光學(xué)檢測(cè)裝置以及光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及光學(xué)儀器領(lǐng)域，具體涉及一種光學(xué)檢測(cè)裝置以及光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)有技術(shù)中經(jīng)常需要對(duì)一些已經(jīng)破碎的透明基板(例如，玻璃等)進(jìn)行檢測(cè)，其目的是找出碎裂透明基板的破碎源。
[0003]但是，現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)破損玻璃的檢測(cè)往往還停留在人工檢測(cè)階段。人工檢測(cè)的方式效率相對(duì)較低，并且檢測(cè)結(jié)果的浮動(dòng)較大，因?yàn)槿斯z測(cè)的檢測(cè)結(jié)果容易受到人疲勞程度或者主觀意識(shí)的影響。此外，許多工業(yè)場(chǎng)景也并不適合人工檢測(cè)。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]因此，需要一種光學(xué)檢測(cè)裝置以及光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，以代替人工對(duì)破損的透光基板進(jìn)行檢測(cè)。
[0005]根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面，提供了一種光學(xué)檢測(cè)裝置，包括成像模組，用于獲取透光基板的檢測(cè)圖像；圖像處理模組，與所述成像模組相連，用于對(duì)所述成像模組獲取的檢測(cè)圖像進(jìn)行處理，以獲得裂紋分布信息；分析模組，與所述圖像處理模組相連，用于對(duì)所述圖像處理模組獲得的裂紋分布信息中的裂紋進(jìn)行分析，以判斷所述透光基板的破碎源，所述分析模組包括:特征分析單元，用于對(duì)所述裂紋分布信息中的裂紋特征進(jìn)行特征分析，以區(qū)分出裂紋分布信息中的分支裂紋以及位于由分支裂紋衍生出的分叉裂紋；所述特征分析單元還用于去除所述分叉裂紋；主裂紋提取單元，與所述特征分析單元相連，用于基于分支裂紋的分支角度，判斷出裂紋分布信息中包含的主裂紋；方向判斷單元，與所述主裂紋提取單元相連，用于分析主裂紋提取單元所提取的主裂紋，以獲得所述主裂紋的收斂方向，進(jìn)而判斷破碎源所在成像模組，用于獲取透光基板的檢測(cè)圖像；圖像處理模組，與所述成像模組相連，用于對(duì)所述成像模組獲取的檢測(cè)圖像進(jìn)行處理，以獲得裂紋分布信息；分析模組，與所述圖像處理模組相連，用于對(duì)所述圖像處理模組獲得的裂紋分布信息中的裂紋進(jìn)行分析，以判斷所述透光基板的破碎源，所述分析模組包括:特征分析單元，用于對(duì)所述裂紋分布信息中的裂紋特征進(jìn)行特征分析，以區(qū)分出裂紋分布信息中的分支裂紋以及由分支裂紋衍生出的分叉裂紋；所述特征分析單元還用于去除所述分叉裂紋；主裂紋提取單元，與所述特征分析單元相連，用于基于分支裂紋的分支角度，判斷出裂紋分布信息中包含的主裂紋；方向判斷單元，與所述主裂紋提取單元相連，用于分析主裂紋提取單元所提取的主裂紋，以獲得所述主裂紋的收斂方向，進(jìn)而判斷破碎源所在方向。
[0006]一個(gè)基本思想是，本實(shí)用新型的光學(xué)檢測(cè)裝置可以通過(guò)對(duì)檢測(cè)圖像進(jìn)行處理以獲得裂紋分布信息，然后對(duì)裂紋分布信息進(jìn)行特征分析以區(qū)分出主裂紋、分支裂紋以及分叉裂紋；在這之后，去除所述分叉裂紋并判斷出主裂紋，獲得所述主裂紋的收斂方向以判斷所述透光基板的破碎源所在位置。這種裝置可以代替人工對(duì)破碎基板進(jìn)行檢測(cè)，進(jìn)而找出破碎基板的破碎源，相對(duì)于人工檢測(cè)來(lái)說(shuō)效率更高，且檢測(cè)結(jié)果相對(duì)更為準(zhǔn)確；此外，本實(shí)用新型的光學(xué)檢測(cè)裝置可以應(yīng)用于更多的場(chǎng)景，包括一些不便于人工檢測(cè)的環(huán)境。
[0007]根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面，提供了一種光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，包括上述的光學(xué)檢測(cè)裝置。如前文所述，這種光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)由于包含所述光學(xué)檢測(cè)裝置，其檢測(cè)效率相對(duì)于人工檢測(cè)的方式來(lái)說(shuō)更高，且檢測(cè)結(jié)果相對(duì)更為準(zhǔn)確；此外，這種光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)可以應(yīng)用于更多的場(chǎng)景，包括一些不便于人工檢測(cè)的環(huán)境。
【附圖說(shuō)明】
[0008]圖1是本實(shí)用新型光學(xué)檢測(cè)裝置中透光基板的俯視圖；
[0009]圖2是圖1中透光基板檢測(cè)圖像的放大圖；
[0010]圖3是圖2中矩形框95部分的檢測(cè)圖像經(jīng)過(guò)處理后得到的裂紋分布信息的示意圖；
[0011]圖4是圖1中透光基板檢測(cè)圖像局部一帶有支叉的裂紋示意圖
[0012]圖5是圖4中的裂紋以像素顯示時(shí)的示意圖；
[0013]圖6是圖1中矩形框96所示部分的放大圖；
[0014]圖7是圖1中矩形框97部分的檢測(cè)圖像進(jìn)行處理得到的裂紋分布信息；
[0015]圖8是本實(shí)用新型光學(xué)檢測(cè)裝置使用過(guò)程的另一實(shí)施例的示意圖；
[0016]圖9是本實(shí)用新型光學(xué)檢測(cè)裝置一實(shí)施例中的模塊圖；
[0017]圖10是本實(shí)用新型光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)一實(shí)施例的正面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖11是本實(shí)用新型光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)一實(shí)施例的背面結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0019]為使本實(shí)用新型的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更為明顯易懂，下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施例做詳細(xì)的說(shuō)明。
[0020]現(xiàn)有技術(shù)中一般通過(guò)人工方式對(duì)破碎的透明基板進(jìn)行檢測(cè)，這種方式不僅效率較低，且檢測(cè)結(jié)果容易受人主觀意識(shí)的影響，因而對(duì)檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確度造成影響。并且，人工檢測(cè)的檢測(cè)結(jié)果也具有較大的浮動(dòng)，因?yàn)槿斯z測(cè)容易受人疲勞程度以及周?chē)h(huán)境的影響，這些影響會(huì)造成檢測(cè)結(jié)果的偏差。此外，一些工業(yè)場(chǎng)景也不適合人工檢測(cè)，例如一些高危作業(yè)環(huán)境、影響人體健康的環(huán)境等。
[0021]為了解決以上描述的技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型提供一種光學(xué)檢測(cè)裝置以及光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。
[0022]在本實(shí)用新型的以下描述中，文中出現(xiàn)的破碎源是指破碎的透光基板發(fā)生破碎的源頭，該破碎源可以是一個(gè)點(diǎn)(或者類(lèi)似點(diǎn)的區(qū)域)或者一條線(或者類(lèi)似于線的形狀)；主裂紋是指由破碎源衍生出的裂紋；分支裂紋是指在所述主裂紋的基礎(chǔ)上進(jìn)一步衍生出的裂紋；分叉裂紋是指在所述分支裂紋的基礎(chǔ)上進(jìn)一步衍生出的裂紋，或者是由相鄰裂紋(相鄰主裂紋或者相鄰分支裂紋)之間衍生出的裂紋。
[0023]請(qǐng)參考圖1至圖7，為本實(shí)用新型光學(xué)檢測(cè)裝置使用過(guò)程的實(shí)施例的示意圖。
[0024]首先請(qǐng)參考圖1，圖1為本實(shí)施例中一破碎透光基板90的俯視圖。圖1中的透光基板90碎裂成多個(gè)碎片91，碎片之間具有裂紋。
[0025]在本實(shí)施例中，所述透光基板90為玻璃。但是本實(shí)用新型對(duì)所述透光基板的材料不作任何限定，所述透光基板90還可以是其它可以發(fā)生碎裂的材料。
[0026]本實(shí)用新型的光學(xué)檢測(cè)裝置的使用過(guò)程包括獲取透光基板90的檢測(cè)圖像。例如，本實(shí)施例中可以先獲取所述透光基板90中矩形框95部分的檢測(cè)圖像，獲取的檢測(cè)圖像的放大圖可以參考圖2所示。
[0027]需要說(shuō)明的是，本實(shí)施例中雖然僅獲取了部分透光基板90的檢測(cè)圖像，但是在實(shí)際操作中，所述透光基板90可能尺寸較小，或者用于成像的設(shè)備足夠獲取整個(gè)透光基板90的檢測(cè)圖像，此時(shí)也可以直接獲取整個(gè)透光基板90的檢測(cè)圖像。
[0028]在獲取檢測(cè)圖像之后，對(duì)所述檢測(cè)圖像進(jìn)行處理，以獲得裂紋分布信息；請(qǐng)參考圖3，為圖2中矩形框95部分的檢測(cè)圖像經(jīng)過(guò)處理后得到的裂紋分布信息的示意圖。本步驟的目的在于去除檢測(cè)圖像中其他的像素，進(jìn)而凸出顯示檢測(cè)圖像中裂紋部分的像素，進(jìn)而形成所述裂紋分布信息，以便于后續(xù)區(qū)分主裂紋、分支裂紋以及分叉裂紋。
[0029]在本實(shí)施例中，對(duì)檢測(cè)圖像進(jìn)行處理以獲得裂紋分布信息的步驟具體包括:對(duì)所述檢測(cè)圖像進(jìn)行二值化處理，以獲得裂紋分布信息。
[0030]二值化處理是圖像分割的一種方法，有利于去除檢測(cè)圖像中裂紋以外的雜色的影響，例如，檢測(cè)圖像中透光基板90本身帶有的顏色等，進(jìn)而使所述裂紋分布信息中的裂紋變得更加清晰，這有利于進(jìn)一步凸顯裂紋分布信息中的各個(gè)裂紋，進(jìn)而有利于后續(xù)區(qū)分出主裂紋、分支裂紋以及分叉裂紋。
[0031]具體的，在本實(shí)施例中，可以采用以下步驟對(duì)檢測(cè)圖像進(jìn)行二值化處理:
[0032]首先，設(shè)定一灰度閾值；需要說(shuō)明的是，所述灰度閾值可