一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電子元件測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體地講，本實(shí)用新型涉及一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]近年來(lái)，隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，電子元件的預(yù)防性實(shí)驗(yàn)是電子元件制造過(guò)程中一個(gè)重要環(huán)節(jié)，絕緣診斷是檢測(cè)電子元件絕緣固障的重要手段，高壓絕緣電阻測(cè)試儀是測(cè)量絕緣電阻的專用儀器，由于其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、攜帶方便，因此被廣泛的應(yīng)用于電子元件的高壓絕緣測(cè)試中。目前電子元件的功能日益完善，因此在制造過(guò)程中不僅需要對(duì)電子元件進(jìn)行絕緣性能的測(cè)試，同時(shí)還需要完成其他性能的測(cè)試后才能夠安全使用，現(xiàn)有的電子元件測(cè)試系統(tǒng)的自動(dòng)化程度低，操作步驟繁瑣，因此，本領(lǐng)域技術(shù)人員亟需提供一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，可快速對(duì)電子元件進(jìn)行絕緣測(cè)試，操作方便，提高測(cè)試的效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是:提供一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，可快速對(duì)電子元件進(jìn)行絕緣測(cè)試，操作方便，提高測(cè)試的效率。
[0004]本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:提供一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，包括殼體，所述殼體包括顯示工作臺(tái)以及測(cè)試工作臺(tái)，所述顯示工作臺(tái)上具有用于顯示測(cè)試結(jié)果的液晶顯示屏，所述測(cè)試工作臺(tái)上具有導(dǎo)軌、絕緣電阻測(cè)試儀、固定件、接觸片以及操控開(kāi)關(guān)，所述導(dǎo)軌鋪設(shè)于所述絕緣電阻測(cè)試儀的下方，所述固定件用于承載電子元件，所述接觸片安裝于所述固定件的兩側(cè)并與所述固定件相接觸，所述操控開(kāi)關(guān)用于控制所述絕緣電阻測(cè)試儀的啟閉，其中，當(dāng)所述操控開(kāi)關(guān)開(kāi)啟時(shí)，所述絕緣電阻測(cè)試儀通過(guò)導(dǎo)軌移動(dòng)至所述接觸片的上方，對(duì)所述電子元件進(jìn)行絕緣測(cè)試。
[0005]優(yōu)選的，所述殼體的橫截面為L(zhǎng)形，所述顯示工作臺(tái)的高度大于所述測(cè)試工作臺(tái)的高度。
[0006]優(yōu)選的，所述殼體的側(cè)壁具有若干散熱孔。
[0007]優(yōu)選的，所述測(cè)試裝置具有用于存儲(chǔ)測(cè)試結(jié)果的存儲(chǔ)裝置。
[0008]優(yōu)選的，所述測(cè)試裝置內(nèi)具有用于驅(qū)動(dòng)所述絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置。
[0009]本實(shí)用新型提供了一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，將操控開(kāi)關(guān)開(kāi)啟時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀即可通過(guò)導(dǎo)軌移動(dòng)至接觸片的上方，對(duì)電子元件進(jìn)行絕緣測(cè)試，當(dāng)操控開(kāi)關(guān)關(guān)閉時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀即可通過(guò)導(dǎo)軌移動(dòng)至原始位置，本實(shí)用新型方便快捷，定位準(zhǔn)確，大大提高了測(cè)試效率，同時(shí)降低了人工成本。
【附圖說(shuō)明】
[0010]為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0011]圖1是本實(shí)用新型的電子元件測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[〇〇12][圖中附圖標(biāo)記](méi):
[〇〇13]10.殼體，20.顯示工作臺(tái)，30.測(cè)試工作臺(tái)，40.液晶顯示屏，50.導(dǎo)軌，60.絕緣電阻測(cè)試儀，70.固定件，80.接觸片，90.操控開(kāi)關(guān)，100.電子元件，110.散熱孔。
【具體實(shí)施方式】
[0014]為使本實(shí)用新型的內(nèi)容更加清楚易懂，以下結(jié)合說(shuō)明書附圖，對(duì)本實(shí)用新型的內(nèi)容作進(jìn)一步說(shuō)明。當(dāng)然本實(shí)用新型并不局限于該具體實(shí)施例，本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員所熟知的一般替換也涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。其次，本實(shí)用新型利用示意圖進(jìn)行了詳細(xì)的表述，在詳述本實(shí)用新型實(shí)例時(shí)，為了便于說(shuō)明，示意圖不依照一般比例局部放大，不應(yīng)以此作為對(duì)本實(shí)用新型的限定。
[0015]上述及其它技術(shù)特征和有益效果，將結(jié)合實(shí)施例及附圖1對(duì)本實(shí)用新型的電子元件測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。如圖1所示，圖1是本實(shí)用新型的電子元件測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]如圖1所示，本實(shí)用新型提供一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，包括殼體10,殼體10包括顯示工作臺(tái)20以及測(cè)試工作臺(tái)30,顯示工作臺(tái)20上具有用于顯示測(cè)試結(jié)果的液晶顯示屏40，測(cè)試工作臺(tái)40上具有導(dǎo)軌50、絕緣電阻測(cè)試儀60、固定件70、接觸片80以及操控開(kāi)關(guān)90,導(dǎo)軌50鋪設(shè)于絕緣電阻測(cè)試儀60的下方，固定件70用于承載電子元件100,接觸片80安裝于固定件70的兩側(cè)并與固定件70相接觸，操控開(kāi)關(guān)90用于控制絕緣電阻測(cè)試儀60的啟閉，其中，當(dāng)操控開(kāi)關(guān)90開(kāi)啟時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀60通過(guò)導(dǎo)軌50移動(dòng)至接觸片80的上方，對(duì)電子元件100進(jìn)行絕緣測(cè)試。
[0017]具體的，本實(shí)施例中，殼體10的橫截面為L(zhǎng)形，顯示工作臺(tái)20的高度大于測(cè)試工作臺(tái)30的高度，殼體10的側(cè)壁具有若干散熱孔110。
[0018]此外，測(cè)試裝置具有用于存儲(chǔ)測(cè)試結(jié)果的存儲(chǔ)裝置以及用于驅(qū)動(dòng)絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置。
[0019]綜上所述，本實(shí)用新型提供了一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，將操控開(kāi)關(guān)90開(kāi)啟時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀60即可通過(guò)導(dǎo)軌50移動(dòng)至接觸片80的上方，對(duì)電子元件100進(jìn)行絕緣測(cè)試，當(dāng)操控開(kāi)關(guān)90關(guān)閉時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀60即可通過(guò)導(dǎo)軌50移動(dòng)至原始位置，本實(shí)用新型方便快捷，定位準(zhǔn)確，大大提高了測(cè)試效率，同時(shí)降低了人工成本。
[0020]雖然本實(shí)用新型主要描述了以上實(shí)施例，但是只是作為實(shí)例來(lái)加以描述，而本實(shí)用新型并不限于此。例如，對(duì)實(shí)施例詳示的每個(gè)部件都可以修改和運(yùn)行，與所述變型和應(yīng)用相關(guān)的差異可認(rèn)為包括在所附權(quán)利要求所限定的本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
[0021]本說(shuō)明書中所涉及的實(shí)施例，其含義是結(jié)合該實(shí)施例描述的特地特征、結(jié)構(gòu)或特性包括在本實(shí)用新型的至少一個(gè)實(shí)施例中。說(shuō)明書中出現(xiàn)于各處的這些術(shù)語(yǔ)不一定都涉及同一實(shí)施例。此外，當(dāng)結(jié)合任一實(shí)施例描述特定特征、結(jié)構(gòu)或特性時(shí)，都認(rèn)為其落入本領(lǐng)域普通技術(shù)人員結(jié)合其他實(shí)施例就可以實(shí)現(xiàn)的這些特定特征、結(jié)構(gòu)或特性的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括殼體，所述殼體包括顯示工作臺(tái)以及測(cè)試工作臺(tái)，所述顯示工作臺(tái)上具有用于顯示測(cè)試結(jié)果的液晶顯示屏，所述測(cè)試工作臺(tái)上具有導(dǎo)軌、絕緣電阻測(cè)試儀、固定件、接觸片以及操控開(kāi)關(guān)，所述導(dǎo)軌鋪設(shè)于所述絕緣電阻測(cè)試儀的下方，所述固定件用于承載電子元件，所述接觸片安裝于所述固定件的兩側(cè)并與所述固定件相接觸，所述操控開(kāi)關(guān)用于控制所述絕緣電阻測(cè)試儀的啟閉，其中，當(dāng)所述操控開(kāi)關(guān)開(kāi)啟時(shí)，所述絕緣電阻測(cè)試儀通過(guò)導(dǎo)軌移動(dòng)至所述接觸片的上方，對(duì)所述電子元件進(jìn)行絕緣測(cè)試。2.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述殼體的橫截面為L(zhǎng)形，所述顯示工作臺(tái)的高度大于所述測(cè)試工作臺(tái)的高度。3.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述殼體的側(cè)壁具有若干散熱孔。4.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試裝置具有用于存儲(chǔ)測(cè)試結(jié)果的存儲(chǔ)裝置。5.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試裝置內(nèi)具有用于驅(qū)動(dòng)所述絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，包括殼體，殼體包括顯示工作臺(tái)以及測(cè)試工作臺(tái)，顯示工作臺(tái)上具有用于顯示測(cè)試結(jié)果的液晶顯示屏，所述測(cè)試工作臺(tái)上具有導(dǎo)軌、絕緣電阻測(cè)試儀、固定件、接觸片以及操控開(kāi)關(guān)，導(dǎo)軌鋪設(shè)于絕緣電阻測(cè)試儀的下方，固定件用于承載電子元件，接觸片安裝于固定件的兩側(cè)并與所述固定件相接觸，操控開(kāi)關(guān)用于控制絕緣電阻測(cè)試儀的啟閉。本實(shí)用新型將操控開(kāi)關(guān)開(kāi)啟時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀即可通過(guò)導(dǎo)軌移動(dòng)至接觸片的上方，對(duì)電子元件進(jìn)行絕緣測(cè)試，當(dāng)操控開(kāi)關(guān)關(guān)閉時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀即可通過(guò)導(dǎo)軌移動(dòng)至原始位置，本實(shí)用新型方便快捷，定位準(zhǔn)確，大大提高了測(cè)試效率，同時(shí)降低了人工成本。
【IPC分類】G01R27/02, G01R31/12
【公開(kāi)號(hào)】CN205080232
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520904602
【發(fā)明人】許紅飛, 賈璟, 龔江風(fēng), 羅錦宏
【申請(qǐng)人】常州信息職業(yè)技術(shù)學(xué)院
【公開(kāi)日】2016年3月9日
【申請(qǐng)日】2015年11月13日