專利名稱：用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法和使用該方法的光記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光記錄方法和介質(zhì)，并且更為具體的說(shuō)，涉及用于管理在WORM類型光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，和使用該方法的光記錄介質(zhì)。該方法特別適用于在一次性寫入光盤比如那些使用近來(lái)開(kāi)發(fā)的已知為BD-WO的藍(lán)光光盤格式上記錄數(shù)據(jù)。
背景技術(shù)：
使用光讀取/寫入裝置的數(shù)據(jù)記錄設(shè)備和介質(zhì)通常被根據(jù)它們的寫入能力或靈活性來(lái)分類。在沒(méi)有寫入能力的只讀光記錄介質(zhì)中，存在那些使用CD-ROM和DVD-ROM格式的光記錄介質(zhì)。在已知的允許自由執(zhí)行多次寫入操作的盤標(biāo)準(zhǔn)中，存在CD-RW、DVD-RAM、DVD-RW和DVD+RW類型，其是可重寫激光盤和數(shù)字多用途光盤。
另一方面，WORM類型光盤適于用作需要大的存儲(chǔ)容量的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備。但是，這種光盤具有有限的記錄靈活性，并且用在一次性寫入多次讀取應(yīng)用中。這些包括CD-R和DVD-R類型，其是可記錄的激光盤和數(shù)字多用途光盤。
同時(shí)，開(kāi)發(fā)了已知為藍(lán)光光盤的高密度DVD(其是用于使用藍(lán)紫色激光記錄高質(zhì)量音頻和視頻數(shù)據(jù)的大容量光盤)的新的類型。藍(lán)光光盤采用已知為BD-RE的可重寫光盤格式。
在光記錄介質(zhì)的上述類型中，在它們的制造、處理或使用期間產(chǎn)生表面不完整和缺陷。因此，在數(shù)據(jù)記錄操作期間使用用于管理缺陷區(qū)域的方法，使得能夠正常地執(zhí)行數(shù)據(jù)再現(xiàn)。
參考圖1，用于與光記錄介質(zhì)102(比如BD-RE格式的光盤)一起使用的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100從主機(jī)(或控制器)200接收數(shù)據(jù)/命令輸入。光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100設(shè)置有用于將數(shù)據(jù)寫到插入的光記錄介質(zhì)或從其讀取數(shù)據(jù)的光拾取器104，用于控制光拾取器以實(shí)現(xiàn)正確的跟蹤并相對(duì)于光記錄介質(zhì)的表面維持可控距離的拾取伺服器106，通過(guò)將從光拾取器接收的再現(xiàn)信號(hào)恢復(fù)為所需的信號(hào)值或通過(guò)調(diào)制從主機(jī)接收的記錄信號(hào)以傳送到光盤來(lái)處理到和來(lái)自光拾取器的數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)處理器108，用于在主機(jī)和記錄/再現(xiàn)設(shè)備之間傳送數(shù)據(jù)的接口110，用于控制記錄/再現(xiàn)設(shè)備的微計(jì)算機(jī)112，和用于存儲(chǔ)程序和用于臨時(shí)存儲(chǔ)包括缺陷管理信息的多種信息和數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器114。在主機(jī)200和存儲(chǔ)的程序的控制下，光拾取器104讀取在光盤上存儲(chǔ)(或?qū)懭?的數(shù)據(jù)，提供輸入給數(shù)據(jù)處理器108的數(shù)據(jù)信號(hào)用于再現(xiàn)處理和輸出，并且使用從數(shù)據(jù)處理器輸出的寫入信號(hào)將數(shù)據(jù)寫到光盤的特定區(qū)域上。在寫入操作期間，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100根據(jù)經(jīng)主機(jī)200輸入的命令和在存儲(chǔ)器114中存儲(chǔ)并由微機(jī)算機(jī)112執(zhí)行的程序接收數(shù)據(jù)流(或編碼的模擬信號(hào))，并輸出寫入信號(hào)到光拾取器104。
參考圖2，用于和圖1的設(shè)備一起使用的BD-RE類型光盤被劃分為指定的區(qū)域。該指定的區(qū)域基本上包括設(shè)置在導(dǎo)入?yún)^(qū)(LIA)和導(dǎo)出區(qū)(LOA)之間的數(shù)據(jù)區(qū)。該數(shù)據(jù)區(qū)包括和導(dǎo)入?yún)^(qū)相鄰的內(nèi)備用區(qū)(ISA)和與導(dǎo)出區(qū)相鄰的外備用區(qū)(OSA)。
如上所述，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100處理來(lái)自主機(jī)200的輸入數(shù)據(jù)，并且以對(duì)應(yīng)于糾錯(cuò)碼塊單元的簇(clusters)將數(shù)據(jù)寫到光盤上。如果在寫入操作期間在數(shù)據(jù)區(qū)檢測(cè)到存在缺陷區(qū)域，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100執(zhí)行一系列替換寫入操作以在兩個(gè)備用區(qū)之一(如圖2的實(shí)例所示為ISA)寫入對(duì)應(yīng)于檢測(cè)的缺陷區(qū)域的數(shù)據(jù)簇。因此，通過(guò)在備用區(qū)而不是缺陷區(qū)域?qū)懭肴毕輩^(qū)域的數(shù)據(jù)簇，可以從備用區(qū)讀取和再現(xiàn)數(shù)據(jù)，因此即使當(dāng)光盤在數(shù)據(jù)區(qū)顯示出缺陷時(shí)也可防止發(fā)生寫入錯(cuò)誤，并由此保證了數(shù)據(jù)安全性和數(shù)據(jù)完整性。
因?yàn)槭褂昧丝芍貙懝獗P，使用允許自由訪問(wèn)數(shù)據(jù)記錄區(qū)的光記錄介質(zhì)執(zhí)行上述方法。因此，在管理缺陷區(qū)域的數(shù)據(jù)的過(guò)程中，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備具有無(wú)限定的記錄區(qū)的使用。但是，如果使用WORM類型光盤，僅一次執(zhí)行寫入操作，并且必須在由用戶能執(zhí)行正常的數(shù)據(jù)修補(bǔ)操作之前完成。
例如，近來(lái)已經(jīng)開(kāi)發(fā)了使用已知為BD-WO的格式的另一類型的藍(lán)光光盤。BD-WO類型光盤是一次性寫入類型光盤，因?yàn)檫@個(gè)類型的光盤格式的標(biāo)準(zhǔn)化近來(lái)剛剛開(kāi)始，其不能使用用于管理光盤上的缺陷區(qū)域的已知方法。需要立即的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明涉及用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，以及使用該方法的光記錄介質(zhì)(也就是，比如BD-WO的光盤)，其基本上避免了因?yàn)楝F(xiàn)有技術(shù)的限制和缺點(diǎn)引起的一個(gè)或多個(gè)問(wèn)題。
本發(fā)明的目的是解決前述問(wèn)題，其提供用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，通過(guò)其寫入光盤的缺陷區(qū)域和從其讀取的數(shù)據(jù)被重新定位(重寫)，并且管理該數(shù)據(jù)，這是通過(guò)其中將數(shù)據(jù)寫入對(duì)應(yīng)于缺陷區(qū)域的替代數(shù)據(jù)區(qū)(備用區(qū))的替換寫入操作的性能來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
本發(fā)明的另一目的是提供用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，通過(guò)該方法在完成數(shù)據(jù)記錄操作之后實(shí)現(xiàn)正常數(shù)據(jù)再現(xiàn)，而與在記錄期間檢測(cè)到存在的一個(gè)或多個(gè)缺陷區(qū)域無(wú)關(guān)。
本發(fā)明的另一目的是提供使用一次性寫入光記錄介質(zhì)過(guò)程中的數(shù)據(jù)安全性和數(shù)據(jù)完整性，具體的說(shuō)對(duì)于使用從BD-WO光盤讀取的主計(jì)算機(jī)和在記錄時(shí)間采用線性替換技術(shù)的數(shù)據(jù)記錄操作。
本發(fā)明的另一目的是提供用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，通過(guò)其促進(jìn)BD-WO標(biāo)準(zhǔn)化。
本發(fā)明的另一目的是提供適于采用上述方法的光記錄介質(zhì)。
本發(fā)明的另一目的是提供用于使用采用上述方法的光記錄介質(zhì)的系統(tǒng)。
本發(fā)明的其它優(yōu)點(diǎn)、目的和特征將在隨后的說(shuō)明中部分地描述，經(jīng)過(guò)以下檢驗(yàn)或從本發(fā)明的實(shí)踐中學(xué)習(xí)，上述優(yōu)點(diǎn)、目的和特征對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)是顯而易見(jiàn)的。本發(fā)明的目的和優(yōu)點(diǎn)可以如所附說(shuō)明書及其權(quán)利要求書和附圖中所特別指出的來(lái)實(shí)現(xiàn)和獲得。
為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的這些和其它的優(yōu)點(diǎn)，以及根據(jù)本發(fā)明的目的，如這里具體地和廣泛地描述的，提供了一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟在光記錄介質(zhì)的預(yù)定記錄扇區(qū)寫入數(shù)據(jù)之后，檢測(cè)在預(yù)定記錄扇區(qū)中缺陷的存在；通過(guò)在指定給光記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)中寫入數(shù)據(jù)，且在光記錄介質(zhì)的指定的記錄扇區(qū)中寫入作為臨時(shí)缺陷列表信息的定位符信息來(lái)替換寫在缺陷記錄扇區(qū)中的數(shù)據(jù)，該定位符信息指示缺陷記錄扇區(qū)；和在分配到光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域中寫入用于訪問(wèn)臨時(shí)缺陷列表信息的寫入位置信息和用于確定對(duì)寫入位置信息的訪問(wèn)的標(biāo)識(shí)信息作為光盤定義結(jié)構(gòu)信息。
在本發(fā)明的另一方面中，提供了一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟通過(guò)從缺陷管理區(qū)域中的光盤定義結(jié)構(gòu)信息搜索指定給光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域，并檢測(cè)和檢查標(biāo)識(shí)信息來(lái)識(shí)別光盤結(jié)束狀態(tài)，其中該標(biāo)識(shí)信息指示光盤結(jié)束狀態(tài)；基于標(biāo)識(shí)信息，選擇性地搜索光盤定義結(jié)構(gòu)信息中的缺陷列表信息或臨時(shí)缺陷列表信息的寫入位置；和基于選擇性搜索的缺陷列表信息和臨時(shí)缺陷列表信息，對(duì)于缺陷區(qū)域執(zhí)行替換寫入操作或正常再現(xiàn)操作。
在本發(fā)明的另一方面中，提供了具有用于光學(xué)記錄數(shù)據(jù)到一次性寫入光記錄介質(zhì)或從一次性寫入光記錄介質(zhì)光學(xué)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的可編程設(shè)備的系統(tǒng)。該設(shè)備可被編程以執(zhí)行本發(fā)明的方法的所需步驟，包括那些用于記錄數(shù)據(jù)和再現(xiàn)記錄的數(shù)據(jù)的步驟。
在本發(fā)明的另一方面中，提供一次性寫入光記錄介質(zhì)，其包括數(shù)據(jù)區(qū)，相鄰數(shù)據(jù)區(qū)設(shè)置的導(dǎo)入?yún)^(qū)；和在導(dǎo)入?yún)^(qū)中用于寫入關(guān)于多個(gè)寫入位置的信息以及用于選擇性訪問(wèn)寫入位置的標(biāo)識(shí)信息(其作為光盤定義結(jié)構(gòu)信息)的缺陷管理區(qū)域，該多個(gè)寫入位置用于訪問(wèn)臨時(shí)缺陷列表信息和缺陷列表信息，其中該臨時(shí)缺陷列表信息和缺陷列表信息被寫在分開(kāi)的位置。
比如BD-WO光盤的光記錄介質(zhì)采用本發(fā)明的方法保證了數(shù)據(jù)的安全性和數(shù)據(jù)的完整性，特別在使用采用線性替換(linearreplacement)技術(shù)的主計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)記錄操作期間。
應(yīng)該理解本發(fā)明的前述解釋和下面的具體描述都是示例性和說(shuō)明性的，并且意在提供本發(fā)明如權(quán)利要求所述的進(jìn)一步解釋。


通過(guò)結(jié)合附圖的下面的詳細(xì)說(shuō)明可以更為全面的理解本發(fā)明的另外的目的和優(yōu)點(diǎn)，在附圖中圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的一般光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備的示意圖；圖2是用于管理在比如BD-RE類型光盤的可重寫光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法的視圖；圖3是示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的一次性寫入光記錄介質(zhì)，比如BD-WO類型光盤的指定的區(qū)域的視圖，其用于說(shuō)明用于管理在光盤上的缺陷區(qū)域的方法；圖4是示出了根據(jù)本發(fā)明方法寫入的定位符信息的視圖；圖5是示出了根據(jù)本發(fā)明的方法寫入的定位符信息，由此增加訪問(wèn)速率的視圖；圖6是用于說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的另一優(yōu)選實(shí)施例的，用于管理在一次性寫入光記錄介質(zhì)、比如BD-WO類型光盤上的缺陷區(qū)域的方法的視圖；以及圖7是用于說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的另一優(yōu)選實(shí)施例的，用于管理在一次性寫入光記錄介質(zhì)、比如BD-WO類型光盤上的缺陷區(qū)域的方法的視圖。
具體實(shí)施例方式
下面將詳細(xì)參考本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，在附圖中示出了其實(shí)例。在整個(gè)附圖中使用相同的參考數(shù)字表示相同或相似的部分。
參考圖3，其中示出比如BD-WO類型光盤的光記錄介質(zhì)的指定的區(qū)域以說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的方法，在導(dǎo)入?yún)^(qū)(LIA)和導(dǎo)出區(qū)(LOA)之間設(shè)置數(shù)據(jù)區(qū)，其中數(shù)據(jù)區(qū)基本上包括用戶數(shù)據(jù)區(qū)和在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的任一側(cè)設(shè)置的非用戶數(shù)據(jù)區(qū)。用戶數(shù)據(jù)區(qū)被指定有物理扇區(qū)號(hào)(PSN)和邏輯扇區(qū)號(hào)(LSN)，同時(shí)非用戶數(shù)據(jù)區(qū)僅被指定有物理扇區(qū)號(hào)。非用戶數(shù)據(jù)區(qū)分別包括外部備用區(qū)(OSA)和臨時(shí)缺陷列表(TDFL)區(qū)。外部備用區(qū)用于寫入對(duì)應(yīng)于缺陷區(qū)域的數(shù)據(jù)，也就是，替換數(shù)據(jù)，而TDFL區(qū)用于寫入關(guān)于檢測(cè)的缺陷區(qū)域的缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)定位符和相應(yīng)的替換數(shù)據(jù)。可以累積地或連續(xù)地寫入缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)定位符信息。
雖然沒(méi)有在附圖中示出，OSA和TDFL區(qū)可以是交替定位的或它們可以是另外的指定的區(qū)域，比如內(nèi)備用區(qū)(ISA)。例如，可以另外設(shè)置ISA或代替OSA，或者與OSA相鄰或在LIA中在非用戶數(shù)據(jù)區(qū)設(shè)置TDFL區(qū)域。
在光記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)的過(guò)程中，比如如圖3所示，圖1的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100執(zhí)行內(nèi)部程序以時(shí)間連續(xù)的方式在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的預(yù)定寫入扇區(qū)上寫入數(shù)據(jù)。寫入操作進(jìn)行直到數(shù)據(jù)記錄終止或直到記錄最后一個(gè)記錄扇區(qū)。每個(gè)寫入情況將被稱作為數(shù)據(jù)記錄階段。
將預(yù)定的寫入扇區(qū)設(shè)置為缺陷驗(yàn)證單元(DVU)，通過(guò)其在數(shù)據(jù)記錄階段期間，使用在每個(gè)DVU之后執(zhí)行的寫入后確認(rèn)操作(verify-after operation)檢測(cè)缺陷區(qū)域。一個(gè)DVU可以具有等于任意數(shù)目的物理軌道或簇的記錄大小，并且因?yàn)楸阌诿枋霰景l(fā)明的實(shí)施例的緣故，將這個(gè)記錄大小任意地設(shè)置為五個(gè)簇。多個(gè)缺陷驗(yàn)證單元(DVU1到DVUn)構(gòu)成了記錄或具有時(shí)間連續(xù)性的數(shù)據(jù)記錄階段的一個(gè)情況，且每個(gè)數(shù)據(jù)記錄階段1、2和3依賴于記錄的數(shù)據(jù)量來(lái)構(gòu)成多個(gè)DVU。
由光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100執(zhí)行寫入后確認(rèn)操作，其重復(fù)執(zhí)行一系列檢測(cè)操作以確定對(duì)應(yīng)于一個(gè)DVU的寫入數(shù)據(jù)的缺陷區(qū)域的存在。在每個(gè)缺陷區(qū)域檢測(cè)操作中，再現(xiàn)寫在DVU中的數(shù)據(jù)以驗(yàn)證它的記錄狀態(tài)；就是說(shuō)，確定是否成功寫入數(shù)據(jù)使得可以進(jìn)行正常的再現(xiàn)。如果不能驗(yàn)證正常的再現(xiàn)，則確定存在缺陷。
例如，在通過(guò)記錄操作在DVU1的物理簇1-5中順序和連續(xù)寫入數(shù)據(jù)之后S10，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100通過(guò)逐漸再現(xiàn)寫在DVU1中的數(shù)據(jù)來(lái)執(zhí)行寫入后確認(rèn)操作，以驗(yàn)證正常再現(xiàn)，并由此檢測(cè)任意缺陷區(qū)域的存在。在逐漸再現(xiàn)過(guò)程中，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100再次從第一簇開(kāi)始(或下一個(gè)位置)順序讀取寫入的數(shù)據(jù)，并且連續(xù)讀取直到通過(guò)再現(xiàn)操作檢測(cè)到第一個(gè)(或下一個(gè))不可驗(yàn)證的數(shù)據(jù)簇的出現(xiàn)S11，其指示在物理簇2中存在缺陷區(qū)域。之后，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100在它的存儲(chǔ)器114中臨時(shí)存儲(chǔ)物理簇2的數(shù)據(jù)。臨時(shí)存儲(chǔ)(緩存)的數(shù)據(jù)用于執(zhí)行通過(guò)記錄操作的替換寫入操作S12，由此將對(duì)應(yīng)于缺陷簇的替換數(shù)據(jù)寫作OSA中的替換簇2’以代替缺陷區(qū)域。這里，可以從OSA的任一端開(kāi)始寫入第二簇的數(shù)據(jù)。
在完成上述的替換寫入操作之后，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100通過(guò)再現(xiàn)操作連續(xù)再現(xiàn)DVU1的數(shù)據(jù)S13，以進(jìn)行到下一個(gè)簇，也就是，物理簇3。當(dāng)在物理簇4中檢測(cè)到另一缺陷區(qū)域時(shí)，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100通過(guò)記錄操作執(zhí)行另一替換寫入操作S14，其中緩存缺陷簇的數(shù)據(jù)，并且然后寫作為OSA中與替換簇2’連續(xù)的替換簇4’。
通過(guò)再現(xiàn)操作的DVU1的連續(xù)寫入后確認(rèn)操作沒(méi)有找到另外的缺陷區(qū)域S15，則完成數(shù)據(jù)記錄階段1的DVU的數(shù)據(jù)記錄。因此，該DVU1最終包括物理簇1、3和5的數(shù)據(jù)并且具有兩個(gè)缺陷區(qū)域，將其數(shù)據(jù)作為對(duì)應(yīng)于缺陷區(qū)域的替換簇2’和4’寫在OSA中。對(duì)于每個(gè)DVU重復(fù)相同處理，直到通過(guò)執(zhí)行對(duì)于DVUn的記錄和寫入后確認(rèn)操作完成數(shù)據(jù)記錄階段1。在這種情況下，將物理簇6寫作DVU2的第一簇。
然后，即，在連續(xù)完成DVUn的寫入后確認(rèn)操作之后，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100寫入用于識(shí)別每個(gè)缺陷區(qū)域和定位相應(yīng)替換數(shù)據(jù)的缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)定位符。這些定位符被寫作TDFL信息并存儲(chǔ)在TDFL區(qū)域。為增加TDFL信息的訪問(wèn)速率，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100還將寫入位置信息作為光盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)信息寫在LIA中指定的缺陷管理區(qū)域(DMA)中。
如圖4所示，該TDFL信息包括多個(gè)缺陷條目，每個(gè)被表示為一對(duì)PSN，也就是，缺陷PSN和對(duì)應(yīng)于其的替換PSN。這里，缺陷PSN是缺陷區(qū)域的物理扇區(qū)號(hào)，而替換PSN是其中寫入缺陷區(qū)域的數(shù)據(jù)的區(qū)域的物理扇區(qū)號(hào)。每個(gè)缺陷條目還包括除PSN外的狀態(tài)信息。該狀態(tài)信息包括狀態(tài)1和狀態(tài)2信息，而狀態(tài)2信息在本實(shí)施例中不可用。狀態(tài)1信息指示在缺陷或潛在缺陷區(qū)域和對(duì)應(yīng)于其的任意替換數(shù)據(jù)之間存在的關(guān)系的類型，該替換數(shù)據(jù)包括替換數(shù)據(jù)記錄狀態(tài)、地址分配、缺陷區(qū)域確認(rèn)、替換區(qū)域可用性等。
對(duì)應(yīng)于DDS信息的第60字節(jié)(第60字節(jié)位置)的記錄扇區(qū)可以包括用于訪問(wèn)當(dāng)前TDFL信息的第一PSN的寫入位置信息，也就是，反映最后(最近)的替換寫入操作的TDFL信息。將這種寫入位置信息和包括光盤結(jié)束標(biāo)志的識(shí)別信息一起寫入和管理，該光盤結(jié)束標(biāo)志指示是否執(zhí)行了光盤結(jié)束操作，并通知完成了光盤的寫入處理。
當(dāng)標(biāo)識(shí)信息示出沒(méi)有光盤結(jié)束時(shí)，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100讀取DMA并且參考寫入位置信息以搜索寫入位置。例如，標(biāo)識(shí)信息的一個(gè)字節(jié)可以被寫作“0000 XXXX”，以指示沒(méi)有執(zhí)行光盤結(jié)束操作，或者被設(shè)置為“0000 1111”以指示執(zhí)行了光盤結(jié)束。同時(shí)，標(biāo)識(shí)信息可以包括大于一個(gè)字節(jié)的大小，并且可以使用“0000 XXXX”和“00001111”之外的值指示光盤結(jié)束操作的執(zhí)行。該DDS信息可以包括用于訪問(wèn)第一TDFL和當(dāng)前TDFL兩者，或者選擇性地訪問(wèn)任意一個(gè)的寫入位置信息。
當(dāng)根據(jù)用戶操作執(zhí)行光盤結(jié)束操作時(shí)，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100將光盤結(jié)束標(biāo)志從指示沒(méi)有執(zhí)行光盤結(jié)束操作的值(例如，“0000XXXX”)設(shè)置為指示光盤結(jié)束狀態(tài)的值(例如，“0000 1111”)，并且在DMA中寫入TDFL信息作為缺陷列表(DFL)信息。因此，在光盤結(jié)束的情況下，存儲(chǔ)在DDS信息中的寫入位置信息被寫作表示DFL信息的寫入位置的最終值。對(duì)應(yīng)于DDS信息的第24字節(jié)(第24字節(jié)位置)的記錄扇區(qū)可以包括用于訪問(wèn)DFL信息的第一PSN的寫入位置信息。
參考圖5，DDS信息可以增加之后的或最后的TDFL信息(TDFL q)的訪問(wèn)速率，且進(jìn)一步包括對(duì)應(yīng)于最近寫入的TDFL，也就是，恰好在光盤結(jié)束之前的TDFL信息的第一PSN的寫入位置信息。
如圖6所示，該TDFL信息可以包括在LIA中的記錄扇區(qū)中。另一方面，如圖7所示，該TDFL信息可以被分配給OSA中的記錄扇區(qū)，或者可以被分配到別處，比如在LOA中。
工業(yè)應(yīng)用性在本發(fā)明的方法中，當(dāng)比如BD-WO類型的光盤的光記錄介質(zhì)被放入比如如圖1所示的可編程系統(tǒng)中時(shí)，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100搜索分配到光盤的LIA的DMA，從DMA的DDS信息檢測(cè)光盤結(jié)束標(biāo)志，檢查它的值，并由此確定光盤是否結(jié)束。如果光盤結(jié)束標(biāo)志是示出了沒(méi)有出現(xiàn)光盤結(jié)束的值，則光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100搜索和訪問(wèn)關(guān)于DDS信息中的第一和/或之后(最后)的TDFL信息的寫入位置信息，以然后搜索和訪問(wèn)TDFL信息。然后，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100執(zhí)行一系列替換寫入操作或再現(xiàn)操作。另一方面，如果光盤結(jié)束標(biāo)志是示出出現(xiàn)光盤結(jié)束的值，則光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100搜索和訪問(wèn)關(guān)于在DDS信息中存儲(chǔ)的第一和/或之后(最后)DFL信息的寫入位置信息，以然后搜索和訪問(wèn)DFL信息。然后，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100可以執(zhí)行再現(xiàn)操作。
通過(guò)采用根據(jù)本發(fā)明的用于在一次性寫入光記錄介質(zhì)上管理缺陷區(qū)域的方法，通過(guò)其中將數(shù)據(jù)寫在對(duì)應(yīng)于缺陷區(qū)域的替代(備用)數(shù)據(jù)區(qū)中的替換寫入操作的性能，寫入和有效管理寫在光盤的缺陷區(qū)域上的數(shù)據(jù)。因此，根據(jù)本方法的格式，比如當(dāng)前開(kāi)發(fā)的BD-WO類型光盤的光記錄介質(zhì)能夠用于通過(guò)一次性寫入操作記錄數(shù)據(jù)，使得即使當(dāng)在光盤上存在缺陷時(shí)也能正常再現(xiàn)記錄的數(shù)據(jù)。另外，通過(guò)提供合適的一次性寫入光記錄介質(zhì)，采用本發(fā)明的方法促進(jìn)了BD-WO標(biāo)準(zhǔn)化，由此能夠有效管理寫在其缺陷區(qū)域上的數(shù)據(jù)。
對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)很明顯可以對(duì)根據(jù)本發(fā)明的管理在一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法和使用該方法的光記錄介質(zhì)做出多種修改和變更而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。因此，本發(fā)明意在覆蓋在所附權(quán)利要求及其等效物范圍內(nèi)提供的本發(fā)明的修改和變型。
權(quán)利要求
1.一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟在光記錄介質(zhì)的預(yù)定記錄扇區(qū)中寫入數(shù)據(jù)之后，檢測(cè)在預(yù)定記錄扇區(qū)中缺陷的存在；通過(guò)在指定給光記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)中寫入數(shù)據(jù)，且在光記錄介質(zhì)的指定的記錄扇區(qū)中寫入作為臨時(shí)缺陷列表信息的定位符信息來(lái)替換寫在缺陷記錄扇區(qū)中的數(shù)據(jù)，該定位符信息表示缺陷記錄扇區(qū)；和在指定到光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域中寫入用于訪問(wèn)臨時(shí)缺陷列表信息的寫入位置信息和用于確定對(duì)寫入位置信息的訪問(wèn)的標(biāo)識(shí)信息作為光盤定義結(jié)構(gòu)信息。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括光盤結(jié)束步驟，所述光盤結(jié)束步驟包括步驟在缺陷管理區(qū)域?qū)懭胱鳛槿毕萘斜硇畔⒌呐R時(shí)缺陷列表信息，和用于訪問(wèn)缺陷列表信息的寫入位置信息的最終值；和設(shè)置標(biāo)識(shí)信息為指示光盤結(jié)束的值，并將該值寫在缺陷管理區(qū)域中，其中，該設(shè)置的標(biāo)識(shí)信息確定對(duì)最終寫入位置信息的訪問(wèn)，并且其中設(shè)置的標(biāo)識(shí)信息和最終寫入位置信息被包括在光盤定義結(jié)構(gòu)信息中。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，該標(biāo)識(shí)信息包括具有大于或等于一個(gè)字節(jié)大小的標(biāo)志，所述標(biāo)志確定在光記錄介質(zhì)在光盤結(jié)束狀態(tài)時(shí)對(duì)寫在缺陷管理區(qū)域中的缺陷列表信息的訪問(wèn)，并確定當(dāng)光記錄介質(zhì)不在光盤結(jié)束狀態(tài)時(shí)對(duì)寫在指定的記錄扇區(qū)中的臨時(shí)缺陷列表信息的訪問(wèn)。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該包括臨時(shí)缺陷列表信息的指定的記錄扇區(qū)被定位于光記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該包括臨時(shí)缺陷列表信息的指定的記錄扇區(qū)被定位于光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)中。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該包括臨時(shí)缺陷列表信息的指定的記錄扇區(qū)被定位于光記錄介質(zhì)的導(dǎo)出區(qū)中。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該包括臨時(shí)缺陷列表信息的指定的記錄扇區(qū)被定位于光記錄介質(zhì)的非用戶數(shù)據(jù)區(qū)中，該非用戶數(shù)據(jù)區(qū)與光記錄介質(zhì)的外備用區(qū)相鄰。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該包括臨時(shí)缺陷列表信息的指定的記錄扇區(qū)被定位于光記錄介質(zhì)的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中，該用戶數(shù)據(jù)區(qū)在光記錄介質(zhì)的外備用區(qū)之前。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該定位符信息是累積地寫入的。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該定位符信息是連續(xù)地寫入的。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在備用區(qū)中寫入替換數(shù)據(jù)的過(guò)程中，從備用區(qū)的一端開(kāi)始寫入數(shù)據(jù)。
12.一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟通過(guò)從缺陷管理區(qū)域中的光盤定義結(jié)構(gòu)信息搜索指定給光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域，和檢測(cè)并檢查表示光盤結(jié)束狀態(tài)標(biāo)識(shí)信息來(lái)識(shí)別光盤結(jié)束狀態(tài)；基于標(biāo)識(shí)信息，選擇性地搜索光盤定義結(jié)構(gòu)信息中的缺陷列表信息或臨時(shí)缺陷列表信息的寫入位置；和基于選擇性搜索的缺陷列表信息和臨時(shí)缺陷列表信息，對(duì)于缺陷區(qū)域執(zhí)行替換寫入操作或正常再現(xiàn)操作。
13.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述選擇性搜索步驟在標(biāo)識(shí)信息指示光記錄介質(zhì)處在光盤結(jié)束狀態(tài)時(shí)，搜索寫在缺陷管理區(qū)域中的缺陷列表信息的寫入位置。
14.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述選擇性搜索步驟在標(biāo)識(shí)信息指示光記錄介質(zhì)不處在光盤結(jié)束狀態(tài)時(shí)，選擇性地搜索寫在缺陷管理區(qū)域以外的記錄扇區(qū)中的第一臨時(shí)缺陷列表信息或最后的臨時(shí)缺陷列表信息的寫入位置。
15.一種一次性寫入光記錄介質(zhì)，其包括數(shù)據(jù)區(qū)；導(dǎo)入?yún)^(qū)，其被相鄰所述數(shù)據(jù)區(qū)設(shè)置；和缺陷管理區(qū)，其在導(dǎo)入?yún)^(qū)中用于寫入多個(gè)寫入位置作為光盤定義結(jié)構(gòu)信息，該多個(gè)寫入位置用于訪問(wèn)臨時(shí)缺陷列表信息和缺陷列表信息和用于寫入選擇性訪問(wèn)寫入位置的標(biāo)識(shí)信息，其中，該臨時(shí)缺陷列表信息和缺陷列表信息被寫在分開(kāi)的位置。
16.如權(quán)利要求15所述的光記錄介質(zhì)，其中，該光盤定義結(jié)構(gòu)信息進(jìn)一步包括用于訪問(wèn)寫在缺陷管理區(qū)域中的第一缺陷列表信息的寫入位置信息；和用于訪問(wèn)寫在缺陷管理區(qū)域之外的記錄扇區(qū)中的第一臨時(shí)缺陷列表信息的寫入位置信息。
17.如權(quán)利要求15所述的光記錄介質(zhì)，其中，該標(biāo)識(shí)信息包括具有大于或等于一個(gè)字節(jié)大小的標(biāo)志，所述標(biāo)志確定在光記錄介質(zhì)處在光盤結(jié)束狀態(tài)時(shí)對(duì)寫在缺陷管理區(qū)域中的缺陷列表信息的訪問(wèn)，并確定當(dāng)光記錄介質(zhì)不處在光盤結(jié)束狀態(tài)時(shí)對(duì)寫在指定的記錄扇區(qū)中的臨時(shí)缺陷列表信息的訪問(wèn)。
18.如權(quán)利要求15所述的光記錄介質(zhì)，其中，所述數(shù)據(jù)區(qū)、導(dǎo)入?yún)^(qū)和缺陷管理區(qū)被經(jīng)BD-WO標(biāo)準(zhǔn)指定。
19.一種具有用于光學(xué)記錄數(shù)據(jù)到一次性寫入光記錄介質(zhì)或從一次性寫入光記錄介質(zhì)光學(xué)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的可編程設(shè)備的系統(tǒng)，該一次性寫入光記錄介質(zhì)包括數(shù)據(jù)區(qū)和與其相鄰設(shè)置的導(dǎo)入?yún)^(qū)，所述可編程設(shè)備包括用于在光記錄介質(zhì)的預(yù)定記錄扇區(qū)中寫入數(shù)據(jù)之后，檢測(cè)在預(yù)定記錄扇區(qū)中缺陷的存在的裝置；用于通過(guò)在指定給光記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)中寫入數(shù)據(jù)，且在光記錄介質(zhì)的指定的記錄扇區(qū)中寫入作為臨時(shí)缺陷列表信息的定位符信息來(lái)替換寫在缺陷記錄扇區(qū)中的數(shù)據(jù)的裝置，該定位符信息表示缺陷記錄扇區(qū)；和用于在指定到光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域中寫入用于訪問(wèn)臨時(shí)缺陷列表信息的寫入位置信息和用于確定對(duì)寫入位置信息的訪問(wèn)的標(biāo)識(shí)信息作為光盤定義結(jié)構(gòu)信息的裝置，用于在缺陷管理區(qū)域?qū)懭胱鳛槿毕萘斜硇畔⒌呐R時(shí)缺陷列表信息，和用于訪問(wèn)缺陷列表信息的寫入位置信息的最終值的裝置；和用于設(shè)置標(biāo)識(shí)信息為表示光盤結(jié)束的值并將該值寫在缺陷管理區(qū)域中的裝置，其中該設(shè)置的標(biāo)識(shí)信息確定對(duì)最終寫入位置信息的訪問(wèn)，并且其中設(shè)置的標(biāo)識(shí)信息和最終寫入位置信息被包括在光盤定義結(jié)構(gòu)信息中。
20.如權(quán)利要求19所述的系統(tǒng)，所述可編程設(shè)備進(jìn)一步包括用于通過(guò)從缺陷管理區(qū)域中的光盤定義結(jié)構(gòu)信息搜索指定給光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域，并檢測(cè)和檢查表示光盤結(jié)束狀態(tài)的標(biāo)識(shí)信息來(lái)識(shí)別光盤結(jié)束狀態(tài)的裝置；用于基于標(biāo)識(shí)信息，選擇性地搜索光盤定義結(jié)構(gòu)信息中的缺陷列表信息或臨時(shí)缺陷列表信息的寫入位置的裝置；和用于基于選擇性搜索的缺陷列表信息和臨時(shí)缺陷列表信息，對(duì)于缺陷區(qū)域執(zhí)行替換寫入操作或正常再現(xiàn)操作的裝置。
21.一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟在光記錄介質(zhì)的指定的記錄扇區(qū)中記錄用于分別訪問(wèn)光記錄介質(zhì)的缺陷列表(DFL)和光記錄介質(zhì)的臨時(shí)缺陷列表(TDFL)的寫入位置信息；當(dāng)光記錄介質(zhì)不處在光盤結(jié)束狀態(tài)時(shí)，搜索TDFL寫入位置信息以在臨時(shí)缺陷列表中寫入缺陷管理信息；和當(dāng)光記錄介質(zhì)處在光盤結(jié)束狀態(tài)時(shí)，搜索DFL寫入位置信息以從缺陷列表中讀取缺陷管理信息。
22.一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟首先在光記錄介質(zhì)的第一指定的記錄扇區(qū)中記錄用于訪問(wèn)臨時(shí)缺陷列表(TDFL)的寫入位置信息；根據(jù)TDFL寫入位置信息在臨時(shí)缺陷列表中寫入缺陷管理信息；在光記錄介質(zhì)的第二指定的記錄扇區(qū)中第二次記錄用于訪問(wèn)缺陷列表(DFL)的寫入位置信息；和根據(jù)DFL寫入位置信息從缺陷列表中讀取缺陷管理信息，其中當(dāng)光記錄介質(zhì)不在光盤結(jié)束狀態(tài)時(shí)執(zhí)行所述第一記錄步驟，且當(dāng)光記錄介質(zhì)在光盤結(jié)束狀態(tài)時(shí)執(zhí)行所述第二記錄步驟。
全文摘要
本發(fā)明提供了用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)域的方法及使用該方法的光記錄介質(zhì)。在用于使用比如BD－WO類型光盤的光盤記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的光盤設(shè)備中，該方法允許通過(guò)用于記錄缺陷區(qū)域的數(shù)據(jù)的替換寫入操作，來(lái)正常讀取和再現(xiàn)寫在光盤的缺陷區(qū)域上的記錄數(shù)據(jù)。當(dāng)在記錄處理期間在光盤的預(yù)定記錄扇區(qū)中檢測(cè)到缺陷時(shí)，將記錄數(shù)據(jù)寫在對(duì)應(yīng)于缺陷區(qū)域的備用區(qū)上，并因此管理寫入數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G11B20/10GK1739158SQ200380108780
公開(kāi)日2006年2月22日 申請(qǐng)日期2003年11月27日 優(yōu)先權(quán)日2003年1月14日
發(fā)明者樸容徹, 金成大 申請(qǐng)人:Lg電子株式會(huì)社