本申請涉及android系統(tǒng)測試，尤其涉及android系統(tǒng)的測試方法、android系統(tǒng)的測試裝置、android系統(tǒng)的測試設(shè)備、存儲介質(zhì)及計算機程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、隨著android系統(tǒng)功能越來越豐富，在功能豐富的同時也給測試帶來很多新的挑戰(zhàn)。android系統(tǒng)版本更新迭代頻繁，當(dāng)android系統(tǒng)ui（user?interface，用戶界面）界面發(fā)生變化時，需要在測試腳本中對android系統(tǒng)中變化部分進行相應(yīng)的修改，現(xiàn)階段的測試腳本只能點對點進行測試和修改，維護和開發(fā)需要投入額外的人力。所以，使用合理高效的android系統(tǒng)的測試方法，將成為系統(tǒng)測試技術(shù)領(lǐng)域的主流。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本申請的主要目的在于提供一種android系統(tǒng)的測試方法、android系統(tǒng)的測試裝置、android系統(tǒng)的測試設(shè)備、存儲介質(zhì)及計算機程序產(chǎn)品，旨在解決android系統(tǒng)測試效率低的技術(shù)問題。

2、為實現(xiàn)上述目的，本申請?zhí)岢鲆环Nandroid系統(tǒng)的測試方法，所述的方法包括：

3、對android系統(tǒng)的android控件進行第一次封裝，得到android系統(tǒng)的組件；

4、對所述組件進行第二次封裝，得到所述組件的組件標(biāo)識；

5、在android系統(tǒng)的測試腳本中，通過所述組件標(biāo)識訪問所述android控件，得到android系統(tǒng)的測試結(jié)果。

6、在一實施例中，對android系統(tǒng)的android控件以及所述android控件的狀態(tài)進行第一次封裝，得到android系統(tǒng)的組件。

7、在一實施例中，根據(jù)所述組件、所述組件標(biāo)識和所述android控件，構(gòu)建得到組件庫；

8、通過封裝裝載android系統(tǒng)的設(shè)備的外設(shè)接口，構(gòu)建得到用于測試android系統(tǒng)的測試框架；

9、根據(jù)所述組件庫和所述測試框架，得到測試android系統(tǒng)的測試腳本。

10、在一實施例中，根據(jù)預(yù)設(shè)命令獲取預(yù)設(shè)時間段內(nèi)android系統(tǒng)的數(shù)據(jù)，其中，所述數(shù)據(jù)包括android系統(tǒng)的系統(tǒng)數(shù)據(jù)，android系統(tǒng)正在運行的應(yīng)用的應(yīng)用數(shù)據(jù)，以及android系統(tǒng)的日志數(shù)據(jù)；

11、在android系統(tǒng)的測試腳本中對android系統(tǒng)進行測試時，將所述數(shù)據(jù)作為測試數(shù)據(jù)，得到android系統(tǒng)的測試結(jié)果。

12、在一實施例中，對所述數(shù)據(jù)進行預(yù)處理，其中，所述預(yù)處理包括數(shù)據(jù)來源歸類和不同歸類下的異常分析。

13、在一實施例中，若所述測試結(jié)果為測試通過，則進行壓力測試，得到android系統(tǒng)的壓力測試結(jié)果；

14、若所述測試結(jié)果為測試未通過，則對android系統(tǒng)中的異常進行修復(fù)。

15、此外，為實現(xiàn)上述目的，本申請還提出一種android系統(tǒng)的測試裝置，所述android系統(tǒng)的測試裝置包括：

16、第一模塊，用于對android系統(tǒng)的android控件進行第一次封裝，得到android系統(tǒng)的組件；

17、第二模塊，用于對所述組件進行第二次封裝，得到所述組件的組件標(biāo)識；

18、測試模塊，用于在android系統(tǒng)的測試腳本中，通過所述組件標(biāo)識訪問所述android控件，得到android系統(tǒng)的測試結(jié)果。

19、此外，為實現(xiàn)上述目的，本申請還提出一種android系統(tǒng)的測試設(shè)備，所述設(shè)備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述計算機程序配置為實現(xiàn)如上文所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。

20、此外，為實現(xiàn)上述目的，本申請還提出一種存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)為計算機可讀存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如上文所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。

21、此外，為實現(xiàn)上述目的，本申請還提供一種計算機程序產(chǎn)品，所述計算機程序產(chǎn)品包括計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如上文所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。

22、本申請?zhí)岢隽艘环Nandroid系統(tǒng)的測試方法，該方法通過對android系統(tǒng)的android控件進行第一次封裝，得到android系統(tǒng)的組件；對組件進行第二次封裝，得到組件的組件標(biāo)識；將直接面向android控件編寫android系統(tǒng)的測試腳本的方式，改為面向組件編寫android系統(tǒng)的測試腳本；將android控件封裝在組件上，當(dāng)android系統(tǒng)ui界面發(fā)生變化時，只需要修改組件標(biāo)識對應(yīng)組件就能完成對測試腳本的修改，再根據(jù)測試腳本對android系統(tǒng)進行測試，提高了android系統(tǒng)測試的效率。

技術(shù)特征：

1.一種android系統(tǒng)的測試方法，其特征在于，所述的方法包括：

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對android系統(tǒng)的android控件進行第一次封裝，得到android系統(tǒng)的組件的步驟，包括：

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述組件進行第二次封裝，得到所述組件的組件標(biāo)識的步驟之后，包括：

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的方法包括：

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)預(yù)設(shè)命令獲取預(yù)設(shè)時間段內(nèi)android系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的步驟之后，包括：

6.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述在android系統(tǒng)的測試腳本中對android系統(tǒng)進行測試時，將所述數(shù)據(jù)作為測試數(shù)據(jù)，得到android系統(tǒng)的測試結(jié)果的步驟之后，包括：

7.一種android系統(tǒng)的測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

8.一種android系統(tǒng)的測試設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述計算機程序配置為實現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任一項所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。

9.一種存儲介質(zhì)，其特征在于，所述存儲介質(zhì)為計算機可讀存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任一項所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。

10.一種計算機程序產(chǎn)品，其特征在于，所述計算機程序產(chǎn)品包括計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任一項所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)
本申請公開了一種Android系統(tǒng)的測試方法、裝置、設(shè)備、存儲介質(zhì)及計算機程序產(chǎn)品，涉及Android系統(tǒng)測試技術(shù)領(lǐng)域，公開了Android系統(tǒng)的測試方法、Android系統(tǒng)的測試裝置、Android系統(tǒng)的測試設(shè)備、存儲介質(zhì)及計算機程序產(chǎn)品，包括：對Android系統(tǒng)的Android控件進行第一次封裝，得到Android系統(tǒng)的組件；對所述組件進行第二次封裝，得到所述組件的組件標(biāo)識；在Android系統(tǒng)的測試腳本中，通過所述組件標(biāo)識訪問所述Android控件，得到Android系統(tǒng)的測試結(jié)果。本申請能夠提高Android系統(tǒng)的測試效率。

技術(shù)研發(fā)人員：唐偉恒,張鶴,王正
受保護的技術(shù)使用者：東風(fēng)汽車集團股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/21