成照明次數(shù)體，照明次數(shù)體中每一個值代表與之對應的成像點的照明次數(shù)。
[0038]所述步驟⑵基于步驟(I)的程序，統(tǒng)計每一個成像點處的照明次數(shù)形成照明次數(shù)體，照明次數(shù)體與疊前時間偏移得到的共成像點道集的格式、大小等完全一樣，唯一的區(qū)別在于照明次數(shù)體每一個數(shù)據(jù)點記錄的是照明次數(shù)，疊前時間偏移得到的共成像點道集每一個數(shù)據(jù)點記錄的是振幅值。
[0039]所述步驟(3)基于步驟(2)的照明次數(shù)數(shù)據(jù)體，篩選出數(shù)據(jù)體中照明次數(shù)值的照明次數(shù)的最大最小值，根據(jù)經(jīng)驗設置照明次數(shù)最小值的閥值，最大值保留不變，如果照明次數(shù)小于最小值則使其等于最小值。照明次數(shù)最小值的閥值是該校正方法中最為關鍵的一個參數(shù)，照明次數(shù)校正的原理是認為共成像點道集的振幅能量分布與照明次數(shù)分布成正比，需要將共成像點道集的振幅值除以對應的照明次數(shù)值，因此如果照明次數(shù)值過小會產(chǎn)生過校正的現(xiàn)象，就是將共成像點道集中某些照明次數(shù)不足的部分振幅過度放大，違背了校正的初衷，并且照明次數(shù)指的是疊前偏移成像過程中偏移孔徑內(nèi)所有地震數(shù)據(jù)對成像點的貢獻次數(shù)，如果照明次數(shù)過少，對應的共成像點道集可信度也較低。
[0040]所述步驟(4)基于步驟(2)得到的共成像點道集與照明次數(shù)體每一個對應的數(shù)據(jù)點相除，照明次數(shù)校正的初始結果。
[0041]所述步驟(5)若校正后的共成像點道集效果不理想(即沒有保持AVA特征，校正結果是否理想，根據(jù)共成像點道集對應井資料計算得到目的層的AVA特征判斷(如圖7))，需要根據(jù)照明次數(shù)校正的初始結果調(diào)整(3)中的照明次數(shù)最小值閥值(因為這種道集上的能量分布布局不均勻是由于有的部分照明次數(shù)不足引起的，所以最小值的設置對校正效果至關重要)，再進行步驟(4)直到校正得到保持AVA特征的角度域道集。如果最終得到的校正后道集，如果存在過校正的情況，則對道集進行切除，認為切除部分照明次數(shù)不足，成像結果不能夠真實的反映出地下地質(zhì)特征。
[0042]圖1示出本發(fā)明一種針對疊前地震數(shù)據(jù)共成像點道集的能量校正方法的具體流程。下面參照附圖并結合實施例對本發(fā)明做進一步說明。
[0043]實施例基于中國西部海相碳酸鹽巖儲層實際資料。圖2為實施例的輸入數(shù)據(jù)疊前未動較共中心點道集，圖3為實施例經(jīng)過疊前時間偏移得到的共成像點道集，圖4為實施例在疊前時間偏移過程中統(tǒng)計得到的照明次數(shù)體，圖5為對共成像點道集沿目的層提取振幅進行AVA分析，圖6為對照明次數(shù)體沿目的層提取照明次數(shù)隨入射角變化的分布特征，圖7為共成像點道集對應井資料計算得到目的層的AVA特征。
[0044]首先根據(jù)步驟(I)在疊前時間偏移程序中添加照明次數(shù)統(tǒng)計代碼，然后根據(jù)步驟
(2)對疊前未動較共中心點道集(圖2)進行疊前時間偏移，得到共成像點道集和照明次數(shù)體(圖3，4)，并對共成像點道集沿目的層提取振幅進行AVA分析(圖5)，與對應井資料對目的層提取的AVA特征(圖6)存在明顯差異，而共成像點道集的AVA趨勢與通過照明次數(shù)體提取的照明次數(shù)隨入射角變化的規(guī)律比較相近，因此認為共成像點道集中AVA特征趨勢異常產(chǎn)生的原因是由于照明次數(shù)不一致導致，需要根據(jù)照明次數(shù)對共成像點道集進行校正得到具有類似理論上的AVA特征的共成像點道集。
[0045]接下來根據(jù)步驟(3)，首先得到照明次數(shù)體中照明次值的分布范圍大約在O?2000000之間，然后對照明次數(shù)體設置最大最小閥值，照明次數(shù)體中最大、最小值閥值分別設置為2000000和20000，該閥值是經(jīng)過多次嘗試，得到的適合該地區(qū)的閥值，最小值的閥值大約為最大值的閥值的萬分之一，最小值閥值的設置要在保證共成像點道集校正效果的同時，盡可能少的出現(xiàn)過校正的現(xiàn)象，為后續(xù)的儲層預測保留更多的疊前信息。圖8為設置最小值后照明次數(shù)值分布隨著時間深度的增加近中遠入射角照明次數(shù)成均勻分布，這種分布狀態(tài)下進行共成像點道集校正，可以得到較好的校正效果。
[0046]再根據(jù)步驟(4)，將疊前時間偏移得到的共成像點道集與設置了最大、最小值閥值的照明次數(shù)體相除，得到圖9為校正后的共成像點道集，對校正后的共成像點道集沿目的層提取AVA特征如圖10，得到與井資料(圖6)相似AVA的特征，得到的最終校正結果是保持AVA特征的共成像點道集，為之后的儲層預測奠定了基礎。
[0047]本發(fā)明針對疊前地震數(shù)據(jù)共成像點道集的能量校正方法適用于所以根據(jù)疊前時間偏移得到的共成像點道集，可以解決由于地震采集的觀測系統(tǒng)導致的疊前共成像點道集在入射角方向能量分布不均勻的問題，依照疊前時間偏移的原理，根據(jù)地震射線路徑信息統(tǒng)計照射到成像點處各個照明角度面元的次數(shù)，利用精確的照明次數(shù)對疊前共成像點道集進行校正，可以得到具有與理論相一致的AVA特征的共成像點道集。本發(fā)明克服了常規(guī)共成像點道集校正對區(qū)域地質(zhì)特征、儲層特征深入了解等的極高要求，也避免了采用不能準確表達偏移孔徑內(nèi)的地震數(shù)據(jù)變化的覆蓋次數(shù)進行校正。并且基于中國西部碳酸鹽巖儲層實際資料進行共成像點道集校正，取得了令人滿意的結果。
[0048]上述技術方案只是本發(fā)明的一種實施方式，對于本領域內(nèi)的技術人員而言，在本發(fā)明公開了應用方法和原理的基礎上，很容易做出各種類型的改進或變形，而不僅限于本發(fā)明上述【具體實施方式】所描述的方法，因此前面描述的方式只是優(yōu)選的，而并不具有限制性的意義。
【主權項】
1.一種針對疊前地震數(shù)據(jù)共成像點道集的能量校正方法，其特征在于:所述方法通過統(tǒng)計每個成像點對應的照明次數(shù)，對疊前時間偏移得到的共成像點道集以照明次數(shù)為基礎進行保持AVA特征的能量校正。2.根據(jù)權利要求1所述的針對疊前地震數(shù)據(jù)共成像點道集的能量校正方法，其特征在于:所述方法包括以下步驟: (1)利用時間偏移速度對疊前未動較共中心點道集進行疊前時間偏移，得到偏移后的共成像點道集，同時統(tǒng)計每一個成像點處的照明次數(shù)，得到照明次數(shù)體； (2)對照明次數(shù)體設定最大閾值和最小閥值； (3)將偏移后的共成像點道集中的每一成像點處的振幅值除以該成像點對應的照明次數(shù)值，得到校正后的疊前時間偏移道集； (4)判斷所述校正后的疊前時間偏移道集的效果是否保持了AVA特征，如果否，則修改照明次數(shù)體的最小閾值，然后返回步驟(3)，如果是，則所述校正后的疊前時間偏移道集為最后的校正結果。3.根據(jù)權利要求2所述的針對疊前地震數(shù)據(jù)共成像點道集的能量校正方法，其特征在于:所述步驟(I)中的照明次數(shù)是指在疊前偏移成像過程中根據(jù)地震射線路徑信息統(tǒng)計照射到成像點處各個照明角度面元的次數(shù)，即偏移孔徑內(nèi)所有地震數(shù)據(jù)對成像點處有一個次的貢獻，照明次數(shù)就增加一次；所述照明次數(shù)體與疊前時間偏移得到的偏移后的共成像點道集的格式、大小一樣，其每一個值代表的是與之對應的成像點的照明次數(shù)。4.根據(jù)權利要求3所述的針對疊前地震數(shù)據(jù)共成像點道集的能量校正方法，其特征在于:所述步驟(2)具體如下: 篩選出所述照明次數(shù)體中照明次數(shù)的最大值和最小值，設置照明次數(shù)的最小閥值，最大值保留不變作為最大閾值，對于照明次數(shù)體中照明次數(shù)小于最小閾值的，則使其等于最小閾值。5.根據(jù)權利要求4所述的針對疊前地震數(shù)據(jù)共成像點道集的能量校正方法，其特征在于:所述步驟(4)中，如果最終得到的校正后道集中存在過校正的情況，則對存在過校正問題的道集進行切除。
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種針對疊前地震數(shù)據(jù)共成像點道集的能量校正方法，屬于地球物理成像領域。本方法通過統(tǒng)計每個成像點對應的照明次數(shù)，對疊前時間偏移得到的共成像點道集以照明次數(shù)為基礎進行保持AVA特征的能量校正。本發(fā)明在疊前偏移成像過程中根據(jù)地震射線路徑信息統(tǒng)計照射到各個照明角度面元的次數(shù)，從理論上比簡單的覆蓋次數(shù)校正更加合理、更加精確。
【IPC分類】G01V1/36
【公開號】CN105093323
【申請?zhí)枴緾N201410211541
【發(fā)明人】張克非, 肖鵬飛, 梁志強, 李呈呈, 林正良, 朱童
【申請人】中國石油化工股份有限公司, 中國石油化工股份有限公司石油物探技術研究院
【公開日】2015年11月25日
【申請日】2014年5月19日