專利名稱：電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
觸摸屏作為一種輸入裝置，它以其易于使用、堅(jiān)固耐用、反應(yīng)速度快、節(jié)省空間等優(yōu)點(diǎn)成為目前最簡(jiǎn)單、方便、自然的一種人機(jī)交互方式。電阻式觸摸屏的優(yōu)點(diǎn)是屏幕和控制系統(tǒng)都比較便宜、反應(yīng)靈敏度高、工作環(huán)境對(duì)外界完全隔離以及不易受到灰塵、水汽及輻射等的影響，可適應(yīng)各種惡劣的環(huán)境。電阻式觸摸屏可以使用任何物體來(lái)實(shí)現(xiàn)觸摸操作，穩(wěn)定性能較好，因此得到了廣泛的應(yīng)用。目前，許多的手機(jī)、移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)設(shè)備(MID)以及平板電腦等都采用電阻式觸摸屏。
使用電阻式觸摸屏的電子裝置在出廠時(shí)都必須要經(jīng)過(guò)屏幕校準(zhǔn)才可正常使用。在屏幕校準(zhǔn)時(shí)一般都是運(yùn)行一個(gè)屏幕校準(zhǔn)程序并在顯示屏上顯示多個(gè)觸摸點(diǎn)，然后由測(cè)試人員依次點(diǎn)擊所有的點(diǎn)來(lái)取得在觸摸屏上的物理坐標(biāo)，最后由校準(zhǔn)程序根據(jù)校準(zhǔn)算法計(jì)算出校準(zhǔn)參數(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)觸摸屏的校準(zhǔn)。這種手動(dòng)校準(zhǔn)的方法過(guò)于笨拙，例如，有的觸摸屏廠商提供的校準(zhǔn)程序需要使用者依次點(diǎn)擊接近20次才能達(dá)到完全校準(zhǔn)。若測(cè)試人員在進(jìn)行校準(zhǔn)操作時(shí)點(diǎn)錯(cuò)一次，會(huì)出現(xiàn)校準(zhǔn)失敗或校準(zhǔn)錯(cuò)誤，必須重新進(jìn)行校準(zhǔn)，從而導(dǎo)致時(shí)間的浪費(fèi)，以及校準(zhǔn)效率的降低，在大批量生產(chǎn)時(shí)很難達(dá)到快速出貨的要求。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括提示模塊，用于當(dāng)用戶啟動(dòng)校準(zhǔn)程序?qū)τ|摸屏進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，提示用戶將一個(gè)校準(zhǔn)治具覆蓋在觸摸屏上，并提示用戶使用觸控筆沿著該校準(zhǔn)治具的滑軌滑動(dòng)，其中，在觸摸屏上位于該滑軌正下方的區(qū)域設(shè)置有多個(gè)采樣點(diǎn)，每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)一個(gè)確定的邏輯坐標(biāo)；獲取模塊，用于獲取所述觸控筆滑過(guò)每個(gè)采樣點(diǎn)所得到的物理坐標(biāo)，并將獲取的物理坐標(biāo)暫存于電子裝置的存儲(chǔ)系統(tǒng)中；校準(zhǔn)模塊，用于根據(jù)記錄的物理坐標(biāo)以及每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)計(jì)算出一個(gè)校準(zhǔn)參數(shù)，然后將該校準(zhǔn)參數(shù)保存在電子裝置的系統(tǒng)配置文件中，以完成對(duì)觸摸屏的校準(zhǔn)。還有必要提供一種電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)方法，該方法包括提示步驟，當(dāng)用戶啟動(dòng)校準(zhǔn)程序?qū)τ|摸屏進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，提示用戶將一個(gè)校準(zhǔn)治具覆蓋在觸摸屏上，并提示用戶使用觸控筆沿著該校準(zhǔn)治具的滑軌滑動(dòng)，其中，在觸摸屏上位于該滑軌正下方的區(qū)域設(shè)置有多個(gè)采樣點(diǎn)，每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)一個(gè)確定的邏輯坐標(biāo)；獲取步驟，獲取所述觸控筆滑過(guò)每個(gè)采樣點(diǎn)所得到的物理坐標(biāo)，并將獲取的物理坐標(biāo)暫存于電子裝置的存儲(chǔ)系統(tǒng)中；及校準(zhǔn)步驟，根據(jù)記錄的物理坐標(biāo)以及每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)計(jì)算出一個(gè)校準(zhǔn)參數(shù)，然后將該校準(zhǔn)參數(shù)保存在電子裝置的系統(tǒng)配置文件中，以完成對(duì)觸摸屏的校準(zhǔn)。相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法，配合使用一種特定的校準(zhǔn)治具對(duì)電阻式觸摸屏進(jìn)行校準(zhǔn)，可對(duì)電阻式觸摸屏進(jìn)行快速校準(zhǔn)，方便操作且具備防呆功能，可提聞生廣時(shí)對(duì)觸摸屏進(jìn)行校準(zhǔn)的效率。


圖I是本發(fā)明電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)較佳實(shí)施例的應(yīng)用環(huán)境示意圖。圖2是本發(fā)明較佳實(shí)施例中對(duì)觸摸屏進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)所使用的校準(zhǔn)治具的示意圖。圖3和圖4是用戶使用觸控筆在校準(zhǔn)治具的滑軌上滑動(dòng)的示意圖。圖5是本發(fā)明電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)方法較佳實(shí)施例的流程圖。主要元件符號(hào)說(shuō)明電子裝置|ι —
校準(zhǔn)系統(tǒng)10 提不模塊 101 獲取模塊 校準(zhǔn)模塊103 觸摸屏 11 存儲(chǔ)器 處理器 13 校準(zhǔn)治具100
滑軌 Imo
如下具體實(shí)施方式
將結(jié)合上述附圖進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明。
具體實(shí)施例方式如圖I所示，是本發(fā)明電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)較佳實(shí)施例的應(yīng)用環(huán)境示意圖。該電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)10 (以下簡(jiǎn)稱為“校準(zhǔn)系統(tǒng)10”)應(yīng)用在電子裝置I中。該電子裝置I包括觸摸屏11、存儲(chǔ)器12以及處理器13。在本實(shí)施例中，所述觸摸屏11為電阻式觸摸屏。該電子裝置I可以是，但不限于，手機(jī)、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)以及移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)設(shè)備(MID)等采用所述觸摸屏11的便攜式移動(dòng)電子設(shè)備。所述校準(zhǔn)系統(tǒng)10包括提示模塊101、獲取模塊102以及校準(zhǔn)模塊103。該校準(zhǔn)系統(tǒng)10可存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器12中，由處理器13控制該校準(zhǔn)系統(tǒng)10的執(zhí)行。在本實(shí)施例中，該校準(zhǔn)系統(tǒng)10配合使用一個(gè)校準(zhǔn)治具100來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)所述觸摸屏11的快速校準(zhǔn)。如圖2所示，是所述校準(zhǔn)治具100的示意圖。該校準(zhǔn)治具100包括一個(gè)中空的滑軌MO，該滑軌MO呈矩形。在對(duì)所述觸摸屏11進(jìn)行校準(zhǔn)之前，該校準(zhǔn)治具100被覆蓋在該觸摸屏11上，使得用戶可使用觸控筆從滑軌MO中的一個(gè)起始位置沿該滑軌滑動(dòng)，進(jìn)而輔助實(shí)現(xiàn)對(duì)該觸摸屏11的校準(zhǔn)。為方便用戶的使用，該校準(zhǔn)治具100可使用透明材質(zhì)的材料制成，并形成一板狀體。如圖5所示，是本發(fā)明電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)方法的流程圖。下面結(jié)合圖5，針對(duì)所述校準(zhǔn)系統(tǒng)10配合使用所述校準(zhǔn)治具100對(duì)觸摸屏11進(jìn)行校準(zhǔn)的方法進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。步驟SOI，當(dāng)用戶啟動(dòng)校準(zhǔn)程序?qū)τ|摸屏11進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，所述提示模塊101提示用戶將校準(zhǔn)治具100覆蓋在觸摸屏11上。步驟S02，當(dāng)校準(zhǔn)治具100被覆蓋在觸摸屏11上時(shí)，提示模塊101提示用戶使用觸控筆沿著所述滑軌MO滑動(dòng)。本實(shí)施例中，在觸摸屏11上位于所述滑軌MO正下方的區(qū)域設(shè)置多個(gè)采樣點(diǎn)，每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)一個(gè)確定的邏輯坐標(biāo)。該邏輯坐標(biāo)是指每個(gè)采樣點(diǎn)在觸摸屏11上的理論坐標(biāo)，與用戶點(diǎn)擊該采樣點(diǎn)所得到的實(shí)際物理坐標(biāo)會(huì)存在偏差，校準(zhǔn)觸摸屏11的目的即是為了確定這種實(shí)際操作與理論上的偏差，進(jìn)而使得用戶對(duì)觸摸屏11的點(diǎn)擊操作更為精確。用戶可使用觸控筆從滑軌MO上的一個(gè)起始位置(如圖3中的A0)開(kāi)始沿著該滑軌MO滑動(dòng)，最后再回到該起始位置，以完成一次滑動(dòng)操作，該滑動(dòng)的方式如圖3所示。此外，用戶也可使用兩只觸控筆從所述起始位置AO沿著所述滑軌MO分別朝同一個(gè)終點(diǎn)位置滑動(dòng)，來(lái)完成所述滑動(dòng)操作。例如圖4所示，用戶可使用兩只觸控筆分別從AO位置開(kāi)始，第一觸控筆沿順時(shí)針?lè)较虺鯝l位置滑動(dòng)，第二觸控筆沿逆時(shí)針?lè)较?，也朝所述Al位置滑動(dòng)，當(dāng)兩只觸控筆均滑動(dòng)到所述位置Al處時(shí)，則完成一次滑動(dòng)操作。步驟S03，所述獲取模塊102獲取所述觸控筆滑過(guò)每個(gè)采樣點(diǎn)所得到的物理坐標(biāo)，并將獲取的物理坐標(biāo)暫存于電子裝置I的存儲(chǔ)系統(tǒng)中。此處，該獲取模塊102可通過(guò)調(diào)用觸摸屏11的驅(qū)動(dòng)程序來(lái)獲取觸控筆滑過(guò)每個(gè)采樣點(diǎn)的物理坐標(biāo)。步驟S04，所述校準(zhǔn)模塊103根據(jù)記錄的物理坐標(biāo)以及每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)計(jì)算出一個(gè)校準(zhǔn)參數(shù)，然后將該校準(zhǔn)參數(shù)保存在電子裝置I的系統(tǒng)配置文件中，以完成 對(duì)觸摸屏11的校準(zhǔn)。具體地，每個(gè)采樣點(diǎn)的邏輯坐標(biāo)以及校準(zhǔn)參數(shù)的計(jì)算算法均被保存在電子裝置I的存儲(chǔ)系統(tǒng)中，校準(zhǔn)算法一般采用待定系數(shù)法。下面舉例對(duì)該校準(zhǔn)參數(shù)的計(jì)算方法進(jìn)行說(shuō)明。例如,所述校準(zhǔn)模塊103可通過(guò)以下公式來(lái)計(jì)算所述校準(zhǔn)參數(shù)XLn = ΧΤηΧΑ+Β,YLn = YTnXC+D，其中，(XLn, YLn)表示第η個(gè)采樣點(diǎn)的邏輯坐標(biāo)，(XTn, YTn)表示觸控筆劃過(guò)第η個(gè)采樣點(diǎn)時(shí)所獲取的物理坐標(biāo)，系數(shù)A、B、C、D即為所述校準(zhǔn)參數(shù)。從以上公式可以看出，取兩個(gè)采樣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)和物理坐標(biāo)即可確定一組校準(zhǔn)參數(shù)。因此，在本實(shí)施例中，可將所述多個(gè)采樣點(diǎn)按順序以兩個(gè)為一組進(jìn)行分組，得到多組采樣點(diǎn)；然后將每組采樣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)和物理坐標(biāo)代入上述公式中計(jì)算出一組校準(zhǔn)參數(shù)，從而得到多組校準(zhǔn)參數(shù)；最后再對(duì)該多組校準(zhǔn)參數(shù)取平均值，并將該平均值作為最終的校準(zhǔn)參數(shù)保存在所述系統(tǒng)配置文件中。在其他實(shí)施例中，也可隨機(jī)取出任意兩個(gè)采樣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)以及物理坐標(biāo)代入上述公式中計(jì)算出所述校準(zhǔn)參數(shù)，然后將該計(jì)算出的校準(zhǔn)參數(shù)保存在所述系統(tǒng)配置文件中。所應(yīng)說(shuō)明的是，校準(zhǔn)模塊103所使用的校準(zhǔn)算法并不限于以上兩種方式，在其他實(shí)施例中，也可采用其它校準(zhǔn)算法并采用上述獲取的多個(gè)采樣點(diǎn)的物理坐標(biāo)來(lái)實(shí)現(xiàn)觸摸屏11的校準(zhǔn)，例如采用五點(diǎn)校準(zhǔn)算法等，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)容易理解，此處不在一一贅述。本發(fā)明所使用的校準(zhǔn)治具100的滑軌能保證在取點(diǎn)時(shí)不會(huì)出現(xiàn)較大偏差，同時(shí)可支持采用兩個(gè)觸控筆同時(shí)滑動(dòng)進(jìn)行取點(diǎn)，可以對(duì)支持多點(diǎn)觸控的觸摸屏進(jìn)行校準(zhǔn)。因此實(shí)施本發(fā)明可快速準(zhǔn)確地對(duì)觸摸屏11進(jìn)行校準(zhǔn)。以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)方法，其特征在于，該方法包括 提示步驟，當(dāng)用戶啟動(dòng)校準(zhǔn)程序?qū)τ|摸屏進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，提示用戶將一個(gè)校準(zhǔn)治具覆蓋在觸摸屏上，并提示用戶使用觸控筆沿著該校準(zhǔn)治具的滑軌滑動(dòng)，其中，在觸摸屏上位于該滑軌正下方的區(qū)域設(shè)置有多個(gè)采樣點(diǎn)，每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)一個(gè)確定的邏輯坐標(biāo)； 獲取步驟，獲取所述觸控筆滑過(guò)每個(gè)采樣點(diǎn)所得到的物理坐標(biāo)，并將獲取的物理坐標(biāo)暫存于電子裝置的存儲(chǔ)系統(tǒng)中；及 校準(zhǔn)步驟，根據(jù)記錄的物理坐標(biāo)以及每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)計(jì)算出一個(gè)校準(zhǔn)參數(shù)，然后將該校準(zhǔn)參數(shù)保存在電子裝置的系統(tǒng)配置文件中，以完成對(duì)觸摸屏的校準(zhǔn)。
2.如權(quán)利要求I所述的電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)方法，其特征在于，計(jì)算所述校準(zhǔn)參數(shù)的公式為XLn = XTnXA+B，YLn = YTnXC+D，其中，(XLn，YLn)表示第η個(gè)采樣點(diǎn)的邏輯坐標(biāo)，(XTn, YTn)表示觸控筆劃過(guò)第η個(gè)采樣點(diǎn)時(shí)所獲取的物理坐標(biāo)，系數(shù)A、B、C、D即為所述校準(zhǔn)參數(shù)。
3.如權(quán)利要求2所述的電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述校準(zhǔn)步驟包括 將所述多個(gè)采樣點(diǎn)按順序以兩個(gè)為一組進(jìn)行分組，得到多組采樣點(diǎn)； 將每組采樣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)和物理坐標(biāo)代入上述公式中計(jì)算出一組校準(zhǔn)參數(shù)，以得到多組校準(zhǔn)參數(shù)；及 對(duì)該多組校準(zhǔn)參數(shù)取平均值，并將該平均值作為最終的校準(zhǔn)參數(shù)保存在所述系統(tǒng)配置文件中。
4.如權(quán)利要求2所述的電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述校準(zhǔn)步驟包括 隨機(jī)取出任意兩個(gè)采樣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)以及物理坐標(biāo)代入上述公式中計(jì)算出所述校準(zhǔn)參數(shù)，并將該計(jì)算出的校準(zhǔn)參數(shù)保存在所述系統(tǒng)配置文件中。
5.如權(quán)利要求I所述的電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述校準(zhǔn)治具為使用透明材質(zhì)的材料制成的板狀體，且該校準(zhǔn)治具的滑軌為一個(gè)中空的矩形。
6.一種電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括 提示模塊，用于當(dāng)用戶啟動(dòng)校準(zhǔn)程序?qū)τ|摸屏進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，提示用戶將一個(gè)校準(zhǔn)治具覆蓋在觸摸屏上，并提示用戶使用觸控筆沿著該校準(zhǔn)治具的滑軌滑動(dòng)，其中，在觸摸屏上位于該滑軌正下方的區(qū)域設(shè)置有多個(gè)采樣點(diǎn)，每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)一個(gè)確定的邏輯坐標(biāo)； 獲取模塊，用于獲取所述觸控筆滑過(guò)每個(gè)采樣點(diǎn)所得到的物理坐標(biāo)，并將獲取的物理坐標(biāo)暫存于電子裝置的存儲(chǔ)系統(tǒng)中；及 校準(zhǔn)模塊，用于根據(jù)記錄的物理坐標(biāo)以及每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)計(jì)算出一個(gè)校準(zhǔn)參數(shù)，然后將該校準(zhǔn)參數(shù)保存在電子裝置的系統(tǒng)配置文件中，以完成對(duì)觸摸屏的校準(zhǔn)。
7.如權(quán)利要求6所述的電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，計(jì)算所述校準(zhǔn)參數(shù)的公式為XLn = XTnXA+B，YLn = YTnXC+D，其中，(XLn，YLn)表示第η個(gè)采樣點(diǎn)的邏輯坐標(biāo)，(XTn, YTn)表示觸控筆劃過(guò)第η個(gè)采樣點(diǎn)時(shí)所獲取的物理坐標(biāo)，系數(shù)A、B、C、D即為所述校準(zhǔn)參數(shù)。
8.如權(quán)利要求7所述的電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，所述校準(zhǔn)模塊通過(guò)以下步驟計(jì)算所述校準(zhǔn)參數(shù) 將所述多個(gè)采樣點(diǎn)按順序以兩個(gè)為一組進(jìn)行分組，得到多組采樣點(diǎn)； 將每組采樣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)和物理坐標(biāo)代入上述公式中計(jì)算出一組校準(zhǔn)參數(shù)，以得到多組校準(zhǔn)參數(shù)；及 對(duì)該多組校準(zhǔn)參數(shù)取平均值，并將該平均值作為最終的校準(zhǔn)參數(shù)保存在所述系統(tǒng)配置文件中。
9.如權(quán)利要求7所述的電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，所述校準(zhǔn)模塊通過(guò)以下步驟計(jì)算所述校準(zhǔn)參數(shù) 隨機(jī)取出任意兩個(gè)采樣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)以及物理坐標(biāo)代入上述公式中計(jì)算出所述校準(zhǔn)參數(shù)，并將該計(jì)算出的校準(zhǔn)參數(shù)保存在所述系統(tǒng)配置文件中。
10.如權(quán)利要求6所述的電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，所述校準(zhǔn)治具為使用透明材質(zhì)的材料制成的板狀體，且該校準(zhǔn)治具的滑軌為一個(gè)中空的矩形。
全文摘要
一種電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)系統(tǒng)，包括提示模塊，用于當(dāng)用戶啟動(dòng)校準(zhǔn)程序?qū)τ|摸屏進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，提示用戶將一個(gè)校準(zhǔn)治具覆蓋在觸摸屏上，并提示用戶使用觸控筆沿著該校準(zhǔn)治具的滑軌滑動(dòng)，其中，在觸摸屏上位于該滑軌正下方的區(qū)域設(shè)置有多個(gè)采樣點(diǎn)，每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)一個(gè)確定的邏輯坐標(biāo)；獲取模塊，用于獲取所述觸控筆滑過(guò)每個(gè)采樣點(diǎn)所得到的物理坐標(biāo)，并將獲取的物理坐標(biāo)暫存于電子裝置的存儲(chǔ)系統(tǒng)中；校準(zhǔn)模塊，用于根據(jù)記錄的物理坐標(biāo)以及每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的邏輯坐標(biāo)計(jì)算出一個(gè)校準(zhǔn)參數(shù)，然后將該校準(zhǔn)參數(shù)保存在電子裝置的系統(tǒng)配置文件中，完成對(duì)觸摸屏的校準(zhǔn)。本發(fā)明還提供一種電子裝置的觸摸屏校準(zhǔn)方法。本發(fā)明用于快速、準(zhǔn)確地校準(zhǔn)電子裝置的觸摸屏。
文檔編號(hào)G06F11/26GK102819475SQ20111015195
公開(kāi)日2012年12月12日 申請(qǐng)日期2011年6月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月8日
發(fā)明者伍春曉 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司