一種防止測(cè)量偏差的治具及其制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及攝像模組行業(yè)一種測(cè)量治具的設(shè)計(jì)，更進(jìn)一步，涉及一種防止測(cè)量偏 差治具的設(shè)計(jì)，該測(cè)量偏差治具的設(shè)計(jì)將真空吸附技術(shù)應(yīng)用于C0F測(cè)量治具的設(shè)計(jì)，使得 C0F穩(wěn)定固定，解決了業(yè)界對(duì)于C0F測(cè)試準(zhǔn)確性的問(wèn)題。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著手機(jī)攝像模組的像素越來(lái)越高，對(duì)于各部件的制造的精確度W及工件的性能 檢測(cè)的要求也越來(lái)越高，幾乎每個(gè)部件都要通過(guò)嚴(yán)格的檢測(cè)才能被應(yīng)用于產(chǎn)品中，因此測(cè) 試過(guò)程的準(zhǔn)確性W及可靠性對(duì)于部件的質(zhì)量具有至關(guān)重要的把關(guān)作用。
[0003] 要得到性能優(yōu)越的產(chǎn)品，先要保證測(cè)試過(guò)程中的準(zhǔn)確性，任何一個(gè)小小的偏差都 有可能使得一個(gè)合格品變?yōu)榇纹?，造成產(chǎn)品資源的浪費(fèi)，也有可能使得一個(gè)次品成為一個(gè) 合格品而應(yīng)用于整個(gè)產(chǎn)品的生產(chǎn)中，從而影響產(chǎn)品的整體性能。因此，不管是哪一種偏差， 都會(huì)帶來(lái)不良的結(jié)果。
[0004] 在C0F (Chip on FPC柔性線(xiàn)路板芯片）工件測(cè)試的過(guò)程中，一直存在的一個(gè)問(wèn)題 就是C0F工件的固定問(wèn)題，無(wú)法穩(wěn)定的固定C0F工件，嚴(yán)重影響測(cè)試過(guò)程的準(zhǔn)確性。
[0005] 在現(xiàn)有技術(shù)中，主要通過(guò)W下兩種方式來(lái)解決C0F工件的固定問(wèn)題：
[0006] 其中一種方式是，使用高溫膠將C0F工件貼付于治具表面，測(cè)試完之后，再逐一將 高溫膠撕掉。很容易可W看到，送種方式雖然可W固定C0F工件，可是存在眾多問(wèn)題，在高 溫膠粘貼過(guò)程需要耗費(fèi)額外的人力與時(shí)間，增加了生產(chǎn)的成本，而在測(cè)試完之后，撕掉高溫 膠又需要耗時(shí)費(fèi)力，而且如果貼付的高溫膠沒(méi)有清理干凈，平整度不一致，就會(huì)直接影響下 一個(gè)C0F工件的測(cè)試，此外，對(duì)于高溫膠的施加也要求較高，需要保證一定的平整度，其中 仍然存在影響測(cè)量偏差的干擾，還有，產(chǎn)品的取放過(guò)程，可能會(huì)沾染高溫膠，或者存在損傷 C0F測(cè)試工件的危險(xiǎn)。
[0007] 另一種方式是，制作專(zhuān)用治具進(jìn)行固定，也就是說(shuō)，根據(jù)不同的測(cè)試產(chǎn)品，分別制 作不同的固定治具。在送種方式中，由于治具無(wú)法完全統(tǒng)一，因此治具之間的通用性不強(qiáng)， 而且治具的設(shè)計(jì)W及制造過(guò)程，都大大增加了工作量，相對(duì)于上一種解決方式，送種方式成 本更局。
[0008] 因此，現(xiàn)有的解決方式中，并沒(méi)有很好的解決C0F工件測(cè)試過(guò)程中的固定問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009] 本發(fā)明的主要目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其形成一種真空吸附結(jié) 構(gòu)，可W穩(wěn)定固定C0F測(cè)試工件，從而提高了 C0F測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。
[0010] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一治具本體，具有 至少一定位槽，適于容納C0F測(cè)試工件，從而穩(wěn)定固定測(cè)試工件，在測(cè)試開(kāi)始或者測(cè)試結(jié)束 的過(guò)程中，防止外部因素使得C0F工件不必要的滑動(dòng)。
[0011] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一治具本體，具有 至少一定位槽，適于容納COF測(cè)試工件，適合不同工位的工作，也就是說(shuō)，水平放置，傾斜放 置，或者豎直放置等不同測(cè)試工位時(shí)，都可W使得C0F穩(wěn)定固定地完成測(cè)試過(guò)程。
[0012] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一治具本體和一真 空吸附裝置，所述治具本體具有多個(gè)開(kāi)孔，和真空吸附裝置形成真空吸附結(jié)構(gòu)，利用真空吸 附技術(shù)，使得C0F工件穩(wěn)定地固定。
[0013] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一治具本體和真空 吸附裝置，所述治具本體具有多個(gè)開(kāi)孔，形成真空吸附結(jié)構(gòu)，在測(cè)試開(kāi)始與結(jié)束過(guò)程中，用 于固定的吸附力可W快速形成和撤消，可W快速的完成工件的測(cè)試，連續(xù)的測(cè)試過(guò)程之間， 互相不會(huì)產(chǎn)生影響。
[0014] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，連續(xù) 的測(cè)試過(guò)程相對(duì)獨(dú)立。
[0015] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，減少了不必要的手工作 業(yè)，節(jié)省了工作時(shí)間，提高了工作效率。
[0016] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一治具本體，具有 多個(gè)定位槽，適于不同C0F測(cè)試工件的測(cè)試。
[0017] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一治具本體，具有 一組耳朵槽，方便C0F工件的取放。
[0018] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一治具本體，具有 多個(gè)相互連通的定位槽，適于不同C0F工件，充分利用治具本體，提高通用性，同時(shí)，方便不 同測(cè)試工件的取放。
[0019] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一治具本體，具有 多個(gè)均勻分布的開(kāi)孔，形成均勻的吸附作用，使得C0F工件在測(cè)試過(guò)程中，受到均勻的吸附 力，保證C0F工件的平整度。
[0020] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一種治具本體，具 有多個(gè)開(kāi)孔與真空吸附裝置形成真空吸附結(jié)構(gòu)，通過(guò)氣體吸附力固定C0F工件，不需要添 加其他物體，如膠水等而影響C0F工件的平整度，從而保證了 C0F工件測(cè)試的準(zhǔn)確性。
[0021] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一種方法，形成真 空吸附結(jié)構(gòu)，解決了 C0F工件在測(cè)試過(guò)程中的固定問(wèn)題，提高了 C0F測(cè)試的準(zhǔn)確性。
[0022] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一種方法，對(duì)普通 C0F測(cè)量治具進(jìn)行改進(jìn)，利用真空吸附技術(shù)，解決業(yè)界C0F測(cè)試準(zhǔn)確性問(wèn)題。
[0023] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，其提供一種方法，提供一 治具本體，具有至少一定位槽，適于容納C0F測(cè)試工件。
[0024] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差的治具，提高測(cè)量準(zhǔn)確性，操作方 便，通用性強(qiáng)，降低生產(chǎn)成本投入，提高了生產(chǎn)效率。
[00巧]本發(fā)明的另一目的在于提供一種防止測(cè)量偏差治具的設(shè)計(jì)方法。
[0026] 為了實(shí)現(xiàn)W上發(fā)明目的，本發(fā)明提供一種防止測(cè)量偏差的治具的方法，包括如下 步驟：
[0027] (A)提供一治具本體，設(shè)置至少一定位槽于所述治具本體，形成一底部；
[0028] 度）在所述定位槽所在的所述底部，設(shè)置多個(gè)開(kāi)孔；
[0029] (C)提供一真空吸附裝置，連接于所述治具本體，與所述多個(gè)開(kāi)孔形成真空吸附結(jié) 構(gòu)。
[0030] 根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例，所述防止測(cè)量偏差的治具及其制造方法，還包括如 下步驟：值）在所述治具本體，開(kāi)至少一組耳朵槽。
[0031] 根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例，所述步驟（A)中的所述定位槽形狀適于容納一 C0F 工件，所述定位槽與所述C0F工件相匹配。
[0032] 根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例，所述防止測(cè)量偏差的治具及其制造方法中，所述步 驟度）中的所述開(kāi)孔均勻設(shè)置于所述底部。
[0033] 根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例，所述防止測(cè)量偏差的治具及其制造方法中，其提供 多個(gè)所述定位槽，相互獨(dú)立，適于容納多個(gè)所述C0F工件。
[0034] 根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例，所述防止測(cè)量偏差的治具及其制造方法中，其提供 多個(gè)所述定位槽，相互連通，適于不同形狀的C0F工件測(cè)試。
[0035] 根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例，所述防止測(cè)量偏差的治具及其制造方法中，所述步 驟（C)中的真空吸附裝置，包括一開(kāi)關(guān)元件，控制所述真空吸附裝置的工作。
[0036] 根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例，所述防止測(cè)量偏差的治具及其制造方法中，所述開(kāi) 關(guān)元件具有一打開(kāi)狀態(tài)和一閉合狀態(tài)，當(dāng)所述開(kāi)關(guān)元件處于打開(kāi)狀態(tài)時(shí)，所述真空吸附裝 置工作，所述C0F工件吸附于所述治具本體，當(dāng)所述開(kāi)關(guān)元件閉合狀態(tài)時(shí)，所述真空吸附裝 置不工作，所述C0F工件不受吸附力作用。
[0037] 根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例，所述防止測(cè)量偏差的治具及其制造方法中，所述定 位槽的尺寸約為170mm*70mm
[0038] 根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例，所述防止測(cè)量偏差的治具及其制造方法中，所述開(kāi) 孔的孔徑內(nèi)徑約為2mm。
[0039] 根據(jù)本發(fā)明的另外一方面，本發(fā)明還提供一種防止測(cè)量