一種適用于磁瓦外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)及其實(shí)現(xiàn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及磁瓦生產(chǎn)技術(shù)，具體來(lái)說是一種適用于磁瓦外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)及其實(shí) 現(xiàn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 磨床磨加工和超聲波清洗烘干機(jī)加工后的磁瓦產(chǎn)品需要人工從清洗烘干機(jī)的出 口取出，暫存到產(chǎn)品中轉(zhuǎn)托;然后再搬運(yùn)到檢分車間通過人工檢分，將有外觀缺陷的產(chǎn)品剔 除，完好產(chǎn)品裝箱。這樣就需要一個(gè)人全天候不間斷地在磨床出口處收撿產(chǎn)品，磁瓦外觀缺 陷在前后端R角、內(nèi)外弧面和各個(gè)側(cè)面發(fā)生，而且產(chǎn)品需要經(jīng)過一次中轉(zhuǎn)才能檢測(cè)裝箱，因 此會(huì)浪費(fèi)人工和產(chǎn)品中轉(zhuǎn)區(qū)，且效率低下，工人勞動(dòng)強(qiáng)度高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明的目的在于克服以上現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、造價(jià)便 宜、檢測(cè)速度快、檢測(cè)成本低、自動(dòng)化程度高、成本低廉、省時(shí)省力及生產(chǎn)質(zhì)量好的適用于磁 瓦外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)。
[0004] 本發(fā)明另一目的在于提供一種適用于磁瓦外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)方法。
[0005] 為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：一種適用于磁瓦外觀缺陷檢測(cè)系 統(tǒng)，包括出料輸送帶，出料輸送帶側(cè)邊設(shè)有出料檢測(cè)傳感器，出料檢測(cè)傳感器上方設(shè)置有破 損檢測(cè)光學(xué)相機(jī)，破損檢測(cè)光學(xué)相機(jī)對(duì)著出料輸送帶，出料輸送帶側(cè)邊設(shè)有第一輸送帶，出 料輸送帶與第一輸送帶之間設(shè)有第一并聯(lián)機(jī)器人，出料輸送帶輸出端設(shè)有第一破損廢料收 集盒，第一輸送帶側(cè)邊沿前進(jìn)方向依次設(shè)有磁瓦外弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦前端面缺陷檢 測(cè)相機(jī)及磁瓦后端面缺陷檢測(cè)相機(jī)，第一輸送帶出料端設(shè)有第二破損廢料收集盒，第一輸 送帶出料端側(cè)邊設(shè)有第二輸送帶，第一輸送帶與第二輸送帶之間設(shè)有第二并聯(lián)機(jī)器人，第 二輸送帶入料端設(shè)有磁瓦內(nèi)弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)，磁瓦內(nèi)弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)兩側(cè)分別設(shè)有磁 瓦前端R角缺陷檢測(cè)相機(jī)和磁瓦后端R角缺陷檢測(cè)相機(jī)，沿第二輸送帶前進(jìn)方向，第二輸送 帶兩端分別設(shè)有磁瓦左側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)和磁瓦右側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)，第二輸送帶上設(shè)有 不良品剔除裝置，不良品收集盒設(shè)于不良品剔除裝置對(duì)應(yīng)的第二輸送帶側(cè)邊，第二輸送帶 的出料端設(shè)有良品收集箱;控制器分別與出料輸送帶、出料檢測(cè)傳感器、破損檢測(cè)光學(xué)相 機(jī)、第一輸送帶、第一并聯(lián)機(jī)器人、磁瓦外弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦前端面缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁 瓦后端面缺陷檢測(cè)相機(jī)、第二輸送帶、磁瓦內(nèi)弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦前端R角缺陷檢測(cè)相 機(jī)、磁瓦后端R角缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦左側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦右側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)、不良 品剔除裝置連接。
[0006] 所述出料輸送帶傳輸方向，出料檢測(cè)傳感器前方設(shè)有第一磁瓦位置檢測(cè)傳感器； 磁瓦外弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)前端的第一輸送帶側(cè)邊設(shè)有第二磁瓦位置檢測(cè)傳感器;磁瓦前端 面缺陷檢測(cè)相機(jī)前端的第一輸送帶側(cè)邊設(shè)有第三磁瓦位置檢測(cè)傳感器;磁瓦后端面缺陷檢 測(cè)相機(jī)前端的第一輸送帶側(cè)邊設(shè)有第四磁瓦位置檢測(cè)傳感器;磁瓦左側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)前 端的第二輸送帶側(cè)邊設(shè)有第五磁瓦位置檢測(cè)傳感器;不良品剔除裝置前端的第二輸送帶側(cè) 邊設(shè)有第六磁瓦位置檢測(cè)傳感器。
[0007] 所述第一并聯(lián)機(jī)器人及第二并聯(lián)機(jī)器人均包括旋轉(zhuǎn)氣缸，旋轉(zhuǎn)氣缸與真空吸頭連 接。
[0008] 所述第一并聯(lián)機(jī)器人及第二并聯(lián)機(jī)器為蜘蛛型機(jī)器人。
[0009] 所述磁瓦外弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)設(shè)于第一輸送帶上方，磁瓦前端面缺陷檢測(cè)相機(jī)設(shè) 于第一輸送帶右側(cè)，磁瓦后端面缺陷檢測(cè)相機(jī)設(shè)于第一輸送帶左側(cè)。
[0010] 所述磁瓦內(nèi)弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)垂直設(shè)置，磁瓦前端R角缺陷檢測(cè)相機(jī)與磁瓦后端R 角缺陷檢測(cè)相機(jī)呈傾斜設(shè)置;磁瓦左側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)設(shè)于第二輸送帶左側(cè)，磁瓦右側(cè)面 缺陷檢測(cè)相機(jī)設(shè)于第二輸送帶右側(cè)。
[0011] 所述不良品剔除裝置為葉輪機(jī)構(gòu)，葉輪機(jī)構(gòu)包括中心塊，中心塊上均勻設(shè)有若干 葉片，中心塊與葉輪機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)電機(jī)連接。
[0012] 所述控制器為PLC控制器。
[0013] 上述適用于磁瓦外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)方法，包括以下步驟：
[0014] (1)、經(jīng)超聲波清洗烘干機(jī)加工后的磁瓦通過出料輸送帶向后輸送，當(dāng)磁瓦輸送到 達(dá)出料檢測(cè)傳感器位置處時(shí)，出料檢測(cè)傳感器經(jīng)控制器給破損檢測(cè)光學(xué)相機(jī)發(fā)出拍照檢測(cè) 信號(hào)，破損檢測(cè)光學(xué)相機(jī)取像分析出磁瓦有無(wú)破損并記錄信息，當(dāng)被取像分析的磁瓦出現(xiàn) 破裂，該破裂磁瓦將直接經(jīng)由出料輸送帶往后輸送進(jìn)入第一破損廢料收集盒；
[0015] (2)、被檢測(cè)無(wú)破損完好的磁瓦將繼續(xù)輸送，當(dāng)?shù)竭_(dá)第一磁瓦位置檢測(cè)傳感器位置 處時(shí)，控制器給第一并聯(lián)機(jī)器人發(fā)出吸取磁瓦的信號(hào)，第一并聯(lián)機(jī)器人帶動(dòng)具有旋轉(zhuǎn)功能 的吸頭吸取無(wú)破損的磁瓦，然后將其旋轉(zhuǎn)90度放置第一輸送帶上，之后第一并聯(lián)機(jī)器人再 繼續(xù)重復(fù)進(jìn)行下一片磁瓦的抓取；
[0016] (3)、旋轉(zhuǎn)90度后的磁瓦經(jīng)第一輸送帶向后輸送，當(dāng)?shù)竭_(dá)外弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)時(shí)， 外弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)相機(jī)拍照取像，控制器分析產(chǎn)品是否有缺陷，同時(shí)記錄下此磁瓦的個(gè) 數(shù)編碼；
[0017] (4)、磁瓦繼續(xù)向前輸送當(dāng)?shù)竭_(dá)磁瓦前端面缺陷檢測(cè)相機(jī)時(shí)，磁瓦前端面缺陷檢測(cè) 相機(jī)拍照取像，控制器分析產(chǎn)品是否有缺陷，同時(shí)記錄下此磁瓦的個(gè)數(shù)編碼；
[0018] (5)、磁瓦繼續(xù)向前輸送當(dāng)?shù)竭_(dá)磁瓦后端面缺陷檢測(cè)相機(jī)發(fā)出拍照檢測(cè)信號(hào)，磁瓦 后端面缺陷檢測(cè)相機(jī)拍照取像，控制器分析產(chǎn)品是否有缺陷，同時(shí)記錄下此磁瓦的個(gè)數(shù)編 碼；
[0019] (6)、步驟(3)~（5)中，若有一組相機(jī)檢測(cè)出產(chǎn)品具有缺陷，其之后的相機(jī)將不會(huì) 再進(jìn)行取像缺陷檢測(cè)，磁瓦直接經(jīng)由第一輸送帶輸送到末端第二破損廢料收集盒中；
[0020] (7)、經(jīng)過第一輸送帶上的三組相機(jī)檢測(cè)無(wú)缺陷的磁瓦繼續(xù)輸送當(dāng)?shù)侥┒颂帟r(shí)，第 二并聯(lián)機(jī)器人運(yùn)動(dòng)，第二并聯(lián)機(jī)器人帶動(dòng)具有旋轉(zhuǎn)功能的吸頭吸取無(wú)破損的磁瓦，然后將 其旋轉(zhuǎn)90度向側(cè)面并排的第二輸送帶方向輸送，期間在磁瓦內(nèi)弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦前 端R角缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦后端R角缺陷檢測(cè)相機(jī)的位置處停留一定時(shí)間，磁瓦內(nèi)弧面缺陷 檢測(cè)相機(jī)、磁瓦前端R角缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦后端R角缺陷檢測(cè)相機(jī)三個(gè)相機(jī)將同時(shí)拍照取 像分別分析磁瓦的內(nèi)弧面，前端R角，后端R角進(jìn)行缺陷檢測(cè)分析，同時(shí)控制器記錄該磁瓦的 編號(hào)；
[0021] (8)、當(dāng)磁瓦內(nèi)弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦前端R角缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦后端R角缺陷 檢測(cè)相機(jī)取像完畢之后，第二并聯(lián)機(jī)器人繼續(xù)運(yùn)動(dòng)將磁瓦放置在第二輸送帶上，磁瓦經(jīng)由 第二輸送帶繼續(xù)向前輸送，同時(shí)第二并聯(lián)機(jī)器人向回運(yùn)動(dòng)，繼續(xù)進(jìn)行下一片磁瓦的抓??；
[0022] (9)、第二輸送帶上的磁瓦向前運(yùn)動(dòng)，當(dāng)?shù)竭_(dá)左側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)時(shí)，左側(cè)面缺陷 檢測(cè)相機(jī)拍照取像，控制器分析產(chǎn)品是否有缺陷，同時(shí)記錄下此磁瓦的個(gè)數(shù)編碼；
[0023] (10)、磁瓦繼續(xù)向前輸送當(dāng)?shù)竭_(dá)磁瓦右側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)位置處時(shí)，磁瓦右側(cè)面 缺陷檢測(cè)相機(jī)拍照取像，控制器分析產(chǎn)品是否有缺陷，同時(shí)記錄下此磁瓦的個(gè)數(shù)編碼；
[0024] (11)、磁瓦在第二輸送帶上輸送，經(jīng)由左側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)、右側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī) 檢測(cè)的過程中若有一組相機(jī)檢測(cè)出產(chǎn)品具有缺陷，其之后的相機(jī)將不會(huì)再進(jìn)行取像缺陷檢 測(cè)，缺陷磁瓦直接經(jīng)由第二輸送帶向后輸送，當(dāng)?shù)竭_(dá)不良品剔除裝置時(shí)，不良品剔除裝置動(dòng) 作將缺陷磁瓦剔除到不良品收集盒中；
[0025] (12)、經(jīng)左側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)、右側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)檢測(cè)完好的磁瓦將繼續(xù)輸送 到末端進(jìn)入良品收集箱中。
[0026] 所述步驟（1)~（12)中出料輸送帶傳輸方向，出料檢測(cè)傳感器前方設(shè)有第一磁瓦 位置檢測(cè)傳感器;磁瓦外弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)前端的第一輸送帶側(cè)邊設(shè)有第二磁瓦位置檢測(cè) 傳感器;磁瓦前端面缺陷檢測(cè)相機(jī)前端的第一輸送帶側(cè)邊設(shè)有第三磁瓦位置檢測(cè)傳感器； 磁瓦后端面缺陷檢測(cè)相機(jī)前端的第一輸送帶側(cè)邊設(shè)有第四磁瓦位置檢測(cè)傳感器;磁瓦左側(cè) 面缺陷檢測(cè)相機(jī)前端的第二輸送帶側(cè)邊設(shè)有第五磁瓦位置檢測(cè)傳感器;不良品剔除裝置前 端的第二輸送帶側(cè)邊設(shè)有第六磁瓦位置檢測(cè)傳感器;所述步驟(11)中不良品剔除裝置為葉 輪機(jī)構(gòu)，葉輪機(jī)構(gòu)包括中心塊，中心塊上均勻設(shè)有若干葉片，中心塊與葉輪機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)電機(jī)連 接。
[0027] 本發(fā)明相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，具有如下的優(yōu)點(diǎn)及效果：
[0028] 1、本發(fā)明包括控制器、出料輸送帶、出料檢測(cè)傳感器、破損檢測(cè)光學(xué)相機(jī)、第一輸 送帶、第一并聯(lián)機(jī)器人、磁瓦外弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦前端面缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦后端面 缺陷檢測(cè)相機(jī)、第二輸送帶、磁瓦內(nèi)弧面缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦前端R角缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦后 端R角缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦左側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)、磁瓦右側(cè)面缺陷檢測(cè)相機(jī)、不良品剔除裝 置，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、造價(jià)便宜、檢測(cè)速度快、檢測(cè)成本低、自動(dòng)化程度高、成本低廉、省時(shí)省力 及生產(chǎn)質(zhì)量好等特點(diǎn)。
[0029] 2、本發(fā)明中的出料輸送帶傳輸方向，出料檢測(cè)