內存模組ecc功能驗證方法、裝置及其產品的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及計算機領域，特別是涉及一種計算機內存模組ECC功能驗證方法、裝置及其產品。
【背景技術】
[0002]ECC (Error Checking and Correct1n,錯誤檢查和修正)，是一種能夠實現(xiàn)“錯誤檢查和糾正”的技術，ECC內存就是應用了這種技術的內存條，ECC內存能夠容許錯誤，并可以將錯誤更正，使系統(tǒng)得以持續(xù)正常的操作，不致因錯誤而中斷，ECC內存具有的自動更正能力，提聞了系統(tǒng)的可罪性。
[0003]工業(yè)計算機在很多應用場合下需要24小時X 365天不間斷的運行，因此對工業(yè)計算機的可靠性和穩(wěn)定性的要求極為苛刻，在高負載、長時間不間斷運行的狀態(tài)下，數(shù)據出錯就在所難免了。因此對工業(yè)計算機來說，內存模組擁有ECC功能是必不可少的。
[0004]ECC有如此強大的錯誤檢查和糾正的能力，因此，提供一種錯誤產生機制來驗證內存模組的ECC功能是否正常就變的十分必要?，F(xiàn)有技術針對內存模組ECC功能的驗證，主要是通過外部將內存的數(shù)據線與地連接，強制模擬產生邏輯O數(shù)據輸入ECC內存，然而當此時數(shù)據本就是邏輯O時，此方法并不能產生錯誤數(shù)據而激發(fā)ECC糾錯功能。
【發(fā)明內容】
[0005]基于此，有必要針對目前采用通過外部將內存的數(shù)據線與地連接，強制模擬產生邏輯O數(shù)據輸入ECC內存來驗證內存模組ECC功能的方法在數(shù)據本就是邏輯O時，會導致錯誤發(fā)生率低、驗證失效的問題，提供一種錯誤發(fā)生率聞、驗證精準、驗證效率聞的內存豐旲組ECC功能驗證方法。
[0006]此外，還有必要提供一種基于此內存模組ECC功能驗證方法的內存模組ECC功能驗證裝置及其產品
[0007]一種內存模組ECC功能驗證方法，包括以下步驟:
[0008]獲取內存控制器輸出的正確數(shù)據；
[0009]將所述正確數(shù)據轉換成錯誤數(shù)據；
[0010]所述錯誤數(shù)據存入內存芯片后經由內存控制器進行ECC校驗；將所述經過ECC校驗后的數(shù)據傳至系統(tǒng)CPU;
[0011]判斷所述系統(tǒng)是否正常工作，若是，則內存模組ECC功能正常，反之，內存模組ECC功能失效。
[0012]在其中一個實施例中，所述將所述正確數(shù)據轉換成錯誤數(shù)據的步驟包括:將所述正確數(shù)據中的一位或多位轉換成與之相反的錯誤數(shù)據。。
[0013]在其中一個實施例中，所述系統(tǒng)工作不正常的表現(xiàn)為:錯誤報警、藍屏、宕機中的一種。
[0014]一種內存模組ECC功能驗證裝置，包括:
[0015]輸入模塊，用于獲取內存控制器輸出的正確數(shù)據；
[0016]轉換模塊，用于將所述正確數(shù)據轉換成錯誤數(shù)據；
[0017]校驗模塊，用于將所述錯誤數(shù)據存入內存芯片后經由內存控制器進行ECC校驗；
[0018]輸出模塊，用于將所述經過ECC校驗后的數(shù)據傳至系統(tǒng)CPU ；
[0019]判斷模塊，用于判斷所述系統(tǒng)是否正常工作，若是，則內存模組ECC功能正常，反之，內存模組ECC功能失效。
[0020]在其中一個實施例中，所述轉換模塊包括反向電路，用于將所述正確數(shù)據中的一位或多位轉換成與之相反的錯誤數(shù)據。
[0021]在其中一個實施例中，所述系統(tǒng)工作不正常的表現(xiàn)為:錯誤報警、藍屏、宕機中的一種。
[0022]一種包含所述內存模組ECC功能驗證裝置的產品，所述產品還包含一個開關，當不需要進行內存模組ECC功能驗證時，將所述開關閉合，提供一個數(shù)據通路；當需要進行內存模組ECC功能驗證時，將所述開關斷開，正確的數(shù)據通過所述反向電路可變成與之相反的錯誤數(shù)據，存入內存芯片后經由內存控制器進行ECC校驗，以進行內存模組ECC功能驗證。
[0023]上述內存模組ECC功能驗證方法、裝置及其產品，通過將正確數(shù)據轉換成錯誤數(shù)據，確保了錯誤數(shù)據的發(fā)生率，以便精準的驗證內存模組ECC的糾錯能力，提高了內存模組ECC功能的驗證效率。
【附圖說明】
[0024]圖1是一個實施例中內存模組ECC功能驗證方法的流程圖；
[0025]圖2是一個實施例中內存模組ECC功能驗證裝置的結構框圖；
[0026]圖3是一個實施例中包含內存模組ECC功能驗證裝置的產品框圖；
[0027]圖4是另一個實施例中包含內存模組ECC功能驗證裝置的產品框圖。
【具體實施方式】
[0028]為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0029]圖1為一個實施例中內存模組ECC功能驗證方法的流程圖。該內存模組ECC功能驗證方法，包括以下步驟:
[0030]步驟102，獲取內存控制器輸出的正確數(shù)據。
[0031]具體的，所述獲取內存控制器輸出的正確數(shù)據可為:由外界輸入I個Ibit的數(shù)據“O”至內存芯片的一個數(shù)據引腳，內存控制器讀取所述數(shù)據引腳的所述數(shù)據“0”，并將所述數(shù)據“O”輸出。
[0032]步驟104，將所述正確數(shù)據轉換成錯誤數(shù)據。
[0033]具體的，可將所述正確數(shù)據“O”轉換成錯誤數(shù)據“ I ”。
[0034]步驟106，所述錯誤數(shù)據存入內存芯片后經由內存控制器進行ECC校驗；
[0035]具體的，ECC校驗可產生兩種結果:若ECC校驗成功，則所述錯誤數(shù)據“I”被校驗回正確數(shù)據“O” ;若ECC校驗失敗，則所述錯誤數(shù)據“I”仍是一位錯誤數(shù)據。
[0036]步驟108，將所述經過ECC校驗后的數(shù)據傳至系統(tǒng)CPU。
[0037]具體的，此時若ECC校驗成功，則是將正確數(shù)據“O”傳至系統(tǒng)CPU ;若ECC校驗失敗，則是將錯誤數(shù)據“O”傳至系統(tǒng)CPU。
[0038]步驟110，判斷所述系統(tǒng)是否正常工作，若是，則執(zhí)行步驟112，反之，則執(zhí)行步驟114。
[0039]步驟112，內存模組ECC功能正常。
[0040]具體的，若傳至系統(tǒng)CPU的數(shù)據為正確數(shù)據“0”，則內存模組ECC功能為正常。
[0041]步驟114，內存模組ECC功能失效。
[0042]具體的，若傳至系統(tǒng)CPU的數(shù)據為錯誤數(shù)據“ I ”，則內存模組ECC功能為失效。
[0043]具體的，判斷所述系統(tǒng)是否正常工作為判斷所述系統(tǒng)是否出現(xiàn)錯誤報警、藍屏、宕機中的一種，若是，則判定系統(tǒng)工作不正常，則內存模組ECC功能是失效的。
[0044]上述內存模組ECC功能驗證方法，通過將正確數(shù)據轉換成錯誤數(shù)據，確保了錯誤數(shù)據的發(fā)生率，以便精準的驗證內存模組ECC的糾錯能力，提高了內存模組ECC功能的驗證效率。
[0045]以上僅以校驗Ibit數(shù)據為例進行內存模組ECC功能驗證方法的說明，同理，可實現(xiàn)多bit數(shù)據的校驗。
[0046]在一個優(yōu)選的實施例中，
[0047]步驟102，獲取內存控制器輸出的正確數(shù)據。
[0048]具體的，所述獲取內存控制器輸出的正確數(shù)據可為:由外界輸入5bit的數(shù)據“10110”至內存芯片的一個數(shù)據引腳，內存控制器讀取所述數(shù)據引腳的所述數(shù)據“10110”，并將所述數(shù)據“10110”輸出。
[0049]步驟104，將所述正確數(shù)據轉換成錯誤數(shù)據的步驟包括:將所述正確數(shù)據中的一位或多位轉換成與之相反的錯誤數(shù)據。
[0050]具體的，可將正確數(shù)據“10110”轉換為錯誤數(shù)據“01100”。
[0051]步驟106，所述錯誤數(shù)據存入內存芯片后經由內存控制器進行ECC校驗。
[0052]具體的，ECC校驗可產生兩種結果:若ECC校驗成功，則所述錯誤數(shù)據“01100”被校驗回正確數(shù)據“10110”；若ECC校驗失敗，則所述錯誤數(shù)據“01100”仍是錯誤數(shù)據。
[0053]步驟108，將所述經過ECC校驗后的數(shù)據傳至系統(tǒng)CPU。
[0054]具體的，此時若ECC校驗成功，則是將正確數(shù)據“10110”傳至系統(tǒng)CPU ;gECC校驗失敗，則是將錯誤數(shù)據“01100”傳至系統(tǒng)CPU。
[0055]步驟110，判斷所述系統(tǒng)是否正常工作，若是，則執(zhí)行步驟112，反之，則執(zhí)行步驟114。
[0056]步驟112，內存模組ECC功能正常。
[0057]具體的，若傳至系統(tǒng)CPU的數(shù)據為正確數(shù)據“ 10110”，則內存模組ECC功能為正常。
[0058]步驟114，內存模組ECC功能失效。
[0059]具體的，若傳至系統(tǒng)(PU的數(shù)據為錯誤數(shù)據“01100”，則內存模組ECC功能為失效。
[0060]具體的，判斷所述系統(tǒng)是否正常工作為判斷所述系統(tǒng)是否出現(xiàn)內存錯誤報警、藍屏、宕機中的一種，若是，則判定系統(tǒng)工作不正常，則內存模組ECC功能是失效的。
[0061]上述內存模組ECC功能驗證方法，通過將正確數(shù)據轉換成錯誤數(shù)據，確保了錯誤數(shù)據的發(fā)生率，以便精準的驗證內存模組ECC的糾錯能力，提高了內存模組ECC功能的驗證效率。
[0062]圖2為一個實施例中內存模組ECC功能驗證裝置的結構框圖。該內存模組ECC功能驗證裝置20包括以下部分:
[0063]輸入模塊202,用于獲取內存控制器輸出的正確數(shù)據；
[0064]具體的，所述獲取內存控制器輸出的正確數(shù)據可為:由外界輸入I個Ibit的數(shù)據“O”至內存芯片的一個數(shù)據引腳，內存控制器讀取所述數(shù)據引腳的搜書數(shù)據“0”，并將所述數(shù)據“O”輸出。
[0065]轉換模塊204，用于將所述正確數(shù)據轉換成錯誤數(shù)據；
[0066]具體的，所述轉換模塊可包含一個反向電路，該反向電路可由任意能夠實現(xiàn)反向功能的元器件組成，可將所述正確數(shù)據“O”轉換成錯誤數(shù)據“ I ”。
[0067]校驗模塊206，用于將所述錯誤數(shù)據存入內存芯片后經由內存控制器進行ECC校驗;
[0068]具體的，ECC校驗可產生兩種結果:若ECC校驗成功，則所述錯誤數(shù)據“I”被校驗回正確數(shù)據“O