèi)圈位置時，很可能產(chǎn)生因跳軌方向的誤判而使光學讀取頭10不當向外移動甚至碰撞到光驅(qū)的其它部份導致?lián)p壞。再者，不適當?shù)钠齐妷阂矔斐筛櫿`差信號波形上下不對稱，影響跳軌的性能。而如何改善上述缺失，是為發(fā)展本發(fā)明的主要目的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及一種跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，應(yīng)用于一光學讀取裝置，該光學讀取裝置中包含有一光學讀取頭，而該產(chǎn)生裝置包含一跟蹤誤差信號產(chǎn)生器，信號連接于該光學讀取頭，其是響應(yīng)該光學讀取頭接收的光信號的變化而運算產(chǎn)生的一跟蹤誤差信號；一跟蹤誤差信號直流檢測裝置，電連接于該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器，其是響應(yīng)該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器所產(chǎn)生的該跟蹤誤差信號的輸入而輸出該跟蹤誤差信號的一直流電壓；以及一比較器，電連接于該跟蹤誤差信號直流檢測裝置以及一參考電壓，其是響應(yīng)該跟蹤誤差信號直流檢測裝置所輸出的該直流電壓與該參考電壓的大小關(guān)系而發(fā)出一補償信號至該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器，而該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器可響應(yīng)該補償信號的變化而修正該跟蹤誤差信號的偏移電壓。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，其中該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器是由一運算放大器所完成。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，其中該跟蹤誤差信號直流檢測裝置是包含一電阻器，電連接于該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器的輸出端；一電容器，電連接于該電阻器與該參考電壓之間；以及一信號輸出端，設(shè)置在該電阻器與該電容器間的節(jié)點上，其是用以輸出代表該跟蹤誤差信號的該直流電壓的一低通電壓信號。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，其中該比較器是當該直流電壓值大于該參考電壓時，使所發(fā)出的該補償信號會修正跟蹤誤差信號的偏移電壓使得該直流電壓接近該參考電壓。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，其中該比較器是在該光學讀取頭由盤片外圈向內(nèi)圈開始進行跳軌動作前，進行該直流電壓與該參考電壓的比較動作而變化該該補償信號的電平。
本發(fā)明的另一方面是為一種跟蹤誤差信號產(chǎn)生方法，應(yīng)用于一光學讀取裝置，該光學讀取裝置中包含有一光學讀取頭，而該產(chǎn)生方法包含下列步驟響應(yīng)該光學讀取頭所接收的光信號的變化而產(chǎn)生一跟蹤誤差信號；響應(yīng)該跟蹤誤差信號的實時變化而持續(xù)輸出該跟蹤誤差信號的一直流電壓；響應(yīng)該直流電壓與一參考電壓的大小關(guān)系而發(fā)出一補償信號；以及響應(yīng)該補償信號的變化而修正該跟蹤誤差信號的偏移電壓。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生方法，其中該跟蹤誤差信號可由電連接于該光學讀取頭的一運算放大器所產(chǎn)生。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生方法，其中該跟蹤誤差信號的該直流電壓是為該跟蹤誤差信號的一低通電壓信號。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生方法，其中當該直流電壓大于該參考電壓時，使所發(fā)出的該補償信號會修正跟蹤誤差信號的偏移電壓使得該直流電壓接近該參考電壓。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生方法，其中是在該光學讀取頭由盤片外圈向內(nèi)圈開始進行跳軌動作前，進行該直流電壓與該參考電壓的比較動作而變化該該補償信號的電平。
附圖簡述本發(fā)明借助下列附圖及詳細說明，可以得到更深入的了解圖1是設(shè)置在光學讀取裝置中的光學讀取頭的運動方向示意圖。
圖2是產(chǎn)生跟蹤誤差信號的慣用功能方塊示意圖。
圖3(a)(b)是各式跟蹤誤差信號的波形示意圖。
圖4是本發(fā)明為改善慣用缺失所發(fā)展出來的跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置的較佳實施例功能方塊示意圖。
圖5是本發(fā)明判斷何時啟動修正功能的方法流程圖。
附圖符號說明光感應(yīng)器20 運算放大器21
光感應(yīng)器40 運算放大器41跟蹤誤差信號直流檢測裝置42 輸出端420電阻器421電容器422比較器43 光學讀取頭10具體實施方式
請參見圖4，它示出了本發(fā)明為改善慣用缺失所發(fā)展出來的跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置的較佳實施例功能方塊示意圖，其中光學讀取頭上的光感應(yīng)器40接收自光盤反射的激光將產(chǎn)生A、B、C、D、E以及F六個信號，而將E以及F信號送入一運算放大器41所完成的跟蹤誤差信號產(chǎn)生器中而得到一跟蹤誤差信號(TE)。而本發(fā)明主要特征在于增設(shè)一跟蹤誤差信號直流檢測裝置42，該跟蹤誤差信號直流檢測裝置42可響應(yīng)該運算放大器41所產(chǎn)生的該跟蹤誤差信號(TE)的輸入而利用其輸出端420輸出該跟蹤誤差信號的一直流電壓。
而如圖中所示，該跟蹤誤差信號直流檢測裝置42包含一電阻器421與一電容器422，其主要是構(gòu)成一低通濾波器而可將該跟蹤誤差信號(TE)的低頻直流信號檢測，進而通過輸出端420來將代表該跟蹤誤差信號(TE)的該直流電壓的一低通電壓信號予以輸出。而通過一比較器43對該低通電壓信號以及參考電壓Vref的比較，便可響應(yīng)該跟蹤誤差信號直流檢測裝置所輸出的該直流電壓與該參考電壓Vref的大小關(guān)系而發(fā)出一補償信號至該運算放大器41，而該運算放大器41可響應(yīng)該補償信號的變化而修正該跟蹤誤差信號的偏移電壓。
舉例來說，該比較器43是當該直流電壓大于該參考電壓Vref時，便利用發(fā)出的該補償信號修正跟蹤誤差信號的偏移電壓使得該直流電壓接近該參考電壓，因此，該跟蹤誤差信號(TE)的直流電壓可向下調(diào)整。同理，當該直流電壓小于該參考電壓Vref時，該補償信號即可使該跟蹤誤差信號(TE)的直流電壓向上調(diào)整。如此一來，該跟蹤誤差信號(TE)的直流電壓將會隨時進行調(diào)整，即使隨著光驅(qū)轉(zhuǎn)速的變化與光學讀取頭的內(nèi)外圈軌數(shù)位置的變化，或是所讀取的光盤的品質(zhì)不良，本發(fā)明技術(shù)所產(chǎn)生的跟蹤誤差信號的直流成份在不同位置與不同轉(zhuǎn)速時也不會產(chǎn)生大幅變動，進而可有效改善慣用手段的缺失。
另外，因為在光學讀取頭想由外圈位置跳軌移動到內(nèi)圈位置時，因跳軌方向的誤判而使光學讀取頭不當向外移動而碰撞到光驅(qū)的狀況特別會導致?lián)p壞，因此本發(fā)明尚可根據(jù)該光學讀取頭所在的位置(例如以軌道數(shù)來表示)來進行判斷，當該光學讀取頭由盤片外圈(例如以三分之一軌道數(shù)來表示)向內(nèi)圈開始進行跳軌動作前，比較器43才被一使能信號開啟而進行該直流電壓與該參考電壓的比較動作，進而變化該該補償信號的電平。如此一來，可避免比較器43的頻繁作動，達到節(jié)省電力的目的，但是又可以有效改善該光學讀取頭產(chǎn)生碰撞的缺失。而上述判斷機制的方法流程圖請參見圖5所示。
綜上所述，本發(fā)明可有效改善慣用缺失，達成發(fā)展本發(fā)明的主要目的，故本發(fā)明發(fā)明得由熟習此技藝的人士任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫如附申請專利范圍所欲保護者。
權(quán)利要求
1.一種跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，應(yīng)用于一光學讀取裝置，該光學讀取裝置中包含有一光學讀取頭，而該產(chǎn)生裝置包含一跟蹤誤差信號產(chǎn)生器，信號連接于該光學讀取頭，其是響應(yīng)該光學讀取頭接收的光信號的變化而運算產(chǎn)生的一跟蹤誤差信號；一跟蹤誤差信號直流檢測裝置，電連接于該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器，其響應(yīng)該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器所產(chǎn)生的該跟蹤誤差信號的輸入而輸出該跟蹤誤差信號的一直流電壓；以及一比較器，電連接于該跟蹤誤差信號直流檢測裝置以及一參考電壓，其是響應(yīng)該跟蹤誤差信號直流檢測裝置所輸出的該直流電壓與該參考電壓的大小關(guān)系而發(fā)出一補償信號至該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器，而該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器可響應(yīng)該補償信號的變化而修正該跟蹤誤差信號的一偏移電壓。
2.如權(quán)利要求1所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，其中，該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器是由一運算放大器所完成。
3.如權(quán)利要求1所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，其中，該跟蹤誤差信號直流檢測裝置包括一電阻器，電連接于該跟蹤誤差信號產(chǎn)生器的輸出端；一電容器，電連接于該電阻器與該參考電壓之間；以及一信號輸出端，設(shè)置在該電阻器與該電容器間的節(jié)點上，其是用以輸出代表該跟蹤誤差信號的該直流電壓的一低通電壓信號。
4.如權(quán)利要求1所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，其中，該比較器是當該直流電壓大于該參考電壓時，使所發(fā)出的該補償信號會修正跟蹤誤差信號的該偏移電壓使得該直流電壓接近該參考電壓。
5.如權(quán)利要求1所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，其中，該比較器是在該光學讀取頭由盤片外圈向內(nèi)圈開始進行跳軌動作前，進行該直流電壓與該參考電壓的比較動作而變化該該補償信號。
6.一種跟蹤誤差信號產(chǎn)生方法，應(yīng)用于一光學讀取裝置，該光學讀取裝置中包含有一光學讀取頭，而該產(chǎn)生方法包含下列步驟響應(yīng)該光學讀取頭所接收的光信號的變化而產(chǎn)生一跟蹤誤差信號；響應(yīng)該跟蹤誤差信號的實時變化而持續(xù)輸出該跟蹤誤差信號的一直流電壓響應(yīng)該直流電壓與一參考電壓的大小關(guān)系而發(fā)出一補償信號；以及響應(yīng)該補償信號的變化而調(diào)整該跟蹤誤差信號的修正該跟蹤誤差信號的偏移電壓。
7.如權(quán)利要求6所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生方法，其中，該跟蹤誤差信號可由電連接于該光學讀取頭的一運算放大器所產(chǎn)生。
8.如權(quán)利要求6所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生方法，其中，該跟蹤誤差信號的該直流電壓是該跟蹤誤差信號的一低通電壓信號。
9.如權(quán)利要求6所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生方法，其中，當該直流電壓大于該參考電壓時，使所發(fā)出的該補償信號會修正跟蹤誤差信號的該偏移電壓使得該直流電壓接近該參考電壓。
10.如權(quán)利要求6所述的跟蹤誤差信號產(chǎn)生方法，其中，是在該光學讀取頭由盤片外圈向內(nèi)圈開始進行跳軌動作前，進行該直流電壓與該參考電壓的比較動作而變化該補償信號。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置與產(chǎn)生方法，應(yīng)用于一光學讀取裝置，該光學讀取裝置中包含有一光學讀取頭，而該產(chǎn)生裝置包含一跟蹤誤差信號產(chǎn)生器；一跟蹤誤差信號直流檢測裝置以及一比較器，而該產(chǎn)生方法包含下列步驟跟蹤誤差信號產(chǎn)生器響應(yīng)該光學讀取頭所接收的光信號的變化而產(chǎn)生一跟蹤誤差信號；跟蹤誤差信號直流檢測裝置響應(yīng)該跟蹤誤差信號的實時變化而持續(xù)輸出該跟蹤誤差信號的一直流電壓；比較器響應(yīng)該直流電壓與一參考電壓的大小關(guān)系而發(fā)出一補償信號；以及跟蹤誤差信號產(chǎn)生器響應(yīng)該補償信號的變化而修正該跟蹤誤差信號的偏移電壓。
文檔編號G11B7/09GK1649004SQ200410003240
公開日2005年8月3日 申請日期2004年1月30日 優(yōu)先權(quán)日2004年1月30日
發(fā)明者林盈達, 林仁德 申請人:建興電子科技股份有限公司