一種標(biāo)準(zhǔn)單元及其建立、使用方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種標(biāo)準(zhǔn)單元及其建立、使用方法。所述標(biāo)準(zhǔn)單元包括，符合預(yù)定要求的器件參數(shù)值條件下的初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖；對(duì)物理版圖的幾何尺寸值進(jìn)行微調(diào)的程序；描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)；根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序。本發(fā)明實(shí)施例提供的標(biāo)準(zhǔn)單元可以根據(jù)符合預(yù)定要求的電路性能值通過(guò)幾何尺寸值求解程序得到物理版圖的幾何尺寸值，根據(jù)求解得到的幾何尺寸值通過(guò)幾何尺寸值微調(diào)程序?qū)Τ跏紭?biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行微調(diào)，得到新標(biāo)準(zhǔn)單元。所以，本發(fā)明實(shí)施例提供的標(biāo)準(zhǔn)單元及其建立、使用方法，能夠克服現(xiàn)有技術(shù)中由于需要調(diào)用標(biāo)準(zhǔn)單元而需預(yù)先創(chuàng)建龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的缺陷。
【專利說(shuō)明】一種標(biāo)準(zhǔn)單元及其建立、使用方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于集成電路設(shè)計(jì)自動(dòng)化【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種標(biāo)準(zhǔn)單元及其建立、使用方法。
【背景技術(shù)】
[0002]標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)是支持?jǐn)?shù)字集成電路設(shè)計(jì)自動(dòng)化流程的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)之一，標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)從前端功能仿真到后端版圖實(shí)現(xiàn)支撐著整個(gè)集成電路自動(dòng)化設(shè)計(jì)流程。標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)包括若干個(gè)預(yù)先設(shè)計(jì)好的標(biāo)準(zhǔn)單元，包括了元器件的版圖圖形以及面積、電路功耗、時(shí)序和驅(qū)動(dòng)能力等電路性能值，標(biāo)準(zhǔn)單元具有通用的接口實(shí)現(xiàn)和規(guī)則結(jié)構(gòu)，集成電路設(shè)計(jì)者或者綜合工具根據(jù)設(shè)計(jì)要求，調(diào)用標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)中需要的標(biāo)準(zhǔn)單元來(lái)完成集成電路的版圖布圖設(shè)計(jì)?；跇?biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的集成電路設(shè)計(jì)可以極大提高電路的設(shè)計(jì)效率。
[0003]傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)單元的版圖和內(nèi)部電路的器件參數(shù)值均為預(yù)先設(shè)定的固定值，其面積、電路功耗、時(shí)序和驅(qū)動(dòng)能力等電路性能值相應(yīng)地也是固定的。在采用傳統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)單元建立標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的過(guò)程中通常需要有盡可能豐富的標(biāo)準(zhǔn)單元類型以備選擇，使得綜合工具在綜合過(guò)程中有更多的選擇，實(shí)現(xiàn)以最小的代價(jià)滿足速度、電路功耗、面積等各種約束條件，這樣就需要?jiǎng)?chuàng)建數(shù)量龐大的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)。但是，創(chuàng)建龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)需要較大的存儲(chǔ)空間，造成存儲(chǔ)成本較高。另外，從龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)中查找預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)單元的過(guò)程繁瑣，使得查找開(kāi)發(fā)成本較高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種標(biāo)準(zhǔn)單元及其建立、使用方法，以克服現(xiàn)有技術(shù)中創(chuàng)建龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)所存在的困難。
[0005]為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明的第一方面提供了一種標(biāo)準(zhǔn)單元的建立方法，該標(biāo)準(zhǔn)單元的建立方法包括,包括，
[0006]建立符合預(yù)定要求的器件參數(shù)值條件下的初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖；建立對(duì)物理版圖的幾何尺寸值進(jìn)行微調(diào)的程序；建立描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)；建立根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序；
[0007]所述器件參數(shù)值包括物理版圖中的幾何尺寸值。
[0008]較優(yōu)地，所述建立描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖的電路性能值的關(guān)系函數(shù)，具體包括，
[0009]確定所述物理版圖內(nèi)的每個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)；
[0010]組合所述物理版圖內(nèi)的各個(gè)器件的所述幾何尺寸值取值點(diǎn)，構(gòu)成若干個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)組，所有所述幾何尺寸值取值點(diǎn)組構(gòu)成第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合，所述幾何尺寸值取值點(diǎn)組包含所述物理版圖內(nèi)每個(gè)器件的一個(gè)所述幾何尺寸值取值點(diǎn)；
[0011]根據(jù)所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組，對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的幾何尺寸進(jìn)行微調(diào)，得到新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖；[0012]獲取每一個(gè)所述新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的電路性能值，構(gòu)成第一物理版圖電路性能值集合；所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組與所述第一物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值存在第一對(duì)應(yīng)關(guān)系；
[0013]根據(jù)所述第一對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值；
[0014]根據(jù)所述第一對(duì)應(yīng)關(guān)系和所述采用插值方法獲取的不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值，建立描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖的電路性能值的關(guān)系函數(shù)。
[0015]較優(yōu)地，所述幾何尺寸值包括柵寬值和/或柵長(zhǎng)值，設(shè)定所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元內(nèi)每一器件的柵寬值變化范圍及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵寬值變化量AWmin，和/或，設(shè)定所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元內(nèi)每一器件的柵長(zhǎng)值變化范圍及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵長(zhǎng)值變化量Δ Lfflin,所述確定所述物理版圖內(nèi)的每個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)，包括，
[0016]根據(jù)物理版圖內(nèi)的每一器件的所述柵寬值變化范圍及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵寬值變化量AWmin確定與所述器件相對(duì)應(yīng)的柵寬值取值點(diǎn)，和/或，根據(jù)物理版圖內(nèi)每一器件所述柵長(zhǎng)值變化范圍及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵長(zhǎng)值變化量△ Lmin確定與所述器件相對(duì)應(yīng)的柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)；
[0017]組合每一器件的所述柵寬值取值點(diǎn)和/或所述柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)，確定與所述物理版圖內(nèi)的每個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)。
[0018]較優(yōu)地，所述獲取每一個(gè)所述新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的電路性能值，包括，
[0019]獲取所述新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的包含寄生參數(shù)的網(wǎng)表；
[0020]根據(jù)所述包含寄生參數(shù)的網(wǎng)表，獲取所述新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的電路性能值。
[0021]較優(yōu)地，設(shè)定不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸值取值點(diǎn)組為第一預(yù)定幾何尺寸值取值點(diǎn)組，所述根據(jù)所述第一對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值，包括，
[0022]從所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合中查找與所述第一預(yù)定幾何尺寸值取值點(diǎn)組臨近的第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集，所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集中的幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值構(gòu)成所述第一物理版圖電路性能值集合的子集，所述幾何尺寸值取值點(diǎn)組的子集中的幾何尺寸值取值點(diǎn)組與所述第一物理版圖電路性能值集合的子集中的電路性能值存在第二對(duì)應(yīng)關(guān)系；
[0023]根據(jù)所述第二對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取所述第一預(yù)定幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的第一預(yù)定電路性能值。
[0024]較優(yōu)地，所述建立根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序，包括，
[0025]根據(jù)第二預(yù)定物理版圖電路性能值，構(gòu)成第二物理版圖電路性能值集合；
[0026]根據(jù)所述描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)，構(gòu)建與所述第二物理版 圖電路性能值集合內(nèi)的第二預(yù)定電路性能值對(duì)應(yīng)的包含所述物理版圖內(nèi)所述幾何尺寸值取值點(diǎn)組的第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合；所述第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值與所述第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組存在第三對(duì)應(yīng)關(guān)系；[0027]根據(jù)所述第三對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取不被所述第二物理版圖電路性能值集合所包含的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組；
[0028]根據(jù)所述第三對(duì)應(yīng)關(guān)系和所述采用插值方法獲取的不被所述第二物理版圖電路性能值集合所包含的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組，建立根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序。
[0029]較優(yōu)地，設(shè)定不被所述第二物理版圖電路性能值集合所包含的電路性能值為第三預(yù)定電路性能值，所述根據(jù)所述第三對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取不被所述第二物理版圖電路性能值集合所包含的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)，包括，
[0030]從所述第二物理版圖電路性能值集合中查找與所述預(yù)定電路性能值臨近的電路性能值構(gòu)成的第二物理版圖電路性能值集合的子集，所述第二物理版圖電路性能值集合的子集中的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)構(gòu)成第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集，所述第二物理版圖電路性能值集合的子集中的電路性能值與所述第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集中的幾何尺寸值取值點(diǎn)組存在第四對(duì)應(yīng)關(guān)系；
[0031]根據(jù)所述第四對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取所述預(yù)定電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)。
[0032]本發(fā)明的第二方面提供了一種標(biāo)準(zhǔn)單元，該標(biāo)準(zhǔn)單元包括，
[0033]符合預(yù)定要求的器件參數(shù)值條件下的初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖；
[0034]對(duì)物理版圖的幾何尺寸值進(jìn)行微調(diào)的程序；
[0035]描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)；
[0036]根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序；
[0037]其中，所述器件參數(shù)值包括物理版圖中的幾何尺寸值。
[0038]較優(yōu)地，所述描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)，包括，
[0039]第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合，所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)包含所述物理版圖內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組；
[0040]第一物理版圖電路性能值集合，所述第一物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值與所述第一集合尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組存在第一對(duì)應(yīng)關(guān)系。
[0041]較優(yōu)地，所述幾何尺寸值取值點(diǎn)，包括，柵寬值取值點(diǎn)和/或柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)。
[0042]較優(yōu)地，所述根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序，包括，
[0043]第二物理版圖電路性能值集合，所述第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)包含有至少一個(gè)電路性能值；
[0044]第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合，所述第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組與所述第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值存在第三對(duì)應(yīng)關(guān)系。
[0045]本發(fā)明的第三方面提供了一種標(biāo)準(zhǔn)單元的使用方法，該使用方法包括，預(yù)先建立符合預(yù)定要求的器件參數(shù)值條件下的初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖，其特征在于，包括，
[0046]獲取符合預(yù)定要求的標(biāo)準(zhǔn)單元版圖的電路性能值；
[0047]根據(jù)所述電路性能值獲取標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的幾何尺寸值；
[0048]根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖進(jìn)行微調(diào)，以獲得新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖；
[0049]根據(jù)所述幾何尺寸值獲取所述新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的電路性能值；
[0050]其中，所述器件參數(shù)值包括幾何尺寸值。
[0051]較優(yōu)地，所述根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖進(jìn)行微調(diào)，包括，根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵寬的微調(diào)，和/或，根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵長(zhǎng)的微調(diào)。
[0052]較優(yōu)地，選定直角坐標(biāo)系，以所述柵寬所在的方向?yàn)樗鲋苯亲鴺?biāo)系的X軸方向，所述柵長(zhǎng)所在的方向?yàn)樗鲋苯亲鴺?biāo)系的Y軸方向，所述根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵寬的微調(diào)，包括，
[0053]設(shè)定柵寬微調(diào)值為AW;
[0054]遍歷所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元版圖上的全部圖形的所有頂點(diǎn)；
[0055]令擴(kuò)散圖形的上邊沿的頂點(diǎn)及該邊沿以上的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值保持不變，將所述擴(kuò)散圖形的上邊沿的頂點(diǎn)及該邊沿以上的頂點(diǎn)的Y軸方向的坐標(biāo)值Ytjld更新為Ynew,其中，￥_氣1(1+ Λ W，同時(shí)，令擴(kuò)散圖形的上邊沿以下的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值和Y軸方向的坐標(biāo)值保持不變；
[0056]或者，根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵長(zhǎng)的微調(diào)，包括，
[0057]設(shè)定柵長(zhǎng)微調(diào)值為AL;
[0058]遍歷所述初始標(biāo)準(zhǔn) 單元的版圖內(nèi)的全部圖形的所有頂點(diǎn)；
[0059]對(duì)被微調(diào)柵右邊沿上的頂點(diǎn)及該邊沿之外的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值由原來(lái)的Xold更新為x_，其中，Xnew=Xoid+ Δ L，并令所述Y軸方向的坐標(biāo)值保持不變，同時(shí)，令被微調(diào)柵左側(cè)的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值和Y軸方向的坐標(biāo)值保持不變。
[0060]通過(guò)本發(fā)明實(shí)施例提供的標(biāo)準(zhǔn)單元建立方法建立的標(biāo)準(zhǔn)單元為虛擬標(biāo)準(zhǔn)單元,該虛擬標(biāo)準(zhǔn)單元不僅包括具有固定器件參數(shù)值的初始標(biāo)準(zhǔn)單元，即傳統(tǒng)的固定標(biāo)準(zhǔn)單元，該虛擬標(biāo)準(zhǔn)單元還包括對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的幾何尺寸值進(jìn)行微調(diào)的程序(幾何尺寸值微調(diào)程序)、描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)，以及根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序(幾何尺寸值求解程序)。
[0061]因此，本發(fā)明實(shí)施例提供的標(biāo)準(zhǔn)單元可以根據(jù)符合預(yù)定要求的電路性能值通過(guò)幾何尺寸值求解程序得到物理版圖的幾何尺寸值，根據(jù)求解得到的幾何尺寸值通過(guò)幾何尺寸值微調(diào)程序?qū)Τ跏紭?biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行微調(diào)，得到新標(biāo)準(zhǔn)單元。所以，本發(fā)明實(shí)施例提供的標(biāo)準(zhǔn)單元使用方法可以根據(jù)實(shí)際需要構(gòu)建不同的標(biāo)準(zhǔn)單元，在實(shí)際設(shè)計(jì)過(guò)程中可以依據(jù)預(yù)定的電路性能值構(gòu)建不同的標(biāo)準(zhǔn)單元，克服了現(xiàn)有技術(shù)中由于需要調(diào)用標(biāo)準(zhǔn)單元而需預(yù)先創(chuàng)建龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)，因而，節(jié)省了大量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的存儲(chǔ)空間，而且由于可以在實(shí)際設(shè)計(jì)過(guò)程中構(gòu)建所需要的標(biāo)準(zhǔn)單元，所以也避免了需要再龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)中查找需要的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的繁瑣，進(jìn)一步節(jié)省了查找預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)單元的開(kāi)發(fā)成本。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0062]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中新要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0063]圖1是本發(fā)明實(shí)施例一提供的標(biāo)準(zhǔn)單元建立方法的流程圖；
[0064]圖2是本發(fā)明實(shí)施例一提供的標(biāo)準(zhǔn)單元建立方法中建立描述物理版圖的幾何尺寸值與電路性能值的關(guān)系函數(shù)的方法流程圖；
[0065]圖3是本發(fā)明實(shí)施例一提供的標(biāo)準(zhǔn)單元建立方法中建立根據(jù)物理版圖的電路性能值求解幾何尺寸值的程序的方法流程圖；
[0066]圖4是本發(fā)明實(shí)施例二提供的標(biāo)準(zhǔn)單元示意圖；
[0067]圖5是本發(fā)明實(shí)施例三提供的標(biāo)準(zhǔn)單元使用方法流程示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0068]為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0069]為提供一種能夠克服現(xiàn)有技術(shù)中創(chuàng)建龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)所存在的缺陷，本發(fā)明實(shí)施例提供以下技術(shù)方案。
[0070]實(shí)施例一
[0071]圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例一提供的標(biāo)準(zhǔn)單元的建立方法的流程圖，該方法包括以下步驟:
[0072]S11、建立符合預(yù)定要求的器件參數(shù)值條件下的初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖:
[0073]其中，該初始標(biāo)準(zhǔn)單元可以是現(xiàn)有技術(shù)中的“固定標(biāo)準(zhǔn)單元”,即該初始標(biāo)準(zhǔn)單元的版圖和內(nèi)部電路的器件參數(shù)值均是固定的，其電路性能值(包括面積、電路功耗、時(shí)序以及驅(qū)動(dòng)能力等)也是固定的；另外，“預(yù)定要求”可以由具體設(shè)計(jì)需求而定。需要說(shuō)明的是，所述器件參數(shù)值包括物理版圖的幾何尺寸值，該幾何尺寸值可以包括柵極圖形的柵寬值，也可以包括柵長(zhǎng)值，還可以同時(shí)包括柵寬值和柵長(zhǎng)值。
[0074]S12、建立對(duì)物理版圖的幾何尺寸值進(jìn)行微調(diào)的程序:
[0075]需要說(shuō)明的是，對(duì)物理版圖的幾何尺寸值進(jìn)行微調(diào)包括對(duì)柵長(zhǎng)值的微調(diào)和/或柵寬值的微調(diào)。該處“微調(diào)”是指進(jìn)行小幅度的變化，柵長(zhǎng)變化上一般以柵極接觸孔的尺寸與接觸孔間距之和作為衡量標(biāo)準(zhǔn)，柵寬變化上一般以源漏接觸孔的尺寸與接觸孔間距之和作為衡量標(biāo)準(zhǔn)，多至數(shù)倍于這個(gè)和值。下文中提到的所有“微調(diào)”都與該步驟S12中的“微調(diào)”具有相同的含義。
[0076]當(dāng)對(duì)柵寬值和柵長(zhǎng)值均進(jìn)行微調(diào)時(shí)，可以先對(duì)柵寬值進(jìn)行微調(diào)，再對(duì)柵長(zhǎng)值進(jìn)行微調(diào)，或者，也可以先對(duì)柵長(zhǎng)值進(jìn)行微調(diào)，再對(duì)柵寬值進(jìn)行微調(diào)。
[0077]在進(jìn)行微調(diào)之前，預(yù)先選定直角坐標(biāo)系，以所述柵寬所在的方向?yàn)樗鲋苯亲鴺?biāo)系的X軸方向，以所述柵長(zhǎng)所在的方向?yàn)樗鲋苯亲鴺?biāo)系的Y軸方向。設(shè)定柵寬微調(diào)值為Δ W，設(shè)定柵長(zhǎng)微調(diào)值為AL。
[0078]其中，對(duì)柵寬值的微調(diào)，包括，
[0079]遍歷所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元版圖上的全部圖形的所有頂點(diǎn)；
[0080]令擴(kuò)散圖形的上邊沿的頂點(diǎn)及該邊沿以上的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值保持不變，將所述擴(kuò)散圖形的上邊沿的頂點(diǎn)及該邊沿以上的頂點(diǎn)的Y軸方向的坐標(biāo)值Ytjld更新為Ynew，其中，Ym=UAW,同時(shí)，令原擴(kuò)散圖形的上邊沿以下的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值和Y軸方向的坐標(biāo)值保持不變。
[0081]其中，對(duì)柵長(zhǎng)值的微調(diào)，包括，
[0082]遍歷所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元的版圖內(nèi)的全部圖形的頂點(diǎn)；
[0083]對(duì)被微調(diào)柵右邊沿上的頂點(diǎn)及該邊沿之外的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值由原來(lái)的Xtjld更新為乂_其中，Xnrat=UAL,并令所述Y軸方向的坐標(biāo)值保持不變，同時(shí)，令被微調(diào)柵左側(cè)的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值和Y軸方向的坐標(biāo)值保持不變。
[0084]對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元版圖內(nèi)的柵按一定方向如從左向右遍歷，按上述坐標(biāo)變換依次處理柵長(zhǎng)被微調(diào)的柵。
[0085]S13、建立描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù):
[0086]參見(jiàn)圖2，建立描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)，可以具體包括以下步驟:
[0087]S131、確定所述物理版圖內(nèi)的每個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn):
[0088]眾所周知，集成電路的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖內(nèi)通常會(huì)包括多個(gè)器件，每個(gè)器件具有一定的幾何尺寸值。通常情況下，如上所述，該幾何尺寸值包括柵極圖形的柵寬值和/或柵長(zhǎng)值。所以，確定所述物理版圖內(nèi)的每個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)包括確定每個(gè)器件的柵寬值取值點(diǎn)和/或柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)。
[0089]其中，確定器件的柵寬值取值點(diǎn)可以采用以下步驟:
[0090]首先，設(shè)定該初始標(biāo)準(zhǔn)單元內(nèi)每一器件的柵寬值變化范圍【W(wǎng)min，Wmax】及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵寬值變化量AWmin。該最小柵寬值變化量AWmin可以為柵寬微調(diào)的最小幅度，一般以源漏接觸孔的尺寸與接觸孔間距之和作為衡量標(biāo)準(zhǔn)。
[0091]接著，根據(jù)該器件的柵寬值變化范圍【W(wǎng)min，Wmax】及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵寬值變化量AWmin，確定該器件的柵寬值取值點(diǎn)。該柵寬值取值點(diǎn)可以為多個(gè)，可以組成一個(gè)柵寬值取值點(diǎn)集合，該集合內(nèi)的元素為每個(gè)柵寬值取值點(diǎn)。具體地，該柵寬值取值點(diǎn)集合可以為{Wmin, Wmin+ Δ Wmin, ffmin+2 Δ Wmin,...，Wmin+i Δ Wmin, Wnorm, , WmaJ。
[0092]其中，確定器件的柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)可以采用以下步驟:
[0093]首先，設(shè)定該初始標(biāo)準(zhǔn)單元內(nèi)每一器件的柵長(zhǎng)值變化范圍【Lmin，Lmax】及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵長(zhǎng)值變化量ALmintl該最小柵長(zhǎng)值變化量ALmin可以為柵長(zhǎng)微調(diào)的最小幅度，柵長(zhǎng)變化上一般以柵極接觸孔的尺寸與接觸孔間距之和作為衡量標(biāo)準(zhǔn)
[0094]接著，根據(jù)該器件的柵長(zhǎng)值變化范圍【Lmin，Lmax】及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵長(zhǎng)值變化量ALmin ;確定該器件的柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)。該柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)可以為多個(gè)，可以組成一個(gè)柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)集合，該集合內(nèi)的元素為每個(gè)柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)。具體地，該柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)集合可以太 iLminj Lmin+ A Lmin, Lmin+2 Δ Lmin,..., Lmin+i Δ Lmin, Lnorm,...，LmaxI。
[0095]作為本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，器件的幾何尺寸值可以僅包括器件的柵寬值，此時(shí)，上述確定的器件柵寬值取值點(diǎn)即為該器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)。
[0096]作為本發(fā)明的另一實(shí)施例，器件的幾何尺寸值還可以僅包括器件的柵長(zhǎng)值，此時(shí)，上述確定的器件柵寬值取值點(diǎn)即為該器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)。
[0097]作為本發(fā)明的又一實(shí)施例，器件的幾何尺寸值還可以同時(shí)包括器件的柵寬值和柵長(zhǎng)值，此時(shí)需要組合該器件的柵寬值和柵長(zhǎng)值，組合后的每對(duì)柵寬值和柵長(zhǎng)值作為器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)。此時(shí)，器件的一個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)包括該器件的柵寬值和柵長(zhǎng)值。
[0098]S132、組合所述物理版圖內(nèi)的各個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)，構(gòu)成幾何尺寸值取值點(diǎn)組:
[0099]根據(jù)上述確定的所述物理版圖內(nèi)的每個(gè)器件的各個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)，將該物理版圖內(nèi)的各個(gè)器件的其中一個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)組合，構(gòu)成幾何尺寸值取值點(diǎn)組?？梢岳斫?，該一個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)組內(nèi)包含有所述物理版圖內(nèi)的各個(gè)器件的一個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)。舉例說(shuō)明，假設(shè)該物理版圖內(nèi)包括m個(gè)器件，每個(gè)器件有η個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)。設(shè)定第一個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)為{Hu'Hu，…，U，第i個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)為ΙΗ^Η^，…….，第m個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)為…，Hm，n}，則由各個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)構(gòu)成的一個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)組為
所以，物理版圖內(nèi)的器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)決定了幾何尺寸值取值點(diǎn)組的個(gè)數(shù)。理論上說(shuō)，一個(gè)器件有多少個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)，就可以構(gòu)成多少個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)組。所有幾何尺寸值取值點(diǎn)組構(gòu)成第一物理版圖幾何尺寸值取值點(diǎn)集合。第一物理版圖幾何尺寸值集合內(nèi)的元素為幾何尺寸值取值點(diǎn)組，一個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)組為第一物理版圖幾何尺寸值集合的一個(gè)兀素。
[0100]S133、根據(jù)所述幾何尺寸值取值點(diǎn)組內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)，對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖內(nèi)的幾何尺寸進(jìn)行微調(diào)，得到新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖:
[0101]根據(jù)幾何尺寸值取值點(diǎn)組內(nèi)的每個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)，對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖內(nèi)的相應(yīng)器件的幾何尺寸進(jìn)行微調(diào)，得到器件幾何尺寸值為幾何尺寸值取值點(diǎn)組內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)的新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖。因此，得到的新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的器件幾何尺寸也是固定的。
[0102]S134、獲取該新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的電路性能值:`[0103]通過(guò)寄生參數(shù)提取軟件獲取該新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的包含寄生參數(shù)的網(wǎng)表，通過(guò)該包含寄生參數(shù)的網(wǎng)表，借助電路仿真軟件，獲取該新標(biāo)準(zhǔn)單元的電路性能值，該電路性能值包括電路功耗、時(shí)序、驅(qū)動(dòng)能力等性能指標(biāo)。當(dāng)然也可以通過(guò)其它方式獲取該新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的包含寄生參數(shù)的網(wǎng)表和電路性能值。
[0104]通過(guò)步驟S132至步驟S134得到了物理版圖內(nèi)的一個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的一個(gè)新標(biāo)準(zhǔn)單元的電路性能值。
[0105]由上述描述可知，標(biāo)準(zhǔn)單元內(nèi)的器件有多少個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)，就可以構(gòu)成多少個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)組，所以重復(fù)步驟S132至步驟S134，可以得到不同幾何尺寸值取值點(diǎn)組內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)對(duì)應(yīng)的不同標(biāo)準(zhǔn)單元的電路性能值。該不同標(biāo)準(zhǔn)單元的電路性能值構(gòu)成第一物理版圖電路性能值集合。
[0106]由于第一物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值是根據(jù)第一物理版圖幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組得來(lái)的，所以，第一物理版圖幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組與第一物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值存在第一對(duì)應(yīng)關(guān)系。從數(shù)學(xué)集合的角度來(lái)說(shuō)，第一物理版圖幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的元素與第一物理版圖電路性能值幾何內(nèi)的兀素存在映射關(guān)系。
[0107]S135、根據(jù)所述第一對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值:
[0108]采用插值方法(例如拉格朗日插值方法)，根據(jù)上述已知的第一對(duì)應(yīng)關(guān)系，獲取不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含(覆蓋)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值。
[0109]采用插值方法獲取不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值，具體地可以采用以下方法。為了方便描述，設(shè)定不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸值取值點(diǎn)組為第一預(yù)定幾何尺寸值取值點(diǎn)組。
[0110]該獲取方法，包括，首先，從所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)查找與所述第一預(yù)定幾何尺寸值取值點(diǎn)組鄰近的第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集。需要說(shuō)明的是，所述“與第一預(yù)定幾何尺寸值取值點(diǎn)組鄰近”的第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組與第一預(yù)定幾何尺寸值取值點(diǎn)組的相對(duì)誤差絕對(duì)值在一定范圍內(nèi)，例如在小于15%范圍內(nèi)。
[0111]接著，根據(jù)第一對(duì)應(yīng)關(guān)系，從第一物理版圖電路性能值集合中找出與上述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集相對(duì)應(yīng)的第一物理版圖電路性能值集合的子集，該兩子集內(nèi)的元素存在第二對(duì)應(yīng)關(guān)系。即，第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集中的幾何尺寸值取值點(diǎn)組與第一物理版圖電路性能值集合的子集內(nèi)的電路性能值存在第二對(duì)應(yīng)關(guān)系。
[0112]然后，根據(jù)上述第二對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，如拉格朗日插值方法，獲取第一預(yù)定幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的第一預(yù)定電路性能值。
[0113]S136、根據(jù)所述第一對(duì)應(yīng)關(guān)系和所述采用插值方法獲取的不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值，建立描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖的電路性能值的關(guān)系函數(shù)。
[0114]通過(guò)上述步驟建立的描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖的電路性能值的關(guān)系函數(shù)GE0METRY2PERF0RMANCE，可以獲得任意給定的器件幾何尺寸值對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)單元的電路性能值。
[0115]具體為，對(duì)于給定的器件幾何尺寸值組，首先在第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)查找，如果查找到與該給定器件幾何尺寸值相對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值組，則該器件幾何尺寸值組對(duì)應(yīng)的電路性能值即為所要求的標(biāo)準(zhǔn)單元的電路性能值。否則，在第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合中查找與給定器件幾何尺寸值組鄰近的第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集，然后采用插值方法，根據(jù)該第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集及其對(duì)應(yīng)的第一物理版圖電路性能值的子集，求得該給定器件幾何尺寸值組對(duì)應(yīng)的電路性能值。
[0116]S14、建立根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序:
[0117]該根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序的建立方法步驟與上述所述的描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)的方法步驟基本相同，其區(qū)別僅在于該根據(jù)物理版圖的電路性能值求解幾何尺寸值的程序的建立方法是根據(jù)已知的電路性能值求解器件的幾何尺寸值并得出兩者之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，而描述物理版圖的幾何尺寸值與電路性能值的關(guān)系函數(shù)的建立方法是根據(jù)已知的幾何尺寸值求解電路性能值并得出兩者之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。如果將描述物理版圖的幾何尺寸值與電路性能值的關(guān)系函數(shù)看作第一函數(shù)，根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序看作第二函數(shù)，則從數(shù)學(xué)的角度可以理解為第一函數(shù)和第二函數(shù)互為反函數(shù)。[0118]優(yōu)選地，參見(jiàn)圖3，該建立根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序的方法，具體包括以下步驟:
[0119]S141、根據(jù)第二預(yù)定物理版圖電路性能值，構(gòu)成第二物理版圖電路性能值集合:
[0120]其中，第二預(yù)定物理版圖電路性能值可以為多個(gè)，將所述第二預(yù)定物理版圖電路性能值作為集合的元素，構(gòu)成第二物理版圖電路性能值集合。
[0121]S142、根據(jù)描述物理版圖的幾何尺寸值與物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)，構(gòu)建與第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)的第二預(yù)定電路性能值對(duì)應(yīng)的第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合，該第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)的第二預(yù)定電路性能值與所述第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組存在第三對(duì)應(yīng)關(guān)系。
[0122]由于所述的描述物理版圖的幾何尺寸值與物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)GE0METRY2PERF0RMANCE中的幾何尺寸值組與電路性能值存在——對(duì)應(yīng)關(guān)系，所以根據(jù)上述所述的關(guān)系函數(shù)GE0METRY2PERF0RMANCE，則可以由第二預(yù)定物理版圖電路性能值查找到與其對(duì)應(yīng)的第二預(yù)定幾何尺寸值。將查找到的第二預(yù)定幾何尺寸值作為集合的元素，構(gòu)建第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合。所述第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值與所述第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組存在第三對(duì)應(yīng)關(guān)系。
[0123]S143、根據(jù)所述第三對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取不被所述第二物理版圖電路性能值集合所包含的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組；
[0124]與步驟S135相似，采用插值方法(例如拉格朗日插值方法)，根據(jù)上述已知的第三對(duì)應(yīng)關(guān)系，獲取不被所述第二物理版圖電路性能值集合所包含(覆蓋)的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值組。
[0125]S144、根據(jù)所述第三對(duì)應(yīng)關(guān)系和所述采用插值方法獲取的不被所述第二物理版圖電路性能值集合所包含的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組，建立根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序。
[0126]通過(guò)建立的根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序SPEC2GE0METRY,可以獲得任意給定的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值組，進(jìn)而得到相應(yīng)器件的幾何尺寸值。
[0127]具體為，對(duì)于給定的電路性能值，首先在第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)查找，如果查找到與該給定電路性能值相對(duì)應(yīng)的電路性能值，則該電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值即為所要求的器件幾何尺寸值。否則，在第二物理版圖電路性能值集合中查找與給定電路性能值鄰近的第二物理版圖電路性能值集合的子集，然后采用插值方法，根據(jù)與給定電路性能值相近的第二物理版圖電路性能值集合的子集及其對(duì)應(yīng)的第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集，求得該給定電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值。
[0128]需要說(shuō)明的是，所述與給定電路性能值鄰近的第二物理版圖電路性能值集合的子集內(nèi)的電路性能值是與給定電路性能值的相對(duì)誤差絕對(duì)值在一定范圍內(nèi)，例如在小于15%范圍內(nèi)。
[0129]上述所述的標(biāo)準(zhǔn)單元的建立方法的四個(gè)步驟Sll至S14是相互獨(dú)立的步驟，這四個(gè)步驟之間沒(méi)有先后順序。上述所述的四個(gè)步驟可以按任意順序排序。上述步驟順序僅是建立方法的一種示例，不應(yīng)理解為本發(fā)明實(shí)施例的標(biāo)準(zhǔn)單元的建立方法僅包括上述一種順序。實(shí)際上，只要包含上述四個(gè)步驟的標(biāo)準(zhǔn)單元的建立方法均在本發(fā)明申請(qǐng)的保護(hù)之列。[0130]實(shí)施例一示例的標(biāo)準(zhǔn)單元的建立方法能夠根據(jù)要求，在實(shí)際設(shè)計(jì)過(guò)程中建立需要的標(biāo)準(zhǔn)單元，該標(biāo)準(zhǔn)單元的建立方法克服了現(xiàn)有技術(shù)中由于需要調(diào)用多種不同的標(biāo)準(zhǔn)單元而需預(yù)先創(chuàng)建龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)，因而，節(jié)省了大量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的存儲(chǔ)空間，而且由于可以在實(shí)際設(shè)計(jì)過(guò)程中構(gòu)建所需要的標(biāo)準(zhǔn)單元，所以也避免了需要再龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)中查找需要的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的繁瑣，進(jìn)一步節(jié)省了查找預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)單元的開(kāi)發(fā)成本。
[0131]基于上述標(biāo)準(zhǔn)單元的建立方法，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種標(biāo)準(zhǔn)單元。詳細(xì)參見(jiàn)實(shí)施例二。
[0132]實(shí)施例二
[0133]結(jié)合圖4對(duì)本發(fā)明實(shí)施例提供的標(biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行詳細(xì)描述。圖4是標(biāo)準(zhǔn)單元的示意圖。該標(biāo)準(zhǔn)單元包括；符合預(yù)定要求的器件參數(shù)值條件下的初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖41 ;對(duì)物理版圖的幾何尺寸值進(jìn)行微調(diào)的程序42 ;描述物理版圖的幾何尺寸值域所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)43 ;根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序44。
[0134]其中，符合預(yù)定要求的器件參數(shù)值條件下的初始標(biāo)準(zhǔn)單元41可以是現(xiàn)有技術(shù)中的“固定標(biāo)準(zhǔn)單元”，即該初始標(biāo)準(zhǔn)單元的版圖和內(nèi)部電路的器件參數(shù)值均是固定的，其電路性能值(包括面積、電路功耗、時(shí)序以及驅(qū)動(dòng)能力等)也是固定的；另外，“預(yù)定要求”可以由具體設(shè)計(jì)需求而定。需要說(shuō)明的是，所述器件參數(shù)值包括物理版圖的幾何尺寸值，該幾何尺寸值可以包括柵極圖形的柵寬值，也可以包括柵長(zhǎng)值，還可以同時(shí)包括柵寬值和柵長(zhǎng)值。
[0135]描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)43包括第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合，所述第一幾何尺寸取值點(diǎn)集合的元素為幾何尺寸值取值點(diǎn)組，每個(gè)所述幾何尺寸值取值點(diǎn)組包含所述物理版圖內(nèi)每一器件的一個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)。所述幾何尺寸值取值點(diǎn)包括器件的柵寬值取值點(diǎn)和/或柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)。所述幾何尺寸值取值點(diǎn)的確定方法如下:
[0136]其中，確定器件的柵寬值`取值點(diǎn)可以采用以下步驟:
[0137]首先，設(shè)定該初始標(biāo)準(zhǔn)單元內(nèi)每一器件的柵寬值變化范圍【W(wǎng)min，Wmax】及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵寬值變化量AWmin;
[0138]接著，根據(jù)該器件的柵寬值變化范圍【W(wǎng)min，Wmax】及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵寬值變化量AWmin，確定該器件的柵寬值取值點(diǎn)。該柵寬值取值點(diǎn)可以為多個(gè)，可以組成一個(gè)柵寬值取值點(diǎn)集合，該集合內(nèi)的元素為每個(gè)柵寬值取值點(diǎn)。具體地，該柵寬值取值點(diǎn)集合可以為{Wmin, Wmin+ Δ Wmin, ffmin+2 Δ Wmin,...，Wmin+i Δ Wmin, Wnorm, , WmaJ。
[0139]其中，確定器件的柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)可以采用以下步驟:
[0140]首先，設(shè)定該初始標(biāo)準(zhǔn)單元內(nèi)每一器件的柵長(zhǎng)值變化范圍【Lmin，Lmax】及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵長(zhǎng)值變化量ALmin;
[0141]接著，根據(jù)該器件的柵長(zhǎng)值變化范圍【Lmin，Lmax】及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵長(zhǎng)值變化量ALmin ;確定該器件的柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)。該柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)可以為多個(gè)，可以組成一個(gè)柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)集合，該集合內(nèi)的元素為每個(gè)柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)。具體地，該柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)集合可以太 iLminj Lmin+ A Lmin, Lmin+2 Δ Lmin,..., Lmin+i Δ Lmin, Lnorm,...，LmaxI。
[0142]作為本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，器件的幾何尺寸值可以僅包括器件的柵寬值，此時(shí)，上述確定的器件柵寬值取值點(diǎn)即為該器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)。[0143]作為本發(fā)明的另一實(shí)施例，器件的幾何尺寸值還可以僅包括器件的柵長(zhǎng)值，此時(shí)，上述確定的器件柵寬值取值點(diǎn)即為該器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)。
[0144]作為本發(fā)明的又一實(shí)施例，器件的幾何尺寸值還可以同時(shí)包括器件的柵寬值和柵長(zhǎng)值，此時(shí)需要組合該器件的柵寬值和柵長(zhǎng)值，組合后的每對(duì)柵寬值和柵長(zhǎng)值作為器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)。此時(shí)，器件的一個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)包括該器件的柵寬值和柵長(zhǎng)值。
[0145]描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)43還包括第一物理版圖電路性能值集合，所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組與該第一物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值存在第一對(duì)應(yīng)關(guān)系。換句話說(shuō)，第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組決定了第一物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值。
[0146]其中，根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序44，包括第二物理版圖電路性能值集合，第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合。其中，所述第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)包含有多個(gè)預(yù)定物理版圖電路性能值；第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)與所述的預(yù)定電路性能值存在第三對(duì)應(yīng)關(guān)系。
[0147]需要說(shuō)明的是，本發(fā)明實(shí)施例提供的標(biāo)準(zhǔn)單元實(shí)際上是一種“虛擬標(biāo)準(zhǔn)單元”，該“虛擬標(biāo)準(zhǔn)單元”中表述器件結(jié)構(gòu)和尺寸的幾何圖形的位置和大小都不是固定的，而是可以根據(jù)實(shí)際器件的參數(shù)值(包括器件的幾何尺寸值)去自動(dòng)生成傳統(tǒng)的“固定標(biāo)準(zhǔn)單元”。本發(fā)明實(shí)施例中的虛擬標(biāo)準(zhǔn)單元可以給予初始標(biāo)準(zhǔn)單元(即固定標(biāo)準(zhǔn)單元)產(chǎn)生，虛擬標(biāo)準(zhǔn)單元可以覆蓋在一定電路性能值和器件參數(shù)值取值范圍內(nèi)的全部標(biāo)準(zhǔn)單元的需求。
[0148]本發(fā)明實(shí)施例提供的標(biāo)準(zhǔn)單元可以根據(jù)符合預(yù)定要求的電路性能值通過(guò)幾何尺寸值求解程序得到物理版圖的幾何尺寸值，根據(jù)求解得到的幾何尺寸值通過(guò)幾何尺寸值微調(diào)程序?qū)Τ跏紭?biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行微調(diào)，得到新標(biāo)準(zhǔn)單元。所以，本發(fā)明實(shí)施例提供的標(biāo)準(zhǔn)單元使用方法可以根據(jù)實(shí)際需要構(gòu)建不同的標(biāo)準(zhǔn)單元，在實(shí)際設(shè)計(jì)過(guò)程中可以依據(jù)預(yù)定的電路性能值構(gòu)建不同的標(biāo)準(zhǔn)單元，克服了現(xiàn)有技術(shù)中由于需要調(diào)用標(biāo)準(zhǔn)單元而需預(yù)先創(chuàng)建龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)，因而，節(jié)省了大量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的存儲(chǔ)空間，而且由于可以在實(shí)際設(shè)計(jì)過(guò)程中構(gòu)建所需要的標(biāo)準(zhǔn)單元，所以也避免了需要再龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)中查找需要的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的繁瑣，進(jìn)一步節(jié)省了查找預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)單元的開(kāi)發(fā)成本。
[0149]基于本發(fā)明實(shí)施例二提供的標(biāo)準(zhǔn)單元，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種標(biāo)準(zhǔn)單元的使用方法。詳細(xì)參見(jiàn)實(shí)施例三。
[0150]實(shí)施例三
[0151]結(jié)合圖5，圖5是本發(fā)明實(shí)施例的標(biāo)準(zhǔn)單元的使用方法流程示意圖，該使用方法在執(zhí)行使用方法之前，預(yù)先建立符合預(yù)定要求的器件參數(shù)值條件下的初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖CELL-LAY0UT。建立的該初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖與上述實(shí)施例所述的初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖相同。
[0152]該使用方法包括以下步驟:
[0153]S51、獲取符合預(yù)定要求的標(biāo)準(zhǔn)單元版圖的電路性能值:
[0154]數(shù)字電路設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件工具給出預(yù)定要求的電路性能值。該電路性能值可以包括標(biāo)準(zhǔn)單元的面積值、電路功耗、時(shí)序以及驅(qū)動(dòng)能力。
[0155]S52、根據(jù)所述電路性能值獲取標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的幾何尺寸值:[0156]根據(jù)上述符合預(yù)定要求的標(biāo)準(zhǔn)單元面積值和電路性能值基于程序SPEC2GE0METRY(即根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序)求解獲取標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的幾何尺寸值。
[0157]S53、根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖進(jìn)行微調(diào)，以獲得新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖:
[0158]由上述描述可知，幾何尺寸值包括柵寬值和/或柵長(zhǎng)值，所以，根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖進(jìn)行微調(diào)，包括對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵寬值的微調(diào)，和/或，對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵長(zhǎng)值的微調(diào)。當(dāng)對(duì)柵寬值和柵長(zhǎng)值均進(jìn)行微調(diào)時(shí)，可以先對(duì)柵寬值進(jìn)行微調(diào)，再對(duì)柵長(zhǎng)值進(jìn)行微調(diào)，或者，也可以先對(duì)柵長(zhǎng)值進(jìn)行微調(diào)，再對(duì)柵寬值進(jìn)行微調(diào)。
[0159]在進(jìn)行微調(diào)之前，預(yù)先選定直角坐標(biāo)系，以所述柵寬所在的方向?yàn)樗鲋苯亲鴺?biāo)系的X軸方向，以所述柵長(zhǎng)所在的方向?yàn)樗鲋苯亲鴺?biāo)系的Y軸方向。
[0160]設(shè)定柵寬微調(diào)值為λ W，設(shè)定柵長(zhǎng)微調(diào)值為AL。
[0161]其中，對(duì)初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵寬值的微調(diào)，包括，
[0162]遍歷所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元版圖上的全部圖形的所有頂點(diǎn)；
[0163]令擴(kuò)散圖形的上邊沿的頂點(diǎn)及該邊沿以上的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值保持不變，將所述擴(kuò)散圖形的上邊沿的頂點(diǎn)及該邊沿以上的頂點(diǎn)的Y軸方向的坐標(biāo)值Ytjld更新為Ynew,其中，Ym=UAW,同時(shí)，令原擴(kuò)散圖形的上邊沿以下的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值和Y軸方向的坐標(biāo)值保持不變。
[0164]其中，對(duì)初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵長(zhǎng)值的微調(diào)，包括，
[0165]遍歷所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元的版圖內(nèi)的全部圖形的頂點(diǎn)；
[0166]對(duì)被微調(diào)柵右邊沿上的頂點(diǎn)及該邊沿之外的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值由原來(lái)的Xold更新為Xnew,其中,Xnew=Xold+Δ L,并令所述Y軸方向的坐標(biāo)值保持不變，同時(shí)，令被微調(diào)柵左側(cè)的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值和Y軸方向的坐標(biāo)值保持不變。
[0167]對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元版圖內(nèi)的柵按一定方向如從左向右遍歷，按上述坐標(biāo)變換依次處理柵長(zhǎng)被微調(diào)的柵。
[0168]S54、根據(jù)所述幾何尺寸值獲取所述新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的電路性能值:
[0169]根據(jù)步驟S52得到的幾何尺寸值基于程序GE0METRY2PERF0RMANCE求得當(dāng)前物理版圖的電路性能值。
[0170]最后將得到的新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖及其電路性能值交由數(shù)字電路設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件使用。
[0171]至此，本發(fā)明提供的標(biāo)準(zhǔn)單元的使用方法完成。
[0172]本發(fā)明實(shí)施例提供的標(biāo)準(zhǔn)單元使用方法可以根據(jù)符合預(yù)定要求的電路性能值通過(guò)SPEC2GE0METRY程序得到物理版圖的幾何尺寸值，根據(jù)求解得到的幾何尺寸值通過(guò)GE0METRY2PERF0RMANCE程序?qū)Τ跏紭?biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行微調(diào)，得到新標(biāo)準(zhǔn)單元。所以，本發(fā)明實(shí)施例提供的標(biāo)準(zhǔn)單元使用方法可以根據(jù)實(shí)際需要構(gòu)建不同的標(biāo)準(zhǔn)單元，在實(shí)際設(shè)計(jì)過(guò)程中可以依據(jù)預(yù)定的電路性能值構(gòu)建不同的標(biāo)準(zhǔn)單元，克服了現(xiàn)有技術(shù)中由于需要調(diào)用標(biāo)準(zhǔn)單元而需預(yù)先創(chuàng)建龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)，因而，節(jié)省了大量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的存儲(chǔ)空間，而且由于可以在實(shí)際設(shè)計(jì)過(guò)程中構(gòu)建所需要的標(biāo)準(zhǔn)單元，所以也避免了需要再龐大數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)中查找需要的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的繁瑣，進(jìn)一步節(jié)省了查找預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)單元的開(kāi)發(fā)成本。
[0173]需要說(shuō)明的是，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以將本發(fā)明實(shí)施例的標(biāo)準(zhǔn)單元的使用方法與上述實(shí)施例二中的標(biāo)準(zhǔn)單元的建立方法相結(jié)合獲得多種不同的技術(shù)方案，為簡(jiǎn)單起見(jiàn)，在此不再具體介紹。
[0174]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種標(biāo)準(zhǔn)單元的建立方法，其特征在于，包括， 建立符合預(yù)定要求的器件參數(shù)值條件下的初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖；建立對(duì)物理版圖的幾何尺寸值進(jìn)行微調(diào)的程序；建立描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)；建立根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序； 所述器件參數(shù)值包括物理版圖中的幾何尺寸值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的建立方法，其特征在于，所述建立描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖的電路性能值的關(guān)系函數(shù)，具體包括， 確定所述物理版圖內(nèi)的每個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)； 組合所述物理版圖內(nèi)的各個(gè)器件的所述幾何尺寸值取值點(diǎn)，構(gòu)成若干個(gè)幾何尺寸值取值點(diǎn)組，所有所述幾何尺寸值取值點(diǎn)組構(gòu)成第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合，所述幾何尺寸值取值點(diǎn)組包含所述物理版圖內(nèi)每個(gè)器件的一個(gè)所述幾何尺寸值取值點(diǎn)； 根據(jù)所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組，對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的幾何尺寸進(jìn)行微調(diào)，得到新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖； 獲取每一個(gè)所述新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的電路性能值，構(gòu)成第一物理版圖電路性能值集合；所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組與所述第一物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值存在第一對(duì)應(yīng)關(guān)系； 根據(jù)所述第一對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值； 根據(jù)所述第一對(duì)應(yīng)關(guān)系和所述采用插值方法獲取的不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值，建立描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖的電路性能值的關(guān)系函數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的建立方法，其特征在于，所述幾何尺寸值包括柵寬值和/或柵長(zhǎng)值，設(shè)定所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元內(nèi)每一器件的柵寬值變化范圍及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵寬值變化量AWmin，和/或，設(shè)定所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元內(nèi)每一器件的柵長(zhǎng)值變化范圍及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵長(zhǎng)值變化量△ Lmin,所述確定所述物理版圖內(nèi)的每個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)，包括， 根據(jù)物理版圖內(nèi)的每一器件的所述柵寬值變化范圍及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵寬值變化量AWmin確定與所述器件相對(duì)應(yīng)的柵寬值取值點(diǎn)，和/或，根據(jù)物理版圖內(nèi)每一器件所述柵長(zhǎng)值變化范圍及相鄰變化點(diǎn)之間的最小柵長(zhǎng)值變化量△ Lmin確定與所述器件相對(duì)應(yīng)的柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)； 組合每一器件的所述柵寬值取值點(diǎn)和/或所述柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)，確定與所述物理版圖內(nèi)的每個(gè)器件的幾何尺寸值取值點(diǎn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的建立方法，其特征在于，所述獲取每一個(gè)所述新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的電路性能值，包括， 獲取所述新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的包含寄生參數(shù)的網(wǎng)表； 根據(jù)所述包含寄生參數(shù)的網(wǎng)表，獲取所述新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的電路性能值。
5.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的建立方法，其特征在于，設(shè)定不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸值取值點(diǎn)組為第一預(yù)定幾何尺寸值取值點(diǎn)組，所述根據(jù)所述第一對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取不被所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合所包含的幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值，包括， 從所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合中查找與所述第一預(yù)定幾何尺寸值取值點(diǎn)組臨近的第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集，所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集中的幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的電路性能值構(gòu)成所述第一物理版圖電路性能值集合的子集，所述幾何尺寸值取值點(diǎn)組的子集中的幾何尺寸值取值點(diǎn)組與所述第一物理版圖電路性能值集合的子集中的電路性能值存在第二對(duì)應(yīng)關(guān)系； 根據(jù)所述第二對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取所述第一預(yù)定幾何尺寸值取值點(diǎn)組對(duì)應(yīng)的第一預(yù)定電路性能值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的建立方法，其特征在于，所述建立根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序，包括， 根據(jù)第二預(yù)定物理版圖電路性能值，構(gòu)成第二物理版圖電路性能值集合； 根據(jù)所述描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)，構(gòu)建與所述第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)的第二預(yù)定電路性能值對(duì)應(yīng)的包含所述物理版圖內(nèi)所述幾何尺寸值取值點(diǎn)組的第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合；所述第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值與所述第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組存在第三對(duì)應(yīng)關(guān)系； 根據(jù)所述第三對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取不被所述第二物理版圖電路性能值集合所包含的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組； 根據(jù)所述第三對(duì)應(yīng)關(guān)系和所述采用插值方法獲取的不被所述第二物理版圖電路性能值集合所包含的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組，建立根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序。
7.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的建立方法，其特征在于，設(shè)定不被所述第二物理版圖電路性能值集合所包含的電路性能值為第三預(yù)定電路性能值，所述根據(jù)所述第三對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取不被所述第二物理版圖電路性能值集合所包含的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)，包括， 從所述第二物理版圖電路性能值集合中查找與所述預(yù)定電路性能值臨近的電路性能值構(gòu)成的第二物理版圖電路性能值集合的子集，所述第二物理版圖電路性能值集合的子集中的電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)構(gòu)成第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集，所述第二物理版圖電路性能值集合的子集中的電路性能值與所述第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合的子集中的幾何尺寸值取值點(diǎn)組存在第四對(duì)應(yīng)關(guān)系； 根據(jù)所述第四對(duì)應(yīng)關(guān)系，采用插值方法，獲取所述預(yù)定電路性能值對(duì)應(yīng)的幾何尺寸值取值點(diǎn)。
8.—種標(biāo)準(zhǔn)單元,包括， 符合預(yù)定要求的器件參數(shù)值條件下的初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖； 對(duì)物理版圖的幾何尺寸值進(jìn)行微調(diào)的程序； 描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)； 根據(jù)物理版圖的電路 性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序； 其中，所述器件參數(shù)值包括物理版圖中的幾何尺寸值。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的標(biāo)準(zhǔn)單元，其特征在于，所述描述物理版圖的幾何尺寸值與所述物理版圖電路性能值的關(guān)系函數(shù)，包括， 第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合，所述第一幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)包含所述物理版圖內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組； 第一物理版圖電路性能值集合，所述第一物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值與所述第一集合尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組存在第一對(duì)應(yīng)關(guān)系。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的標(biāo)準(zhǔn)單元，其特征在于，所述幾何尺寸值取值點(diǎn)，包括，柵寬值取值點(diǎn)和/或柵長(zhǎng)值取值點(diǎn)。
11.根據(jù)權(quán)利要求8-10任一項(xiàng)所述的標(biāo)準(zhǔn)單元，其特征在于，所述根據(jù)物理版圖的電路性能值求解物理版圖中幾何尺寸值的程序，包括， 第二物理版圖電路性能值集合，所述第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)包含有至少一個(gè)電路性能值； 第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合，所述第二幾何尺寸值取值點(diǎn)集合內(nèi)的幾何尺寸值取值點(diǎn)組與所述第二物理版圖電路性能值集合內(nèi)的電路性能值存在第三對(duì)應(yīng)關(guān)系。
12.—種標(biāo)準(zhǔn)單元的使用方法，預(yù)先建立符合預(yù)定要求的器件參數(shù)值條件下的初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖，其特征在于，包括， 獲取符合預(yù)定要求的標(biāo)準(zhǔn) 單元版圖的電路性能值； 根據(jù)所述電路性能值獲取標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的幾何尺寸值； 根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖進(jìn)行微調(diào)，以獲得新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖； 根據(jù)所述幾何尺寸值獲取所述新標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的電路性能值； 其中，所述器件參數(shù)值包括幾何尺寸值。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的使用方法，其特征在于，所述根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖進(jìn)行微調(diào)，包括，根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵寬的微調(diào)，和/或，根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵長(zhǎng)的微調(diào)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的使用方法，其特征在于，選定直角坐標(biāo)系，以所述柵寬所在的方向?yàn)樗鲋苯亲鴺?biāo)系的X軸方向，所述柵長(zhǎng)所在的方向?yàn)樗鲋苯亲鴺?biāo)系的Y軸方向，所述根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵寬的微調(diào)，包括， 設(shè)定柵寬微調(diào)值為AW; 遍歷所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元版圖上的全部圖形的所有頂點(diǎn)； 令擴(kuò)散圖形的上邊沿的頂點(diǎn)及該邊沿以上的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值保持不變，將所述擴(kuò)散圖形的上邊沿的頂點(diǎn)及該邊沿以上的頂點(diǎn)的Y軸方向的坐標(biāo)值Ytjld更新為Ynew，其中，Y^^Yoid+ △ W,同時(shí)，令擴(kuò)散圖形的上邊沿以下的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值和Y軸方向的坐標(biāo)值保持不變； 或者，根據(jù)所述幾何尺寸值對(duì)所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元物理版圖的柵長(zhǎng)的微調(diào)，包括， 設(shè)定柵長(zhǎng)微調(diào)值為AL; 遍歷所述初始標(biāo)準(zhǔn)單元的版圖內(nèi)的全部圖形的所有頂點(diǎn)； 對(duì)被微調(diào)柵右邊沿上的頂點(diǎn)及該邊沿之外的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值由原來(lái)的Xtjld更新為Xm，其中，Xnew=Xold+ Δ L，并令所述Y軸方向的坐標(biāo)值保持不變，同時(shí)，令被微調(diào)柵左側(cè)的頂點(diǎn)的X軸方向的坐標(biāo)值和Y軸方向的坐標(biāo)值 保持不變。
【文檔編號(hào)】G06F17/50GK103559352SQ201310537891
【公開(kāi)日】2014年2月5日 申請(qǐng)日期:2013年11月4日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月4日
【發(fā)明者】吳玉平, 陳嵐, 呂志強(qiáng) 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院微電子研究所