一種用于測試soc電源的模擬負(fù)載的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，它包括電流調(diào)整單元、延時(shí)調(diào)整單元和控制模塊；電流調(diào)整單元的抽取電流輸入與模擬電源正極連接，電流調(diào)整單元的電流輸出與模擬電源負(fù)極連接，電流調(diào)整單元的電流控制輸入與控制模塊的電流控制輸出連接，電流調(diào)整單元的延時(shí)控制輸入通過延時(shí)調(diào)整單元與控制模塊的延時(shí)控制輸出連接；控制模塊控制電流調(diào)整單元模擬出被模擬負(fù)載的工作電流，待測電源的電源輸出端輸出待測試的抽取電流，再通過電源測試裝置即可完成對待測電源的性能測試；控制模塊還通過延時(shí)調(diào)整單元控制電流調(diào)整單元所輸入的抽取電流呈線性變化。本發(fā)明可模擬SOC負(fù)載的各種變化，可實(shí)現(xiàn)對SOC電源的瞬態(tài)及直流負(fù)載電流的模擬測試。
【專利說明】
—種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及SOC電源的模擬測試領(lǐng)域，特別是涉及一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著集成電路設(shè)計(jì)業(yè)的越來越興旺，集成電路結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜，片上系統(tǒng)(SOC)越來越多，相應(yīng)的，對SOC電源的要求也是越來越高；對電源管理系統(tǒng)的性能要求也越來越高，其電源測試系統(tǒng)也越來越復(fù)雜。
[0003]當(dāng)負(fù)載吸收電流發(fā)生跳變的瞬間，電源管理系統(tǒng)的輸出電壓會瞬間偏離設(shè)定值，并需要經(jīng)過一定時(shí)間后，才能達(dá)到穩(wěn)定輸出狀態(tài)。這個(gè)時(shí)間段通常稱之為電源的負(fù)載瞬態(tài)恢復(fù)時(shí)間，或者瞬態(tài)響應(yīng)時(shí)間，表征的是:當(dāng)負(fù)載電流發(fā)生瞬態(tài)變化的時(shí)候，電源電壓恢復(fù)到設(shè)定范圍內(nèi)所需要的時(shí)間。如果電壓瞬態(tài)響應(yīng)能力較差，瞬態(tài)響應(yīng)時(shí)間較長，導(dǎo)致電源內(nèi)部元件充電不足/充電過量，輸出電壓跌落/過沖時(shí)間過長、幅度過大，輸出電壓顯著偏離目標(biāo)值。不精確或偏離電源輸出電壓中的目標(biāo)值會導(dǎo)致電源正在驅(qū)動的負(fù)載發(fā)生故障或甚至可能損壞，特別是當(dāng)負(fù)載包括敏感電路、快速變化的器件時(shí)，如微處理器、射頻器件等。
[0004]因此，輸出電壓精度、負(fù)載調(diào)整率等參數(shù)是電源管理系統(tǒng)的重要性能指標(biāo)，可通過檢測電源管理系統(tǒng)的輸出電壓精度即可評定該電源管理系統(tǒng)的質(zhì)量。
[0005]然而，目前的電源測試中所采用的模擬負(fù)載僅能模擬負(fù)載電流的大小，并不能實(shí)現(xiàn)對模擬負(fù)載電流的瞬態(tài)變化時(shí)間進(jìn)行控制，不能控制模擬負(fù)載電流變化時(shí)的上升沿時(shí)間和下降沿時(shí)間，不能準(zhǔn)確地測試出被測電源的瞬態(tài)響應(yīng)性能。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，該模擬負(fù)載通過電流調(diào)整單元控制抽取電流值的大小，通過延時(shí)調(diào)整單元控制抽取電流變化時(shí)的上升沿時(shí)間和下降沿時(shí)間，可模擬SOC負(fù)載的各種變化，可實(shí)現(xiàn)對SOC電源的瞬態(tài)變化電流及直流負(fù)載電流的模擬測試，同時(shí)，也使得采用本發(fā)明模擬負(fù)載的電源測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)更加簡單、測試功能更易于實(shí)現(xiàn)、測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。
[0007]本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的:一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，它包括電流調(diào)整單元、延時(shí)調(diào)整單元和控制模塊，所述的控制模塊包括電流控制模塊、延時(shí)控制模塊和數(shù)據(jù)處理模塊。
[0008]所述的電流調(diào)整單元的抽取電流輸入端與模擬電源正極連接，電流調(diào)整單元的電流輸出端與地對接，電流調(diào)整單元的電流控制輸入端通過電流控制模塊與數(shù)據(jù)處理模塊的電流控制端連接，電流調(diào)整單元的延時(shí)控制輸入端依次通過延時(shí)調(diào)整單元和延時(shí)控制模塊與數(shù)據(jù)處理模塊的延時(shí)控制端連接。
[0009]數(shù)據(jù)處理模塊對接收到的外部控制數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理，提取該外部控制數(shù)據(jù)中的電流控制信號和延時(shí)控制信號，并將電流控制信號發(fā)送給電流控制模塊，電流控制模塊根據(jù)該電流控制信號控制電流調(diào)整單元模擬輸出一定大小的電流，使得從待測電源的電源輸出端輸出的抽取電流與被模擬負(fù)載的工作電流值相同。
[0010]數(shù)據(jù)處理模塊將延時(shí)控制信號發(fā)送給延時(shí)控制模塊，延時(shí)控制模塊根據(jù)該延時(shí)控制信號控制延時(shí)調(diào)整單元的延時(shí)狀態(tài)，使得電流調(diào)整單元的抽取電流輸入端所輸入的抽取電流呈線性變化。
[0011]所述的電流調(diào)整單元包括N+M個(gè)相互并聯(lián)的電流調(diào)整電路，所述每個(gè)電流調(diào)整電路均包括電流抽取模塊和開關(guān)模塊，電流抽取模塊的輸入端與模擬電源正極連接，電流抽取模塊的輸出端與開關(guān)模塊的輸入端連接，開關(guān)模塊的輸出端與地對接，開關(guān)模塊的控制端通過第一總線與電流控制模塊連接。
[0012]所述的電流抽取模塊包括直流電流源。
[0013]所述的開關(guān)模塊包括開關(guān)MOS管，開關(guān)MOS管的源極與電流抽取模塊的輸出端連接，開關(guān)MOS管的漏極與模擬負(fù)載電源負(fù)極連接，開關(guān)MOS管的柵極通過第一總線與電流控制豐吳塊連接。
[0014]所述的延時(shí)調(diào)整單元包括M個(gè)延時(shí)模塊，所述每個(gè)延時(shí)模塊的輸入端均與對應(yīng)的電流抽取模塊的輸出端連接，每個(gè)延時(shí)模塊的輸出端均與對應(yīng)的開關(guān)模塊的控制端連接，每個(gè)延時(shí)模塊的控制端均通過第二總線與延時(shí)控制模塊連接。
[0015]所述的延時(shí)模塊包括延時(shí)電容。
[0016]所述的控制模塊還包括瞬態(tài)使能控制模塊和時(shí)鐘信號接收模塊。
[0017]所述的瞬態(tài)使能控制模塊的輸入端通過瞬態(tài)使能控制端口接收瞬態(tài)控制信號，瞬態(tài)使能控制模塊的輸出端與數(shù)據(jù)處理模塊的瞬態(tài)使能輸入端連接。
[0018]所述的時(shí)鐘信號接收模塊的輸入端通過時(shí)鐘信號接收端口接收時(shí)鐘信號，時(shí)鐘信號接收模塊的輸出端與數(shù)據(jù)處理模塊的時(shí)鐘信號輸入端連接。
[0019]當(dāng)數(shù)據(jù)處理模塊接收到瞬態(tài)控制信號后，控制電流調(diào)整單元所輸入的抽取電流隨時(shí)鐘信號接收模塊所接收到的時(shí)鐘信號動態(tài)變化。
[0020]所述的待測電源的電源輸出端還與電源測試裝置的測試輸入端連接，通過電源測試裝置對抽取電流進(jìn)行測試。
[0021]所述的電源測試裝置包括示波器。
[0022]本發(fā)明的有益效果是:
I)本發(fā)明通過電流調(diào)整單元控制抽取電流值的大小，通過延時(shí)調(diào)整單元控制抽取電流變化時(shí)的上升沿時(shí)間和下降沿時(shí)間，可模擬SOC負(fù)載的各種變化，可實(shí)現(xiàn)對SOC電源的瞬態(tài)變化電流及直流負(fù)載電流的模擬測試，同時(shí)，也使得采用本發(fā)明模擬負(fù)載的電源測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)更加簡單、測試功能更易于實(shí)現(xiàn)、測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。
[0023]2 )本發(fā)明對抽取電流的控制精確高，抽取電流的動態(tài)響應(yīng)速度快，且其響應(yīng)時(shí)間可以調(diào)控。
[0024]3)本發(fā)明最主要的特點(diǎn)在于，可通過延時(shí)控制方法和電流控制方法等兩種方法，控制抽取電流變化的延時(shí)大小，使得抽取電流的變化呈線性變化，實(shí)現(xiàn)對抽取電流的電流變化曲線中，對上升沿時(shí)間和下降沿時(shí)間的控制，從而實(shí)現(xiàn)對被測電源進(jìn)行不同級別的測試，可準(zhǔn)確檢測出被測電源的瞬態(tài)響應(yīng)性能。
【附圖說明】
[0025]圖1為本發(fā)明一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載的基本原理框圖；
圖2為本發(fā)明一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載的系統(tǒng)原理框圖；
圖3為本發(fā)明中抽取電流的電流曲線示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0026]下面結(jié)合附圖進(jìn)一步詳細(xì)描述本發(fā)明的技術(shù)方案，但本發(fā)明的保護(hù)范圍不局限于以下所述。
[0027]如圖1所示，一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，它包括電流調(diào)整單元、延時(shí)調(diào)整單元和控制模塊，所述的控制模塊包括電流控制模塊、延時(shí)控制模塊和數(shù)據(jù)處理模塊。
[0028]所述的電流調(diào)整單元的抽取電流輸入端與模擬電源正極連接，電流調(diào)整單元的電流輸出端與地對接，也可連接到模擬電源負(fù)極，電流調(diào)整單元的電流控制輸入端通過電流控制模塊與數(shù)據(jù)處理模塊的電流控制端連接，電流調(diào)整單元的延時(shí)控制輸入端依次通過延時(shí)調(diào)整單元和延時(shí)控制模塊與數(shù)據(jù)處理模塊的延時(shí)控制端連接。
[0029]數(shù)據(jù)處理模塊對接收到的外部控制數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理，提取該外部控制數(shù)據(jù)中的電流控制信號和延時(shí)控制信號，并將電流控制信號發(fā)送給電流控制模塊，電流控制模塊根據(jù)該電流控制信號控制電流調(diào)整單元模擬輸出一定大小的電流，使得從待測電源的電源輸出端輸出的抽取電流與被模擬負(fù)載的工作電流值相同。
[0030]數(shù)據(jù)處理模塊將延時(shí)控制信號發(fā)送給延時(shí)控制模塊，延時(shí)控制模塊根據(jù)該延時(shí)控制信號控制延時(shí)調(diào)整單元的延時(shí)狀態(tài)，控制電流調(diào)整單元所輸入的抽取電流的上升沿時(shí)間和下降沿時(shí)間，使得電流調(diào)整單元所輸入的抽取電流呈線性變化。
[0031]上升沿時(shí)間可定義為電流響應(yīng)曲線從穩(wěn)態(tài)值的10%上升到穩(wěn)態(tài)值90%所需的時(shí)間，下降沿時(shí)間可定義為電流響應(yīng)曲線從穩(wěn)態(tài)值的90%下降到穩(wěn)態(tài)值10%所需的時(shí)間。
[0032]所述的電流調(diào)整單元包括N+M個(gè)相互并聯(lián)的電流調(diào)整電路，所述每個(gè)電流調(diào)整電路均包括電流抽取模塊和開關(guān)模塊，電流抽取模塊的輸入端與模擬電源正極連接，電流抽取模塊的輸出端與開關(guān)模塊的輸入端連接，開關(guān)模塊的輸出端與地對接，也可連接到模擬電源負(fù)極，開關(guān)模塊的控制端通過第一總線與電流控制模塊連接。
[0033]所述的電流抽取模塊為輸出電流可在一定范圍內(nèi)變化的電流源電路，如可選用輸出電流可在一定范圍內(nèi)變化的直流電流源，也可采用其他具有該直流電流源功能的電流電路。
[0034]本發(fā)明中所述電流抽取模塊的輸出電流可在一定范圍內(nèi)變化，并非輸出電流為恒定不變的恒流抽取模塊。由于電流抽取模塊的輸出電流可變，從而才能實(shí)現(xiàn)在抽取電流變化時(shí)，可以控制抽取電流變化的上升沿時(shí)間和下降沿時(shí)間，以改變本發(fā)明模擬負(fù)載對被測電源的測試精度。
[0035]所述的開關(guān)模塊可采用開關(guān)MOS管，也可用其他任何可實(shí)現(xiàn)該相同功能的開關(guān)。開關(guān)MOS管的源極與電流抽取模塊的輸出端連接，開關(guān)MOS管的漏極與模擬負(fù)載電源負(fù)極連接，開關(guān)MOS管的柵極通過第一總線與電流控制模塊連接。
[0036]所述的延時(shí)調(diào)整單元包括M個(gè)延時(shí)模塊，所述每個(gè)延時(shí)模塊的輸入端均與對應(yīng)的電流抽取模塊的輸出端連接，每個(gè)延時(shí)模塊的輸出端均與對應(yīng)的開關(guān)模塊的控制端連接，每個(gè)延時(shí)模塊的控制端均通過第二總線與延時(shí)控制模塊連接。
[0037]所述的延時(shí)模塊可采用延時(shí)電容電路來實(shí)現(xiàn)增加或減少抽取電流變化時(shí)所經(jīng)歷的時(shí)間，當(dāng)然也可采用任何具有該延時(shí)功能的模塊。
[0038]所述的控制模塊還包括瞬態(tài)使能控制模塊和時(shí)鐘信號接收模塊。
[0039]所述的瞬態(tài)使能控制模塊的輸入端通過瞬態(tài)使能控制端口接收瞬態(tài)控制信號，瞬態(tài)使能控制模塊的輸出端與數(shù)據(jù)處理模塊的瞬態(tài)使能輸入端連接。
[0040]所述的時(shí)鐘信號接收模塊的輸入端通過時(shí)鐘信號接收端口接收時(shí)鐘信號，時(shí)鐘信號接收模塊的輸出端與數(shù)據(jù)處理模塊的時(shí)鐘信號輸入端連接。
[0041]當(dāng)數(shù)據(jù)處理模塊接收到瞬態(tài)控制信號后，控制電流調(diào)整單元所輸入的抽取電流隨時(shí)鐘信號接收模塊所接收到的時(shí)鐘信號動態(tài)變化。
[0042]本發(fā)明還設(shè)置有用于傳輸控制數(shù)據(jù)的I2C模塊，I2C模塊的數(shù)據(jù)輸出端與數(shù)據(jù)處理模塊的數(shù)據(jù)輸入端連接，I2C模塊的數(shù)據(jù)輸入端與數(shù)據(jù)接收端口連接，I2C模塊的時(shí)鐘信號輸入端與時(shí)鐘信號接收端口連接。I2C模塊實(shí)現(xiàn)將串口數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為并口數(shù)據(jù)。
[0043]所述的待測電源的電源輸出端還與電源測試裝置的測試輸入端連接，通過電源測試裝置對抽取電流進(jìn)行測試。
[0044]所述的電源測試裝置可選用示波器，也可采用其它電源檢測儀器，所述的待測電源包括片上系統(tǒng)SOC上的電源管理系統(tǒng)。
[0045]本發(fā)明可通過示波器來檢測片上系統(tǒng)SOC上的電源管理系統(tǒng)所輸出的電流是否符合規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)。模擬負(fù)載可模擬SOC電源管理系統(tǒng)所連接的各種負(fù)載器件，以及模擬該器件所需電流的各種變化。通過模擬負(fù)載從待測電源抽取出待測試的抽取電流后，可使用示波器來觀察、記錄該抽取電流的參數(shù)，并將其同預(yù)想值進(jìn)行比較，計(jì)算抽取電流的誤差，得出該SOC電源管理系統(tǒng)是否符合標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)論。
[0046]本發(fā)明的基本工作原理為:控制模塊根據(jù)接收到的外部控制信號，控制電流調(diào)整單元中開關(guān)陣列的通斷，使得電流調(diào)整單元輸出符合所模擬的負(fù)載的工作電流值，即從待測電源的電源輸出端輸出的待測試的抽取電流I.等于被模擬負(fù)載所需的工作電流I，再采用電源測試裝置如示波器檢測該抽取電流I.，并進(jìn)一步分析該待測電源輸出的電流是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。
[0047]本發(fā)明可模擬SOC電源負(fù)載的各種變化，可實(shí)現(xiàn)對SOC電源的瞬態(tài)及直流負(fù)載電流的模擬測試。
[0048]I)模擬SOC電源的直流負(fù)載
若被模擬負(fù)載所需的工作電流為直流電流I1，則只需使用外部設(shè)備發(fā)出模擬直流負(fù)載的控制信號，瞬態(tài)使能信號為低電平信號，該控制信號包括電流控制信號和延時(shí)控制信號?？刂颇K根據(jù)電流控制信號控制電流調(diào)整單元中的開關(guān)陣列進(jìn)行選擇性導(dǎo)通，使得從待測電源的電源輸出端抽取出的待測試的抽取電流與被模擬負(fù)載的工作電流值相同，即抽取電流I.等于該直流工作電流I P
[0049]2)模擬SOC電源的瞬態(tài)響應(yīng)負(fù)載
若被模擬負(fù)載的工作電流為動態(tài)變化的電流I2，則需使用外部設(shè)備發(fā)出瞬態(tài)使能信號和控制信號，該控制信號包括電流控制信號和延時(shí)控制信號。瞬態(tài)使能信號為高電平信號，控制模塊控制電流調(diào)整單元所輸入的抽取電流I.隨時(shí)鐘信號接收模塊所接收到的時(shí)鐘信號的變化而動態(tài)變化；控制模塊根據(jù)電流控制信號控制電流調(diào)整單元模擬輸出一定大小的電流，使得從待測電源的電源輸出端抽取出的抽取電流I.與被模擬負(fù)載的工作電流12相同；并根據(jù)延時(shí)控制信號控制延時(shí)調(diào)整單元的延時(shí)狀態(tài)，控制電流調(diào)整單元所輸入的抽取電流I.呈線性變化，還控制抽取電流變化曲線中的上升沿時(shí)間和下降沿時(shí)間延長或減短。可通過改變抽取電流曲線的上升沿時(shí)間和下降沿時(shí)間，來測試待測電源的性能。
[0050]控制模塊所接收到的時(shí)鐘信號與被模擬負(fù)載的工作電流的時(shí)鐘信號保持一致。
[0051]如圖2所示，所述的開關(guān)模塊采用開關(guān)MOS管，所述的延時(shí)模塊采用延時(shí)電容。
[0052]所述的電流調(diào)整單元包括I?N+M個(gè)電流源，即電流源I1、電流源12、……、電流源In、電流源IN+1、電流源IN+2、……、電流源1_，其中，N彡I。所述電流源為輸出電流可在一定范圍內(nèi)變化的電流模塊。
[0053]所述的電流調(diào)整單元包括I?N+M個(gè)開關(guān)MOS管，即開關(guān)MOS管M1、開關(guān)MOS管M2>......、開關(guān)MOS管Mn、開關(guān)MOS管Mn+1、......、開關(guān)皿)3管1_。
[0054]I?N+M個(gè)電流源I _的輸入端均與模擬電源正極連接，I?N+M個(gè)電流源Ii?IN+M的輸出端分別與I?N+M個(gè)開關(guān)MOS管M M N+M的源極連接，I?N+M個(gè)開關(guān)MOS管M1- M _的漏極均與地對接，或與模擬負(fù)載電源負(fù)極連接，I?N+M個(gè)開關(guān)MOS管M廣M_的柵極均通過第一總線與控制模塊的電流控制輸出端口連接。
[0055]所述的延時(shí)調(diào)整單元包括I?M個(gè)延時(shí)電容，即延時(shí)電容C1、延時(shí)電容C2、……、延時(shí)電容CM。
[0056]I?M個(gè)延時(shí)電容C1-Cm分別并聯(lián)在第N+1?N+M個(gè)開關(guān)MOS管MN+1?M_的源極和漏極的兩端，延時(shí)電容C1?C M的控制端均通過第二總線與控制模塊的延時(shí)控制輸出端口連接。
[0057]其中，第I至第N個(gè)電流源IN用于控制本發(fā)明模擬負(fù)載的最小抽取電流值大小，第N+1至第M個(gè)電流源IN+1?I M用于控制本發(fā)明模擬負(fù)載的最大抽取電流值大小，第I至第M個(gè)延時(shí)電容(；?Cm用于控制本發(fā)明模擬負(fù)載的抽取電流值由最小值變化到最大值所需要經(jīng)歷的時(shí)長。
[0058]例如，控制電流源1:?I 總抽取電流為1mA，控制電流源I N+1?I 總抽取電流為499mA，使得模擬負(fù)載的抽取電流由最小值ImA變化到最大值500mA?？刂蒲訒r(shí)電容(；?Cm使得該電流變化過程的上升沿時(shí)間為30 μ S。將示波器和模擬負(fù)載連接到被測電源上，開始對被測電源進(jìn)行性能測試，示波器顯示被測電源的輸出電壓波形圖，若該電壓波形圖與期望波形圖的誤差在允許范圍內(nèi)，則該被測電源的性能符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
[0059]若將抽取電流由ImA變化到500mA的上升沿時(shí)間設(shè)置為10 μ s,再次對該被測電源進(jìn)行性能測試，若示波器上的電壓波形圖與期望波形圖的誤差較大，超出最大允許誤差，則該被測電源瞬態(tài)響應(yīng)時(shí)間大于10μ S，其電源性能并不符合更高級別的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
[0060]如圖3所示，所述的延時(shí)電容可采用可調(diào)電容，通過可調(diào)電容來控制與其相應(yīng)的開關(guān)MOS管的電流曲線，控制該電流曲線中的上升沿時(shí)間和下降沿時(shí)間T fall。通過調(diào)整不同延時(shí)電容的容值，使得不同開關(guān)MOS管的上升沿時(shí)間和下降沿時(shí)間Tfall不相一致，從而可組合出更精確的模擬電流。
[0061]當(dāng)延時(shí)控制模塊控制可調(diào)電容的容值增大時(shí)，與其相應(yīng)的開關(guān)MOS管的上升沿時(shí)間的時(shí)長增加，其下降沿時(shí)間T fall相應(yīng)延長，使得開關(guān)MOS管輸出的電流爬坡時(shí)間和下降時(shí)間增加，從而抽取電流I.能慢速線性上升到穩(wěn)定值，即最大電流值I _，并從穩(wěn)定值慢速線性下降到最小電流值1_或零值。
[0062]當(dāng)延時(shí)控制模塊控制可調(diào)電容的容值減小時(shí)，與其相應(yīng)的開關(guān)MOS管的上升沿時(shí)間的時(shí)長減少，其下降沿時(shí)間T fall相應(yīng)減短，使得開關(guān)MOS管輸出的電流爬坡時(shí)間和下降時(shí)間減少，從而抽取電流I.能快速線性變化上升到穩(wěn)定值，即最大電流值I _，并能從穩(wěn)定值快速線性下降到最小電流值1_或零值。
[0063]I)本發(fā)明可通過調(diào)節(jié)延時(shí)電容的大小，使抽取電流I.呈線性變化。
[0064]在模擬負(fù)載穩(wěn)定工作后，若延時(shí)電容的容值增大，延時(shí)電容將繼續(xù)充電，流入開關(guān)MOS管源極的隨延時(shí)電容的增大而線性減小；若延時(shí)電容的容值減小，延時(shí)電容將開始放電，流入開關(guān)MOS管源極的抽取電流I.隨延時(shí)電容的減小而線性增大；延時(shí)電容的變化值越大，抽取電流I.的上升沿時(shí)間T 越長。
[0065]2)本發(fā)明還可通過調(diào)節(jié)開關(guān)MOS管驅(qū)動電流的大小，即調(diào)節(jié)開關(guān)MOS管柵極端的輸入電流大小，使抽取電流I.呈線性變化。
[0066]當(dāng)驅(qū)動電流較大時(shí)，開關(guān)MOS管開通和關(guān)斷速度快，該開關(guān)MOS管輸入的抽取電流曲線的上升沿時(shí)間UP下降沿時(shí)間T fall就短；當(dāng)驅(qū)動電流較小時(shí)，開關(guān)MOS管開通和關(guān)斷速度慢，該開關(guān)MOS管的電流曲線的上升沿時(shí)間和下降沿時(shí)間T fall就長。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，其特征在于:它包括電流調(diào)整單元、延時(shí)調(diào)整單元和控制模塊，所述的控制模塊包括電流控制模塊、延時(shí)控制模塊和數(shù)據(jù)處理模塊； 所述的電流調(diào)整單元的抽取電流輸入端與模擬電源正極連接，電流調(diào)整單元的電流輸出端與地對接，電流調(diào)整單元的電流控制輸入端通過電流控制模塊與數(shù)據(jù)處理模塊的電流控制端連接，電流調(diào)整單元的延時(shí)控制輸入端依次通過延時(shí)調(diào)整單元和延時(shí)控制模塊與數(shù)據(jù)處理模塊的延時(shí)控制端連接； 數(shù)據(jù)處理模塊對接收到的外部控制數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理，提取該外部控制數(shù)據(jù)中的電流控制信號和延時(shí)控制信號，并將電流控制信號發(fā)送給電流控制模塊，電流控制模塊根據(jù)該電流控制信號控制電流調(diào)整單元模擬輸出一定大小的電流，使得從待測電源的電源輸出端輸出的抽取電流與被模擬負(fù)載的工作電流值相同； 數(shù)據(jù)處理模塊將延時(shí)控制信號發(fā)送給延時(shí)控制模塊，延時(shí)控制模塊根據(jù)該延時(shí)控制信號控制延時(shí)調(diào)整單元的延時(shí)狀態(tài)，使得電流調(diào)整單元的抽取電流輸入端所輸入的抽取電流呈線性變化。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，其特征在于:所述的電流調(diào)整單元包括N+M個(gè)相互并聯(lián)的電流調(diào)整電路，所述每個(gè)電流調(diào)整電路均包括電流抽取模塊和開關(guān)模塊，電流抽取模塊的輸入端與模擬電源正極連接，電流抽取模塊的輸出端與開關(guān)模塊的輸入端連接，開關(guān)模塊的輸出端與地對接，開關(guān)模塊的控制端通過第一總線與電流控制模塊連接。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，其特征在于:所述的電流抽取模塊包括直流電流源。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，其特征在于:所述的開關(guān)模塊包括開關(guān)MOS管,開關(guān)MOS管的源極與電流抽取模塊的輸出端連接，開關(guān)MOS管的漏極與模擬負(fù)載電源負(fù)極連接，開關(guān)MOS管的柵極通過第一總線與電流控制模塊連接。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，其特征在于:所述的延時(shí)調(diào)整單元包括M個(gè)延時(shí)模塊，所述每個(gè)延時(shí)模塊的輸入端均與對應(yīng)的電流抽取模塊的輸出端連接，每個(gè)延時(shí)模塊的輸出端均與對應(yīng)的開關(guān)模塊的控制端連接，每個(gè)延時(shí)模塊的控制端均通過第二總線與延時(shí)控制模塊連接。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，其特征在于:所述的延時(shí)模塊包括延時(shí)電容。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，其特征在于:所述的控制模塊還包括瞬態(tài)使能控制模塊和時(shí)鐘信號接收模塊； 所述的瞬態(tài)使能控制模塊的輸入端通過瞬態(tài)使能控制端口接收瞬態(tài)控制信號，瞬態(tài)使能控制模塊的輸出端與數(shù)據(jù)處理模塊的瞬態(tài)使能輸入端連接； 所述的時(shí)鐘信號接收模塊的輸入端通過時(shí)鐘信號接收端口接收時(shí)鐘信號，時(shí)鐘信號接收模塊的輸出端與數(shù)據(jù)處理模塊的時(shí)鐘信號輸入端連接； 當(dāng)數(shù)據(jù)處理模塊接收到瞬態(tài)控制信號后，控制電流調(diào)整單元所輸入的抽取電流隨時(shí)鐘信號接收模塊所接收到的時(shí)鐘信號動態(tài)變化。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，其特征在于:所述的待測電源的電源輸出端還與電源測試裝置的測試輸入端連接，通過電源測試裝置對抽取電流進(jìn)行測試。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種用于測試SOC電源的模擬負(fù)載，其特征在于:所述的電源測試裝置包括示波器。
【文檔編號】G01R31/40GK105823990SQ201510000928
【公開日】2016年8月3日
【申請日】2015年1月4日
【發(fā)明人】葛亮宏, 葉飛, 何天長, 況波
【申請人】成都銳成芯微科技有限責(zé)任公司