本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種內(nèi)嵌式觸摸面板的驅(qū)動(dòng)電路，以及利用該驅(qū)動(dòng)電路對(duì)內(nèi)嵌式觸摸面板進(jìn)行盒測(cè)試的檢測(cè)方法。

背景技術(shù)：

隨著智能電子產(chǎn)品的普及，電容式觸摸屏被廣泛應(yīng)用于智能手機(jī)、平板電腦等各種電子產(chǎn)品中?，F(xiàn)有的電容式觸摸屏結(jié)構(gòu)包括以G+G、G+F、GFF、OGS等為代表的外掛式電容屏以及以O(shè)n-cell、In-cell為代表的嵌入式電容屏。

近年來(lái)，人們追求越來(lái)越輕薄化的用戶式體驗(yàn)，導(dǎo)致出現(xiàn)OGS、On-cell、In-cell三種技術(shù)并爭(zhēng)的局面。其中，由于In-cell技術(shù)在制程上的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)，其可以做到比OGS、On-cell更輕薄、透光性更好，更能滿足客戶的需求，勢(shì)必成為未來(lái)電容式觸摸屏的主流。

混合內(nèi)嵌式觸控(Hybrid Incell Touch)技術(shù)是指在薄膜晶體管陣列側(cè)利用透明公共電極形成觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx圖形，在彩色濾光層利用背鍍ITO膜形成觸控感應(yīng)電極Rx圖形。

目前使用的混合內(nèi)嵌式觸控結(jié)構(gòu)在薄膜晶體管陣列側(cè)使用類似于柵極集成驅(qū)動(dòng)(Gate on array)的驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)觸控驅(qū)動(dòng)電極逐行掃描，能夠有效降低集成電路輸出針腳的數(shù)量。薄膜晶體管陣列側(cè)原本一整面的透明公共電極被分割為一個(gè)個(gè)的觸控驅(qū)動(dòng)電極圖形，若工藝出現(xiàn)不良，相鄰的觸控驅(qū)動(dòng)電極圖形可能產(chǎn)生短路，進(jìn)而造成觸控不良。若能在成盒制程時(shí)就將此相鄰的觸控驅(qū)動(dòng)電極短路信號(hào)檢測(cè)出來(lái)，就可以方式缺陷觸控面板進(jìn)入后段的工序，以避免模組物料的浪費(fèi)。

但是混合內(nèi)嵌式觸控面板在盒測(cè)試時(shí)，需要通過(guò)觸控驅(qū)動(dòng)電路為測(cè)試區(qū)的觸控驅(qū)動(dòng)電極圖形輸入相同的公共電平，所以無(wú)法檢測(cè)出相鄰觸控驅(qū)動(dòng)電極圖形間的短路情況。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中，在混合內(nèi)嵌式觸控面板盒測(cè)試時(shí)，無(wú)法對(duì)觸控驅(qū)動(dòng)電極進(jìn)行短路情況測(cè)試的缺陷。本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題之一即為提供一種用于混合內(nèi)嵌式觸摸面板的觸控驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)電路，同時(shí)提供一種在盒測(cè)試階段基于該觸控驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行的針對(duì)觸控驅(qū)動(dòng)電極缺陷檢測(cè)方法。

圖1所示為現(xiàn)有技術(shù)中混合內(nèi)嵌式觸控面板構(gòu)架，其與常規(guī)的互電容內(nèi)嵌式觸摸面板的結(jié)構(gòu)相似，每根觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx和觸控感應(yīng)電極Rx的交疊位置形成一個(gè)觸控單元，觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx和觸控感應(yīng)電極Rx相互對(duì)應(yīng)來(lái)確定觸控點(diǎn)的X、Y坐標(biāo)。其中包括：觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路100，其工作模式與柵極集成驅(qū)動(dòng)電路工作原理相類似，通過(guò)觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路100，對(duì)觸控驅(qū)動(dòng)電極(Tx)進(jìn)行逐行掃描；觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx圖案200，其為在薄膜晶體管陣列側(cè)，將透明公共電極進(jìn)行切割形成的相互獨(dú)立的觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx；觸控感應(yīng)電極Rx圖形300，其為在彩色濾光層背鍍ITO膜所形成觸控感應(yīng)電極Rx。觸控單元400，其表示一個(gè)由觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx和觸控感應(yīng)電極Rx的交疊位置構(gòu)成的觸控單元。當(dāng)觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx被驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行逐行掃描時(shí)，通過(guò)偵測(cè)觸控感應(yīng)電極Rx上的變化來(lái)確認(rèn)觸控電位。

圖2所示為現(xiàn)有技術(shù)中觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路的電路結(jié)構(gòu)，該觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路由移位選擇單元101和輸出單元102構(gòu)成。移位選擇單元101負(fù)責(zé)級(jí)傳信號(hào)的傳遞使觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路在時(shí)鐘信號(hào)的控制下逐級(jí)觸發(fā)，輸出單元120根據(jù)移位選擇單元101生成的選擇信號(hào)控制電路為觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx圖形輸入觸控驅(qū)動(dòng)電極掃描信號(hào)或公共電平信號(hào)。目前的混合內(nèi)嵌式觸控面板在進(jìn)行盒測(cè)試時(shí)通過(guò)時(shí)序控制，使所有的觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx電路都輸入一個(gè)相同的公共電平信號(hào)，所以無(wú)法檢測(cè)出相鄰觸控驅(qū)動(dòng)電極(Tx)圖形間的短路情況，只有最終組成模組后通過(guò)檢測(cè)觸控性能才能發(fā)現(xiàn)不良。

本發(fā)明的觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路的電路結(jié)構(gòu)如圖3所示，該觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路包括移位選擇單元、輸出單元、奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊和偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊。其中移位選擇單元、輸出單元結(jié)構(gòu)與現(xiàn)有技術(shù)中的相應(yīng)模塊結(jié)構(gòu)保持一致。所述奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊和所述偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊分別接收用于改變其所連接的驅(qū)動(dòng)電路的輸出模式的第一控制信號(hào)。奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊連接于奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊根據(jù)第一控制信號(hào)使奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)的輸出單元在第一輸出模式和第二輸出模式之間切換，所述第一輸出模式為輸出單元根據(jù)移位選擇單元所輸入的選擇信號(hào)輸出公共電平信號(hào)或觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)，所述第二輸出模式為輸出單元被強(qiáng)制輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)。

偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊連接于偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路，偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊根據(jù)第一控制信號(hào)使偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)的輸出單元在第一輸出模式和第三輸出模式之間切換，所述第三輸出模式為輸出單元被強(qiáng)制輸出公共電平信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊包括第一晶體管和第二晶體管；所述第一晶體管的源極連接移位選擇單元輸出的選擇信號(hào)輸出端，漏極連接輸出單元的選擇信號(hào)輸入端，柵極連接第一控制信號(hào)；所述第二晶體管的源極連接輸出單元，漏極連接高電平信號(hào)VGH，柵極連接第一控制信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊包括第三晶體管、第四晶體管和反相器；所述第三晶體管的源極連接移位選擇單元輸出的選擇信號(hào)輸出端，漏極連接輸出單元的選擇信號(hào)輸入端，柵極連接第一控制信號(hào)；所述反相器一端連接第一控制信號(hào)，另一端連接第四晶體管的柵極，第四晶體管的源極連接輸出單元，漏極連接低電平信號(hào)VGL。

根據(jù)上述觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路的電路結(jié)構(gòu)，當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)為高電平時(shí)，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊中的第一晶體管導(dǎo)通，選擇信號(hào)通過(guò)第一晶體管傳遞至輸出單元，同時(shí)第二晶體管處于截止?fàn)顟B(tài)，因此高電平信號(hào)VGH不會(huì)對(duì)輸出單元造成影響。偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊中的第三晶體管導(dǎo)通，選擇信號(hào)通過(guò)第一晶體管傳遞至輸出單元，同時(shí)第四晶體管處于截止?fàn)顟B(tài)，因此低電平信號(hào)VGL不會(huì)對(duì)輸出單元造成影響。

當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)跳變?yōu)榈碗娖綍r(shí)，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊中的第一晶體管截止，選擇信號(hào)無(wú)法通過(guò)第一晶體管傳遞至輸出單元，同時(shí)第二晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)，高電平信號(hào)VGH被輸入至輸出單元，此時(shí)輸出單元被強(qiáng)制輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)。偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊中的第三晶體管截止，選擇信號(hào)無(wú)法通過(guò)第一晶體管傳遞至輸出單元，同時(shí)第四晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)，低電平信號(hào)VGL被輸入至輸出單元，此時(shí)輸出單元被強(qiáng)制輸出公共電平信號(hào)。

本發(fā)明中，也可以使奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出為公共電平信號(hào)，而偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出為觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)。

即在一個(gè)實(shí)施例中觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路包括移位選擇單元、輸出單元、奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊和偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊。其中移位選擇單元、輸出單元結(jié)構(gòu)與現(xiàn)有技術(shù)中的相應(yīng)模塊結(jié)構(gòu)保持一致。所述奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊和所述偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊分別接收用于改變其所連接的驅(qū)動(dòng)電路的輸出模式的第一控制信號(hào)。奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊連接于奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊根據(jù)第一控制信號(hào)使奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)的輸出單元在第一輸出模式和第三輸出模式之間切換，所述第一輸出模式為輸出單元根據(jù)移位選擇單元所輸入的選擇信號(hào)輸出公共電平信號(hào)或觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)，所述第三輸出模式為輸出單元被強(qiáng)制輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極公共電平信號(hào)。

偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊連接于偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路，偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊根據(jù)第一控制信號(hào)使偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)的輸出單元在第一輸出模式和第二輸出模式之間切換，所述第二輸出模式為輸出單元被強(qiáng)制輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)。

在該實(shí)施例中，所述奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊包括第一晶體管和第二晶體管；所述第一晶體管的源極連接移位選擇單元輸出的選擇信號(hào)輸出端，漏極連接輸出單元的選擇信號(hào)輸入端，柵極連接第一控制信號(hào)；所述第二晶體管的源極連接輸出單元，漏極連接低電平信號(hào)VGL，柵極連接第一控制信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊包括第三晶體管、第四晶體管和反相器；所述第三晶體管的源極連接移位選擇單元輸出的選擇信號(hào)輸出端，漏極連接輸出單元的選擇信號(hào)輸入端，柵極連接第一控制信號(hào)；所述反相器一端連接第一控制信號(hào)，另一端連接第四晶體管的柵極，第四晶體管的源極連接輸出單元，漏極連接高電平信號(hào)VGH。

根據(jù)上述觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路的電路結(jié)構(gòu)，當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)為高電平時(shí)，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊中的第一晶體管導(dǎo)通，選擇信號(hào)通過(guò)第一晶體管傳遞至輸出單元，同時(shí)第二晶體管處于截止?fàn)顟B(tài)，因此低電平信號(hào)VGL不會(huì)對(duì)輸出單元造成影響。偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊中的第三晶體管導(dǎo)通，選擇信號(hào)通過(guò)第一晶體管傳遞至輸出單元，同時(shí)第四晶體管處于截止?fàn)顟B(tài)，因此高電平信號(hào)VGH不會(huì)對(duì)輸出單元造成影響。

當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)跳變?yōu)榈碗娖綍r(shí)，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊中的第一晶體管截止，選擇信號(hào)無(wú)法通過(guò)第一晶體管傳遞至輸出單元，同時(shí)第二晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)，低電平信號(hào)VGL被輸入至輸出單元，此時(shí)輸出單元被強(qiáng)制輸出公共電平信號(hào)。偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊中的第三晶體管截止，選擇信號(hào)無(wú)法通過(guò)第一晶體管傳遞至輸出單元，同時(shí)第四晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)，高電平信號(hào)VGH被輸入至輸出單元，此時(shí)輸出單元被強(qiáng)制輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)。

根據(jù)本發(fā)明的觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路，本發(fā)明的另一方面還在于提供了一種能夠在盒測(cè)試階段即對(duì)觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)方法，該檢測(cè)方法包括如下步驟：

步驟1，將第一控制信號(hào)由高電平跳變?yōu)榈碗娖?，使奇?shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)，使偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出公共電平信號(hào)；

步驟2，調(diào)整觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)與公共電平信號(hào)之間的電壓差及像素電極電壓，使觸控面板形成不同灰階條紋相間的圖案，即奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx處形成第一灰階條紋，偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx處形成第二灰階條紋，第一灰階條紋與第二灰階條紋灰度不同；

步驟3，相鄰行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx處灰階相同則為產(chǎn)生缺陷點(diǎn)位置。

本發(fā)明中，也可以使奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出為公共電平信號(hào)，而偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出為觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)。因此本發(fā)明的檢測(cè)方法也可以為：

步驟1，將第一控制信號(hào)由高電平跳變?yōu)榈碗娖剑蛊鏀?shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出公共電平信號(hào)，使偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)；

步驟2，調(diào)整觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)與公共電平信號(hào)之間的電壓差及像素電極電壓，使觸控面板形成不同灰階條紋相間的圖案，即奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx處形成第一灰階條紋，偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx處形成第二灰階條紋，第一灰階條紋與第二灰階條紋灰度不同；

步驟3，相鄰行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx處灰階相同則為產(chǎn)生缺陷點(diǎn)位置。

本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說(shuō)明書中闡述，并且，部分地從說(shuō)明書中變得顯而易見(jiàn)，或者通過(guò)實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過(guò)在說(shuō)明書、權(quán)利要求書以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)和獲得。

附圖說(shuō)明

附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說(shuō)明書的一部分，與本發(fā)明的實(shí)施例共同用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中：

圖1是現(xiàn)有技術(shù)中混合內(nèi)嵌式觸控面板結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是現(xiàn)有技術(shù)中混合內(nèi)嵌式觸控面板觸控驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)電路結(jié)構(gòu)圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的觸控驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)電路結(jié)構(gòu)圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的觸控驅(qū)動(dòng)電極電壓變化示意圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的觸控驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)電路結(jié)構(gòu)圖。

附圖標(biāo)記為：

1.移位選擇單元； 2.輸出單元；

3.奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊； 4.偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊；

5.第一控制信號(hào)； 6.高電平信號(hào)VGH；

7.低電平信號(hào)VGL； 31.第一晶體管；

32.第二晶體管； 41.第三晶體管；

42.第四晶體管； 43.反相器；

100.觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路； 200.觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx圖案；

300.觸控感應(yīng)電極Rx圖形； 400.觸控單元；

101.移位選擇單； 102.輸出單元。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步地詳細(xì)說(shuō)明。

第一實(shí)施例

圖3是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路。該觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路包括移位選擇單元1、輸出單元2、奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3和偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4。其中移位選擇單元1、輸出單元2結(jié)構(gòu)與現(xiàn)有技術(shù)中的相應(yīng)模塊結(jié)構(gòu)保持一致。奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3和偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4分別接收用于改變其所連接的驅(qū)動(dòng)電路的輸出模式的第一控制信號(hào)。奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3連接于奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3根據(jù)第一控制信號(hào)5使奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)的輸出單元2在第一輸出模式和第二輸出模式之間切換，所述第一輸出模式為輸出單元2根據(jù)移位選擇單元1所輸入的選擇信號(hào)輸出公共電平信號(hào)或觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)，所述第二輸出模式為輸出單元2被強(qiáng)制輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)。

偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4連接于偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路，偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4根據(jù)第一控制信號(hào)使偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)的輸出單元2在第一輸出模式和第三輸出模式之間切換，所述第三輸出模式為輸出單元2被強(qiáng)制輸出公共電平信號(hào)。

所述奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3包括第一晶體管31和第二晶體管32；所述第一晶體管31的源極連接移位選擇單元1輸出的選擇信號(hào)輸出端，漏極連接輸出單元2的選擇信號(hào)輸入端，柵極連接第一控制信號(hào)5；所述第二晶體管32的源極連接輸出單元2，漏極連接高電平信號(hào)VGH6，柵極連接第一控制信號(hào)5。其中第一晶體管31為N型薄膜晶體管，第二晶體管32為P型薄膜晶體管。

所述偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4包括第三晶體管41、第四晶體管42和反相器43；所述第三晶體管41的源極連接移位選擇單元1輸出的選擇信號(hào)輸出端，漏極連接輸出單元2的選擇信號(hào)輸入端，柵極連接第一控制信號(hào)5；所述反相器43一端連接第一控制信號(hào)5，另一端連接第四晶體管42的柵極，第四晶體管42的源極連接輸出單元2，漏極連接低電平信號(hào)VGL7，所述第三、四晶體管均為N型薄膜晶體管。

根據(jù)上述觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路的電路結(jié)構(gòu)，結(jié)合圖4，當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)5為高電平時(shí)，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3中的第一晶體管31導(dǎo)通，選擇信號(hào)通過(guò)第一晶體管31傳遞至輸出單元2，同時(shí)第二晶體管32處于截止?fàn)顟B(tài)，因此高電平信號(hào)VGH6不會(huì)對(duì)輸出單元2造成影響。偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4中的第三晶體管41導(dǎo)通，選擇信號(hào)通過(guò)第一晶體管41傳遞至輸出單元2，同時(shí)第四晶體管42處于截止?fàn)顟B(tài)，因此低電平信號(hào)VGL6不會(huì)對(duì)輸出單元2造成影響。

當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)5跳變?yōu)榈碗娖綍r(shí)，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3中的第一晶體管31截止，選擇信號(hào)無(wú)法通過(guò)第一晶體管31傳遞至輸出單元2，同時(shí)第二晶體管32處于導(dǎo)通狀態(tài)，高電平信號(hào)VGH6被輸入至輸出單元2，此時(shí)輸出單元2被強(qiáng)制輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)。偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4中的第三晶體管41截止，選擇信號(hào)無(wú)法通過(guò)第一晶體管41傳遞至輸出單元2，同時(shí)第四晶體管42處于導(dǎo)通狀態(tài)，低電平信號(hào)VGL7被輸入至輸出單元2，此時(shí)輸出單元2被強(qiáng)制輸出公共電平信號(hào)。

最終，奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出為觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)，而偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出為公共電平信號(hào)，當(dāng)像素電極輸入為觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)或公共電平信號(hào)時(shí)，奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx處所顯示畫面與偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx處所顯示畫面將產(chǎn)生不同灰階的圖案，而相鄰的奇偶行產(chǎn)生相同相同灰階時(shí)，該處即為觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx短路缺陷處。

本實(shí)施例的有益效果在于，在盒測(cè)試階段就可以針對(duì)觸控驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行的缺陷檢測(cè)，可以提前將具有缺陷的面板檢測(cè)出來(lái)，避免其流轉(zhuǎn)進(jìn)入下一工序，從而造成物料的浪費(fèi)。

第二實(shí)施例

如圖5所示的本發(fā)明第二實(shí)施例的觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路，該觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路包括移位選擇單元1、輸出單元2、奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3和偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4。其中移位選擇單元1、輸出單元2結(jié)構(gòu)與現(xiàn)有技術(shù)中的相應(yīng)模塊結(jié)構(gòu)保持一致。奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3和偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4分別接收用于改變其所連接的驅(qū)動(dòng)電路的輸出模式的第一控制信號(hào)。奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3連接于奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3根據(jù)第一控制信號(hào)5使奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)的輸出單元2在第一輸出模式和第三輸出模式之間切換，所述第一輸出模式為輸出單元2根據(jù)移位選擇單元1所輸入的選擇信號(hào)輸出公共電平信號(hào)或觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)，所述第三輸出模式為輸出單元2被強(qiáng)制輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極公共電平信號(hào)。

偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4連接于偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路，偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4根據(jù)第一控制信號(hào)5使偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx的相對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)的輸出單元2在第一輸出模式和第二輸出模式之間切換，所述第二輸出模式為輸出單元2被強(qiáng)制輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)。

在該實(shí)施例中，所述奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3包括第一晶體管31和第二晶體管32；所述第一晶體管31的源極連接移位選擇單元1輸出的選擇信號(hào)輸出端，漏極連接輸出單元2的選擇信號(hào)輸入端，柵極連接第一控制信號(hào)5；所述第二晶體管32的源極連接輸出單元2，漏極連接低電平信號(hào)VGL7，柵極連接第一控制信號(hào)5。

所述偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4包括第三晶體管41、第四晶體管42和反相器43；所述第三晶體管41的源極連接移位選擇單元1輸出的選擇信號(hào)輸出端，漏極連接輸出單元2的選擇信號(hào)輸入端，柵極連接第一控制信號(hào)5；所述反相器43一端連接第一控制信號(hào)5，另一端連接第四晶體管42的柵極，第四晶體管42的源極連接輸出單元2，漏極連接高電平信號(hào)VGH6。

根據(jù)上述觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路的電路結(jié)構(gòu)，當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)5為高電平時(shí)，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3中的第一晶體管31導(dǎo)通，選擇信號(hào)通過(guò)第一晶體管31傳遞至輸出單元2，同時(shí)第二晶體管32處于截止?fàn)顟B(tài)，因此低電平信號(hào)VGL7不會(huì)對(duì)輸出單元2造成影響。偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4中的第三晶體管41導(dǎo)通，選擇信號(hào)通過(guò)第一晶體管41傳遞至輸出單元2，同時(shí)第四晶體管42處于截止?fàn)顟B(tài)，因此高電平信號(hào)VGH6不會(huì)對(duì)輸出單元2造成影響。

當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)5跳變?yōu)榈碗娖綍r(shí)，奇數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊3中的第一晶體管31截止，選擇信號(hào)無(wú)法通過(guò)第一晶體管31傳遞至輸出單元2，同時(shí)第二晶體管32處于導(dǎo)通狀態(tài)，低電平信號(hào)VGL7被輸入至輸出單元2，此時(shí)輸出單元2被強(qiáng)制輸出公共電平信號(hào)。偶數(shù)行驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制模塊4中的第三晶體管41截止，選擇信號(hào)無(wú)法通過(guò)第一晶體管41傳遞至輸出單元2，同時(shí)第四晶體管42處于導(dǎo)通狀態(tài)，高電平信號(hào)VGH6被輸入至輸出單元2，此時(shí)輸出單元2被強(qiáng)制輸出觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)。

最終，奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出為公共電平信號(hào)，而偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx輸出為觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)，當(dāng)像素電極輸入為觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx掃描信號(hào)或公共電平信號(hào)時(shí)，奇數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx處所顯示畫面與偶數(shù)行觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx處所顯示畫面將產(chǎn)生不同灰階的圖案，而相鄰的奇偶行產(chǎn)生相同相同灰階時(shí)，該處即為觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx短路缺陷處。

本實(shí)施例的有益效果在于，在盒測(cè)試階段就可以針對(duì)觸控驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行的缺陷檢測(cè)，可以提前將具有缺陷的面板檢測(cè)出來(lái)，避免其流轉(zhuǎn)進(jìn)入下一工序，從而造成物料的浪費(fèi)。

第三實(shí)施例

根據(jù)前述第一實(shí)施例和第二實(shí)施例，本實(shí)施例提供一種觸控顯示裝置，該觸控顯示裝置包括顯示面板和觸控驅(qū)動(dòng)電路，所述顯示面板可以是液晶顯示面板、等離子顯示面板、發(fā)光二極管顯示面板或有機(jī)發(fā)光二極管顯示面板等。所述觸控驅(qū)動(dòng)電路采用如前述第一實(shí)施例和第二實(shí)施例中所述的觸控驅(qū)動(dòng)電極Tx驅(qū)動(dòng)電路。

本實(shí)施例的有益效果在于，在盒測(cè)試階段就可以針對(duì)觸控驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行的缺陷檢測(cè)，可以提前將具有缺陷的面板檢測(cè)出來(lái)，避免其流轉(zhuǎn)進(jìn)入下一工序，從而造成物料的浪費(fèi)。

以上所述，僅為本發(fā)明的具體實(shí)施案例，本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)的技術(shù)人員在本發(fā)明所述的技術(shù)規(guī)范內(nèi)，對(duì)本發(fā)明的修改或替換，都應(yīng)在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。