個(gè)初始圖像I中的位置來(lái)確定出。
[0133] 通過(guò)如下的公式來(lái)獲得差異圖像ID :
[0134] iD ^ | ?I (5)
[0135] 其中，I代表重建出的初始圖像，1代表由laj)i獲得的校正的圖像。
[0136] 在獲得差異圖像ID之后，對(duì)差異圖像ID進(jìn)行平滑，從而從差異圖像ID中移除高頻 成分。
[0137] 在步驟s27中，用平滑后的差異圖像來(lái)更新一個(gè)或多個(gè)輸出圖像L，從而輸出圖像 I。將會(huì)顯得更加自然，沒(méi)有閃爍。
[0138]在本發(fā)明的一個(gè)【具體實(shí)施方式】中，使用如下的公式來(lái)獲得輸出圖像L:
[0139] 10 ?I+C2xsmooth(I-I) (6)
[0140] 其中，smooth代表平滑運(yùn)算器，以及C2代表用于在平滑運(yùn)算器之后將差異水平映 射到差異圖像|：?一I)的參數(shù)。
[0141] 本發(fā)明的第二【具體實(shí)施方式】的用于消除由性能差異的探測(cè)器單元所致的條狀偽 影的方法通過(guò)從帶有條狀偽影的重建出的一個(gè)或多個(gè)初始圖像I中識(shí)別出條狀偽影方向 的像素并且對(duì)條狀偽影像素進(jìn)行平滑處理，從而能夠從重建出的一個(gè)或多個(gè)初始圖像I中 直接移除條狀偽影，提高CT重建圖像的質(zhì)量。
[0142] 性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)上的投影數(shù)據(jù)可以通過(guò)已知的插值方法利用相 鄰的探測(cè)器單元上的投影數(shù)據(jù)來(lái)估算出。然而，人體中的微小結(jié)構(gòu)可能會(huì)引起較大的估算 誤差，而這種估算誤差通過(guò)先進(jìn)的插值方法是無(wú)法降低的，因此，本發(fā)明提出了第三具體實(shí) 施方式的用于消除由性能差異的探測(cè)器單元所致的條狀偽影的方法。導(dǎo)致該估算誤差的根 源在于由性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)所引起的低采樣率，在本方法中，可以使用來(lái)自 正弦圖的冗余信息來(lái)減小該估算誤差。由于X射線源S的共軛投影射線是最有可能穿過(guò)類(lèi) 似的微小結(jié)構(gòu)，同時(shí)又由于X射線線束162的錐形角度不能直接使用共軛投影射線的共軛 投影數(shù)據(jù)，所以，本方法利用在共軛位置處的共軛探測(cè)器單元的高采樣率來(lái)生成校正數(shù)據(jù)， 從而來(lái)獲得由性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)的低采樣率通過(guò)插值方法所導(dǎo)致的估算誤 差。以下將就本發(fā)明的第三【具體實(shí)施方式】的用于消除由性能差異的探測(cè)器單元所致的條狀 偽影的方法進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0143] 圖6示出根據(jù)本發(fā)明的第三【具體實(shí)施方式】的用于消除由性能差異的探測(cè)器單元 所致的條狀偽影的方法的流程圖。現(xiàn)在參照?qǐng)D6所示，根據(jù)本發(fā)明的第三【具體實(shí)施方式】的 用于消除由性能差異的探測(cè)器單元所致的條狀偽影的方法包括如下步驟：
[0144] 在步驟s31中，估算出當(dāng)X射線源S位于一個(gè)或多個(gè)位置中每一個(gè)位置時(shí)對(duì)應(yīng)一 幀或多幀投影數(shù)據(jù)中的每一幀投影數(shù)據(jù)的性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)上的投影數(shù)據(jù) P (n, row, view)〇
[0145] 當(dāng)可旋轉(zhuǎn)機(jī)架12位于某一個(gè)掃描位置時(shí)，X射線源S位于如圖7a所示的位置，在 該位置處，由與該性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)相鄰的探測(cè)器單元上的感應(yīng)信息可以 計(jì)算出與該性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)相鄰的探測(cè)器單元上的投影數(shù)據(jù)。在本發(fā)明 的一個(gè)【具體實(shí)施方式】中，通過(guò)與該性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)相鄰的四個(gè)探測(cè)器單 元上的感應(yīng)信息，可以分別計(jì)算出在該位置處與性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)相鄰的 四個(gè)探測(cè)器單元上的投影數(shù)據(jù)P(n_2,row2,view)、P(n-l，row丨，view)、P(n+l，row+1，view) 及P(n+2,r〇W+2,view)。根據(jù)掃描方式的不同，相鄰的四個(gè)探測(cè)器單元所在的行數(shù)row2、 rowprow^及row+2可以與性能差異的探測(cè)器單元D(n,row)所在的行數(shù)row相同或不同。
[0146] 然后，可以使用任何已知的合適插值方法，用計(jì)算出的與性能差異的探測(cè)器單元 D(n，row)相鄰的探測(cè)器單元上的投影數(shù)據(jù)P(n-2，row2,view)、P(n-l，row丨，view)、P(n+l, 1'〇界+1，￥丨6￥)及？(11+2，1'〇￥+2，￥丨6￥)來(lái)估算出性能差異的探測(cè)器單元0(11，1'〇￥)上的投影數(shù) 據(jù)P(n，row,view)，即如以下公式所示：
[0147] P(n,row, view) = L(P(n-2,row 2, view) ,P(n-l,row17view) ,P(n+l,row+1, view), P (n+2, row+2, view)) (7)
[0148] 然而，本發(fā)明并不限于此。在本發(fā)明的另一個(gè)【具體實(shí)施方式】中，可以利用與性能差 異的探測(cè)器單元D(n，row)相鄰的兩個(gè)或多個(gè)探測(cè)器單元上的投影數(shù)據(jù)通過(guò)已知的插值方 法來(lái)估算出性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)上的投影數(shù)據(jù)P(n，row,view)。
[0149] 在步驟s32中，估算出當(dāng)X射線源S位于相對(duì)于每一個(gè)位置的共軛位置時(shí)對(duì)應(yīng)共 軛幀投影數(shù)據(jù)的共軛探測(cè)器單元D。(n。，row。）上的投影誤差數(shù)據(jù)(n。，row。，view。)，其中， 每一個(gè)位置和其共軛位置位于X射線源S在每一個(gè)位置時(shí)與性能差異的探測(cè)器單元D(n， row)之間的連線上。
[0150] 隨著可旋轉(zhuǎn)機(jī)架12的旋轉(zhuǎn)，X射線源S和探測(cè)器18隨之繞旋轉(zhuǎn)中心0旋轉(zhuǎn)，當(dāng)可 旋轉(zhuǎn)機(jī)架12旋轉(zhuǎn)到X射線源S在圖7a所示的位置的共軛位置時(shí)，即X射線源S隨之旋轉(zhuǎn) 到位于如圖7b所示的共軛位置，即圖7b所示的X射線源S的共軛位置對(duì)應(yīng)于在圖7a所示 的X射線源S的位置時(shí)性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)所在的位置。在圖7b所示的X射 線源S的共軛位置時(shí)，性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)從圖7a所示的位置旋轉(zhuǎn)到圖7b所 示的位置，而此時(shí)，性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)的共軛探測(cè)器單元Djn。，row。）恰好對(duì) 應(yīng)于圖7a所示的X射線源S的位置。
[0151] 在本發(fā)明的一個(gè)【具體實(shí)施方式】中，步驟s32包括：
[0152] 在步驟s321中，計(jì)算出當(dāng)X射線源S位于相對(duì)于每一個(gè)位置的共軛位置時(shí)對(duì)應(yīng)共 軛中貞投影數(shù)據(jù)的共軛探測(cè)器單元Djn。，row。）上的共軛投影數(shù)據(jù)PdOi。，row。，view。）。
[0153] 在圖7b所示的共軛位置處，X射線源S發(fā)出的共軛投影射線將由性能差異的探 測(cè)器單元D(n，row)的共軛探測(cè)器單元Djn。，row。）所感應(yīng)接收，由共軛探測(cè)器單元Djn。， row。）的感應(yīng)信息，可以直接計(jì)算出共軛探測(cè)器單元Djn。，row。）上的共軛投影數(shù)據(jù)PdOi。， rowc，view。）。
[0154] 在步驟s322中，估算出當(dāng)X射線源S位于相對(duì)于每一個(gè)位置的共軛位置時(shí)對(duì)應(yīng)共 軛中貞投影數(shù)據(jù)的共軛探測(cè)器單元Djn。，row。）上的共軛投影數(shù)據(jù)Pjn。，row。，view。）。
[0155] X射線源S位于圖7b所示的共軛位置處，通過(guò)與性能差異的探測(cè)器單元D(n，row) 相鄰的探測(cè)器單元對(duì)應(yīng)的共軛位置的探測(cè)器單元的感應(yīng)信息，可以計(jì)算出與共軛探測(cè)器單 元D(n，row)相鄰的探測(cè)器單元上的投影數(shù)據(jù)。在本發(fā)明的一個(gè)【具體實(shí)施方式】中，通過(guò)與共 軛探測(cè)器單元D(n，row)相鄰的四個(gè)探測(cè)器單元，可以計(jì)算出在該位置處與共軛探測(cè)器單 元D(n,row)相鄰的四個(gè)探測(cè)器單元上的投影數(shù)據(jù)P。。(1-2,row。2,view。)、Ρ。。(η。-1,row。i, viewjAoO^+l，rowc+1，viewj及PmOv^，rowc+2,viewj。根據(jù)掃描方式的不同，相鄰的四 個(gè)探測(cè)器單元所在的行數(shù)row。2、row。prow#及roww可以與共軛探測(cè)器單元D。(n。，row。） 所在的行數(shù)row。相同或不同。
[0156] 然后，可以使用任何已知的合適插值方法，用計(jì)算出的與共軛探測(cè)器單元Djn。， rowc)相鄰的探測(cè)器單元上的投影數(shù)據(jù)Pc。(r^-2,row。2,view。）、row。丨，view。）、 PcoO^+Lrowwview。）及P^jOv^roWd；；,view。）來(lái)估算出共軛探測(cè)器單元De(n。，row。）上 的共軛投影數(shù)據(jù)PcOvrow。，view。)，即如以下公式所示：
[0157] Pc(nc，rowc，view。）=L(Pc0(nc-2，rowc2,view。），Pc0(nc-l，rowc 丄，view。），PC測(cè)（nc+l， rowc+1,viewc),Pc0(nc+2,rowc+2,viewj)
[0158] (8)
[0159] 然而，本發(fā)明并不限于此。在本發(fā)明的另一個(gè)【具體實(shí)施方式】中，可以利用與共軛探 測(cè)器單元Djn。，row。）相鄰的兩個(gè)或多個(gè)探測(cè)器單元上的投影數(shù)據(jù)通過(guò)已知的插值方法來(lái) 估算出共軛探測(cè)器單元Djn。，row。）上的共軛投影數(shù)據(jù)Pjn。，row。，view。）。
[0160] 在步驟s323中，從估算出的共軛探測(cè)器單元上的D。(n。，row。）共軛投影數(shù)據(jù)P。(n。， row。，view。）中減去計(jì)算出的共軛探測(cè)器單元上的Djn。，row。）共軛投影數(shù)據(jù)PdOi。，row。， view。)，從而來(lái)估算出共軛探測(cè)器單元Djn。，row。）上的投影誤差數(shù)據(jù)Ρα(n，row,view)，即 如以下公式所示：
[0161] pce(n,row,view) =Pc(nc,rowc,viewc)-Pc0 (nc,rowc,viewc) (9)
[0162] 在步驟s33中，用估算出的性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)上的投影數(shù)據(jù)P(n， row,view)和估算出的共軛探測(cè)器單元D。(n。，row。）上的投影誤差數(shù)據(jù)pee (n。，row。，view。） 來(lái)重建出一個(gè)或多個(gè)輸出圖像。
[0163] 進(jìn)一步地，步驟s33包括：
[0164] 步驟s331，從估算出的性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)上的投影數(shù)據(jù)P(n，row， view)中減去估算出的共軛探測(cè)器單元D。(n。,row。）上的投影誤差數(shù)據(jù)pra (n。,row。,view。)， 從而來(lái)獲得改進(jìn)后的投影數(shù)據(jù)row,view)，即如以下公式所示：
[0165]
[0166] 步驟s332,用改進(jìn)后的投影數(shù)據(jù)來(lái)重建出一個(gè)或多個(gè)輸出圖像。
[0167] 本發(fā)明的第三【具體實(shí)施方式】的用于消除由性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)所致 的條狀偽影的方法通過(guò)利用X射線源S的共軛投影射線并且利用與性能差異的探測(cè)器單元 D(n，row)的共軛探測(cè)器單元Djn。，row。）所感應(yīng)接收到的共軛投影射線，利用共軛探測(cè)器 單元D。(n。，row。）上可能產(chǎn)生的投影誤差數(shù)據(jù)Pa(n。，row。，view。）來(lái)估算出性能差異的探 測(cè)器單元D(n，row)上可能產(chǎn)生的估算誤差，減小由性能差異的探測(cè)器單元D(n，row)的低 采樣