一種電解電容的在路測試裝置及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電子電路技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種電解電容的在路測試裝置及方 法。
【背景技術(shù)】
[0002] 電子設(shè)備，是指由集成電路、晶體管、電子管等電子元器件組成，應(yīng)用電子技術(shù)甚 至軟件發(fā)揮作用的設(shè)備。
[0003] 電解電容作為一種電氣元器件，其中，金屬箱（例如：鋁或鉭)為正極，與正極緊貼 金屬的氧化膜(例如:氧化鋁或五氧化二鉭)是電介質(zhì)，負(fù)極由導(dǎo)電材料、電解質(zhì)（可以是液 體或固體)和其他材料共同組成;電解電容的正、負(fù)極不可接錯。
[0004] 眾所周知，電解電容是電子設(shè)備中故障率最高、壽命和可靠性最差的元件之一，而 電解電容的壽命在很多時候決定了電子設(shè)備的使用壽命。長久以來，廣大電子工程師普遍 缺乏一種有效判別電解電容好壞以及查看電解電容屬性參數(shù)的檢測工具。
[0005] 現(xiàn)有技術(shù)中，存在測量難度大、可靠性低和影響設(shè)備正常使用等缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 本發(fā)明的目的在于，針對上述缺陷，提出一種電解電容的在路測試裝置及方法，以 實現(xiàn)電解電容的在路測試。
[0007] 本發(fā)明一方面提供一種電解電容的在路測試裝置，包括:放電檢測單元、參數(shù)檢測 單元和數(shù)據(jù)處理單元，其中，所述放電檢測單元，被配置為:對在路的待測電解電容進行放 電處理，以確定所述電解電容放電完成;所述參數(shù)檢測單元，連接于所述放電檢測單元，且 被配置為:在所述電解電容放電完成后，對所述電解電容進行檢測處理，以獲取相應(yīng)參數(shù)； 所述數(shù)據(jù)處理單元，連接于所述參數(shù)檢測單元，且被配置為:基于獲取的所述參數(shù)，進行數(shù) 據(jù)處理，以獲取用戶所需參數(shù)值。
[0008] 優(yōu)選地，所述放電檢測單元，包括:放電電阻和指示燈，其中，所述放電電阻，被配 置為:對所述電解電容進行放電處理，且其阻值與所述電解電容的容量適配;所述指示燈， 連接于所述放電電阻，且被配置為：當(dāng)所述電解電容通過所述放電電阻放電完成時，顯示第 一狀態(tài);否則顯示第二狀態(tài)。
[0009] 優(yōu)選地，所述放電電阻，具有阻值調(diào)節(jié)檔位，以在放電處理時根據(jù)所述電解電容的 容量適配地調(diào)節(jié)其阻值。
[0010] 優(yōu)選地，所述參數(shù)檢測單元，包括:漏電流檢測支路和/或容量檢測支路和/或阻抗 檢測支路和/或損耗角正切值檢測支路，其中，所述漏電流檢測支路，被配置為：當(dāng)所述參數(shù) 包括漏電流時，對所述電解電容的漏電流進行檢測;所述容量檢測支路，被配置為：當(dāng)所述 參數(shù)包括容量時，對所述電解電容的容量進行檢測;所述阻抗檢測支路，被配置為：當(dāng)所述 參數(shù)包括阻抗時，對所述電解電容的阻抗進行檢測；所述損耗角正切值檢測支路，被配置 為:當(dāng)所述參數(shù)包括損耗時，對所述電解電容的損耗角正切值進行檢測。
[0011] 優(yōu)選地，所述漏電流檢測支路，包括：串電阻檢測電路，且所述串電阻檢測電路被 配置為:基于串電阻檢測電路電流法檢測所述電解電容的漏電流;和/或，所述容量檢測支 路和所述損耗角正切值檢測支路，均包括：電橋，且所述電橋被配置為:基于電橋測試原理 檢測所述電解電容的容量和/或損耗角正切值;和/或，所述阻抗檢測支路，包括:諧波注入 電路和電量檢測電路;其中，所述諧波注入電路，被配置為：向所述電解電容的阻抗注入預(yù) 設(shè)頻率的測試信號;所述電量檢測電路，被配置為:基于注入的所述測試信號，檢測所述電 解電容所在電路中的電量變化信息。
[0012]優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)處理單元，包括:MUC和電源，其中，所述MUC，連接于所述參數(shù)檢 測單元，且被配置為:基于獲取的所述參數(shù)，進行運算，以獲取用戶所需參數(shù)值;所述電源， 連接于所述MUC，以進行供電。
[0013] 優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)處理單元，還包括：顯示屏，其中，所述顯示屏，連接于所述MUC， 且被配置為對所述MUC的運算過程和/或獲取的所述參數(shù)值進行顯示和/或輸出。
[0014] 與上述裝置相匹配，本發(fā)明另一方面提供一種電解電容的在路測試方法，包括:基 于以上所述的電解電容的在路測試裝置，對所述電解電容進行在路測試。
[0015] 優(yōu)選地，對所述電解電容進行在路測試，包括:1)對在路的所述電解電容進行放電 處理，以確定所述電解電容放電完成;2)在所述電解電容放電完成后，對所述電解電容進行 檢測處理，以獲取相應(yīng)參數(shù);3)基于獲取的所述參數(shù)，進行數(shù)據(jù)處理，以獲取用戶所需參數(shù) 值。
[0016] 優(yōu)選地，步驟2)包括:采用電橋測試原理，根據(jù)所述電解電容的電容值大小，選擇 適配的測試量程和測試頻率后，將所述電橋的正負(fù)極夾子對應(yīng)連接于所述電解電容的正負(fù) 極，以檢測所述電解電容的容量和損耗;和/或，采用串電阻檢測電路電流法，將所述電解電 容的在路測試裝置的輸出電壓調(diào)節(jié)至所述電解電容的額定電壓后，設(shè)置穩(wěn)定時間并連接所 述電解電容，以檢測所述穩(wěn)定時間內(nèi)所述電解電容的漏電流;和/或，采用預(yù)設(shè)頻率的諧波 注入法，向所述電解電容注入預(yù)設(shè)頻率的測試信號，通過檢測所述電解電容所在電路中的 電量變化信息，檢測所述電解電容的阻抗。
[0017] 本發(fā)明的方案，通過在路測試，可實現(xiàn)對電解電容放電、充電，可檢測電解電容容 量、漏電流、阻抗、損耗角正切等關(guān)鍵參數(shù)，對于電解電容檢測和售后有很大的幫助;并且， 便于攜帶，整機靜態(tài)電流小，20V電池供電，可以充電；測試頻率覆蓋100Hz到100kHz;具備DC 輸入電壓保護功能，防止帶電電容損傷儀器。
[0018] 進一步，本發(fā)明的方案，通過電解電容在路測試相關(guān)屬性(例如：可測試電解電容 的容量、漏電流、阻抗、損耗角正切），可實現(xiàn)在路測量，無需將元件拆下，大幅提升檢測效 率，可以提高工作效率和分析能力;并且，具備電容放電功能，并檢測電容是否完全放電；測 試結(jié)果精度高，誤差控制< 5% ;可在路測量，無需將元件拆下，大幅提升檢測效率。
[0019] 由此，本發(fā)明的方案解決通過電解電容的在路測試，提高測試效率、減小測試難度 的問題，從而，克服現(xiàn)有技術(shù)中測量難度大、可靠性低和影響設(shè)備正常使用的缺陷，實現(xiàn)測 量難度小、可靠性高和不影響設(shè)備正常使用的有益效果。
[0020] 本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變 得顯而易見，或者通過實施本發(fā)明而了解。
[0021] 下面通過附圖和實施例，對本發(fā)明的技術(shù)方案做進一步的詳細(xì)描述。
【附圖說明】
[0022] 附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本發(fā)明的實 施例一起用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。在附圖中：
[0023] 圖1為本發(fā)明的電解電容的在路測試裝置的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖2為本發(fā)明的電解電容的在路測試裝置的一實施例的測試結(jié)果表；
[0025] 圖3為本發(fā)明的電解電容的在路測試裝置中顯示界面的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026] 圖4為本發(fā)明的電解電容的在路測試裝置中串電阻檢測電路的一實施例的結(jié)構(gòu)示 意圖；
[0027] 圖5為本發(fā)明的電解電容的在路測試裝置中顯示界面的另一實施例的結(jié)構(gòu)示意 圖；
[0028] 圖6為本發(fā)明的電解電容的在路測試裝置中電橋的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0029] 結(jié)合附圖，本發(fā)明實施例中附圖標(biāo)記如下：
[0030] 100-待測電解電容；200-放電檢測單元；300-參數(shù)檢測單元;302-漏電流檢測支 路;304-容量檢測支路;306-阻抗檢測支路;308-損耗角正切值檢測支路;400-數(shù)據(jù)處理單 元;402-顯示屏;404-MCU; 406-電源；500-直流電源；502-電流傳感器;504-限流電阻；506-待測電容。
【具體實施方式】
[0031] 為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明具體實施例及 相應(yīng)的附圖對本發(fā)明技術(shù)方案進行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實施例僅是本發(fā)明一 部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做 出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0032] 根據(jù)本發(fā)明的實施例，如圖1所示，提供了一種電解電容的在路測試裝置。該電解 電容的在路測試裝置包括:放電檢測單元200、參數(shù)檢測單元300和數(shù)據(jù)處理單元400,其中， 所述放電檢測單元200,被配置為:對在路的待測電解電容100進行放電處理，以確定所述電 解電容100放電完成;所述參數(shù)檢測單元300，連接于所述放電檢測單元200，且被配置為:在 所述電解電容100放電完成后，對所述電解電容100進行檢測處理，以獲取相應(yīng)參數(shù);所述數(shù) 據(jù)處理單元400，連接于所述參數(shù)檢測單元300，且被配置為:基于獲取的