本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種開關(guān)機(jī)測試治具。

背景技術(shù)：

在計(jì)算機(jī)主板的設(shè)計(jì)制造過程中，計(jì)算機(jī)主板的可靠性測試是一項(xiàng)非常重要的測試內(nèi)容，這其中就包括計(jì)算機(jī)的開關(guān)機(jī)測試，而目前的開關(guān)機(jī)測試需要測試人員通過手動進(jìn)行測試，盡管這項(xiàng)測試并沒有難度，但是這項(xiàng)測試往往需要進(jìn)行較多次數(shù)(例如500次以上)的測試。

在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下技術(shù)問題：

一方面，人工進(jìn)行開關(guān)機(jī)測試造成了人力浪費(fèi)，并延長了不必要的測試時(shí)間；另一方面，由于電源的瞬斷功能都是在毫秒級時(shí)間內(nèi)完成的，導(dǎo)致在人工進(jìn)行開關(guān)機(jī)測試的過程中，電源的瞬斷功能無法實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測試。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供的開關(guān)機(jī)測試治具，能夠?qū)崿F(xiàn)開關(guān)機(jī)的自動化測試，同時(shí)提高了開關(guān)機(jī)測試的測試精度。

本發(fā)明提供一種開關(guān)機(jī)測試治具，用于對待測主板進(jìn)行開關(guān)機(jī)測試，其包括嵌入式處理器、電連接于所述嵌入式處理器的IO擴(kuò)展板以及通過所述IO擴(kuò)展板與所述嵌入式處理器電連接的觸摸顯示屏、AC繼電器、DC繼電器、瞬斷繼電器和掉電檢測模塊；其中，

所述IO擴(kuò)展板的COM接口與所述待測主板的COM接口連接，用于實(shí)現(xiàn)所述嵌入式處理器與所述待測主板之間測試指令與數(shù)據(jù)的傳送；

所述IO擴(kuò)展板的復(fù)位接口與所述待測主板的復(fù)位插針連接，用于執(zhí)行對所述待測主板的復(fù)位功能測試；

所述IO擴(kuò)展板的電源按鈕接口與所述待測主板的電源按鈕插針連接，用于執(zhí)行對所述主板的電源按鈕功能測試；

所述AC繼電器的輸入端與交流電源連接，其輸出端與所述待測主板的交流電源輸入端連接，用于控制所述待測主板的上下電，以執(zhí)行對所述待測主板的AC電源的開關(guān)機(jī)測試；

所述DC繼電器的輸入端與直流電源連接，其輸出端與所述待測主板的直流電源輸入端連接，用于控制所述待測主板的上下電，以執(zhí)行對所述待測主板的DC電源的開關(guān)機(jī)測試；

所述瞬斷繼電器的輸入端與所述DC繼電器的輸入端連接，所述瞬斷繼電器的輸出端與所述DC繼電器的輸出端連接，用于控制所述待測主板的直流電源的上下電，以執(zhí)行所述待測主板的電源瞬斷測試。

所述掉電檢測模塊，通過所述待測主板的COM接口的TXD管腳的信號電平來確定所述待測主板的開關(guān)機(jī)狀態(tài)；

所述觸摸顯示屏，用于配置開關(guān)機(jī)測試的測試參數(shù)、顯示開關(guān)機(jī)測試的測試情況和測試結(jié)果。

可選地，所述開關(guān)機(jī)測試治具還包括與所述IO擴(kuò)展板連接的語音報(bào)警器，用于對測試異常情況進(jìn)行報(bào)警。

可選地，所述開關(guān)機(jī)測試治具還包括與所述IO擴(kuò)展板連接的實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊，用于為所述嵌入式處理器提供時(shí)鐘更新。

可選地，所述開關(guān)機(jī)測試治具還包括與所述嵌入式處理器連接的至少一個(gè) USB接口，用于連接其他外部設(shè)備。

可選地，所述開關(guān)機(jī)測試治具還包括與所述嵌入式處理器連接的一個(gè)網(wǎng)絡(luò)接口，其中，所述網(wǎng)絡(luò)接口用于連接遠(yuǎn)端計(jì)算機(jī)，以實(shí)現(xiàn)通過所述遠(yuǎn)端計(jì)算機(jī)來遠(yuǎn)程配置開關(guān)機(jī)測試參數(shù)以及監(jiān)控開關(guān)機(jī)測試情況和測試結(jié)果。

可選地，所述嵌入式處理器為Raspberry Pi B的ARM處理器。

可選地，所述觸摸顯示屏為3.5英寸的TFT液晶顯示屏。

本發(fā)明實(shí)施例提供的開關(guān)機(jī)測試治具，與現(xiàn)有技術(shù)相比，一方面，其操作簡單，能夠?qū)崿F(xiàn)主板開關(guān)機(jī)的自動化測試，并提高了主板開關(guān)機(jī)測試的測試精度，尤其是提高了主板電源瞬斷功能測試的測試效率和測試精度；另一方面，其能夠提高圖形化的顯示與配置，而且針對電源按鈕功能測試支持手動測試和自動測試兩種模式，使得開關(guān)機(jī)測試更加靈活。

附圖說明

圖1為本發(fā)明一實(shí)施例開關(guān)機(jī)測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明另一實(shí)施例開關(guān)機(jī)測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3-圖10為本發(fā)明的開關(guān)機(jī)測試治具所完成功能的示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

本發(fā)明提供一種開關(guān)機(jī)測試治具，如圖1所示，用于對待測主板21進(jìn)行開關(guān) 機(jī)測試，所述開關(guān)機(jī)測試治具包括嵌入式處理器10、電連接于所述嵌入式處理器10的IO擴(kuò)展板11以及通過所述IO擴(kuò)展板11與所述嵌入式處理器10電連接的觸摸顯示屏12、AC繼電器13、DC繼電器14、瞬斷繼電器15和掉電檢測模塊16。

所述IO擴(kuò)展板11的COM接口與所述待測主板21的COM接口連接，用于實(shí)現(xiàn)所述嵌入式處理器10與所述待測主板21之間測試指令與數(shù)據(jù)的傳送；所述IO擴(kuò)展板11的復(fù)位接口與所述待測主板21的復(fù)位插針連接，用于執(zhí)行對所述待測主板21的復(fù)位功能測試；所述IO擴(kuò)展板11的電源按鈕接口與所述待測主板21的電源按鈕插針連接，用于執(zhí)行對所述待測主板21的電源按鈕功能測試；

所述AC繼電器13的輸入端與交流電源22連接，其輸出端與所述待測主板21的交流電源輸入端連接，用于控制所述待測主板21的上下電，以執(zhí)行對所述待測主板21的AC電源的開關(guān)機(jī)測試；

所述DC繼電器14的輸入端與直流電源23連接，其輸出端與所述待測主板21的直流電源輸入端連接，用于控制所述待測主板的上下電，以執(zhí)行對所述待測主板21的DC電源的開關(guān)機(jī)測試；

所述瞬斷繼電器15的輸入端與所述DC繼電器14的輸入端連接，所述瞬斷繼電器15的輸出端與所述DC繼電器14的輸出端連接，用于控制所述待測主板21的直流電源的上下電，以執(zhí)行所述待測主板21的電源瞬斷測試。

所述掉電檢測模塊16，通過所述待測主板21的COM接口的TXD管腳的信號電平來確定所述待測主板21的開關(guān)機(jī)狀態(tài)；

所述觸摸顯示屏12，用于配置開關(guān)機(jī)測試的測試參數(shù)、顯示開關(guān)機(jī)測試的測試情況和測試結(jié)果。

本發(fā)明實(shí)施例提供的開關(guān)機(jī)測試治具，與現(xiàn)有技術(shù)相比，一方面，其操作 簡單，能夠?qū)崿F(xiàn)主板開關(guān)機(jī)的自動化測試，并提高了主板開關(guān)機(jī)測試的測試精度，尤其是提高了主板電源瞬斷功能測試的測試效率和測試精度；另一方面，其能夠提高圖形化的顯示與配置，而且針對電源按鈕功能測試支持手動測試和自動測試兩種模式，使得開關(guān)機(jī)測試更加靈活。

本發(fā)明實(shí)施例提供的開關(guān)機(jī)測試治具適用于主板產(chǎn)品的研發(fā)測試階段，其通過研發(fā)測試階段通過對主板開關(guān)機(jī)及重啟的自動化測試能夠提前發(fā)現(xiàn)問題，從而使得在測試主板的開關(guān)機(jī)及重啟測試上更加體現(xiàn)可靠測試，將主板產(chǎn)品可能出現(xiàn)的開關(guān)機(jī)問題暴露在測試階段，可以使主板產(chǎn)品長期使用過程中開關(guān)機(jī)導(dǎo)致的故障率降到最低；此外，由于本發(fā)明實(shí)施例提供的開關(guān)機(jī)測試治具還具有統(tǒng)計(jì)主板開關(guān)機(jī)及重啟測試所用時(shí)長圖表統(tǒng)計(jì)，為主板開關(guān)機(jī)時(shí)長提供更加直觀化分析。

可選地，如圖2所示，所述開關(guān)機(jī)測試治具還包括與所述IO擴(kuò)展板11連接的語音報(bào)警器17和實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊18以及與所述嵌入式處理器10連接的至少一個(gè)USB接口19和一個(gè)網(wǎng)絡(luò)接口22。其中，所述語音報(bào)警器17，用于對測試異常情況進(jìn)行報(bào)警；所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊18，用于為所述嵌入式處理器10提供時(shí)鐘更新；所述至少一個(gè)USB接口19，用于連接其他外部設(shè)備，例如鍵盤、U盤等；所述網(wǎng)絡(luò)接口22用于連接遠(yuǎn)端計(jì)算機(jī)20，以實(shí)現(xiàn)通過所述遠(yuǎn)端計(jì)算機(jī)20來遠(yuǎn)程配置開關(guān)機(jī)測試參數(shù)以及監(jiān)控開關(guān)機(jī)測試情況和測試結(jié)果。

可見，開關(guān)機(jī)測試治具的測試數(shù)據(jù)可以通過所述網(wǎng)絡(luò)接口22傳送到遠(yuǎn)端計(jì)算機(jī)20，以使得可以通過所述遠(yuǎn)端計(jì)算機(jī)20來管理所述開關(guān)機(jī)測試治具的測試參數(shù)的配置，以及動態(tài)顯示開關(guān)機(jī)測試的時(shí)間記錄數(shù)據(jù)。

其中，所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊18通過I2C總線與所述IO擴(kuò)展板連接。

其中，所述嵌入式處理器10為Raspberry Pi B的ARM處理器。

其中，所述觸摸顯示屏12通過SPI總線與所述IO擴(kuò)展板連接，其可以為3.5英寸的TFT液晶顯示屏。

如圖3-圖10所示，為上述實(shí)施例中的所述的開關(guān)機(jī)測試治具完成AC(AC電源通斷電測試)、DC(DC電源通斷電測試)、PST(DC電源瞬斷測試)、RST(復(fù)位按鈕重啟測試)和PWR(電源按鈕開關(guān)機(jī)測試)5個(gè)指標(biāo)的測試配置界面的示意圖。

其中，圖3為所述觸摸顯示屏12的主界面示意圖，右上角的下拉按鈕是對AC繼電器或DC繼電器的選擇，這里選擇的是AC繼電器；暫停按鈕是對功能測試的暫停與開始的切換，導(dǎo)出按鈕是將保持的數(shù)據(jù)文件拷貝到外部設(shè)備中；參數(shù)設(shè)置按鈕是設(shè)置對應(yīng)的功能測試的測試參數(shù)；顯示信息按鈕用于對當(dāng)前運(yùn)行功能的狀態(tài)的顯示；功能運(yùn)行按鈕用于啟動將要運(yùn)行測試；DHCP(Dynamic Host Configuration Protocol，動態(tài)主機(jī)配置協(xié)議)被勾選則IP地址可以更改。

圖4和圖5分別為選擇AC繼電器情況下可選擇的功能測試項(xiàng)和AC電源通斷電測試所要設(shè)置的測試參數(shù)示意圖，由圖4可知，選擇AC繼電器后可以進(jìn)行AC電源通斷電測試和復(fù)位按鈕重啟測試。

圖6和圖7分別為選擇DC繼電器情況下可選擇的功能測試項(xiàng)和DC電源通斷電測試所要設(shè)置的測試參數(shù)示意圖，由圖6可知，選擇DC繼電器后可以進(jìn)行DC電源通斷電測試、復(fù)位按鈕重啟測試、DC電源瞬斷測試和電源按鈕開關(guān)機(jī)測試，其中當(dāng)選擇DC電源瞬斷測試時(shí)會進(jìn)入自動測試模式或手動測試模式的選擇界面。

圖8至圖10分別為AC電源通斷電測試、電源按鈕開關(guān)機(jī)測試、DC電源瞬斷 測試的運(yùn)行狀態(tài)信息示意圖，可見，其顯示測試總次數(shù)、當(dāng)前測試次數(shù)、死機(jī)測試和待測主板狀態(tài)等信息。

本發(fā)明實(shí)施例提供的開關(guān)機(jī)測試治具執(zhí)行AC(AC電源通斷電測試)、DC(DC電源通斷電測試)、PST(DC電源瞬斷測試)、RST(復(fù)位按鈕重啟測試)和PWR(電源按鈕開關(guān)機(jī)測試)5個(gè)指標(biāo)的具體測試描述如下：

1)AC電源通斷電測試

拉低AC繼電器的控制引腳以斷開待測主板的電源，這時(shí)通過掉電檢測模塊輸出的電平信號來判斷待測主板是否完全斷電，具體為在預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)(例如，5min)檢測所述掉電檢測模塊輸出的電平信號是否有變化，如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間檢測到電平信號沒有變化，則表示所述待測主板沒有完全掉電，并進(jìn)行出錯(cuò)提示，如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)檢測到電平信號的變化，則表示所述待測主板已完全掉電，此時(shí)再拉高AC繼電器的控制引腳以開啟所述待測主板的電源，以通過COM接口建立與測試治具與所述待測主板之間的串口握手通信，并通過串口握手通信來確認(rèn)所述待測主板是否開機(jī)成功，具體為如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)沒有接收到所述待測主板發(fā)送的同步數(shù)據(jù)，則表示所述待測主板開機(jī)不成功，并進(jìn)行出錯(cuò)提示，如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)收到所述待測主板發(fā)送的同步數(shù)據(jù)，則表示所述待測主板開機(jī)成功，接收到同步數(shù)據(jù)開機(jī)成功為第一次測試完成。并繼續(xù)進(jìn)行第2次的上述檢測過程，直至測試次數(shù)執(zhí)行完畢。在AC電源通斷電測試過程中，可以選擇出錯(cuò)繼續(xù)，則啟動待測主板繼續(xù)測試，也可以選擇停止AC電源通斷電測試。

2)DC電源通斷電測試

拉低DC繼電器的控制引腳以斷開待測主板的電源，這時(shí)通過掉電檢測模塊 輸出的電平信號來判斷待測主板是否完全斷電，具體為在預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)(例如，5min)檢測所述掉電檢測模塊輸出的電平信號是否有變化，如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間檢測到電平信號沒有變化，則表示所述待測主板沒有完全掉電，并進(jìn)行出錯(cuò)提示，如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)檢測到電平信號的變化，則表示所述待測主板已完全掉電，此時(shí)再拉高DC繼電器的控制引腳以開啟所述待測主板的電源，以通過COM接口建立與測試治具與所述待測主板之間的串口握手通信，并通過串口握手通信來確認(rèn)所述待測主板是否開機(jī)成功，具體為如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)沒有接收到所述待測主板發(fā)送的同步數(shù)據(jù)，則表示所述待測主板開機(jī)不成功，并進(jìn)行出錯(cuò)提示，如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)收到所述待測主板發(fā)送的同步數(shù)據(jù)，則表示所述待測主板開機(jī)成功，接收到同步數(shù)據(jù)開機(jī)成功為第一次測試完成。并繼續(xù)進(jìn)行第2次的上述檢測過程，直至測試次數(shù)執(zhí)行完畢。在DC電源通斷電測試過程中，可以選擇出錯(cuò)繼續(xù)，則啟動待測主板繼續(xù)測試，也可以選擇停止DC電源通斷電測試。

3)DC電源瞬斷測試

本發(fā)明提供的開關(guān)機(jī)測試治具支持DC電源瞬斷測試，所述DC電源瞬斷測試包括自動測試模式和手動測試模式，二者的區(qū)別僅僅在于：前者為測試治具自動執(zhí)行電源瞬斷，適用于瞬斷時(shí)間規(guī)律的情況，例如瞬斷10ms，后者為手動來執(zhí)行電源瞬斷，適用于瞬斷時(shí)間不規(guī)律的情況。

這里以自動測試模式為例，來說明上述測試過程：

拉低DC繼電器的控制引腳以斷開待測主板的電源后的一段時(shí)間再拉高DC繼電器的控制引腳開啟所述待測主板的電源，其中所述一段時(shí)間默認(rèn)為10ms(瞬斷時(shí)間可以設(shè)置范圍5-30ms)。由于測試治具與所述待測主板之間一直保持串口 握手通信，所以可以通過在預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間(例如，默認(rèn)5min)內(nèi)是否收到所述待測主板發(fā)送的同步數(shù)據(jù)來判斷所述待測主板的狀態(tài)，這里分為3種情況：1)如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)沒有收到同步數(shù)據(jù)，則表明所述待測主板出現(xiàn)開機(jī)異常，例如可能出現(xiàn)死機(jī)，并進(jìn)行出錯(cuò)提示；2)如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間的某一時(shí)間段沒有接收到同步數(shù)據(jù)，通信出現(xiàn)中斷、但是所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)的所述某一時(shí)間段后又收到同步數(shù)據(jù)、恢復(fù)通信，則表明所述待測主板在進(jìn)行電壓跌落過程中出現(xiàn)重啟，能夠在所述預(yù)測的檢測時(shí)間內(nèi)恢復(fù)，這屬于此項(xiàng)測試中能夠容忍的，并不進(jìn)行出錯(cuò)提示，但會記錄此錯(cuò)誤情況；3)如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)一直持續(xù)接收到同步數(shù)據(jù)，通信無中斷、則表明所述待測主板在電壓瞬斷跌落的測試中可以正常運(yùn)行，沒出現(xiàn)死機(jī)、重啟等異常情況，表明10ms的電壓瞬斷跌落對待測主板沒影響，被測主板性能OK。繼續(xù)第2次測試，直至測試次數(shù)執(zhí)行完畢。在DC電源瞬斷測試過程中，可以選擇出錯(cuò)繼續(xù)，則啟動待測主板繼續(xù)測試，也可以選擇停止DC電源通斷電測試。

4)復(fù)位按鈕重啟測試

通過向所述待測主板的復(fù)位插針的控制引腳發(fā)送500毫秒高脈沖來重啟所述待測主板，并通過COM接口持續(xù)接收待測主板發(fā)送的同步數(shù)據(jù)，如果在預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)(例如，默認(rèn)5min)沒有接收到同步數(shù)據(jù)，則表明所述待測主板復(fù)位不成功，并進(jìn)行出錯(cuò)提示，如果在預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)接收到同步數(shù)據(jù)，則表明所述待測主板復(fù)位成功，并繼續(xù)循環(huán)測試直至測試次數(shù)執(zhí)行完畢。

5)電源按鈕開關(guān)機(jī)測試

如果所述待測主板處于關(guān)機(jī)狀態(tài)，給電源按鈕插針的控制引腳發(fā)送500ms高脈沖信號來使所述待測主板開機(jī)，通過COM接口持續(xù)接收待測主板發(fā)送的同 步數(shù)據(jù)，如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)(例如，默認(rèn)5min)沒有接收到同步數(shù)據(jù)，則表明所述待測主板開機(jī)不成功，并進(jìn)行出錯(cuò)提示，如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)持續(xù)接收到同步數(shù)據(jù)，則表明所述待測主板開機(jī)成功，此時(shí)再給電源按鈕插針的控制引腳的控制引腳發(fā)送500ms高脈沖信號來使所述待測主板關(guān)機(jī)，通過掉電檢測模塊判斷被測主板是否完全斷電，具體為在預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)(例如，5min)檢測所述掉電檢測模塊輸出的電平信號是否有變化，如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間檢測到電平信號沒有變化，則表示所述待測主板沒有完全掉電，并進(jìn)行出錯(cuò)提示，如果在所述預(yù)設(shè)的檢測時(shí)間內(nèi)檢測到電平信號的變化，則表示所述待測主板已完全掉電，繼續(xù)進(jìn)行循環(huán)測試，直至測試次數(shù)執(zhí)行完畢。

以上所述，僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。