用于激光蝕刻后的電容屏測試治具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及測試治具技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及用于激光蝕刻后的電容屏測試治具。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，在電容屏制作細(xì)線工藝時，在激光蝕刻銀線后通過都是用萬用表測試每一個拼與拼之間是否開短路；但采用上述測試方法不僅測試速度慢，而且測試不準(zhǔn)確，從而減少了測試頻率，降低了生產(chǎn)良率。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型的目的是提供一種測試速度快，測試準(zhǔn)確，能夠有效增加測試頻率，以及提高生產(chǎn)良率的用于激光蝕刻后的電容屏測試治具。
[0004]為了解決【背景技術(shù)】所存在的問題，本實用新型是采用以下技術(shù)方案:用于激光蝕刻后的電容屏測試治具，包括治具本體，所述治具本體與一手柄垂直連接，所述治具本體上設(shè)有一排探針，所述探針等間距設(shè)置，所述探針的間距與傳感器綁定拼位的間距相等。
[0005]進(jìn)一步地，所述探針的間距為0.4mm。
[0006]進(jìn)一步地，所述探針的間距為0.3mm。
[0007]進(jìn)一步地，所述探針的間距為0.25mm。
[0008]本實用新型具有以下有益效果:本實用新型所述的用于激光蝕刻后的電容屏測試治具，包括治具本體，所述治具本體與一手柄垂直連接，所述治具本體上設(shè)有一排探針，所述探針等間距設(shè)置，所述探針的間距與傳感器綁定拼位的間距相等；本實用新型采用上述結(jié)構(gòu)，通過在治具上設(shè)置一排探針，可以有效提高電容屏的測試速度和測試準(zhǔn)確率，且能夠有效增加測試頻率，以及提高生產(chǎn)良率，從而可以解決現(xiàn)有技術(shù)在激光蝕刻后測試速度慢，測試不準(zhǔn)確等問題。另外，該測試治具設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單，操作簡便，易于推廣和使用。
【附圖說明】
[0009]圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0010]參照圖1，本【具體實施方式】采用以下技術(shù)方案:用于激光蝕刻后的電容屏測試治具，包括治具本體1，所述治具本體I與一手柄2垂直連接，所述治具本體I上設(shè)有一排探針3，所述探針3等間距設(shè)置，所述探針3的間距與傳感器綁定拼位的間距相等；在本實施例中，該探針3的間距為0.4mm，同時，該探針3的間距也可設(shè)計為0.3mm或0.25mm，這樣設(shè)計的目的便于能夠與傳感器綁定拼位的間距相等。另外，本實施例在使用時，通過將探針3與過含光測試軟件的電路模塊進(jìn)行連接，從而可以測試每一個拼與拼之間是否為開路或短路，測試準(zhǔn)確率高，其準(zhǔn)確率可達(dá)99%，且有效提高測試速度，增加測試頻率，最終能夠提高生產(chǎn)良率。
[0011]最后說明的是，以上實施例僅用以說明本實用新型的技術(shù)方案而非限制，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員對本實用新型的技術(shù)方案所做的其他修改或者等同替換，只要不脫離本實用新型技術(shù)方案的精神和范圍，均應(yīng)涵蓋在本實用新型的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
【主權(quán)項】
1.用于激光蝕刻后的電容屏測試治具，包括治具本體(I)，其特征在于，所述治具本體(I)與一手柄(2)垂直連接，所述治具本體(I)上設(shè)有一排探針(3)，所述探針(3)等間距設(shè)置，所述探針(3)的間距與傳感器綁定拼位的間距相等。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于激光蝕刻后的電容屏測試治具，其特征在于，所述探針(3)的間距為0.4mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于激光蝕刻后的電容屏測試治具，其特征在于，所述探針(3)的間距為0.3mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于激光蝕刻后的電容屏測試治具，其特征在于，所述探針(3)的間距為0.25mm。
【專利摘要】本實用新型涉及測試治具技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及用于激光蝕刻后的電容屏測試治具，包括治具本體，所述治具本體與一手柄垂直連接，所述治具本體上設(shè)有一排探針，所述探針等間距設(shè)置，所述探針的間距與傳感器綁定拼位的間距相等。本實用新型采用上述結(jié)構(gòu)，通過在治具上設(shè)置一排探針，可以有效提高電容屏的測試速度和測試準(zhǔn)確率，且能夠有效增加測試頻率，以及提高生產(chǎn)良率，從而可以解決現(xiàn)有技術(shù)在激光蝕刻后測試速度慢，測試不準(zhǔn)確等問題。另外，該測試治具設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單，操作簡便，易于推廣和使用。
【IPC分類】G01R31-02
【公開號】CN204374340
【申請?zhí)枴緾N201420418401
【發(fā)明人】吳輝彪, 呂謙, 佘怡春
【申請人】湖南東迪科技有限公司
【公開日】2015年6月3日
【申請日】2014年7月28日