專利名稱：測(cè)試完整性控制系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種控制測(cè)試流程的系統(tǒng)及方法，特別是關(guān)于一種測(cè)試完整性控制系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
電子設(shè)備(例如主板)的測(cè)試經(jīng)常包含眾多的測(cè)試項(xiàng)(例如內(nèi)存測(cè)試、CPU測(cè)試、 南橋測(cè)試、北橋測(cè)試等)。在測(cè)試電子設(shè)備時(shí)，測(cè)試員容易改變測(cè)試流程而少測(cè)一些測(cè)試項(xiàng)， 因而存在測(cè)試結(jié)果不可靠的風(fēng)險(xiǎn)。例如，在DOS系統(tǒng)下測(cè)試電子設(shè)備時(shí)，由于DOS系統(tǒng)對(duì)文件保護(hù)較弱，測(cè)試員很容易修改控制測(cè)試流程的批處理文件來少測(cè)一些測(cè)試項(xiàng)。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種測(cè)試完整性控制系統(tǒng)，能夠加強(qiáng)測(cè)試流程的完整性。此外，還有必要提供一種測(cè)試完整性控制方法，能夠加強(qiáng)測(cè)試流程的完整性。一種測(cè)試完整性控制系統(tǒng)，運(yùn)行于具有主板管理控制器的數(shù)據(jù)處理設(shè)備中，用于對(duì)電子設(shè)備的測(cè)試流程進(jìn)行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲(chǔ)區(qū)，該系統(tǒng)包括構(gòu)建模塊，用于構(gòu)建電子設(shè)備的測(cè)試控制數(shù)據(jù)并將構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)寫入所述FRU存儲(chǔ)區(qū)中，所述測(cè)試控制數(shù)據(jù)包括測(cè)試位與標(biāo)志位，每個(gè)測(cè)試位對(duì)應(yīng)于電子設(shè)備的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)；測(cè)試模塊，用于從FRU存儲(chǔ)區(qū)讀取測(cè)試控制數(shù)據(jù)并根據(jù)測(cè)試控制數(shù)據(jù)逐一選擇電子設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，對(duì)于每一個(gè)選擇的測(cè)試項(xiàng)，判斷該選擇的測(cè)試項(xiàng)是否測(cè)試成功，若該選擇的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試成功，則將測(cè)試控制數(shù)據(jù)中該選擇的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試位取反；比較模塊，用于在所有的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試完畢后將測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)相比較，判斷測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)標(biāo)志位是否與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位相同，以及判斷測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)測(cè)試位是否與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位不同；及輸出模塊，用于在測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位相同，并且測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)測(cè)試位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位不同時(shí)，輸出電子設(shè)備測(cè)試通過的測(cè)試結(jié)果，在測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中有標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位不同，或者測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中有測(cè)試位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位相同，或者選擇的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試失敗時(shí)，輸出電子設(shè)備測(cè)試未通過的測(cè)試結(jié)果。一種測(cè)試完整性控制方法，執(zhí)行于具有主板管理控制器的數(shù)據(jù)處理設(shè)備中，用于對(duì)電子設(shè)備的測(cè)試流程進(jìn)行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲(chǔ)區(qū)，該方法包括步驟 構(gòu)建電子設(shè)備的測(cè)試控制數(shù)據(jù)并將構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)寫入FRU存儲(chǔ)區(qū)中，所述測(cè)試控制數(shù)據(jù)包括測(cè)試位與標(biāo)志位，每個(gè)測(cè)試位對(duì)應(yīng)于電子設(shè)備的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)；從FRU存儲(chǔ)區(qū)讀取測(cè)試控制數(shù)據(jù)，并根據(jù)測(cè)試控制數(shù)據(jù)選擇電子設(shè)備的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試；判斷該選擇的測(cè)試項(xiàng)是否測(cè)試成功；若該選擇的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試失敗，則輸出電子設(shè)備測(cè)試未通過的測(cè)試結(jié)果，否則，若該選擇的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試成功，則將測(cè)試控制數(shù)據(jù)中該選擇的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試位取反；判斷是否有其他的測(cè)試項(xiàng)，若有其他的測(cè)試項(xiàng)，返回選擇電子設(shè)備的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試的步驟；若所有的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試完畢，將測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)相比較，判斷測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)標(biāo)志位是否與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位相同，以及判斷測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)測(cè)試位是否與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位不同；若測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位相同，并且測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)測(cè)試位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位不同，輸出電子設(shè)備測(cè)試通過的測(cè)試結(jié)果；及若測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中有標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位不同，或者測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中有測(cè)試位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位相同，則輸出電子設(shè)備測(cè)試未通過的測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明構(gòu)建測(cè)試控制數(shù)據(jù)并將測(cè)試控制數(shù)據(jù)寫入主板管理控制器的FRU存儲(chǔ)區(qū)中，測(cè)試員難以獲得與修改該測(cè)試控制數(shù)據(jù)，加強(qiáng)了測(cè)試流程的完整性。


圖1為本發(fā)明測(cè)試完整性控制系統(tǒng)較佳實(shí)施例的應(yīng)用環(huán)境示意圖。圖2為圖1中測(cè)試完整性控制系統(tǒng)的功能模塊圖。圖3為本發(fā)明測(cè)試完整性控制方法較佳實(shí)施例的流程圖。圖4為構(gòu)建的用于主板測(cè)試的測(cè)試控制數(shù)據(jù)的示意圖。主要元件符號(hào)說明
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試完整性控制系統(tǒng)，運(yùn)行于具有主板管理控制器的數(shù)據(jù)處理設(shè)備中，用于對(duì)電子設(shè)備的測(cè)試流程進(jìn)行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲(chǔ)區(qū)，其特征在于，該系統(tǒng)包括構(gòu)建模塊，用于構(gòu)建電子設(shè)備的測(cè)試控制數(shù)據(jù)并將構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)寫入所述FRU 存儲(chǔ)區(qū)中，所述測(cè)試控制數(shù)據(jù)包括測(cè)試位與標(biāo)志位，每個(gè)測(cè)試位對(duì)應(yīng)于電子設(shè)備的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)；測(cè)試模塊，用于從FRU存儲(chǔ)區(qū)讀取測(cè)試控制數(shù)據(jù)并根據(jù)測(cè)試控制數(shù)據(jù)逐一選擇電子設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，對(duì)于每一個(gè)選擇的測(cè)試項(xiàng)，判斷該選擇的測(cè)試項(xiàng)是否測(cè)試成功，若該選擇的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試成功，則將測(cè)試控制數(shù)據(jù)中該選擇的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試位取反；比較模塊，用于在所有的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試完畢后將測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)相比較，判斷測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)標(biāo)志位是否與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位相同，以及判斷測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)測(cè)試位是否與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位不同；及輸出模塊，用于在測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位相同，并且測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)測(cè)試位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位不同時(shí)，輸出電子設(shè)備測(cè)試通過的測(cè)試結(jié)果；所述輸出模塊，還用于在測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中有標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位不同，或者測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中有測(cè)試位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位相同，或者選擇的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試失敗時(shí)，輸出電子設(shè)備測(cè)試未通過的測(cè)試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試完整性控制系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試位不全為1也不全為0。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試完整性控制系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試控制數(shù)據(jù)中各個(gè)測(cè)試位按照相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試順序排列，標(biāo)志位位于測(cè)試位之間。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試完整性控制系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試模塊按照測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試順序逐一選擇測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。
5.一種測(cè)試完整性控制方法，執(zhí)行于具有主板管理控制器的數(shù)據(jù)處理設(shè)備中，用于對(duì)電子設(shè)備的測(cè)試流程進(jìn)行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲(chǔ)區(qū)，其特征在于，該方法包括步驟構(gòu)建電子設(shè)備的測(cè)試控制數(shù)據(jù)并將構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)寫入FRU存儲(chǔ)區(qū)中，所述測(cè)試控制數(shù)據(jù)包括測(cè)試位與標(biāo)志位，每個(gè)測(cè)試位對(duì)應(yīng)于電子設(shè)備的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)；從FRU存儲(chǔ)區(qū)讀取測(cè)試控制數(shù)據(jù)，并根據(jù)測(cè)試控制數(shù)據(jù)選擇電子設(shè)備的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試；判斷該選擇的測(cè)試項(xiàng)是否測(cè)試成功；若該選擇的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試失敗，則輸出電子設(shè)備測(cè)試未通過的測(cè)試結(jié)果，否則，若該選擇的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試成功，則將測(cè)試控制數(shù)據(jù)中該選擇的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試位取反；判斷是否有其他的測(cè)試項(xiàng)，若有其他的測(cè)試項(xiàng)，返回選擇電子設(shè)備的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試的步驟；若所有的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試完畢，將測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)相比較，判斷測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)標(biāo)志位是否與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位相同，以及判斷測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)測(cè)試位是否與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位不同；若測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位相同，并且測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中每個(gè)測(cè)試位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位不同，輸出電子設(shè)備測(cè)試通過的測(cè)試結(jié)果；及若測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中有標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)標(biāo)志位不同，或者測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中有測(cè)試位與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)測(cè)試位相同，則輸出電子設(shè)備測(cè)試未通過的測(cè)試結(jié)果。
6.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試完整性控制方法，其特征在于，所述測(cè)試位不全為1也不全為0。
7.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試完整性控制方法，其特征在于，所述測(cè)試控制數(shù)據(jù)中各個(gè)測(cè)試位按照相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試順序排列，標(biāo)志位位于測(cè)試位之間。
8.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試完整性控制方法，其特征在于，所述選擇電子設(shè)備的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試的步驟中按照測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試順序選擇測(cè)試項(xiàng)。
全文摘要
一種測(cè)試完整性控制系統(tǒng)，運(yùn)行于具有主板管理控制器的數(shù)據(jù)處理設(shè)備中，所述主板管理控制器包括FRU存儲(chǔ)區(qū)，該系統(tǒng)包括構(gòu)建模塊，用于構(gòu)建電子設(shè)備的測(cè)試控制數(shù)據(jù)并寫入所述FRU存儲(chǔ)區(qū)中，所述測(cè)試控制數(shù)據(jù)包括測(cè)試位與標(biāo)志位；測(cè)試模塊，用于根據(jù)測(cè)試控制數(shù)據(jù)逐一選擇電子設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，若選擇的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試成功，則將測(cè)試控制數(shù)據(jù)中該選擇的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試位取反；比較模塊，用于在所有的測(cè)試項(xiàng)測(cè)試完畢后將測(cè)試后發(fā)生改變的測(cè)試控制數(shù)據(jù)與初始構(gòu)建的測(cè)試控制數(shù)據(jù)相比較；及輸出模塊，用于根據(jù)比較結(jié)果輸出電子設(shè)備測(cè)試的測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明還提供一種測(cè)試完整性控制方法。本發(fā)明能夠加強(qiáng)測(cè)試流程的完整性。
文檔編號(hào)G06F11/22GK102375769SQ20101026371
公開日2012年3月14日 申請(qǐng)日期2010年8月26日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月26日
發(fā)明者唐新橋, 鐘陽 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司