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觸控板及其觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量的補(bǔ)償方法

文檔序號(hào):9864979閱讀:431來(lái)源:國(guó)知局
觸控板及其觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量的補(bǔ)償方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種觸控板及其觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量的補(bǔ)償方法,特別是涉及一種具有多個(gè)抗擾斑塊的觸控板及其觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量的補(bǔ)償方法。
【背景技術(shù)】
[0002]觸控板由于體積小、成本低、消耗功率低及使用壽命長(zhǎng),因此被廣泛地應(yīng)用在各類電子產(chǎn)品上,例如計(jì)算機(jī)、行動(dòng)電話等等,以作為輸入裝置,而使用者僅需以手指或觸控筆的導(dǎo)電性物件在面板上滑動(dòng)或接觸,使游標(biāo)產(chǎn)生相對(duì)移動(dòng)或絕對(duì)坐標(biāo)移動(dòng),即可完成包括文字書寫、卷動(dòng)視窗及虛擬按鍵等各種輸入?,F(xiàn)有技術(shù)中的觸控板的觸控感測(cè)單元大多為對(duì)稱型結(jié)構(gòu),例如圖1所示的觸控板10具有方形結(jié)構(gòu),觸控板10的觸控感測(cè)單元XO至X7及YO至Y5形成線跡(trace)并具有相同的形狀及面積,因此觸控感測(cè)單元的基本電容在觸控板上的分布是對(duì)稱的,觸控感測(cè)單元在觸控板上造成感應(yīng)量也是對(duì)稱且線性相等的,如圖2所示。
[0003]然而,隨著應(yīng)用不同,觸控板的形狀及結(jié)構(gòu)也隨著不同,產(chǎn)生了非對(duì)稱型觸控板,非對(duì)稱型觸控板是指包括觸控感測(cè)單元的外型、厚度、面積以及與接地層的距離等至少其一為非對(duì)稱者。觸控感測(cè)單元的基本電容正比于觸控感測(cè)單元的面積,且反比于觸控感測(cè)單元與接地層之間的距離,其關(guān)系可以下式表示:
[0004]C= e*(A/d) (I)
[0005]其中,C表示觸控感測(cè)單元的基本電容,ε表示介電系數(shù),A代表觸控感測(cè)單元的面積,d代表觸控感測(cè)單元與接地層之間的距離。倘若手指或觸控筆在觸控板上造成的感應(yīng)量以S表示,則感應(yīng)量S正比于(Λ C/C)。其中,Λ C為手指或觸控筆在觸控板上造成的觸控感測(cè)單元的基本電容的變化量。因此,觸控感測(cè)單元的面積及觸控感測(cè)單元與接地層的距離均會(huì)影響其基本電容的大小。以圖3具有圓形結(jié)構(gòu)的觸控板20為例,觸控板20的觸控感測(cè)單元XO至Χ5的長(zhǎng)度不相同,使得觸控感測(cè)單元XO至Χ5的面積不相等,同樣地,觸控感測(cè)單元YO至Υ6的面積也不相等,依據(jù)上述式(I),當(dāng)這些觸控感測(cè)單元與接地層的距離相等時(shí),面積愈大者,其基本電容愈大,導(dǎo)致觸控感測(cè)單元的基本電容在觸控板20上的分布為非對(duì)稱。由公式2可知,當(dāng)手指或觸控筆在觸控板20上操作時(shí),由于各觸控感測(cè)單元的基本電容不同,因此在不同位置產(chǎn)生的感應(yīng)量不同,如圖4所示,此種感應(yīng)量不對(duì)稱且不線性相等的現(xiàn)象導(dǎo)致手指或觸控筆操作時(shí)產(chǎn)生動(dòng)作誤判,且導(dǎo)致當(dāng)計(jì)算手指或觸控筆的位置時(shí)產(chǎn)生位置的偏移量。
[0006]此外,以一種現(xiàn)有技術(shù)中的觸控板的觸控感測(cè)結(jié)構(gòu)來(lái)說(shuō),觸控板包含一基板及多個(gè)觸控感測(cè)元件,觸控感測(cè)元件設(shè)置于基板上用以感測(cè)使用者的觸控而產(chǎn)生電信號(hào),電信號(hào)經(jīng)過處理后即可得到使用者的觸控坐標(biāo)。然而,由于觸控感測(cè)元件之間僅隔ΙΟμπι?30 μ m之間的間隙,因此當(dāng)制造過程中有粒子掉落或是刮傷產(chǎn)生時(shí),左右或上下相鄰的觸控感測(cè)元件很容易形成短路,而造成觸控功能失效以及良率下降。因此,如何提供一種抗擾觸控感測(cè)結(jié)構(gòu),能夠解決上述短路的問題,進(jìn)而提升觸控效能、產(chǎn)品良率及準(zhǔn)確度,實(shí)為當(dāng)前重要課題之一。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的目的在于提供一種觸控板及其觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量的補(bǔ)償方法,用以克服上述短路的缺陷,并且提升觸控效能、產(chǎn)品良率及準(zhǔn)確度。
[0008]本發(fā)明的技術(shù)方案是提供一種觸控板的觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量的補(bǔ)償方法。上述補(bǔ)償方法包括下列步驟:提供觸控板;將多個(gè)觸控感測(cè)單元共平面地設(shè)置于觸控板上;在上述多個(gè)觸控感測(cè)單元中的每?jī)蓚€(gè)相鄰的觸控感測(cè)單元之間形成一間隙區(qū);將至少一抗擾斑塊設(shè)置于間隙區(qū)內(nèi);檢測(cè)觸控板的各觸控感測(cè)單元的基本電容及所述基本電容的變化量;執(zhí)行一固件,以依據(jù)固件的多個(gè)參數(shù),將各觸控感測(cè)單元的基本電容的變化量轉(zhuǎn)換為各觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量;以及當(dāng)轉(zhuǎn)換而得的各觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量基本上呈非線性關(guān)系時(shí),調(diào)整上述多個(gè)參數(shù)中的至少一個(gè)參數(shù),并依據(jù)調(diào)整后的固件的多個(gè)參數(shù),再將各觸控感測(cè)單元的基本電容的變化量轉(zhuǎn)換為各觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量,以使轉(zhuǎn)換而得的各觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量基本上呈線性關(guān)系。
[0009]本發(fā)明還提供一種觸控板。觸控板包括多個(gè)觸控感測(cè)單元、多個(gè)抗擾斑塊、感測(cè)器及處理器。多個(gè)觸控感測(cè)單元共平面地設(shè)置于觸控板上。每一個(gè)抗擾斑塊設(shè)置在形成于兩個(gè)相鄰的觸控感測(cè)單元之間的間隙區(qū)。感測(cè)器耦接于多個(gè)觸控感測(cè)單元,用以檢測(cè)觸控板的各觸控感測(cè)單元的基本電容及所述基本電容的變化量。處理器耦接于感測(cè)器,用以執(zhí)行固件,以依據(jù)固件的多個(gè)參數(shù),將各觸控感測(cè)單元的基本電容的變化量轉(zhuǎn)換為各觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量。其中處理器用以當(dāng)轉(zhuǎn)換而得的各觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量基本上呈非線性關(guān)系時(shí),調(diào)整上述多個(gè)參數(shù)中的至少一個(gè)參數(shù),并依據(jù)調(diào)整后的固件的多個(gè)參數(shù),再將各觸控感測(cè)單元的基本電容的變化量轉(zhuǎn)換為各觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量,以使轉(zhuǎn)換而得的各觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量基本上呈線性關(guān)系。
[0010]通過本發(fā)明提供的觸控板及其觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量的補(bǔ)償方法,能夠克服當(dāng)制造過程中有粒子掉落或是刮傷產(chǎn)生時(shí),左右或上下相鄰的觸控感測(cè)元件很容易形成短路,而造成觸控功能失效以及良率下降。
【附圖說(shuō)明】
[0011]圖1顯示一種現(xiàn)有技術(shù)中的方形觸控板的示意圖。
[0012]圖2顯示手指或觸控筆在圖1的方形觸控板感應(yīng)器上造成的感應(yīng)量。
[0013]圖3顯示一種現(xiàn)有技術(shù)中的圓形觸控板感應(yīng)器的示意圖。
[0014]圖4顯示手指或觸控筆在圖3的圓形觸控板感應(yīng)器上造成的感應(yīng)量。
[0015]圖5是本發(fā)明一實(shí)施例觸控板的功能方塊圖。
[0016]圖6為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控板的剖面示意圖。
[0017]圖7為本實(shí)施例的觸控板的另一態(tài)樣的示意圖。
[0018]圖8為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控板的俯視示意圖。
[0019]圖9為本發(fā)明另一實(shí)施例的觸控板的俯視示意圖。
[0020]圖10為本發(fā)明另一實(shí)施例的觸控板的俯視示意圖。
[0021]圖11為本發(fā)明一實(shí)施例觸控板的觸控感測(cè)單元的感應(yīng)量的補(bǔ)償方法的流程圖。
[0022]其中,附圖標(biāo)記說(shuō)明如下:
[0023]10、20、100、100a、100b、100c 觸控板 11 基板
[0024]130、130b、130c抗擾斑塊14 間隙區(qū)
[0025]15、15a接地單元16 間隙區(qū)
[0026]111表面
[0027]120、120a、120b、120c觸控感測(cè)單元121觸控感測(cè)元件
[0028]130抗擾斑塊 140 感測(cè)器
[0029]150處理器160 固件
[0030]162參數(shù)170 內(nèi)存
[0031]172感應(yīng)量&至(;基本電容
[0032]Λ C1至ACn變化量SllO至S170 步驟
[0033]XO至Χ7、YO至Υ6 觸控感測(cè)單元
【具體實(shí)施方式】
[0034]以下將參照附圖,說(shuō)明本發(fā)明各實(shí)施例的觸控板,其中相同的元件將以相同的附圖標(biāo)記加以說(shuō)明。請(qǐng)參考圖5及圖6,圖5是本發(fā)明一實(shí)施例觸控板100的功能方塊圖,而圖6為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控板100的剖面示意圖。觸控板100包括多個(gè)觸控感測(cè)單元120、多個(gè)抗擾斑塊130、感測(cè)器140及處理器150?;?1例如是玻璃基板、塑膠基板、陶瓷基板、藍(lán)寶石基板或其他材質(zhì)的基板,于本實(shí)施例中是以玻璃基板為例?;?1可為剛性基板或可撓性基板,當(dāng)基板11為可撓性基板時(shí),基板11可應(yīng)用于可撓性顯示器。在應(yīng)用上,基板11可為透光蓋板(cover glass)以減少應(yīng)用的觸控顯示面板的厚度。觸控感測(cè)單元120共平面地設(shè)置于觸控板100的基板11上,而兩相鄰的觸控感測(cè)單元120之間形成間隙區(qū)14。觸控感測(cè)單元120可由透光導(dǎo)電材質(zhì)制成,例如由氧化銦錫(Indium tin oxide,ITO)或其他金屬氧化物制成。觸控感測(cè)單元120設(shè)置于基板11的表面111上而形成共平面的結(jié)構(gòu)。圖6所示的兩個(gè)觸控感測(cè)單元120相互絕緣。
[0035]抗擾斑塊130設(shè)置于間隙區(qū)14內(nèi)。在實(shí)施上,為減少制造觸控板100時(shí)的工藝步驟,可令抗擾斑塊130與觸控感測(cè)單元120通過同一個(gè)工藝步驟制造而成,且二者具有相同的材質(zhì)。然而,本發(fā)明并不以此為限。在此實(shí)施例中,抗擾斑塊130由導(dǎo)電材質(zhì)制成,且電性浮接(floating),而抗擾斑塊130與相鄰的觸控感測(cè)單元120之間間隔一距離。通過將抗擾斑塊130設(shè)置于間隙區(qū)14內(nèi),可使觸控感測(cè)單元120的間距(間隙區(qū)14)加大,如此一來(lái),即使有粒子P掉落或刮傷產(chǎn)生時(shí),相鄰的觸控感測(cè)單元120也不會(huì)形成短路,因而避免觸控失效并能提升產(chǎn)品良率。此外,原本觸控感測(cè)單元120之間距加大可能會(huì)讓人眼辨識(shí)其存在,但通過抗擾斑塊130設(shè)置于相鄰觸控感測(cè)單元120之間,使得人眼不易發(fā)現(xiàn),因而能維持顯示效能。舉例來(lái)說(shuō),抗擾斑塊130的寬度介于50 μ m與70 μ m之間,間隙區(qū)14的寬度介于70μπι與130 μ m之間。在一實(shí)施例中,抗擾斑塊130的材質(zhì)可包含金屬氧化物。另外,抗擾斑塊130可為一塊狀斑塊或包含至少一彎折狀斑塊。
[0036]圖7為本實(shí)施例的觸控板100的另一態(tài)樣的示意圖。如圖7所示,觸控板I更包括一接地單元15,其與觸控感測(cè)單元120共平面,且與相鄰的觸控感測(cè)單元120之間形成間隙區(qū)16。此外,至少一抗擾斑塊130設(shè)置于間隙區(qū)16內(nèi)。同樣的,在實(shí)施上,為減少制造觸控板100時(shí)的工藝步驟,可令抗擾斑塊130與觸控感測(cè)單元120通過同一個(gè)工藝步驟制造而成,且二者具有相同的材質(zhì)。然而,本發(fā)明不以此為限。在此實(shí)施例中,抗擾斑塊130由導(dǎo)電材質(zhì)制成,且電性浮接。通過將抗擾斑塊130設(shè)置于間隙區(qū)16內(nèi),可使觸控感測(cè)單元120與接地單元15之間距(間隙區(qū)16)加大,如此一來(lái),即使有粒子P掉落或刮傷產(chǎn)生時(shí),相鄰的觸控感測(cè)單元120與接地單元15也不會(huì)形成短路,因而避免觸控失效并能提升產(chǎn)品良率。此外,原本觸控感測(cè)單元120與接地單元15之間距加大可能會(huì)讓人眼辨識(shí)其存在,但通過抗擾斑塊130設(shè)置于相鄰觸控感測(cè)單元120與接地單元15之間,使得人眼不易發(fā)現(xiàn),因而能維持顯示效能。舉例來(lái)說(shuō),抗擾斑塊130的寬度介于50 μ m與70 μ m之間,間隙區(qū)16的寬度介于70μπι與130 μ m之間。
[0037]就俯視的方向來(lái)說(shuō),本發(fā)明不特別限制觸控感測(cè)單元120、抗擾斑塊130以及接地單元15的形狀,其可例如為弧形、三角形、四邊形(例如菱形)、其他多邊形、或其組合。以下以圖8至圖10舉例說(shuō)明。圖8為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控板10a的俯視TK意圖,其中,觸控板10a的觸控感測(cè)單元120a為類似四邊形的形狀,接地單元15a環(huán)設(shè)于觸控感測(cè)單元120a,例如是位于相鄰的觸控感測(cè)單元120a之間。此外,抗擾斑塊130設(shè)置于接地單元15a與觸控感測(cè)單
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