試信號而輸出數(shù)據(jù)輸入信號和測試模式集中的至少一個。
[0031]觀察測試點使能信號在IC設(shè)計300的結(jié)構(gòu)測試期間處于邏輯高的狀態(tài)。當(dāng)掃描使能信號在IC設(shè)計300的移位操作期間處于邏輯高的狀態(tài)時，測試模式集在第一掃描觸發(fā)器302的輸出端子處輸出。當(dāng)掃描使能信號在IC 300的捕獲操作期間處于邏輯低的狀態(tài)時，數(shù)據(jù)輸入信號和測試模式集中的至少一個基于觀察測試信號的邏輯狀態(tài)而在第一掃描觸發(fā)器302的輸出端子輸出。
[0032]在本發(fā)明的一種實施例中，觀察測試信號在IC設(shè)計300沒有故障(S卩，IC設(shè)計300是好的電路設(shè)計)時處于邏輯高的狀態(tài)，并且在IC設(shè)計300有故障(即，IC設(shè)計300是壞的電路設(shè)計)時處于邏輯低的狀態(tài)。當(dāng)觀察測試信號處于邏輯低的狀態(tài)時，第一掃描觸發(fā)器302輸出數(shù)據(jù)輸入信號，表示有故障的IC設(shè)計300。當(dāng)觀察測試信號處于邏輯高的狀態(tài)時，第一掃描觸發(fā)器302輸出測試模式集,表TK沒有故障的IC設(shè)計300。在本發(fā)明的另一種實施例中，觀察測試信號在IC設(shè)計300沒有故障時處于邏輯低的狀態(tài)，并且在IC設(shè)計300有故障時處于邏輯高的狀態(tài)。當(dāng)觀察測試信號處于邏輯高的狀態(tài)時，第一掃描觸發(fā)器302輸出測試模式集，表示有故障的IC設(shè)計300。當(dāng)觀察測試信號處于邏輯低的狀態(tài)時，第一掃描觸發(fā)器302輸出數(shù)據(jù)輸入信號，表示沒有故障的IC設(shè)計300。因而，如果數(shù)據(jù)輸入信號和測試模式集處于不同的邏輯狀態(tài)，則有故障的IC設(shè)計300能夠被檢測到。由于觀察測試信號覆蓋所有觀察測試點，因而通過使用掃描路徑的現(xiàn)有的第一掃描觸發(fā)器302來滿足IC設(shè)計300所需要的故障覆蓋率，由此降低IC設(shè)計300的生產(chǎn)成本、面積開銷和功能時序影響。在本發(fā)明的另一種實施例中，使用IC設(shè)計300制作的可測試的IC(未示出)能夠使用掃描測試和內(nèi)建自測試(BIST)機制中的至少一個來成功測試。
[0033]圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的一種實施例的另一個示例性IC設(shè)計400的示意性框圖。EDA工具200被用來修改用于增大IC設(shè)計400的故障覆蓋率的IC設(shè)計400。IC設(shè)計400包含與IC設(shè)計400的第一邏輯元件集(未示出)的輸出對應(yīng)的第一觀察測試點集(未示出)、IC設(shè)計400的掃描路徑的第一掃描觸發(fā)器402、測試掃描觸發(fā)器404、管線掃描觸發(fā)器406、第一及第二 OR門408和410。在本發(fā)明的一種實施例中，測試和管線掃描觸發(fā)器404和406是掃描路徑的一部分。測試掃描觸發(fā)器404具有用于接收測試模式集的掃描輸入端子、用于接收外部生成的使能信號的掃描使能輸入端子、與其輸出端子連接用于接收數(shù)據(jù)輸入信號的數(shù)據(jù)輸入端子，以及用于接收時鐘信號的時鐘端子。管線掃描觸發(fā)器406具有用于接收數(shù)據(jù)輸入信號的數(shù)據(jù)輸入端子、用于接收測試模式集的掃描輸入端子、用于接收使能信號的掃描使能輸入端子，以及用于接收時鐘信號的時鐘端子。管線掃描觸發(fā)器406的輸出端子輸出管線掃描使能信號。第一 OR門408具有與測試掃描觸發(fā)器404的輸出端子連接用于接收數(shù)據(jù)輸入信號的第一輸入端子，用于接收使能信號的第二輸入端子，以及用于輸出測試控制信號的輸出端子。第二 OR門410具有用于接收使能信號的第一輸入端子，與管線掃描觸發(fā)器406的輸出端子連接用于接收管線掃描使能信號的第二輸入端子，以及用于輸出掃描使能信號的輸出端子。
[0034]在操作中，處理器206識別出與第一觀察測試點集對應(yīng)的第一掃描觸發(fā)器402，并且將復(fù)用器412插入第一觀察測試點集與第一掃描觸發(fā)器402之間。第一觀察測試點集生成第一測試信號集。處理器206將OR門408的輸出端子連接至復(fù)用器412的選擇輸入端子，用于提供測試控制信號。處理器206將第一觀察測試點集連接至復(fù)用器412的第一輸入端子，用于提供觀察測試信號。處理器206接收來自ATPG和PRPG中的至少一個的測試模式集，并且將測試模式集提供給復(fù)用器412的第二輸入端子。復(fù)用器412的輸出端子基于測試控制信號的邏輯狀態(tài)而輸出第一測試信號集和測試模式集中的至少一個。處理器206將復(fù)用器412的輸出端子連接至第一掃描觸發(fā)器402的掃描輸入端子，用于給其提供第一測試信號集和測試模式集中的至少一個。處理器206將數(shù)據(jù)輸入信號提供給第一掃描觸發(fā)器402的數(shù)據(jù)輸入端子。處理器206將第二 OR門410的輸出端子連接至第一掃描觸發(fā)器402的掃描使能輸入端子，用于提供掃描使能信號。第一掃描觸發(fā)器402的時鐘輸入端子接收時鐘信號。第一掃描觸發(fā)器402的輸出端子基于測試控制信號的邏輯狀態(tài)而輸出第一測試信號集和測試模式集中的至少一個。
[0035]當(dāng)使能信號在IC設(shè)計400的移位操作期間處于邏輯高的狀態(tài)時，第一 OR門408和第二 OR門410的輸出端子分別生成邏輯高的測試控制和掃描使能信號。復(fù)用器412在其選擇輸入端子處接收邏輯高測試控制信號，并且將測試模式集輸出到第一掃描觸發(fā)器402的掃描輸入端子。因此，當(dāng)測試控制和掃描使能信號處于邏輯高的狀態(tài)時，第一掃描觸發(fā)器402在其輸出端子輸出測試模式集。
[0036]在IC 400的操作的功能模式期間，使能信號處于邏輯低的狀態(tài)。管線掃描使能信號在捕獲操作期間至少處于邏輯高或邏輯低的狀態(tài)。在本發(fā)明的一種實施例中，當(dāng)管線掃描使能信號在捕獲操作期間處于邏輯高的狀態(tài)時，掃描使能信號生成于第二 OR門410的輸出端子，處于邏輯高的狀態(tài)。因此，第一測試信號集和測試模式集中的至少一個基于測試控制信號的邏輯狀態(tài)而在第一掃描觸發(fā)器402的輸出端子輸出。如果測試控制信號被生成為邏輯低的狀態(tài)，則復(fù)用器412將第一測試信號集輸出到第一掃描觸發(fā)器402的掃描輸入端子。如果測試控制信號被生成為邏輯高的狀態(tài)，則復(fù)用器412將測試模式集輸出到第一掃描觸發(fā)器402的掃描輸入端子。在本發(fā)明的另一種實施例中，當(dāng)管線掃描使能信號在捕獲操作期間處于邏輯低的狀態(tài)時，掃描使能信號在第二 OR門410的輸出端子處被生成為邏輯低的狀態(tài)。因此，第一掃描觸發(fā)器402在其輸出端子輸出數(shù)據(jù)輸入信號。此外，第一掃描觸發(fā)器404、測試掃描觸發(fā)器404和管線掃描觸發(fā)器406是IC設(shè)計400的掃描路徑的一部分。因而，沒有對IC設(shè)計400添加額外的觸發(fā)器，并且因此IC設(shè)計400的結(jié)構(gòu)測試沒有招致額外的生產(chǎn)成本和面積開銷。在本發(fā)明的另一種實施例中，使用IC設(shè)計400制作的可測試的IC(未示出)能夠使用掃描測試和內(nèi)建自測試(BIST)機制中的至少一個來成功地測試。
[0037]圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的一種實施例的可測試的IC 500的示意性框圖?？蓽y試的IC 500包含與可測試的IC 500的第一邏輯元件集(未示出)的輸出對應(yīng)的第一觀察測試點集(A-H)、可測試的IC 500的掃描路徑(未不出)的第一掃描觸發(fā)器502、第一至第三XOR門(504-508)、復(fù)用器510、AND門512和OR門514。EDA工具200被用來修改用于在可測試的IC 500的設(shè)計階段期間增大其故障覆蓋率的IC500。EDA工具200將第一至第三XOR門(504-508)、復(fù)用器510、AND門512和OR門514插入第一觀察測試點集與第一掃描觸發(fā)器502之間?？蓽y試的IC 500基于改進的IC設(shè)計500來制造。第一 XOR門504的第一至第四輸入端子分別連接至觀察測試點A、B、C和D。第一 XOR門504的輸出端子輸出第一測試信號。第二 XOR門506的第一至第四輸入端子分別連接至觀察測試點E、F、G和
H。第二 XOR門506的輸出端子輸出第二測試信號。第三XOR門508具有與第一 XOR門504的輸出端子連接用于接收第一測試信號的第一輸入端子，與第二 XOR門506的輸出端子連接用于接收第二測試信號的第二輸入端子，以及用于輸出觀察測試信號的輸出端子。復(fù)用器510具有用于接收外部測試控制信號的選擇輸入端子，與第三XOR門508的輸出端子連接用于接收觀察測試信號的第一輸入端子，以及用于接收測試模式集的第二輸入端子。在一個實例中，當(dāng)可測試的IC 500由ATE(未示出)進行結(jié)構(gòu)測試時，測試模式集由ATPG或PRPG(未示出)生成。在另一個實例中，當(dāng)BIST被調(diào)用時，測試模式集由可測試的IC 500在內(nèi)部生成。復(fù)用器510的輸出端子基于測試控制信號的邏輯狀態(tài)而輸出測試模式集和觀察測試信號中的至少一個。
[0038]AND門512具有與第三XOR門508的輸出端子連接用于接收觀察測試信號的第一輸入端子，用于接收外部觀察測試點使能信號的第二輸入端子，以及用于輸出觀察測試信號的輸出端子。OR門514具有與AND門512的輸出端子連接用于接收觀察測試信號的第一輸入端子，用于接收外部掃描使能信號的第二輸入端子，以及用于輸出觀察測試信號的輸出端子。第一掃描觸發(fā)器502的數(shù)據(jù)輸入端子接收數(shù)據(jù)輸入信號。第一掃描觸發(fā)器502的掃描輸入端子連接至復(fù)用器510的輸出端子，用于接收測試模式集和觀察測試信號中的至少一個。第一掃描觸發(fā)器502的掃描使能輸入端子連接至OR門514的輸出端子，用于接收觀察測試信號。第一掃描觸發(fā)器502的輸出端子輸出數(shù)據(jù)輸入信號、測試集和觀察測試信號中的至少一個。
[0039]在操作中，觀察測試點使能信號在可測試的IC 500的結(jié)構(gòu)測試期間處于邏輯高的狀態(tài)。當(dāng)掃描使能信號在可測試的IC 500的移位操作期間處于邏輯高的狀態(tài)時，測試模式集和觀察測試信號中的至少一個基于測試控制信號的邏輯狀態(tài)而在第一掃描觸發(fā)器502的輸出端子輸出。當(dāng)掃描使能信號在可測試的IC 500的捕獲操作期間處于邏輯低的狀態(tài)時，數(shù)據(jù)輸入信號和測試模式集中的至少一個基于觀察測試信號的邏輯狀態(tài)而在第一掃描觸發(fā)器502的輸出端子輸出。如果測試控制信號處于邏輯低的狀態(tài)，則復(fù)用器510將觀察測試信號輸出到第一掃描