專利名稱：磁記錄裝置的走帶速度的測量方法及裝置的制作方法
本申請是中國專利申請?zhí)枮?6109602.0的分案申請。
本發(fā)明是關于測量磁記錄裝置走帶速度的測量方法及其裝置。
VTR或DAT等螺線掃描型磁記錄裝置，由于其高功能化及高密度記錄化，與一般磁記錄裝置相比，要求有高度的加工精度和可控制性。因此，對螺線掃描型磁記錄裝置的各參數(shù)的測量，必須比一般磁記錄裝置的各參數(shù)的測量更加嚴密。
在這種測量中，對記錄在磁帶上的信號幅度(磁道的寬度)的測量，是一個重要的測量項目，它是再生記錄在磁帶上的信號時，為了決定再生信號的電平所必須的。
在最近的螺線掃描型磁記錄裝置中，是通過安裝在旋轉(zhuǎn)圓筒上的多個磁頭交互地掃描磁帶(如圖8所示)來把圖象信號和(或)聲音信號記錄到磁帶上的。磁道的寬度決定于旋轉(zhuǎn)圓筒上安裝的磁頭的位置和走帶速度。
下面對現(xiàn)有走帶速度的測量方法進行說明。
相對于旋轉(zhuǎn)圓筒的旋轉(zhuǎn)，如果磁帶的移動速度具有一定量的誤差(走帶速度偏差)，將會引起磁道寬度的整體誤差。例如，當相對于旋轉(zhuǎn)圓筒的旋轉(zhuǎn)，走帶速度大于規(guī)定值時，對應于旋轉(zhuǎn)圓筒的一個旋轉(zhuǎn)周期的磁帶移動距離將變長，使得磁道寬度比規(guī)定值增寬。反之，當相對于旋轉(zhuǎn)圓筒的旋轉(zhuǎn)，走帶速度小于規(guī)定值時，對應于旋轉(zhuǎn)圓筒的一個旋轉(zhuǎn)周期的磁帶移動距離將變短，使得磁道寬度比規(guī)定值窄。
這種走帶速度偏差，會由于傳送磁帶的主導軸轉(zhuǎn)數(shù)誤差，主導軸軸徑誤差，主導軸與磁帶間的打滑(空轉(zhuǎn))等而產(chǎn)生。當走帶速度偏差在一定容許值以內(nèi)時，可以通過控制主導軸的轉(zhuǎn)數(shù)，例如ATF(Auto Track Fouowing)等來補償走帶速度偏差。但為了進行這種控制，要具備應付可能出現(xiàn)走帶偏差應的控制系統(tǒng)。由于得到充分的控制系統(tǒng)，必須使用驅(qū)動主導軸的昂貴的馬達以及復雜的控制電路。
為了盡量避免使用昂貴的馬達和復雜的控制電路，就要把不進行ATF等控制時的走帶速度偏差控制在某規(guī)定范圍內(nèi)。
在測量走帶速度偏差時，可以采用主導軸旋轉(zhuǎn)一轉(zhuǎn)，產(chǎn)生數(shù)百個脈沖信號，記錄其脈沖數(shù)，求出主導軸旋轉(zhuǎn)誤差，檢測出走帶速度偏差這樣的方法。
這種走帶速度偏差檢測方法中，存在如下所述的問題?，F(xiàn)在走帶速度偏差檢測方法中，引起走帶速度偏差的主要原因的主導軸軸徑誤差、磁帶與主導軸之間的空轉(zhuǎn)等是無法檢測的。而且，即使地主導軸輸出的輸出脈沖計數(shù)值控制在規(guī)定范圍內(nèi)，如果主導軸軸徑存在誤差，就會引起主導軸旋轉(zhuǎn)速度誤差，導致磁帶實際速度的偏差。另外，主導軸為了傳送磁帶，而主導軸的旋轉(zhuǎn)未傳及磁帶，使磁帶空轉(zhuǎn)的情況下，也會引起磁帶速度與主導軸旋轉(zhuǎn)速度之間的偏差。僅僅靠記錄從主導軸輸出的輸出脈沖數(shù)，無法測量磁帶走帶時實際的走帶速度偏差的問題也是存在的。
本發(fā)明的目前的是，檢測磁帶走帶時的實際走帶速度偏差。
為了達到上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案一種測定磁記錄裝置的走帶速度的測量方法，所述磁記錄裝置包括以第一走帶速度或者不同于第一走帶速度的第二走帶速度驅(qū)動磁帶的驅(qū)動電路；以及至少一個將在所述第一走帶速度下記錄在上述磁帶上的第一及第二導頻信號、以所述第二走帶速度放音的磁頭，所述測量方法的特征是根據(jù)由其至少一個磁頭放音的所述第一及第二導頻信號，生成表示第一導頻信號與第二導頻信號之差的時間變化關系的第一信號的生成過程；檢測所述第一信號的波長的檢測過程；以及根據(jù)所述第一走帶速度和所述第二走帶速度之差與所述第一走帶速度之比例、其檢測出的波長及事先確定的時間，計算走帶速度偏差的過程。
所述的磁記錄裝置的走帶速度的測量方法，其特征在于上述磁帶具有第一磁道、第二磁道和夾在所述第一磁道與所述第二磁道之間的第3磁道，所述第一磁道中記錄上述第一導頻信號，所述第二磁道中記錄上述第二導頻信號，所述第3磁道中記錄電平為0的導頻信號。
一種測定磁記錄裝置的走帶速度的測量裝置，所述磁記錄裝置包括以第一走帶速度或者不同于第一走帶速度的第二走帶速度驅(qū)動磁帶的驅(qū)動電路；及至少一個將在所述第一走帶速度下、記錄在所述磁帶上的第一及第二導頻信號，以所述第二走帶速度放音的磁頭，所述測量裝置的特征是包括根據(jù)所述至少一個磁頭放音的第一導頻信號及第二導頻信號，生成表示第一導頻信號與第二導頻信號之差的時間變化關系的第一信號的生成部；檢測出所述第一信號波長的檢測部；和根據(jù)所述第一走帶速度和所述第二走帶速度之差與所述第一走帶速度之比例、所述檢測出的波長及事先確定的時間，來計算走帶速度偏差的計算部。
所述的測定磁記錄裝置的走帶速度的測量裝置，其特征在于上述磁帶具有第一磁道、第二磁道及夾在所述第一磁道與所述第二磁道之間的第3磁道，所述第一磁道中記錄上述第一導頻信號，所述第二磁道中記錄上述第二導頻信號，所述第三磁道中記錄電平為0的導頻信號。
本發(fā)明是將一般記錄走帶速度下記錄的磁帶，在不同于一般記錄走帶速度的一定走帶速度下放音，檢測出放音時從多個磁頭得到的導頻信號差，通過比較從各個磁頭分別得到的導頻信號的相位，檢測出多個磁頭之間的相對高度。
本發(fā)明是將一般記錄走帶速度下記錄的磁帶，在不同于一般記錄走帶速度的一定走帶速度下放音，檢測出放音時磁頭的導頻信號差，由其導頻信號差的波長，計算出走帶速度偏差。
本發(fā)明具有如下積極的效果如上所述，根據(jù)在一般記錄和不同于一般記錄的走帶速度下再生磁帶時的監(jiān)控信號電平差與時間的關系，可以得到多個磁頭間的相對高度誤差及走帶速度偏差。因此，可以在旋轉(zhuǎn)栓面安裝在底盤上的狀態(tài)，即實際上已經(jīng)完成了被測裝置的組裝的狀態(tài)下，測量磁頭相對高度誤差。所以，可以得到包括由于把旋轉(zhuǎn)圓筒安裝到底盤上的安裝過程所引起的誤差在內(nèi)的，多個磁頭間的相對高度誤差和走帶速度偏差。
另外，由于使用了被測量裝置中實際走帶時的導頻信號，所以可以測量出包括被測量裝置固有的主導軸徑誤差及磁帶空轉(zhuǎn)在內(nèi)的實際的走帶速度偏差。
以下參照附圖，詳細說明
具體實施例方式

圖1是表示有關磁記錄裝置的記錄/再生的主要部分的斜視圖。
圖2是表示磁道與磁頭的相對位置關系的模式圖。
圖3表示本發(fā)明的測量裝置構(gòu)成的一個例子。
圖4是表示圖3所示的CPU7的處理流程圖。
圖5(a)是表示將貯存在存貯器6中的、磁頭(a)的相關數(shù)據(jù)以等間隔(取樣時間)描繪的波形301，圖5(b)是表示將貯存在存貯器6中的、磁頭(b)的相關數(shù)據(jù)以等間隔(上述取樣時間)描繪的波形303，圖5(c)是表示將貯存在存儲器中的數(shù)據(jù)按閾值O(v)二進制化后等間隔(上述取樣時間)描繪的波形302，圖5(d)表示貯存在存貯器中的數(shù)據(jù)按閾值O(V)數(shù)字化后等間隔(上述取樣時間)描繪的波形304。
圖6是表示一般記錄速度時及不同于一般記錄速度的一定速度下再生時的磁頭2a及磁頭2b的位置關系的平面圖。
圖7是表示貯存在存貯器中的ATF誤差信號波形的相關數(shù)據(jù)的波形圖。
圖8是表示記錄在磁帶上的信號磁道的圖。
圖9是表示磁頭相對高度及磁頭高度的圖。
圖1是本發(fā)明要測量的裝置即磁記錄裝置的記錄/再生相關主要部分的斜視圖。
下面，對磁記錄裝置做簡單的說明。
旋轉(zhuǎn)圓筒1，擁有再生記錄在磁帶20上的信號的磁頭2a、2b。旋轉(zhuǎn)圓筒1順箭頭A的方向旋轉(zhuǎn)。磁帶20夾在主導軸21和緊帶輪22之間，隨著主導軸21的旋轉(zhuǎn)，磁帶20順箭頭B方向走帶。磁帶20的走帶，受桿23的引導。
信號的記錄/再生，是通過磁頭2a、2b交互地掃描斜繞在旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)圓筒1上的磁帶20來實現(xiàn)的。磁頭2a、2b通過固定螺絲19a、19b固定在旋轉(zhuǎn)圓筒1上。
圖8是記錄在磁帶20上的信號的一個例子。如圖8所示那樣，信號被記錄在對磁帶20斜向分割成的多個磁道24上。圖2是表示磁道25a-25e與磁頭26a-26c的相對位置關系模式圖。圖2中的磁道25a-25e是把圖中的磁道24縱向顯示的結(jié)果。從圖2可以看出，磁頭26a-26c的掃描位置是各不相同的。箭頭是表示掃描方向。
下面通過圖9對利用ATF(Auto Track Fouowing)的磁帶走帶控制進行說明。
在磁道25a-25e中，除一般信號外，還記錄了頻率為f1、f0、f2、f0、f1的導頻信號。一般信號是指的圖象信號和(或)聲音信號。一般地說，導頻信號的頻率比一般信號的頻率低，但導頻信號的頻率也可以比一般信號的頻率高。
記錄導頻信號的順序，是如圖2所示的磁道25a～25e的順序。另外對應于各導頻信號的頻率的順序是f1→f0→f2→f0→f1。對應于整個磁帶記錄下的信號是頻率按f1→f0→f2順序循環(huán)反復的導頻信號。另外，頻率為f0的導頻信號的電平也可以為0。為了簡化對ATF的說明，以下說明中，假定頻率為f0的導頻信號的電平為0。
下面說明的是磁頭掃描磁道25b時的例子。由于磁頭26a～26c的寬度比磁道寬度25b寬，所以在磁頭26a再生的信號中，也包含了記錄在相鄰的磁道25a及25c中的導頻信號。具體地說，頻率為f1、f2的導頻信號，包含在再生的信號之中。
由于磁頭26a的中心幾乎與磁道25b的中心重合，所以磁頭26a與得到的頻率為f1、f2的導頻信號的電平是相同的。不過，當磁頭26b掃描磁道25b時，頻率為f2的導頻信號的電平將大于頻率為f1的導頻信號的電平。反之，當磁頭26c掃描磁道25b時，頻率為f1的導頻信號的電平將大于頻率為f2的導頻信號的電平。這樣，相對于磁道的中央，磁頭的掃描位置偏向某一方時，其方向上相鄰的磁道上的導頻信號的電平就發(fā)生變化。
在ATF控制中，是從記錄有頻率為f0的導頻信號的磁道再生的信號中，檢測出頻率為f1、f2的信號，從“頻率為f2的導頻信號電平”減去“頻率為f1的導頻信號電平”得出ATF誤差信號，為了使該信號盡可能地接近于0，對主導軸轉(zhuǎn)數(shù)進行控制，使磁道中心與磁頭中心保持一致。
下面利用圖3對本發(fā)明的磁記錄裝置的測量裝置的構(gòu)成進行說明。圖3是本發(fā)明的磁記錄裝置的測量裝置的構(gòu)成圖。圖3的測量裝置具有ATF誤差信號生成電路3a、3b以及控制電路4。
將第一走帶速度下記錄到磁帶上的第一及第二導頻信號，在不同于第一走帶速度的第二走帶速度下由磁頭2a、2b再生而成的導頻信號，由ATF誤差信號生成電路3a、3b分別接收。磁頭2a及磁頭2b均安裝在旋轉(zhuǎn)圓筒1上，磁頭2a、旋轉(zhuǎn)圓筒的旋轉(zhuǎn)軸與磁頭2b構(gòu)成180度角。另外，圖3中所表示的磁頭2a、2b是從旋轉(zhuǎn)圓筒上方透視的狀態(tài)。
ATF誤差信號生成電路3a、3b，在接收到的導頻信號的基礎上生成ATF誤差信號。另外，在磁頭2a、2b與ATF誤差信號生成電路之間，還設置了對磁頭2a、2b再生的信號進行增幅的前置放大器和從磁頭2a、2b再生的信號中檢測出導頻信號的檢測電路。
在控制電路4中具有將ATF誤差信號生成電路3a、3b中輸出的ATF誤差信號進行模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換(以后稱之為A/D轉(zhuǎn)換)的A/D轉(zhuǎn)換電路5、貯存將ATF誤差信號進行A/D轉(zhuǎn)換后所得數(shù)據(jù)的存貯器6以及對貯存在存貯器中的數(shù)據(jù)進行運算處理的CPU7。CPU7運算處理的結(jié)果顯示在監(jiān)視器上。
下面利用圖4及圖5對本發(fā)明的磁記錄裝置的測量裝置的動作進行簡單的說明。圖4是表示圖3中CPU7所進行的處理的處理流程圖。
在二進制化處理9中，是將通過A/D轉(zhuǎn)換電路5進行A/D轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)，即離散化的量化信號，根據(jù)規(guī)定的閾值進行二進制化。換言之，也就是把根據(jù)磁頭2a、2b再生的導頻信號生成的ATF誤差信號二進制化的過程。具體來說，把大于某閾值的量化信號變換成1，而把小于某閾值的量化信號變換成-1。將ATF誤差信號進行A/D轉(zhuǎn)換，對貯存在存貯器6中的數(shù)據(jù)進行了二時制化處理的信號的例子表示在圖5(c)及圖5(d)中。圖5(c)和圖5(d)中，橫座標表示時間t，縱坐標表示2進制化信號值。
以零交叉判定處理10，在二進制化處理的數(shù)據(jù)中，對數(shù)據(jù)的正負反轉(zhuǎn)時刻進行判斷。例如，在圖5(c)所示例中，檢測出了時刻a1、a2、a3及a4，在圖5(d)所示例中檢測出了時刻b1、b2及b3。
波長檢測處理11，根據(jù)零交叉時刻，即二進制化了的數(shù)據(jù)的正負反轉(zhuǎn)時刻，檢測出波長。例如，在圖5(c)所示例中，從時刻a3減去時刻a1，可求出磁頭2a相關的ATF誤差信號的波長。在圖5(d)所示例中，從時刻b3減去時刻b1，可求出磁頭2b相關的ATF誤差信號的波長。
相位檢測處理12，是將根據(jù)零交叉判斷處理得到的時間軸上零交叉位置變換成相位值。由此可求出從磁頭2a得到的信號的相關相位值和從磁頭2b得到的信號的相關相位值。
相位差檢測處理13，是求出從磁頭2a得到的信號的相關相位值與從磁頭2b得到的信號的相關相位值之差。
磁頭相對高度誤差檢測處理14，是將相位差檢測處理13得出的相位差值變換成磁頭相對高度，通過比較該變換值與理論值，檢測出磁頭相對高度誤差。
走帶速度偏差檢測處理15，是將波長檢測處理11得到的波長變換成走帶速度后，通過比較變換而得走帶速度與理論值，求出走帶速度偏差。
下面對本發(fā)明的測量裝置的動作進行詳細說明。
如圖1所示，在把主導軸21的轉(zhuǎn)數(shù)設定為高于一般記錄時轉(zhuǎn)數(shù)的w％的狀態(tài)下，使磁帶20以一定速度走帶。在再生模式下，磁頭2a、2b再生記錄在磁帶20上的信號。例如，考慮相對于一般記錄時的轉(zhuǎn)數(shù)，再生時的轉(zhuǎn)數(shù)高出1％的情況。假設一般記錄時主導軸的轉(zhuǎn)數(shù)為180rpm，則再生時的轉(zhuǎn)數(shù)為181.8rpm。而且，只檢測ATF誤差信號而不進行上述ATF控制。并且使用的再生磁帶20最好是磁道寬度與規(guī)定格式極為接近、磁道彎曲很少、被稱作標準磁帶的用于調(diào)整走帶的磁帶。
下面利用圖6對磁帶20的磁道與磁頭2a、2b之間的位置關系進行說明。
在圖6中，表示出了磁道16a～16i共9條磁道。在磁道16a～16i中，分別記錄有頻率為f0～f2之一的監(jiān)測信號。具體來說，磁道16a中記錄有頻率為f1的導頻信號，磁道16b中記錄有頻率為f0的導頻信號，磁道16c中記錄有頻率為f2的導頻信號。在磁道16c以后的磁道(磁道16d～16i)中順序記錄有頻率為f1的導頻信號、頻率為f0導頻信號和頻率為f2的導頻信號。
最初，磁頭2a位于位置17a，磁道16a的中心與磁頭2a的中心一致。磁頭2a掃描完磁道16a后，磁頭2b掃描磁道16b。由于再生記錄在磁帶上的信號的速度(再生速度)比往磁帶上記錄信號的速度(記錄速度)快w％，使得磁頭2b的中心，沿從磁道16b的中心偏離出w％的磁道寬度的位置進行掃描。之后，磁頭2a掃描磁道16c，磁頭2b掃描16d。
這樣，當相對于磁道間距L，掃描間距S大w％時，掃描位置的偏差將隨著掃描次數(shù)的增加成比例地增大。
然而，由于ATF的誤差信號是由導頻信號的電平之差(F2-F1)來決定的，例如，本應當掃描磁道16b中心的磁頭，即使偏差到磁道16f的中心位置，ATF誤差信號(F2-F1)同樣為0。而且，F(xiàn)1表示頻率為f1的導頻信號的電平，F(xiàn)2表示頻率為f2的導頻信號的電平。
因此，磁頭位置的偏差達到4個磁道寬時，ATF誤差信號就會復原。若著眼于2個磁頭中的單個磁頭來看，ATF誤差信號成為以4個磁道寬為一個周期的周期性信號。
另外，如圖7所示，其中，橫坐標表示時間t，縱會標表示ATF誤差信號(f2-f1)，由于磁頭2a及2b的掃描位置17a及17b幾乎偏離了1個磁道寬，如果磁頭2b相對于磁頭2a的相對高度設置正確的話，ATF誤差信號將偏移幾乎一個磁道寬的部分，即ATF誤差信號的變化周期的四分之一波長部分的相位。
下面，對圖3中的ATF誤差信號生成電路3a及3b生成的ATF誤差信號與圖3中的存貯在存貯器6中的數(shù)據(jù)之間的關系進行簡單的說明。
如圖1所示，磁頭2a及磁頭2b交互地掃描繞在旋轉(zhuǎn)圓筒1上的磁帶20。因此，從ATF誤差信號生成電路3a及3b輸出的信號波形是不連續(xù)的信號波形。ATF信號生成電路3a及3b輸出的ATF誤差信號，由A/D轉(zhuǎn)換電路5進行A/D轉(zhuǎn)換。表示A/D轉(zhuǎn)換后的ATF誤差信號的數(shù)據(jù)貯存在存貯器6中。但當ATF誤差信號生成電路3a未生成ATF誤差信號時，磁頭2a的相關數(shù)據(jù)就不貯存到存貯器6之中。而且，當ATF誤差信號生成電路3b未生成ATF誤差信號時，磁頭2b的相關數(shù)據(jù)也不貯存到存貯器6之中。因此如果把存貯器6中貯存的數(shù)據(jù)等間隔地(上述A/D轉(zhuǎn)換電路使用的取樣時間)表示出來，ATF誤差信號的波形就成為圖7所示的波形。
作為參考，把貯存在存貯器6中的磁頭2(a)的相關數(shù)據(jù)以等間隔(上述取樣時間)畫出的波形301表示在圖5(a)中，把存貯在存貯器6中的磁頭(b)的相關數(shù)據(jù)以等間隔(上述取樣時間)畫出波形303表示在圖5(b)中。在圖5(a)和圖5(b)中，橫坐標表示時間t，縱坐標表示ATF誤差信號電平。
對于貯存在存貯器6中的數(shù)據(jù)，進行二制化處理9。二進制化處理，是指根據(jù)做為閾值的既定電壓值或峰-峰值(p-p值)的中心值，把數(shù)據(jù)變換成1和-1兩個值的處理。當數(shù)據(jù)大于閾值時，變換成1，當數(shù)據(jù)小于閾值時，變換成-1。
作為參考，把根據(jù)閾值0(v)將貯存在存貯器中的數(shù)據(jù)二進制化的的值以等間隔(上述取樣時間)畫出的波形302表示在圖5(c)中，把根據(jù)閾值0(v)降貯存在存貯器中的數(shù)據(jù)二進制化后的值以等間隔(上述取樣時間)畫出的波形304表示在圖5(d)中。
在圖4所示的零叉處理10中，檢測二進制化信號的正負反轉(zhuǎn)時刻。零交叉時刻，通過檢測二進制信號的差分值的變化點可以得到。例如，作為磁頭2a的相關ATF誤差信號的零交叉時刻，可以求得圖5(a)中的時刻a1、時刻a2、時刻a3及時刻a4，作為磁頭2b的相關ATF誤差信號的零交叉時刻，可以求得圖5(b)中的時刻b1、時刻b2、時刻b3及時刻b4。
在圖4所示的波長檢測處理11中，波長相當于2倍的零交叉時刻間距。因此，在圖5中，時刻a1到時刻a3的時間相當于一個波長λ。因而由λ(sec)＝a3-a1…………(1)來計算。當然，波長λ也可以通過a4-a2、b3-b1等來計算。
在圖4所示的相位檢測處理12中，如果設時刻a1～時刻an的相位值分別為α1～αn，則通過αi(rad)＝(ai-a1)×2π/λ(i＝1～n)……(2)來計算。
同樣地，以時刻a1為基準計算時刻b1～時刻bn的相位值。設時刻b1～時刻bn的相位值分別為β1～βn，則通過βi(rad)＝(bi-a1)×2π/λ(i＝1～n)……(3)來計算。
這樣，利用得到的相位值，就可以進行相位差檢測處理13。設相位差為θi，則通過算式(2)、算式(3)，由θi＝βi-αi(i＝1～n)…………(4)來計算。
接著，利用根據(jù)算式(4)得到的相位差，進行磁頭相對高度誤差檢測處理14。
首先，相位差誤差δi由下式求得。
δi＝θi-λ/4(i＝1～n)…………(5)當磁頭的相對高度沒有誤差時，由于相位差θi為一條磁道寬的部分，即λ/4，所以相位差誤差δi為0。因此，相位差誤差δi，表示磁頭2a與磁頭2b的相對高度誤差所引起的相位偏差。這樣，為了把相位差誤差δi變換成磁頭相對高度誤差，進行以下處理。
4倍磁道寬的掃描位置偏差，對應于一個波長即2π的相位。因此，設磁道寬為Tw(μm)，則4×Tw對應于2π。由下式可將相位差誤差δi變換成磁頭相對高度誤差Xi(μm)。
Xi＝4×Tw×δi/2π(i＝1～n)(6)在這里，雖然可以得到n個Xi，但也沒必要算出很多個，僅算出一個也是可以的。而且，為了減小檢測誤差，也可以求出磁頭相對高度誤差Xi的平均值。
這樣，就可以把圖3中CPU7運算出的磁頭相對高度誤差數(shù)值顯示在監(jiān)視器8上。
下面對圖4中的速度偏差檢測處理15進行說明。
當把主導軸轉(zhuǎn)數(shù)加快W％的走帶速度時，如上所述，磁頭掃描間隔會比磁道寬度加寬W％。如果走帶速度正確地加快W％，每掃描100/w(回)，掃描位置會偏差一個磁道寬度。要產(chǎn)生ATF誤差信號的一個變化周期即4倍磁道寬度的掃描位置偏差，需要掃描400/w次。這里假設一次掃描需要的時間為T(sec)。
例如，轉(zhuǎn)數(shù)為9000rpm，兩個磁頭成180度相對時，一次掃描所花時間T(sec)為T＝0.5×60/9000。從而，產(chǎn)生ATF誤差信號的一個波長即4倍磁道寬的掃描偏差所需時間Y(sec)為Y＝T×400/W(7)如果磁帶按所設速度運轉(zhuǎn)，圖4的波長檢測處理11所得出的波長λ(sec)與Y是一致的。不過，即使把主導軸轉(zhuǎn)數(shù)設定成比基準轉(zhuǎn)數(shù)正確地快W％，由于主導軸徑誤差等因素，有時實際的走帶速度并不是快W％。這種情況，對于一般記錄時的走帶速度也是同樣的。在這里，當設定走帶速度增加W％時，通過檢測實際運轉(zhuǎn)時的走帶速度，可以求出要測定的裝置的走帶速度偏差。假設實際的走帶速度的增加率為P(％)，利用波長檢測處理11所得到的波長λ，及算式(7)，有以下算式(8)成立。
λ＝T×400/P(8)由算式(8)，通過波長檢測處理11得到的波長λ和T，可以求出實際的走帶速度增加率P(％)。因此，走帶速度偏差e％為e＝P-W (9)這樣，求得的走帶速度偏差e也可以顯示在圖3的監(jiān)視器8上了。
以上對于相對成180度的兩個磁頭的相對高度誤差和走帶速度偏差的測量裝置及其方法進行了闡述。不言而喻，對于間隔90度配置4個磁頭等，或具有其他多個磁頭的磁記錄裝置，利用磁頭的相對高度誤差與ATF誤差信號的相位值偏差的對應關系，同樣可以求出磁頭相對高度誤差。
另外，本實施例在ATF誤差信號的波形處理中，進行了二進制處理，采用其他的方法計算信號的波長與相位，例如求微分檢測出其頂點位置，檢測波長與相位的方法，也可以得出同樣的結(jié)果。
再者，本實施例中列舉了走帶速度比一般再生時快的情況下產(chǎn)生的ATF誤差信號的變動情況，當然采用其他方法使掃描偏差量隨時間成比例地增加也是可以的。例如，設定走帶速度低于一般速度時，很明顯，也會得到同樣的結(jié)果。
權(quán)利要求
1.一種測定磁記錄裝置的走帶速度偏差的測量方法，所述磁記錄裝置包括以第一走帶速度或者不同于第一走帶速度的第二走帶速度驅(qū)動磁帶的驅(qū)動電路；以及至少一個將在所述第一走帶速度下記錄在上述磁帶上的第一及第二導頻信號、以所述第二走帶速度放音的磁頭，所述測量方法的特征是根據(jù)由其至少一個磁頭放音的所述第一及第二導頻信號，生成表示第一導頻信號與第二導頻信號之差的時間變化關系的第一信號的生成過程；檢測所述第一信號的波長的檢測過程；以及根據(jù)所述第一走帶速度和所述第二走帶速度之差與所述第一走帶速度之比例、其檢測出的波長及事先確定的時間，計算走帶速度偏差的過程。
2.如權(quán)利要求1所述的磁記錄裝置的走帶速度偏差的測量方法，其特征在于上述磁帶具有第一磁道、第二磁道和夾在所述第一磁道與所述第二磁道之間的第3磁道，所述第一磁道中記錄上述第一導頻信號，所述第二磁道中記錄上述第二導頻信號，所述第3磁道中記錄電平為0的導頻信號。
3.一種測定磁記錄裝置的走帶速度偏差的測量裝置，所述磁記錄裝置包括以第一走帶速度或者不同于第一走帶速度的第二走帶速度驅(qū)動磁帶的驅(qū)動電路；及至少一個將在所述第一走帶速度下、記錄在所述磁帶上的第一及第二導頻信號，以所述第二走帶速度放音的磁頭，所述測量裝置的特征是包括根據(jù)所述至少一個磁頭放音的第一導頻信號及第二導頻信號，生成表示第一導頻信號與第二導頻信號之差的時間變化關系的第一信號的生成部；檢測出所述第一信號波長的檢測部；和根據(jù)所述第一走帶速度和所述第二走帶速度之差與所述第一走帶速度之比例、所述檢測出的波長及事先確定的時間，來計算走帶速度偏差的計算部。
4.如權(quán)利要求3所述的測定磁記錄裝置的走帶速度偏差的測量裝置，其特征在于上述磁帶具有第一磁道、第二磁道及夾在所述第一磁道與所述第二磁道之間的第3磁道，所述第一磁道中記錄上述第一導頻信號，所述第二磁道中記錄上述第二導頻信號，所述第三磁道中記錄電平為0的導頻信號。
全文摘要
本發(fā)明公開一種磁記錄裝置的磁頭相對高度及走帶速度的測量方法及其裝置,其是把在一般錄音的走帶速度下記錄了信號的磁帶,在不同于一般錄音的走帶速度的大致一定的走帶速度下放音,從磁頭檢測出磁道偏離信號,通過比較從多個磁頭得到的磁道偏離信號的相位,檢測出多個磁頭間的相對高度。另外,本發(fā)明的測定裝置由磁道偏離信號的波長檢測出走帶速度偏差。
文檔編號G11B15/46GK1345055SQ01103720
公開日2002年4月17日 申請日期2001年2月6日 優(yōu)先權(quán)日1995年8月22日
發(fā)明者曾我部靖 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社