專利名稱：光盤和信息記錄/再現(xiàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通過其記錄道的槽脊和凹槽，記錄和再現(xiàn)信息的一種高密度光盤，并涉及通過該光盤記錄和再現(xiàn)信息的一種信息記錄/再現(xiàn)裝置。
背景技術(shù)：
光盤是一種大容量的高密度存儲器，用它可以實現(xiàn)非接觸的記錄和再現(xiàn)，并且一張光盤可以由另一張光盤替換。典型光盤的容量如下當(dāng)光學(xué)讀寫頭用NA(數(shù)值孔徑)為0.5的透鏡時，一張130mm的光盤，其單面容量為300至500MB，而一張90mm的光盤，其單面容量約為128至250MB。為適應(yīng)多媒體用途，目前已研究了一種高密度記錄/再現(xiàn)技術(shù)，即利用一種波長為680mm的短波長激光，來獲得約2至4倍于上述所提到容量的容量。
圖10表示現(xiàn)有技術(shù)的光盤中，一種連續(xù)伺服記錄道格式的平面圖(上圖)和截面圖(下圖)。
圖10(a)表示在現(xiàn)有技術(shù)的130mm或90mm光盤中所采用的一種連續(xù)伺服記錄道，它具有一種槽脊記錄道格式。在槽脊記錄道格式中，該記錄道包括在透明基片1上形成的凹槽2，凹槽2的深度為λ/(8·n)(λ為激光波長，n為基片1的折射率，下同)，凹點4構(gòu)成一種扇區(qū)識別(ID)信號，記錄符5記錄在由記錄道所(夾進(jìn))的槽脊3上。用作ID信號的凹點4是一種相位深度為λ/(4·n)的凹凸形坑。
記錄道間距約選擇為λ/NA，即取決于激光波長(λ)和透鏡孔徑(NA)。在現(xiàn)有技術(shù)的光盤中，由于槽脊必須保留在凹槽2與ID信號凹點4之間，故從槽脊成型工藝的角度來看，難以使記錄道間距縮至1.3μm或更小。
圖10(b)表示一例凹槽記錄道格式，其中，各記錄道由相位深度為λ/(8Nn)的簡單凹槽6以及槽脊7形成，凹點8構(gòu)成ID信號，其中錄有數(shù)據(jù)信號的記錄符9記錄在凹槽6內(nèi)。由于這種凹槽記錄道的道結(jié)構(gòu)由簡單凹槽6構(gòu)成，故可以較為容易地生產(chǎn)道間距為1μm或更小的光盤。
圖10(c)表示一例槽脊/凹槽記錄道格式，其中，通過將深度約為λ/(8·n)的凹槽11的寬度設(shè)置為道間距的一半，而形成凹槽記錄道，信號12還記錄在槽脊10上。原則上說，這種槽脊/凹槽記錄可以達(dá)到兩倍于圖10(a)所示槽脊記錄的表面記錄密度。
通常，當(dāng)?shù)篱g距減小時，有關(guān)在相鄰道中記錄的信號產(chǎn)生串?dāng)_；因進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄而將相鄰兩條道中記錄的信號一起擦去的交叉擦除，以及道伺服穩(wěn)定性方面的問題將會產(chǎn)生。
接下來將討論道伺服的穩(wěn)定性。在用于圖10(c)所示槽脊/凹槽記錄的槽脊記錄道10中，道間距為λ/NA的一半。在λ為830mm、NA為0.5的情況下，即使當(dāng)用以記錄信號的道間距為0.8μm，相對于構(gòu)成每條凹槽和槽脊的1.6μm的道間距，道伺服也可以實施。因此，無論采用常用的三束方法或推挽式方法，道伺服都能穩(wěn)定工作。
即使在采用上述記錄方式的槽脊/凹槽記錄中，當(dāng)為了提高記錄密度而進(jìn)一步減小道間距時，也會產(chǎn)生在含有凹槽11與含有槽脊的記錄道之間發(fā)生串?dāng)_的問題。
尤其在采用激光波長λ為830nm、透鏡孔徑NA為0.5的一種光學(xué)讀寫頭的情況下，當(dāng)?shù)篱g距為1.6μm時，將產(chǎn)生-30至-35dB的串?dāng)_，當(dāng)?shù)篱g距為0.8μm時，將產(chǎn)生-15至-20dB的串?dāng)_，由此將產(chǎn)生不能正常再現(xiàn)ID信號和數(shù)據(jù)信號的問題。
尤其還存在以下問題如在記錄道搜索過程中，因有一些再現(xiàn)錯誤而難以確認(rèn)目標(biāo)記錄道，例如由于ID信號的串?dāng)_影響，使ID信號被錯誤地再現(xiàn)，或者錯誤地再現(xiàn)鄰近記錄道上的ID信號。又如在一個未曾記錄的扇區(qū)進(jìn)行記錄的過程中，即使當(dāng)ID信號從鄰近道上泄漏時，再現(xiàn)好像仍按正常方式進(jìn)行，由此將使數(shù)據(jù)記錄在錯誤的扇區(qū)上。
然而，在以上所述的凹槽/槽脊記錄中，雖然記錄道密度加倍了，但由此也產(chǎn)生了在記錄或再現(xiàn)過程中的問題，由于串?dāng)_或交叉擦除產(chǎn)生的錯誤超過了標(biāo)準(zhǔn)，不合格的扇區(qū)數(shù)量也因此而增加。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種能夠解決上述問題的一種光盤以及一種信息記錄/再現(xiàn)裝置，與現(xiàn)有技術(shù)相比，不僅能夠提高記錄密度，而且能夠減少槽脊道與凹槽道之間的串?dāng)_程度，并且能防止因槽脊道與凹槽道之間的串?dāng)_而在ID信號或數(shù)據(jù)信號的記錄或再現(xiàn)中產(chǎn)生錯誤。
另一方面，從現(xiàn)有技術(shù)的記錄方式的問題來看，本發(fā)明的目的在于提供一種信息記錄/再現(xiàn)裝置，一種信息記錄/再現(xiàn)方法，以及一種能提供大容量存儲的光盤，其中，可以迅速地實現(xiàn)缺陷替換處理。
根據(jù)本發(fā)明的一種光信息記錄/再現(xiàn)裝置，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，該光盤包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道，所述光盤包括備用區(qū)，用以替換記錄有缺陷的扇區(qū)；缺陷目錄區(qū)，其中缺陷目錄包括一組有缺陷的扇區(qū)和用以記錄的替換扇區(qū)；以及信息記錄區(qū)，用以記錄信息；所述裝置包括用光束照射記錄道，以記錄和/或再現(xiàn)信號的光學(xué)讀寫頭；用以選擇第一記錄道和第二記錄道之一的記錄道標(biāo)識裝置；用以將光學(xué)讀寫頭的光束聚焦于記錄道上的聚焦裝置；用以跟蹤第一記錄道或第二記錄道的跟蹤裝置；用以搜索目標(biāo)記錄道的記錄道搜索裝置；用以讀取記錄道上地址信號的地址再現(xiàn)裝置；讀/寫門發(fā)生裝置，用以根據(jù)記錄道標(biāo)識裝置和地址再現(xiàn)裝置的輸出，選擇第一記錄道和第二記錄道之一，并用以啟動在目標(biāo)記錄道上記錄或再現(xiàn)信息的工作；數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)裝置，用以根據(jù)讀/寫門發(fā)生裝置的輸出在目標(biāo)扇區(qū)上記錄和/或再現(xiàn)數(shù)據(jù)；記錄檢驗和替換裝置，用以檢驗由數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)裝置所記錄的數(shù)據(jù)，并用備用區(qū)替換所驗出的有缺陷的扇區(qū)；缺陷目錄存儲裝置，用以按缺陷目錄存儲有缺陷的扇區(qū)地址，以及作為記錄檢驗和替換裝置的替換操作結(jié)果的替換地址；以及光信息記錄/再現(xiàn)裝置的控制裝置，用以向所述各裝置輸出控制指令，監(jiān)測各裝置的狀態(tài)，并用以控制在光盤上的記錄、再現(xiàn)和檢驗信息。
根據(jù)本發(fā)明的一種信息記錄/再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，所述光盤包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道，其中，當(dāng)按所述光盤每一圈交替切換所述第一記錄道和第二記錄道時，按所述第一記錄道(或第二記錄道)、第二記錄道(或第一記錄道)、第一記錄道(或第二記錄道)的依次順序記錄和/或再現(xiàn)信息。
根據(jù)本發(fā)明的一種信息記錄/再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，所述光盤包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道，其中，在記錄和/或再現(xiàn)信息的同時，按所述第一記錄道和第二記錄道的尋址順序進(jìn)行尋址；其中，所述第一記錄道或第二記錄道的結(jié)束地址連接至所述第二記錄道或第一記錄道的初始地址。
根據(jù)本發(fā)明的一種信息記錄/再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，所述光盤包括由凹槽錄入和/或再現(xiàn)信息的第一記錄道，以及由夾于所述第一記錄道的槽脊錄入和/或再現(xiàn)信息的第二記錄道；所述第一記錄道和第二記錄道在同一記錄面上形成，其中，在所述第一記錄道和第二記錄道之一形成一個缺陷目錄區(qū)，該缺陷目錄區(qū)記錄了包括有缺陷扇區(qū)的缺陷扇區(qū)地址和替換扇區(qū)地址的缺陷目錄，且當(dāng)在所述第一記錄道或第二記錄道內(nèi)檢測到一個有缺陷的扇區(qū)時，完成缺陷-替換過程，同時將所述的缺陷目錄附加記錄到所述缺陷目錄區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明的一種信息記錄/再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，并同時在所述光盤上完成缺陷-替換過程，所述光盤包括由凹槽錄入和/或再現(xiàn)信息的第一記錄道，以及由夾于所述第一記錄道的槽脊錄入和/或再現(xiàn)信息的第二記錄道；所述第一記錄道和第二記錄道在同一記錄面上形成，其中，在所述第一記錄道和第二記錄道之一形成一個缺陷目錄區(qū)，該缺陷目錄區(qū)記錄了含有所述第一記錄道或第二記錄道的有缺陷扇區(qū)的缺陷扇區(qū)地址和替換扇區(qū)地址的缺陷目錄，所述缺陷在第一記錄道或第二記錄道檢測和替換；在所述第一記錄道和第二記錄道內(nèi)形成被用作替換扇區(qū)的備用區(qū)；以及在各個備用區(qū)內(nèi)替換所述第一記錄道或第二記錄道的缺陷扇區(qū)，并將所述缺陷目錄錄入所述缺陷目錄區(qū)，由此完成缺陷替換過程。
根據(jù)本發(fā)明的一種信息記錄/再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，所述光盤包括由凹槽錄入和/或再現(xiàn)信息的第一記錄道，以及由夾于所述第一記錄道的槽脊錄入和/或再現(xiàn)信息的第二記錄道；所述第一記錄道和第二記錄道在同一記錄面上形成，其中，在所述第一記錄道和第二記錄道內(nèi)分別形成第一、第二缺陷目錄區(qū)，以及第一、第二備用區(qū)；在每個所述第一、第二缺陷目錄區(qū)內(nèi)記錄一個缺陷目錄，該缺陷目錄含有所述第一記錄道或第二記錄道的有缺陷扇區(qū)的缺陷扇區(qū)地址，以及替換扇區(qū)地址，所述缺陷在第一記錄道或第二記錄道檢測和替換；將所述第一和第二備用區(qū)用作替換扇區(qū)；通過所述第一缺陷目錄區(qū)和所述第一備用區(qū)替換處理所述第一記錄道的有缺陷扇區(qū)；以及通過所述第二缺陷目錄區(qū)和所述第二備用區(qū)替換處理所述第二記錄道的有缺陷扇區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明的一種信息再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤再現(xiàn)信息，所述光盤包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道，其中，當(dāng)訪問所述第一記錄道時，從所述第一記錄道的第一缺陷目錄區(qū)讀取一個缺陷目錄，并根據(jù)所述缺陷目錄的內(nèi)容，通過再現(xiàn)所述第一記錄道的第一備用區(qū)的替換扇區(qū)再現(xiàn)有缺陷的扇區(qū)；以及當(dāng)訪問所述第二記錄道時，從所述第二記錄道的第二缺陷目錄區(qū)讀取一個缺陷目錄，并根據(jù)所述缺陷目錄的內(nèi)容，通過再現(xiàn)所述第二記錄道的第二備用區(qū)的替換扇區(qū)再現(xiàn)有缺陷的扇區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明的一種信息再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤再現(xiàn)信息，所述光盤包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道，其中，當(dāng)訪問所述第一記錄道時，從所述第一記錄道的缺陷目錄區(qū)讀取一個缺陷目錄，并根據(jù)所述缺陷目錄的內(nèi)容，通過再現(xiàn)所述第一記錄道的第一備用區(qū)的替換扇區(qū)再現(xiàn)有缺陷的扇區(qū)，以及當(dāng)訪問所述第二記錄道時，從所述第一記錄道的所述缺陷目錄區(qū)讀取一個缺陷目錄，并根據(jù)所述缺陷目錄的肉容，通過再現(xiàn)所述第二記錄道的第二備用區(qū)的替換扇區(qū)再現(xiàn)有缺陷的扇區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明的一種信息再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，所述光盤包括由凹槽錄入和/或再現(xiàn)信息的第一記錄道，以及由夾于所述第一記錄道的槽脊錄入和/或再現(xiàn)信息的第二記錄道；所述第一記錄道和第二記錄道在同一記錄面上形成，其中，在初始化所述光盤的過程中在所述第一記錄道和第二記錄道之一內(nèi)形成一個缺陷目錄區(qū)，該缺陷目錄區(qū)記錄了內(nèi)含有缺陷的扇區(qū)的缺陷扇區(qū)地址和替換扇區(qū)地址的一個缺陷目錄，所述缺陷在信息記錄/再現(xiàn)過程中檢測并被替換；在所述第一記錄道和第二記錄道內(nèi)確保獲得備用區(qū)；將所述缺陷目錄區(qū)和所述備用區(qū)的地址信息以及缺陷處理方式識別信息記錄在一個光盤管理區(qū)內(nèi)；所述缺陷處理方式識別信息表示根據(jù)所述的缺陷目錄區(qū)，所述第一記錄道和第二記錄道的缺陷扇區(qū)將被集中進(jìn)行缺陷處理。
根據(jù)本發(fā)明的一種信息再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，所述光盤包括由凹槽錄入和/或再現(xiàn)信息的第一記錄道，以及由夾于所述第一記錄道的槽脊錄入和/或再現(xiàn)信息的第二記錄道；所述第一記錄道和第二記錄道在同一記錄面上形成，其中，
在初始化所述光盤的過程中在所述第一記錄道和第二記錄道內(nèi)分別形成第一和第二缺陷目錄區(qū)，該每個缺陷目錄區(qū)記錄了內(nèi)含有缺陷的扇區(qū)的缺陷扇區(qū)地址和替換扇區(qū)地址的缺陷目錄，所述缺陷在信息記錄/再現(xiàn)過程中檢測并被替換；確保獲得第一和第二備用區(qū)，它們分別用以替換所述第一記錄道和第二記錄道的有缺陷的扇區(qū)的扇區(qū)；將所述缺陷目錄區(qū)和備用區(qū)的地址信息以及缺陷處理方式識別信息記錄在光盤管理區(qū)內(nèi)；所述缺陷處理方式識別信息表示根據(jù)所述第一缺陷目錄區(qū)和所述第一備用區(qū)，處理所述第一記錄道的有缺陷扇區(qū)；根據(jù)所述第二缺陷目錄區(qū)和所述第二備用區(qū)，處理所述第二記錄道的有缺陷扇區(qū)；所述缺陷處理方式識別信息還表示該缺陷處理方式。
根據(jù)本發(fā)明的一種信息再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，所述光盤包括由凹槽錄入和/或再現(xiàn)信息的第一記錄道，以及由夾于所述第一記錄道的槽脊錄入和/或再現(xiàn)信息的第二記錄道；所述第一記錄道和第二記錄道在同一記錄面上形成，其中，在初始化所述光盤的過程中將容量識別信息記錄在所述第一記錄道和第二記錄道的光盤管理區(qū)內(nèi)，所述容量識別信息表示由所述第一記錄道和第二記錄道記錄和再現(xiàn)數(shù)據(jù)的容量結(jié)構(gòu)。
根據(jù)本發(fā)明的一種光盤，包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道，其中由所述第一記錄道和第二記錄道錄入或再現(xiàn)信息，其中，每個所述第一記錄道和第二記錄道均包括信息記錄區(qū)和光盤管理區(qū)；所述光盤管理區(qū)包括一容量管理區(qū)，共中的信息表示由所述第一記錄道和第二記錄道錄入和/或再現(xiàn)信息的容量結(jié)構(gòu)。
根據(jù)本發(fā)明的一種信息記錄/再現(xiàn)裝置，包括用以由光盤記錄和/或再現(xiàn)信號的光學(xué)讀寫頭，所述光盤包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道；用于所述第一記錄道和第二記錄道的記錄道標(biāo)識裝置；用以將光束聚焦于記錄道上的聚焦裝置；用以跟蹤所述第一記錄道和第二記錄道的跟蹤裝置；用以搜索目標(biāo)記錄道的記錄道搜索裝置；用以讀取記錄道的地址信號的地址再現(xiàn)裝置；用以啟動在目標(biāo)扇區(qū)上記錄和/或再現(xiàn)信息的讀/寫門發(fā)生裝置；
用以記錄和/或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)裝置；用以檢驗所記錄的數(shù)據(jù)，并用以在備用區(qū)內(nèi)替換所驗出的有缺陷的扇區(qū)的記錄檢驗和替換裝置；用以存儲缺陷替換地址的缺陷目錄存儲裝置；以及用以控制記錄、再現(xiàn)和檢驗操作的信息記錄/再現(xiàn)裝置的控制裝置。
根據(jù)本發(fā)明的上述構(gòu)造，光學(xué)讀寫頭用以記錄和/或再現(xiàn)光盤上的信號，該光盤包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道；記錄道標(biāo)識裝置標(biāo)識第一記錄道和第二記錄道其中之一；聚焦裝置將光束聚焦于記錄道上；跟蹤裝置實現(xiàn)對第一記錄道和第二記錄道的跟蹤；記錄道搜索裝置搜索目標(biāo)記錄道；地址再現(xiàn)裝置讀取記錄道的地址信號；讀/寫門發(fā)生裝置驅(qū)動在目標(biāo)扇區(qū)上信息的記錄和/或再現(xiàn)；數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)裝置記錄和/或再現(xiàn)數(shù)據(jù)。記錄檢驗和替換裝置檢驗所記錄的數(shù)據(jù)，并將所驗出的有缺陷的扇區(qū)替換到一個備用區(qū)；缺陷目錄存儲裝置存儲缺陷替換地址；且光信息記錄/再現(xiàn)裝置的控制裝置控制所述記錄、再現(xiàn)和檢驗操作。這樣，數(shù)據(jù)記錄、再現(xiàn)、檢驗以及缺陷替換過程，都可以在光盤上完成，該光盤包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道，與現(xiàn)有技術(shù)比較，其記錄容量可由此而加倍。


圖1表示本發(fā)明第一個實施例的一個光盤的扇區(qū)格式；圖2表示本發(fā)明第二個實施例的一個光盤的扇區(qū)格式；圖3表示本發(fā)明第三個實施例的一個光盤的扇區(qū)格式；圖4表示本發(fā)明第四個實施例的ID信號的格式以及光盤的構(gòu)造；圖5是應(yīng)用于本發(fā)明光盤的一個信息記錄/再現(xiàn)裝置實施例的方框圖；圖6是圖5所示實施例中一個聚焦跟蹤控制電路實施例的方框圖；圖7是圖5所示實施例中一個扇區(qū)ID再現(xiàn)電路實施例的方框圖；圖8是圖5所示實施例中另一個扇區(qū)ID再現(xiàn)電路實施例的方框圖；圖9是圖5所示實施例中一個扇區(qū)記錄/再現(xiàn)控制電路實施例的方框圖；圖10表示在現(xiàn)有技術(shù)的光盤上所進(jìn)行的信息記錄；圖11是表示應(yīng)用于本發(fā)明光盤的一個信息記錄/再現(xiàn)裝置實施例的一部分構(gòu)造的方框圖；圖12是表示應(yīng)用于本發(fā)明光盤的一個信息記錄/再現(xiàn)裝置實施例的其余部分構(gòu)造的方框圖；圖13表示本發(fā)明一個實施例的光盤外形，其中，第一記錄道在凹槽內(nèi)記錄信息，第二記錄道在槽脊上記錄信息；
圖14表不在本發(fā)明第一個實施例的光盤內(nèi)的備用區(qū)；圖15表示在本發(fā)明第二個實施例的光盤內(nèi)的備用區(qū)；圖16表示在本發(fā)明第三個實施列的光盤內(nèi)的備用區(qū)；圖17表示存儲于光盤識別區(qū)135和136的管理信息實施例；圖18表示光盤上第一記錄道和第二記錄道的記錄道(訪問)；圖19表示光盤上第一記錄道和第二記錄道的另一種記錄道通路；圖20表示記錄有第一記錄道或第二記錄道扇區(qū)地址信息的一例扇區(qū)ID。
具體實施例方式
以下將參照附圖描述本發(fā)明各個實施例的光信息記錄/再現(xiàn)裝置。
圖1表示本發(fā)明第一個實施例的一個槽脊/凹槽記錄光盤的扇區(qū)格式。圖1(a)表示一個凹槽記錄道的扇區(qū)格式，該記錄道作為第一記錄道。扇區(qū)13由扇區(qū)ID字段ID1、數(shù)據(jù)字段DF、間隙G1以及緩沖字段B1組成。其中，在扇區(qū)ID字段ID1中，記錄用于扇區(qū)并利用第一種調(diào)制方式調(diào)制的地址信號A1和A2；在數(shù)據(jù)字段DF中，利用第二種調(diào)制方式記錄數(shù)據(jù)；在間隙G1中沒有記錄信號；而緩沖字段B1則用以緩沖光盤的旋轉(zhuǎn)變化以及各個時間周期。數(shù)據(jù)字段DF包括用以同步時鐘信號的同步時鐘字段VFO14，指示數(shù)據(jù)開始的數(shù)據(jù)標(biāo)識符SYN15，以及用戶數(shù)據(jù)和糾錯碼16。
圖1(b)表示作為第二記錄道的一個槽脊記錄道的扇區(qū)格式。扇區(qū)17由扇區(qū)ID字段ID2、數(shù)據(jù)字段DF、間隙G2以及緩沖字段B2組成。其中，在扇區(qū)ID字段ID2中，用第二種調(diào)制方式記錄用于扇區(qū)的地址信號a1、a2和a3；在數(shù)據(jù)字段DF中，用第二種調(diào)制方式記錄數(shù)據(jù)。
數(shù)據(jù)字段DF具有與圖1(a)的數(shù)據(jù)字段相同的結(jié)構(gòu)。例如，將一種數(shù)字調(diào)制方式PE(相位編碼)調(diào)制用作第一調(diào)制方式；又如，將另一種數(shù)字調(diào)制方式(2-7)RLL(游程長度受限)調(diào)制用作第二種調(diào)制方式。由于這兩種調(diào)制方式的DR(密度比)為1∶3，而且RU信號的再現(xiàn)需要PLL(銷相環(huán))電路，地址信號兩次寫入ID1，三次寫入ID2，故扇區(qū)13和17具有相同的長度。
扇區(qū)13和17的ID1和ID2沿光盤的徑向設(shè)置，在兩ID字段之間產(chǎn)生約-15dB的串?dāng)_。由于ID1和ID2的調(diào)制方式相互不同，故ID1與ID2信號再現(xiàn)電路以不同的調(diào)制方式工作，然而，各個ID信號均可正常地再現(xiàn)，不受串?dāng)_的影響。
圖1中，只有凹槽記錄道和槽脊記錄道的ID字段是以不同調(diào)制方式為條件的。另一方面，ID字段和數(shù)據(jù)字段也可以以不同調(diào)制方式的記錄為條件。當(dāng)位于ID字段與數(shù)據(jù)字段之間的至少ID字段以不同調(diào)制方式的記錄為條件時，可以獲得同樣的效果。
圖2表示一個槽脊/凹槽記錄光盤的扇區(qū)格式，它是本發(fā)明的第二個實施例。
圖2中與圖1中相同的參照號表示具有相同功能的方塊。圖2中，ID3和ID4表示扇區(qū)識別字段，其中記錄了地址信息。
圖2(a)所示一種凹槽記錄道的扇區(qū)格式與圖2(b)所示一種槽脊記錄道的扇區(qū)格式是相同的。在扇區(qū)識別字段ID3和ID4中，記錄了由相同調(diào)制方式調(diào)制的信號，但極性相反。尤其是，在ID3中，如圖2(a′)所示，已調(diào)制信號的信道位“1”記錄在槽脊層上，“0”記錄在凹槽層上。在ID4中，如圖2(b′)所示，信道位“1”記錄在凹槽層上，“0”記錄在槽脊層上。
扇區(qū)13和17的ID3和ID4沿光盤的徑向設(shè)置，在兩個ID字段之間約有-15dB的串?dāng)_。然而，由于槽脊和凹槽內(nèi)的ID信號極性相反，ID信號再現(xiàn)電路只能讀取相對各個記錄道已經(jīng)過一個信號反轉(zhuǎn)過程的ID信號，從而可正常地再現(xiàn)各個ID信號，而不會受到串?dāng)_的影響。
圖3表示本發(fā)明第三個實施例的一個槽脊/凹槽記錄光盤的扇區(qū)格式。圖3(a)表示一個凹槽記錄道的扇區(qū)格式。記錄道18分為多個扇區(qū)19。圖3(b)表示一個槽脊記錄道的扇區(qū)格式。記錄道20分為多個扇區(qū)21。圖3(c)表示扇區(qū)19和21的扇區(qū)ID字段ID的格式。每個扇區(qū)ID字段都包含用于時鐘同步的VFO2、用以指示地址信息開頭的地址符AM、記錄道地址TA、扇區(qū)地址SA、槽脊/凹槽識別信號22、錯誤檢測信號CRC以及后同步碼PA。圖3中，凹槽記錄道18的初始扇區(qū)19在位置上與槽脊記錄道20的初始扇區(qū)21相移一個距離G3，這樣，兩扇區(qū)的ID就不會在記錄道方向上相互重疊。每個扇區(qū)的槽脊/凹槽識別信號22分別指出相應(yīng)的ID是屬于凹槽記錄道18還是槽脊記錄道20。例如，當(dāng)ID屬于凹槽記錄道18時，記為“0”；當(dāng)ID屬于槽脊記錄道20時，記為“1”。
由于記錄道18和20的ID沿光盤的徑向設(shè)置，且兩者在位置上相移G3，故它們不會相互受到串?dāng)_的影響。即使當(dāng)串?dāng)_發(fā)生時，通過校驗ID信號再現(xiàn)電路中的槽脊/凹槽識別信號，允許正常地再現(xiàn)正由光束跟蹤的記錄道的ID信號。由于兩種ID信號在記錄道方向上偏移一個距離，故同時可以產(chǎn)生能方便地形成ID字段內(nèi)凹點的效果。
圖4是表示本發(fā)明第四實施例槽脊/凹槽記錄光盤其信號排列的圖。
圖4中，(a)表示本實施例中所用的各扇區(qū)地址信號的組成。該組成與圖3(c)所示的相同。圖4(b)示出分別位于凹槽記錄道23與槽脊記錄道24的ID信號開始位置的VFO2字段其記錄位置的關(guān)系。凹槽記錄道23地址信號的通道位“1”的記錄點25形成為與槽脊28水平位置相對應(yīng)，而“0”的則形成為與凹槽29水平位置相對應(yīng)。槽脊記錄道24地址信號的記錄點26則按如下方式形成，通道位“1”與凹槽29水平位置相對應(yīng)，而“0”則與槽脊28水平位置相對應(yīng)。而且在第一以及第三實施例中，記錄點25和26與可以以上述描述類似方式形成。在本實施例中，記錄點25和26記錄成偏移地址信號最大頻率周期T的二分之一，或是形成一格子圖案。
由于記錄道23和24的地址信號的記錄點沿光盤徑向排列時位置偏移了T/2，因此串?dāng)_影響可以大大地抑制。即使因串?dāng)_而錯誤地再現(xiàn)地址信號時，還是可以通過較驗槽脊/凹槽識別信號22，正常地再現(xiàn)當(dāng)前光束所跟蹤的記錄道的ID信號。
在上述第一至第四實施例中，地址信號可以由以下各組之一組成記錄道地址TA以及扇區(qū)地址SA；記錄道標(biāo)識信號22、地址信息AM、以及誤碼檢測信號CRC；記錄道地址TA、扇區(qū)地址SA、記錄道識別信號22、地址信息AM、以及誤碼檢測信號CRC。
第一至第四實施例所敘述的光盤通常做成，使凹槽記錄道的深度設(shè)定為λ/(8n)，其中λ為激光束波長，n為光盤基片的折射率。
圖5是表示用以使信息記錄到本發(fā)明光盤和/或由本發(fā)明光盤(再現(xiàn))信息的信息記錄/再現(xiàn)裝置一實施例的構(gòu)成圖。在此之后的敘述都是針對以下情況進(jìn)行的，即分別將記錄道指定裝置設(shè)為CPU47，記錄道搜索裝置設(shè)為線性電動機(jī)34，信號再現(xiàn)裝置設(shè)為讀寫頭放大器36，地址再現(xiàn)裝置設(shè)為扇區(qū)ID再現(xiàn)電路40，數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)控制裝置設(shè)為扇區(qū)記錄/再現(xiàn)控制電路41，以及信息記錄/再現(xiàn)裝置設(shè)為數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路42。
圖5中，30標(biāo)出一將與電動機(jī)31相疊在一起旋轉(zhuǎn)的光盤。32標(biāo)出該光盤30的記錄平面。33標(biāo)出使激光聚焦于記錄平面32上的光學(xué)讀寫頭。34標(biāo)出作為記錄道搜索裝置，使光學(xué)讀寫頭33移動搜尋目標(biāo)記錄道的線性電動機(jī)(LM)。標(biāo)號35標(biāo)出一聚焦跟蹤控制電路，它包括以下組成對光學(xué)讀寫頭33的光束進(jìn)行聚焦控制的聚焦裝置；進(jìn)行跟蹤控制以及記錄道重新跟蹤的跟蹤裝置。標(biāo)號36標(biāo)出起到信號再現(xiàn)裝置作用的讀取頭放大器，它對光學(xué)讀寫頭33檢測信號a中的記錄道誤差信號n以及再現(xiàn)出的信號c放大并輸出。標(biāo)號37標(biāo)出一對再現(xiàn)信號c進(jìn)行二進(jìn)制編碼的二進(jìn)制編碼電路。38標(biāo)出一驅(qū)動光學(xué)讀寫頭33的半導(dǎo)體激光器的激光器驅(qū)動電路。39標(biāo)出一線性電動機(jī)控制電路，該電路控制線性電動機(jī)34以便光學(xué)讀寫頭33找到目標(biāo)記錄道。標(biāo)號40標(biāo)出用作地址再現(xiàn)裝置的扇區(qū)ID再現(xiàn)電路，該電路由二進(jìn)制編碼電路37的輸出d輸出具有扇區(qū)ID的記錄道的扇區(qū)地址e以及槽脊/凹槽識別信號q。標(biāo)號41標(biāo)出用作數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)控制裝置的扇區(qū)記錄/再現(xiàn)控制電路，該電路將記錄道扇區(qū)地址e與將要記錄或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的那個CPU數(shù)據(jù)總線f的目標(biāo)扇區(qū)地址作比較，校驗它們是否相符，并對該扇區(qū)產(chǎn)生一寫入門信號g和一讀出門信號h。標(biāo)號42標(biāo)出用作信息記錄/再現(xiàn)裝置的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路，該電路由(2-7)RLLC(行程長度受限碼)等對編碼的數(shù)據(jù)i進(jìn)行數(shù)字調(diào)制，輸出一調(diào)制信號j，以及對二進(jìn)制編碼的再現(xiàn)信號d解調(diào)而輸出解調(diào)的數(shù)據(jù)k。標(biāo)號43標(biāo)出一誤碼校正電路，它產(chǎn)生編碼的數(shù)據(jù)i，其中將會記錄加到此數(shù)據(jù)中的校正碼，它檢測調(diào)制數(shù)據(jù)k中的誤碼并校正該數(shù)據(jù)。44標(biāo)出一暫時存儲數(shù)據(jù)的存儲器。45標(biāo)出一計算機(jī)主機(jī)。46標(biāo)出一計算機(jī)主機(jī)45通過SCSI(小型計算機(jī)系統(tǒng)接口)總線X與之相連的接口IF。47標(biāo)出用作記錄道指定裝置的微機(jī)的CPU，它控制整個信息記錄/再現(xiàn)裝置。圖5中，m標(biāo)出一由CPU47輸出提供給聚焦跟蹤控制電路35以及扇區(qū)ID再現(xiàn)電路40的槽脊/凹槽選擇信號，它選擇槽脊記錄道的記錄/再現(xiàn)與凹槽記錄道的記錄/再現(xiàn)其中之一。
圖6是表示圖5聚焦跟蹤控制電路35的跟蹤控制單元的構(gòu)成圖。圖中，48標(biāo)出跟蹤誤差信號n的倒相電路。49標(biāo)出一多路復(fù)用器MPX，它根據(jù)槽脊/凹槽選擇信號m選擇跟蹤誤差信號n或該誤差信號的倒相信號n′。50標(biāo)出一跟蹤伺服電路。p標(biāo)出一用于驅(qū)動光學(xué)讀寫頭33的循跡致動器的致動器驅(qū)動信號。切換槽脊/凹槽選擇信號并使跟蹤誤差信號n倒相，以便跟蹤在槽脊記錄道或凹槽記錄道上進(jìn)行。
圖7是表示當(dāng)圖1第一實施例的光盤中槽脊記錄道的扇區(qū)ID字段的信號調(diào)制方法與凹槽記錄道的有所不同時所用到的扇區(qū)ID再生電路40的構(gòu)成圖。圖中，51A標(biāo)出一再現(xiàn)凹槽記錄道扇區(qū)ID的地址再現(xiàn)電路A。51B標(biāo)出一再現(xiàn)槽脊記錄道扇區(qū)ID的地址再現(xiàn)電路B。52標(biāo)出一多路復(fù)用器MPX，它根據(jù)槽脊/凹槽選擇信號m選擇地址再現(xiàn)電路51A與51B的再現(xiàn)地址輸出e1與e2其中之一。
圖8是表示當(dāng)圖2第二實施例的光盤中槽脊以及凹槽記錄道的扇區(qū)ID字段的調(diào)制信號互為極性相反時所用到的扇區(qū)ID再現(xiàn)電路40的構(gòu)成圖。圖中，53標(biāo)出一使二進(jìn)制編碼的再現(xiàn)信號d倒相的倒相電路。54標(biāo)出一多路復(fù)用器MPX，它根據(jù)槽脊/凹槽選擇信號m選擇二進(jìn)制編碼的再現(xiàn)信號d或該再現(xiàn)信號的倒相信號d′。55標(biāo)出一地址再現(xiàn)電路。q標(biāo)出槽脊/凹槽識別信號。
圖8電路中，當(dāng)圖3實施例的光盤要再現(xiàn)互相位置不重疊設(shè)置并且以相同的調(diào)制方法記錄的凹槽記錄道18以及槽脊記錄道20的ID時，槽脊/凹槽選擇信號m設(shè)為，多路復(fù)用器54應(yīng)選擇二進(jìn)制編碼的再現(xiàn)信號d，從而通過利用槽脊/凹槽識別信號q，并使此電路與下面將述及的圖9電路相組合，來識別槽脊記錄道或凹槽記錄道。
圖9是詳示用于圖3以及圖4所示光盤的扇區(qū)記錄/再現(xiàn)控制電路41的構(gòu)成圖。圖中，56標(biāo)出一響應(yīng)選通信號s1鎖存CPU數(shù)據(jù)總線f的目標(biāo)地址的寄存器。57標(biāo)出一對寄存器56的輸出與再現(xiàn)地址e作比較的比較電路A。58標(biāo)出一比較電路B，它對槽脊/凹槽識別信號q與槽脊/凹槽選擇信號m作比較，在比較電路A57輸出符合信號的狀態(tài)下上述兩信號互相符合時再輸出符合信號。59標(biāo)出一讀出/寫入門信號發(fā)生器，它在比較電路B58有輸出時，將原先響應(yīng)選通信號s2從CPU數(shù)據(jù)總線f鎖存進(jìn)寄存器60的讀出或?qū)懭朊钶敵鲎鳛閿?shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路42的寫入門信號g或讀出門信號h。
以下將敘述如上構(gòu)成在雙面光盤記錄和/或再現(xiàn)信息的記錄/再現(xiàn)裝置的操作。
在此之后將敘述數(shù)據(jù)記錄操作。
計算機(jī)主機(jī)45向SCSI總線x輸出寫入命令。CPU47通過IF46接收此命令，對它譯碼。CPU47根據(jù)目標(biāo)記錄道是槽脊記錄道還是凹槽記錄道，輸出槽脊/凹槽選擇信號m，以便光學(xué)讀寫頭33對給定的記錄道進(jìn)行聚焦跟蹤。如圖6所示，聚焦跟蹤控制電路35根據(jù)槽脊/凹槽選擇信號m使光學(xué)讀寫頭33所提供的跟蹤誤差信號n倒相或同相，向光學(xué)讀取頭33的跟蹤致動器線圈提供致動器驅(qū)動信號p。聚焦跟蹤控制電路然后向線性電動機(jī)驅(qū)動電路39提供尋找目標(biāo)記錄道的命令來驅(qū)動線性電動機(jī)34，從而使光學(xué)讀寫頭33向目標(biāo)記錄道移行。
計算機(jī)主機(jī)45提供的將要記錄的數(shù)據(jù)存儲進(jìn)存儲器44。誤碼校正電路43輸出編碼數(shù)據(jù)i，其中將會記錄加到此數(shù)據(jù)的誤碼校正碼。
CPU47將記錄扇區(qū)地址以及記錄命令送入扇區(qū)記錄/再現(xiàn)控制電路41，它接下來將記錄扇區(qū)地址與ID再現(xiàn)電路40的地址輸出e作比較。當(dāng)?shù)刂贩隙鴻z測出給定扇區(qū)時，寫入門信號g便送至數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路42。該寫入門信號g啟動數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路42，以便由(2-7)RLL來調(diào)制編碼數(shù)據(jù)i，調(diào)制出的信號j則送給激光器驅(qū)動電路38。
光學(xué)讀寫頭33將調(diào)制信號j記錄到記錄平面32的扇區(qū)內(nèi)。上述數(shù)據(jù)記錄操作可以在給定數(shù)量的扇區(qū)內(nèi)重復(fù)。
此后將敘述數(shù)據(jù)讀出操作。
計算機(jī)主機(jī)45向SCSI總線x輸出讀出命令。CPU47通過IF46接收命令，將它譯碼。CPU47根據(jù)目標(biāo)記錄道是槽脊記錄道還是凹槽記錄道，輸出槽脊/凹槽選擇信號m，以便光學(xué)讀寫頭33對給定記錄道進(jìn)行聚焦跟蹤。如圖6所示，聚焦跟蹤控制電路35根據(jù)槽脊/凹槽選擇信號m，使光學(xué)讀寫頭33所提供的跟蹤誤差信號n倒相或同相，將致動器驅(qū)動信號p送至光學(xué)讀寫頭33的跟蹤致動器線圈。聚焦跟蹤控制電路隨后將尋找目標(biāo)記錄道的命令送至線性電動機(jī)驅(qū)動電路39來驅(qū)動線性電動機(jī)34，從而使光學(xué)讀寫頭33向目標(biāo)記錄道移行。
CPU47將讀出扇區(qū)地址以及讀出命令送入扇區(qū)記錄/再現(xiàn)控制電路，它接下來將讀出扇區(qū)地址與ID再現(xiàn)電路40的地址輸出e作比較。當(dāng)?shù)刂贩?，扇區(qū)記錄/再現(xiàn)控制電路41檢測出給定扇區(qū)時，讀出門信號h便送至數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路42。
數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路42響應(yīng)讀出門信號h而被啟動，對光學(xué)讀寫頭33所檢測出的檢測信號d解調(diào)，以獲得再現(xiàn)數(shù)據(jù)k。再現(xiàn)數(shù)據(jù)k隨后存儲在存儲器44中。
存儲器44中存儲的再現(xiàn)數(shù)據(jù)有待于誤碼校正電路43的誤碼檢測和校正，然后再一次存儲到該存儲器44中。經(jīng)過誤碼校正的再現(xiàn)數(shù)據(jù)通過接口46送至計算機(jī)主機(jī)45。上述數(shù)據(jù)讀出操作可以在給定數(shù)量的扇區(qū)內(nèi)重復(fù)。
ID再現(xiàn)電路40以及扇區(qū)記錄/再現(xiàn)控制電路41的操作將一邊拿它們與這些電路所適用的本發(fā)明光盤的實施例作比較一邊詳細(xì)敘述。
適用于第一實施例光盤(圖1)的ID再現(xiàn)電路40具有圖7所示的構(gòu)成。圖1光盤中，槽脊記錄道與凹槽記錄道的ID字段是以不同的調(diào)制方法調(diào)制和記錄的。因而，圖7中第一以及第二地址再現(xiàn)電路51A以及51B是同時對二進(jìn)制編碼的再現(xiàn)數(shù)據(jù)d進(jìn)行再現(xiàn)操作的。當(dāng)二進(jìn)制編碼再現(xiàn)信號d的調(diào)制方法與第一以及第二地址再現(xiàn)電路51A以及51B的調(diào)制方法相符，即輸出再現(xiàn)地址信號e1以及e2。多路復(fù)用器52選擇對應(yīng)于槽脊/凹槽選擇信號m的某一地址信號e1或e2，然后將它作為再現(xiàn)地址信號e輸出。
適用于第二實施例光盤(圖2)的ID再現(xiàn)電路40具有圖8所示的構(gòu)成，而扇區(qū)記錄/再現(xiàn)電路41具有圖9所示的構(gòu)成。
在圖2的光盤中，槽脊記錄道以及凹槽記錄道的ID字段的地址信號是以互相極性相反的方式記錄的。圖8中，多路復(fù)用器54根據(jù)槽脊/凹槽選擇信號m，選擇二進(jìn)制編碼的再現(xiàn)信號d或者經(jīng)倒相電路53倒相過的二進(jìn)制編碼的再現(xiàn)信號d′。該選擇信號由地址再現(xiàn)電路55解調(diào)，進(jìn)而向圖9的扇區(qū)記錄/再現(xiàn)控制裝置41輸出再現(xiàn)地址信號e以及槽脊/凹槽識別信號q。
圖9中，CPU數(shù)據(jù)總線f的目標(biāo)地址響應(yīng)于先通信號s1鎖存進(jìn)寄存器56，并在比較電路57中與再現(xiàn)地址信號e作比較。槽脊/凹槽識別信號q與槽脊/凹槽選擇信號m相比較。CPU數(shù)據(jù)總線f的寫入命令或讀出命令響應(yīng)選通信號s2被鎖存進(jìn)寄存器60，還同比較電路58的輸出進(jìn)行“與”操作，輸出寫入門信號g或讀出門信號h。寫入門信號g或讀出門信號h送至數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路42，就啟動數(shù)據(jù)調(diào)制或數(shù)據(jù)解調(diào)。
適用于第三實施例光盤(圖3)的ID再現(xiàn)電路40具有圖8所示的構(gòu)成，而扇區(qū)記錄/再現(xiàn)電路41具有圖9所示的構(gòu)成。
在圖3光盤中，槽脊記錄道和凹槽記錄道的ID字段的地址信號是以避免ID字段在記錄道方向上互相重疊的方式記錄的。地址的再現(xiàn)、以及寫入門信號或讀出門信號的發(fā)生，除了圖8中多路復(fù)用器54總選擇二進(jìn)制編碼的再現(xiàn)信號d之外，其它均以用于第二實施例光盤的相同方式進(jìn)行。
適用于第四實施例光盤(圖4)的ID再現(xiàn)電路40具有圖8所示的構(gòu)成，而扇區(qū)記錄/再現(xiàn)電路41具有圖9所示的構(gòu)成。
在圖4光盤中，槽脊記錄道和凹槽記錄道的ID字段的地址信號是使記錄點沿記錄道方向偏移T/2或形成格子圖案，以這種方式記錄的。地址的再現(xiàn)、以及寫入門信號或讀出門信號的發(fā)生，除了圖8中多路復(fù)用器54總選擇二進(jìn)制編碼的再現(xiàn)信號d之外，其它均以用于第二實施例光盤的相同方式進(jìn)行。
按照上述構(gòu)成，在使槽脊/凹槽記錄的光盤的記錄密度提高到高出現(xiàn)有技術(shù)水平的同時，通過使調(diào)制方法和/或信號極性互相不同，或者改變ID位置或記錄點相位，因而與已有技術(shù)相比，互相鄰接的槽脊與凹槽記錄道間的交擾減少了，可以以一較低的誤碼水平讀出數(shù)據(jù)或ID信號，而不致于受到交擾影響。
為了達(dá)到本發(fā)明目的，還可以組合上述第一至第四實施例的光盤來實行。
此后將參照

第二發(fā)明的實施例。
圖11和12是表示適用于本發(fā)明光盤的信息記錄/再現(xiàn)裝置一實施例構(gòu)成的方框圖。圖11和12中，101表示-附加于電動機(jī)102的光盤。102表示旋轉(zhuǎn)光盤101的電動機(jī)。103表示光盤101的記錄平面。104表示一將激光束聚焦于記錄平面103的光學(xué)讀寫頭。105表示一使光學(xué)讀寫頭104移行搜索目標(biāo)記錄道的線性電動機(jī)(LM)。106表示一聚焦跟蹤控制電路，它完成對光束的聚焦/跟蹤控制和對光學(xué)讀寫頭104的記錄道重跟蹤，107表示一讀寫頭放大器，它對光學(xué)讀寫頭104的檢測信號進(jìn)行加減以得到聚焦誤差信號b、跟蹤誤差信號c以及再現(xiàn)信號d。108表示一對再現(xiàn)信號d二進(jìn)制編碼以得到二進(jìn)制編碼信號e的二進(jìn)制編碼電路。109標(biāo)出驅(qū)動光學(xué)讀寫頭104的半導(dǎo)體激光器的激光器驅(qū)動電路。110表示一線性電動機(jī)控制電路，它控制線性電動機(jī)105以便光學(xué)讀寫頭104找到目標(biāo)記錄道。標(biāo)號111表示一扇區(qū)ID再現(xiàn)電路，它從二進(jìn)制編碼信號e中讀出記錄道地址和扇區(qū)地址f，以及扇區(qū)ID的記錄道識別信號g。標(biāo)號112表示一讀出/寫入門信號發(fā)生器，它將記錄道地址以及扇區(qū)地址f與將要記錄或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的CPU數(shù)據(jù)總線的目標(biāo)扇區(qū)地址h作比較，產(chǎn)生一該扇區(qū)的寫入門信號i以及讀出門信號j。標(biāo)號113表示一數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路，它利用(2-7)RLLC(行程長度受限碼)等對編碼數(shù)據(jù)k進(jìn)行數(shù)字調(diào)制，輸出調(diào)制信號m，還對二進(jìn)制編碼再現(xiàn)信號e解調(diào)，輸出解調(diào)數(shù)據(jù)n。標(biāo)號114表示一誤碼校正電路，它產(chǎn)生一編碼數(shù)據(jù)k，其中將記錄加到該數(shù)據(jù)中的誤碼校正碼，檢測并且校正解調(diào)數(shù)據(jù)n中的誤碼。115表示一暫時存儲數(shù)據(jù)的存儲器。116表示一計算機(jī)主機(jī)。117表示計算機(jī)主機(jī)116通過一SCSI(小型計算機(jī)系統(tǒng)接口)總線x與之連接的接口IF。118表示一控制整個信息記錄/再現(xiàn)裝置的微機(jī)(CPU)。119表示一用來存儲光盤101的盤管理信息、缺陷目錄表信息等。128表示一誤碼數(shù)量檢測電路，對各個扇區(qū)由誤碼校正電路所檢測的誤碼個數(shù)進(jìn)行計數(shù)。129表示一工作區(qū)。標(biāo)號120表示一記錄道指定電路，它輸出一記錄道選擇信號p，該信號是從CPU118輸出加到聚焦跟蹤控制電路106以及扇區(qū)ID再現(xiàn)電路111上的，要么選擇第一記錄道的記錄/再現(xiàn)，將數(shù)據(jù)記錄到凹槽上，要么選擇第二記錄道的記錄/再現(xiàn)，將數(shù)據(jù)記錄到槽脊上。
在聚焦跟蹤控制電路106中，121表示一跟蹤誤差信號c的倒相電路。122表示一多路復(fù)用器(MPX)，它根據(jù)記錄道選擇信號p選擇跟蹤誤差信號n或該誤差信號的倒相信號n′。133表示一聚焦跟蹤伺服電路。q表示一驅(qū)動光學(xué)讀寫頭104的跟蹤致動器的致動器驅(qū)動信號。跟蹤誤差信號c根據(jù)記錄道選擇信號p而被倒相，以便對第一記錄道或第二記錄道進(jìn)行跟蹤。
在讀出/寫入門信號發(fā)生器112中，124表示一鎖存CPU數(shù)據(jù)總線h的目標(biāo)地址的寄存器。125表示一比較器電路，它將寄存器124的輸出與再現(xiàn)地址f作比較，還將記錄道識別信號g與記錄道指定信號p作比較。126表示一鎖存CPU數(shù)據(jù)總線h來的讀出或?qū)懭朊畹募拇嫫鳌?27表示一門信號發(fā)生器，它響應(yīng)比較器電路125的輸出或寄存器126的輸出，向數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路113輸出寫入門信號i或讀出門信號j，啟動數(shù)據(jù)調(diào)制或數(shù)據(jù)解調(diào)。
按需要存儲器119a讀出光盤101盤管理區(qū)的對象扇區(qū)的數(shù)據(jù)，或是讀出并存儲一缺陷目錄表區(qū)地址，一備用區(qū)地址，一數(shù)據(jù)記錄區(qū)地址，缺陷管理識別信息，以及容量塊管理方法識別信息。cpU118根據(jù)存儲器119的內(nèi)容，控制光盤101的第一以及第二記錄道的數(shù)據(jù)記錄以及缺陷扇區(qū)的替換過程。標(biāo)號119b表示一記錄缺陷目錄表信息的存儲器，它包括用以存儲第一記錄道的缺陷目錄區(qū)內(nèi)容的第一存儲裝置，以及用以存儲所述第二記錄道的缺陷目錄區(qū)內(nèi)容的第二存儲裝置。119c表示一執(zhí)行缺陷替換過程的工作區(qū)。
圖13是第一記錄道在凹槽上記錄數(shù)據(jù)，第二記錄道在槽脊上記錄數(shù)據(jù)的本發(fā)明一實施例光盤的外觀圖。圖13中，ID信號未示出。圖13(a)是第一以及第二記錄道的平面圖，圖13(b)則是圖13(a)中A-A’部分的剖面圖。
圖13中，130表示為凹槽狀螺旋導(dǎo)軌的第一記錄道。131表示由第一記錄道130中間夾著的槽脊所組成的第二記錄道。132表示光盤的基底。133表示記錄膜。134表示用以將信息記錄到第一以及第二記錄道上或從第一以及第二記錄道再現(xiàn)信息的光斑。第一記錄道是深度為d的凹槽。為了抑制跟蹤信號和再現(xiàn)信號的幅度，以及抑制第一與第二記錄道之間的交擾度，深度d設(shè)為約λ/6n。
圖14是表示本發(fā)明第一實施例光盤各區(qū)的圖。圖14中，(a)表示第一記錄道組成的記錄平面1100，(b)表示第二記錄道組成的記錄平面1101。
標(biāo)號35以及36分別標(biāo)出光盤101的第一以及第二記錄道的記錄平面1100以及1101中形成的盤管理區(qū)。137標(biāo)出管理缺陷扇區(qū)以及該缺陷扇區(qū)之替換扇區(qū)的缺陷目錄表區(qū)。138以及139表示記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄區(qū)。140表示替代缺陷扇區(qū)而記錄的備用區(qū)。缺陷目錄表區(qū)137是形成在光盤101的某一面上，或形成在圖14實施例的第一記錄道中，以集中管理數(shù)據(jù)記錄區(qū)138以及139的缺陷扇區(qū)。缺陷扇區(qū)集中在備用區(qū)140中得到替換。
如上所述，本發(fā)明是集中處理記錄平面1100以及1101的。因而，容易將數(shù)據(jù)記錄區(qū)138以及139作為一個容量塊加以管理，并且有效地利用備用區(qū)。本發(fā)明中采用單個缺陷目錄表區(qū)。因而，即使訪問遍及第一以及第二記錄道，也不必每次都要從缺陷目錄表區(qū)中讀出，因而處理可以更迅速。
圖15是表示本發(fā)明第二實施例光盤各區(qū)的圖。
圖15中，(a)表示第一記錄道組成的記錄平面1100，(b)表示第二磁道組成的記錄平面1101。在光盤101的第一以及第二記錄道中形成有盤管理區(qū)35以及36，記錄數(shù)據(jù)用的數(shù)據(jù)記錄區(qū)138以及139，以及代替缺陷扇區(qū)作記錄的備用區(qū)141以及142。缺陷目錄表區(qū)137形成于光盤101的一面，或形成在圖15實施例的第一記錄道中。
數(shù)據(jù)記錄區(qū)138中的缺陷扇區(qū)在備用區(qū)141中得到替換，而數(shù)據(jù)記錄區(qū)139中的則在備用區(qū)142中得到替換。
如上所述，按照本發(fā)明，在向第一或第二記錄道上記錄的執(zhí)行過程中檢測的缺陷扇區(qū)在該記錄道的備用區(qū)141或142中得到替換。因而，沒必要將記錄道選擇從第一記錄道(或第二記錄道)改到第二記錄道(或第一記錄道)。僅當(dāng)跟蹤誤差信號c極性被跟蹤電路106倒相時，必須進(jìn)行記錄道選擇，因此不需要重新跟蹤到目標(biāo)記錄道所花的時間。換句話說，替換過程可以迅速地進(jìn)行。
圖16是表示本發(fā)明第三實施例光盤各區(qū)的圖。
圖16中，(a)表示第一記錄道組成的記錄平面1100，(b)表示第二記錄道組成的記錄平面1101。圖中，35和36分別標(biāo)出光盤101第一和第二記錄道中形成的盤管理區(qū)。137和143表示出缺陷目錄表區(qū)。138和139表示記錄數(shù)據(jù)用的數(shù)據(jù)記錄區(qū)。141和142表示替代缺陷扇區(qū)作記錄的備用區(qū)。
數(shù)據(jù)記錄區(qū)138中的缺陷區(qū)在備用區(qū)141中得到替換，而數(shù)據(jù)記錄區(qū)139中的則在備用區(qū)142中得到替換。
如上所述，按照本發(fā)明，記錄平面1100的缺陷扇區(qū)的替換操作過程是通過組合缺陷目錄表區(qū)137和備用區(qū)141進(jìn)行的，而記錄平面1101則是通過組合缺陷目錄表區(qū)143和備用區(qū)142進(jìn)行的。因而沒必要在第一和第二記錄道間改變記錄道，因此不需要拉回跟蹤所花的時間。因為可以有效地利用螺旋記錄道存取，因而因記錄道的改變而要等待光盤旋轉(zhuǎn)的時間可以縮短，因此允許缺陷區(qū)的替換過程迅速進(jìn)行。
在記錄平面1100以及1101中可以保證數(shù)據(jù)記錄區(qū)138以及139有相同容量。因而采用此光盤的系統(tǒng)，其系統(tǒng)設(shè)計可以簡化。因為記錄平面1100以及1101是獨立經(jīng)過缺陷處理的，因而分成多個容量塊時，所要寫入數(shù)據(jù)記錄區(qū)138以及139的數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)可便于管理。
圖17示出將要記錄到盤識別區(qū)35以及36中的管理信息的一實施例。圖17(a)中，144表示一盤管理標(biāo)識。145表示一缺陷目錄表區(qū)的地址。146表示一備用區(qū)地址。147表示一數(shù)據(jù)記錄區(qū)地址。148表示一缺陷管理方法標(biāo)識。149表示一容量塊管理標(biāo)識。圖17(b)中，150表示一盤管理標(biāo)識。151表示一缺陷目錄表區(qū)的地址。152表示一備用區(qū)地址。153表示一數(shù)據(jù)記錄區(qū)地址。154表示一缺陷管理方法標(biāo)識。155表示一容量塊管理標(biāo)識。
盤管理標(biāo)識144以及150表明各自扇區(qū)是盤管理信息區(qū)。缺陷目錄表區(qū)的地址145和151分別指示記錄平面1100和1101的缺陷目錄表區(qū)137和143的位置以及大小。備用區(qū)地址146和152分別指示記錄平面1100和1101的備用區(qū)140、141、以及142的位置以及大小。數(shù)據(jù)記錄區(qū)地址147和153分別指示記錄平面1100以及1101的數(shù)據(jù)記錄區(qū)的位置以及大小。缺陷管理方法標(biāo)識148和154指明圖14至16中所示的缺陷管理方法。容量塊管理標(biāo)識149和155則指明記錄到記錄平面1100以及1101上的容量塊結(jié)構(gòu)，還記錄容量塊的個數(shù)，以及組成各容量塊的數(shù)據(jù)記錄區(qū)138以及139的分配信息。
圖18至20是表示在第一以及第二記錄道均為螺旋記錄道的光盤101中進(jìn)行記錄道尋址的一實施例的記錄道存取圖。
圖中，156表示第一記錄道，157表示第二記錄道，158表示第一記錄道的記錄平面，159表示第二記錄道的記錄平面。
圖18中，光盤每次旋轉(zhuǎn)諸如第一記錄道和第二記錄道這類所要訪問的記錄道是這樣切換的，即按11′22′3…這種記錄道順序訪問記錄道。在光盤101中，第一以及第二記錄道可以當(dāng)作一個容量塊訪問，而且第一以及第二記錄道156和157均為螺旋記錄道。因而，當(dāng)需要記錄較大的容量塊的數(shù)據(jù)時，就不需要搜索記錄道，只要切換跟蹤信號的極性就可以迅速地進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄或再現(xiàn)。
圖19是表示順序存取第一以及第二記錄道156和157的記錄道存取圖。進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄或再現(xiàn)時，在記錄平面158的第一記錄道156中存取記錄道123…n，在記錄平面159的第二記錄道157中存取記錄道1′2′3′…n′。這種存取達(dá)到這種效果，即當(dāng)需要較大的時間來切換對于第一以及第二記錄道的跟蹤時，就可以縮短平均存取時間，而且消除了因第一和第二記錄道間記錄道改變而要等待光盤旋轉(zhuǎn)至目標(biāo)扇區(qū)所花的時間。
圖20示出其中記錄有第一以及第二記錄道扇區(qū)地址信息的扇區(qū)ID的一個實施例。圖中，TA表示一記錄道地址，SA表示一扇區(qū)地址，160表示的記錄道識別信息，指示新加到最高有效記錄道地址上的第一以及第二記錄道。記錄道識別信息160是記錄道最高有效位的記錄道識別信號g，它指示該記錄道是第一記錄道還是第二記錄道。
現(xiàn)參見圖14，敘述在這樣組成的光盤上記錄或再現(xiàn)信息的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的操作。
在此之后敘述信息記錄/再現(xiàn)裝置的初始化操作。
計算機(jī)主機(jī)116為讀出盤管理區(qū)35和36將讀出命令輸出至ScSI總線x。CPU118通過IF117接收命令，對它譯碼，并將記錄道選擇信號p(例如選擇第一記錄道的凹槽記錄道選擇)輸出至記錄道選擇電路120，以存取盤管理信息區(qū)35。響應(yīng)記錄道指定信號p，多路復(fù)用器122將跟蹤誤差信號c送至聚焦跟蹤電路123，從而對第一記錄道進(jìn)行跟蹤。線性電動機(jī)驅(qū)動電路110隨后驅(qū)動線性電動機(jī)105，以便光學(xué)讀寫頭找到盤管理區(qū)35的初始記錄道。
CPU118將讀出扇區(qū)地址置于讀出/寫入門信號發(fā)生器112的寄存器124中，將讀出命令置于寄存器126中。在讀出/寫入門信號發(fā)生器112中，比較器電路125將寄存器124的讀出扇區(qū)地址與ID再現(xiàn)電路111的地址輸出f作比較，還將記錄道指定信號p與記錄道識別信號g作比較。門信號發(fā)生器127對符合輸出以及寄存器126的輸出譯碼，將讀出門信號j送至數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路113。數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路113由讀出門信號j啟動，對盤管理區(qū)35的再現(xiàn)信號e解調(diào)，將包括盤管理信息以及缺陷目錄表信息在內(nèi)的經(jīng)解調(diào)的數(shù)據(jù)n送至存儲器115，將這些數(shù)據(jù)存儲于該存儲器。存儲于存儲器115中的解調(diào)數(shù)據(jù)n在誤碼校正電路114中經(jīng)過誤碼檢測以及校正，再存儲于存儲器115中。CPU118讀出經(jīng)過誤碼校正的再現(xiàn)數(shù)據(jù)，并將此數(shù)據(jù)寫入存儲器119。
而且，CPU118將記錄道選擇信號p置為槽脊記錄道選擇，將第二記錄道的盤管理區(qū)36的盤管理信息2寫入存儲器119。
因而，CPU118了解光盤101的容量塊管理方法，缺陷管理方法、缺陷目錄表區(qū)、備用區(qū)、數(shù)據(jù)記錄區(qū)、以及缺陷目錄表信息，執(zhí)行下面述及的數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)。
接下來敘述對圖14光盤的數(shù)據(jù)記錄區(qū)138進(jìn)行的數(shù)據(jù)記錄驗證操作過程。
計算機(jī)主機(jī)116將寫入命令寫入ScSI總線x。CPU118通過IF117接收該命令，對它譯碼，并由存儲于存儲器119中的缺陷目錄表信息檢查對象扇區(qū)是否是缺陷扇區(qū)。若該扇區(qū)不是缺陷扇區(qū)，則記錄道選擇信號根據(jù)扇區(qū)指向第一或第二記錄道。若該扇區(qū)是缺陷扇區(qū)，該記錄道選擇電路120設(shè)為選擇具有備用區(qū)140的第二記錄道。響應(yīng)此記錄道指定信號p，跟蹤誤差信號c或倒相的跟蹤誤差信號c′送至聚焦跟蹤電路123，對第一記錄道或第二記錄道進(jìn)行跟蹤。線性電動機(jī)驅(qū)動電路110驅(qū)動線性電動機(jī)105，使光學(xué)讀寫頭104移行至目標(biāo)記錄道。
計算機(jī)主機(jī)116提供的將要記錄的數(shù)據(jù)一旦存儲進(jìn)存儲器115中，就由誤碼校正電路114變換為編碼數(shù)據(jù)k，其中將會記錄加到此數(shù)據(jù)中的誤碼校正碼。
CPU118根據(jù)缺陷目錄表信息，將記錄扇區(qū)地址送入讀出/寫入門信號發(fā)生器112的寄存器124，并將寫入命令送入寄存器126。讀出/寫入門信號發(fā)生器112將寄存器124的記錄扇區(qū)地址與ID再生電路111的地址輸出f作比較。同時，比較器電路125將記錄道指定電路120的記錄道指定信號p與ID再現(xiàn)電路111的記錄道識別信號g相比較。該門信號發(fā)生器127響應(yīng)比較器電路125的符合輸出，以及寄存器126的寫入/讀出命令，將寫入門信號i送至數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路113。該數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路113由寫入門信號i啟動，由(2-7)RLLc對編碼數(shù)據(jù)k調(diào)制，將調(diào)制信號m送至激光器驅(qū)動電路109。光學(xué)讀寫頭104將調(diào)制信號m記錄到記錄平面103的目標(biāo)扇區(qū)。以上數(shù)據(jù)記錄操作是在給定數(shù)量的扇區(qū)內(nèi)重復(fù)的。
當(dāng)數(shù)據(jù)記錄完成，CPU118順序讀出記錄扇區(qū)，檢查解調(diào)數(shù)據(jù)的誤碼數(shù)量。若檢測出的誤碼數(shù)量超過規(guī)定的指標(biāo)，該扇區(qū)就被替換，而記錄到備用區(qū)140。更具體地說，計算機(jī)主機(jī)116送出讀出記錄扇區(qū)的命令，CPU118使光學(xué)讀寫頭104象上面提及的數(shù)據(jù)記錄時的方式一樣移行至記錄過的記錄道。CPU118將讀出扇區(qū)地址送入讀出/寫入門信號發(fā)生器112的寄存器124，將讀出命令送入寄存器126。在讀出/寫入門信號發(fā)生器112中，比較器電路125將寄存器124的讀出扇區(qū)地址與ID再現(xiàn)電路111的地址輸出f作比較，還將記錄道指定信號p與記錄道識別信號g相比較。門信號發(fā)生器127對符合輸出以及寄存器126的輸出譯碼，將讀出門信號j送至數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路113。該數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路113由讀出門信號j啟動，對光學(xué)讀寫頭104提供的記錄平面103的再現(xiàn)信號e解調(diào)，將解調(diào)數(shù)據(jù)n送給存儲器115，將這些數(shù)據(jù)存儲進(jìn)該存儲器。存儲于存儲器115中的解調(diào)數(shù)據(jù)n在誤碼校正電路114中經(jīng)過誤碼檢測和校正。誤碼數(shù)量檢測電路128對每個扇區(qū)檢測出的誤碼計數(shù)。CPU118監(jiān)視誤碼數(shù)量檢測電路128的誤碼數(shù)，來檢驗此個數(shù)是否超出指標(biāo)數(shù)。誤碼數(shù)超出指標(biāo)的扇區(qū)被判定為缺陷扇區(qū)，在備用區(qū)140中得到替換。
為替代缺陷扇區(qū)將其數(shù)據(jù)記錄到備用區(qū)140，發(fā)出寫入命令。CPU118將選擇第二記錄道的記錄道指定信號p輸出給記錄道選擇電路120。多路復(fù)用器122將倒相的跟蹤誤差信號c′送至聚焦跟蹤電路123，對第二記錄道跟蹤。然后按上面所述數(shù)據(jù)記錄的相同方式將數(shù)據(jù)記錄到備用區(qū)。該數(shù)據(jù)的缺陷扇區(qū)以及替換扇區(qū)的地址作為一列組合記錄到缺陷目錄表區(qū)137。
對于備用扇區(qū)和缺陷目錄表扇區(qū)，根據(jù)需要按上述相同方式對缺陷扇區(qū)進(jìn)行替換。
在如圖15所示分別在第一和第二記錄道中形成備用區(qū)的情況下，被檢測出的缺陷扇區(qū)在該缺陷扇區(qū)從屬的記錄道的備用區(qū)141或142中得到替換。在如圖16所示分別在第一和第二記錄道中形成缺陷目錄表區(qū)137和143的情況下，缺陷替換處理過程中所用的扇區(qū)地址目錄表是記錄到該缺陷扇區(qū)從屬的缺陷目錄表區(qū)的。上述數(shù)據(jù)記錄、以及缺陷扇區(qū)的替換處理都是根據(jù)容量塊管理標(biāo)識149和155、以及缺陷管理方法標(biāo)識148和154的內(nèi)容進(jìn)行的。
參見圖14，敘述對數(shù)據(jù)記錄區(qū)138進(jìn)行的數(shù)據(jù)記錄。
當(dāng)計算機(jī)主機(jī)116輸出讀出命令，CPU118對該命令譯碼，從存儲器119的工作區(qū)119c中所存的缺陷目錄表檢查該對象扇區(qū)是否是缺陷扇區(qū)。若該扇區(qū)是缺陷扇區(qū)，記錄道選擇電路120則設(shè)為選擇具有備用區(qū)140的第二記錄道。響應(yīng)此記錄道指定信號p，跟蹤誤差信號c或倒相的跟蹤誤差信號c′送至聚焦跟蹤電路123，對第一記錄道或第二記錄道跟蹤。線性電動機(jī)驅(qū)動電路110驅(qū)動線性電動機(jī)105，使光學(xué)讀寫頭104移行至目標(biāo)記錄道。
CPU118根據(jù)缺陷目錄表信息，將讀出扇區(qū)地址送到讀出/寫入門信號發(fā)生器112的寄存器124，讀出命令送到寄存器126。在讀出/寫入門信號發(fā)生器112中，比較電路125對寄存器124的讀出扇區(qū)地址與ID再現(xiàn)電路111的地址輸出f作比較，對記錄道指定信號p與記錄道識別信號g相比較。門信號發(fā)生器127對符合輸出和寄存器126輸出譯碼，將讀出門信號j送至數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路113。該數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)電路113由讀出門信號j啟動，對光學(xué)讀寫頭104送出的記錄平面103的再現(xiàn)信號e解調(diào)，將經(jīng)解調(diào)的數(shù)據(jù)n送給存儲器115，將這些數(shù)據(jù)存儲進(jìn)該存儲器。存儲于存儲器115的解調(diào)數(shù)據(jù)n在誤碼校正電路114中經(jīng)過誤碼檢測和校正，再一次存儲到存儲器115。經(jīng)過誤碼校正的再現(xiàn)數(shù)據(jù)經(jīng)過接口117送到計算機(jī)主機(jī)116。上述數(shù)據(jù)讀出操作是在給定數(shù)量的扇區(qū)內(nèi)重復(fù)的。
在圖15所示數(shù)據(jù)記錄區(qū)138和139或備用區(qū)分別形成在第一和第二記錄道的情況下，或圖16所示缺陷目錄表區(qū)137和143分別形成在第一和第二記錄道的情況下，進(jìn)行讀出時，記錄道選擇信號p由記錄道選擇電路120切換。缺陷管理方法、以及容量塊管理是根據(jù)缺陷管理方法標(biāo)識148和154、以及容量塊標(biāo)識149和155的內(nèi)容進(jìn)行的。
如上所述，按照本發(fā)明，在形成于相同記錄平面的第一和第二記錄道所組成的光盤上可以進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)，以及缺陷替換處理，因而與已有技術(shù)相比，可以對兩倍大的數(shù)據(jù)容量塊進(jìn)行記錄。
盤管理區(qū)是在盤初始化中產(chǎn)生的。下面敘述圖16光盤的初始化方法。
在根據(jù)記錄道選擇信號p由光斑對第一記錄道130跟蹤時，記錄一測試信號，再讀出驗證，從而檢測有缺陷的扇區(qū)。然后，使記錄道選擇信號p倒相，檢測第二記錄道131的缺陷扇區(qū)。CPU118根據(jù)光盤101的容量和品質(zhì)數(shù)據(jù)，確保缺陷目錄表區(qū)137以及143的大小滿足缺陷扇區(qū)的替換數(shù)量，并記錄這目錄表區(qū)的地址以及大小，備用區(qū)141以及142的地址以及大小，以及數(shù)據(jù)記錄區(qū)138以及139的地址以及大小。在缺陷目錄表區(qū)137中，記錄的是第一記錄道130的記錄平面1100以及第二記錄道131的記錄平面1101的缺陷扇區(qū)的替換表。缺陷管理方法信息148和154，以及容量塊標(biāo)識信息149和155是根據(jù)計算機(jī)主機(jī)116來的指令記錄到盤管理信息區(qū)35和36的。
當(dāng)然，上述光盤實施例可以適當(dāng)組合，這是挺要緊的。
根據(jù)以上敘述，很清楚，按照本發(fā)明，可以在形成于相同記錄平面的第一以及第二記錄道所組成的光盤上進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)，還可以在此上迅速地進(jìn)行缺陷替換處理，從而與已有技術(shù)相比，可以極大地提高容量。
權(quán)利要求
1.一種信息記錄/再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，所述光盤包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道，其特征在于，當(dāng)按所述光盤每一圈交替切換所述第一記錄道和第二記錄道時，按所述第一記錄道(或第二記錄道)、第二記錄道(或第一記錄道)、第一記錄道(或第二記錄道)的依次順序記錄和/或再現(xiàn)信息。
2.一種信息記錄/再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，所述光盤包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道，其特征在于，在記錄和/或再現(xiàn)信息的同時，按所述第一記錄道和第二記錄道的尋址順序進(jìn)行尋址；其中，所述第一記錄道或第二記錄道的結(jié)束地址連接至所述第二記錄道或第一記錄道的初始地址。
3.如權(quán)利要求1或2所述的信息記錄/再現(xiàn)方法，其特征在于，所述第一記錄道是在凹槽內(nèi)記錄信息的記錄道，所述第二記錄道是在由所述第一記錄道相夾的槽脊上記錄信息的記錄道，所述第一記錄道與第二記錄道之間的切換，是通過反轉(zhuǎn)跟蹤錯誤信息的極性而實現(xiàn)的。
全文摘要
本發(fā)明描述了一種信息記錄/再現(xiàn)方法，用以通過其由光盤錄入和/或再現(xiàn)信息，所述光盤包括在同一記錄面上形成的第一記錄道和第二記錄道，其特征在于，當(dāng)按所述光盤每一圈交替切換所述第一記錄道和第二記錄道時，按所述第一記錄道(或第二記錄道)、第二記錄道(或第一記錄道)、第一記錄道(或第二記錄道)的依次順序記錄和/或再現(xiàn)信息。
文檔編號G11B27/19GK1525443SQ0314574
公開日2004年9月1日 申請日期1994年6月8日 優(yōu)先權(quán)日1993年6月8日
發(fā)明者佐藤勲, 佐藤 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社