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一種片體的區(qū)域的監(jiān)測(cè)方法及設(shè)備的制造方法_4

文檔序號(hào):9373027閱讀:來(lái)源:國(guó)知局
的第二反射光的電信號(hào);該光接收裝置802可為圖6中的光接收裝置52。
[0102]放大電路803,用于對(duì)所述光接收裝置802所接收的所述第一反射光的電信號(hào)和所述第二反射光的電信號(hào)進(jìn)行放大處理;
[0103]模/數(shù)轉(zhuǎn)換電路804,用于根據(jù)所述放大電路803放大后的第一反射光的電信號(hào)獲得反射電壓VI,以及,根據(jù)所述放大電路803放大后的第二反射光的電信號(hào)獲取反射電壓V2。
[0104]如圖6所7K,本發(fā)明實(shí)施例的光發(fā)射裝置51和光接收裝置52可固定在一支架56上組成對(duì)焦反射式光電傳感器50。所述光發(fā)射裝置51可產(chǎn)生并發(fā)射探測(cè)光,這樣當(dāng)通過(guò)推片機(jī)57推動(dòng)片體101穿越光電傳感器50,在穿越過(guò)程中,光發(fā)射裝置51發(fā)出的探測(cè)光505會(huì)在第一探測(cè)區(qū)域以及第二探測(cè)區(qū)域的片體上產(chǎn)生反射光(圖6示出的是探測(cè)光505照射片體的第二探測(cè)區(qū)域10111產(chǎn)生的反射光506),所述反射光被光接收器52接收而檢測(cè)出光信號(hào)(或稱之為光能流)(第一探測(cè)區(qū)域的反射光的光信號(hào)可記為W1,第二探測(cè)區(qū)域的反射的光信號(hào)可記為W2)。
[0105]進(jìn)一步,光接收裝置52檢測(cè)出的電信號(hào)可經(jīng)放大電路803進(jìn)行放大處理后被模/數(shù)轉(zhuǎn)換電路804轉(zhuǎn)換為電壓Vl或者V2。(具體的,Wl轉(zhuǎn)換為VI,W2轉(zhuǎn)換為V2)
[0106]具體實(shí)現(xiàn)中,本發(fā)明所使用的光發(fā)射裝置及光接收裝置可為紅外光發(fā)射及接收裝置,以及可見(jiàn)光發(fā)射及接收裝置以及其他任意的光發(fā)射及光接收裝置。
[0107]在一些可行的實(shí)施方式中,所述第一探測(cè)區(qū)域和所述第二探測(cè)區(qū)域上的探測(cè)光的入射角在30度至70度之間。當(dāng)然,在其他實(shí)施例中,探測(cè)光的入射角也可為其他取值。
[0108]磨砂面或涂層面相對(duì)于透明部的相對(duì)反射率可基本與折射率無(wú)關(guān),且與光面相對(duì)于透明部的相對(duì)反射率差異會(huì)很大,因此,本發(fā)明實(shí)施例基于此特性,合理設(shè)置了閾值kt,并基于kt來(lái)確定待確認(rèn)區(qū)域的類型。在一些可行的實(shí)施方式中,處理器90所使用的閾值kt可在0.3至0.5之間。在一些可行的實(shí)施方式中,當(dāng)所述第一探測(cè)區(qū)域和所述第二探測(cè)區(qū)域上的探測(cè)光的入射角越小時(shí),所述閾值kt的取值可越小。
[0109]在一些可行的實(shí)施方式中,當(dāng)在步驟S112計(jì)算出k = I時(shí),在步驟S113可確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述透明部的任意面。
[0110]具體實(shí)現(xiàn)中,無(wú)論片體放置方式如何,本發(fā)明是實(shí)施例通過(guò)計(jì)算出的相對(duì)反射率k=V2/V1的取值,以及k與kt的關(guān)系均能準(zhǔn)備判斷出待確認(rèn)區(qū)域是否為不完全透明部的磨砂面或涂層面。結(jié)合圖1-2、圖4的結(jié)構(gòu),通過(guò)如下舉例進(jìn)行驗(yàn)證:
[0111]舉例1:第一探測(cè)區(qū)域10111和第二探測(cè)區(qū)域10121實(shí)際均位于片體101的透明部103的一個(gè)面內(nèi),此時(shí),待確認(rèn)區(qū)域1012處實(shí)際為透明部103的一個(gè)面。此時(shí),不完全透明部102的磨砂面或涂層面104與所述透明部103的所述一個(gè)面可能位于片體101的相同面或不同面,比如,參考圖4,假設(shè)待確認(rèn)區(qū)域1011和待確認(rèn)區(qū)域之外的區(qū)域1012的10121以上的部分均是透明部的所述一個(gè)面,此時(shí),不完全透明部102的磨砂面或涂層面104可位于圖4中區(qū)域1012的中的第二探測(cè)區(qū)域以下的區(qū)域;或者,不完全透明部102的磨砂面或涂層面101可位于圖4中片體101未展示的另一個(gè)面,且在所述另一個(gè)面的位置與其在所述區(qū)域1012中的位置的關(guān)系是正反面的完全重合的位置,均位于片體接近底部的區(qū)域。在此種情況下,處理器90可計(jì)算出k = 1,則會(huì)確定出待確認(rèn)區(qū)域1012為片體的透明部103的任意面,其應(yīng)證了不完全透明部的磨砂面或涂層面不在待確認(rèn)區(qū)域的事實(shí)。
[0112]舉例2:第一探測(cè)區(qū)域10111位于片體101的透明部103的一個(gè)面,第二探測(cè)區(qū)域10121位于片體101的不完全透明部102的光面105內(nèi),此時(shí),待確認(rèn)區(qū)域1012實(shí)際為不完全透明部102的光面105。此時(shí),不完全透明部102的磨砂面或涂層面104與所述不完全透明部102的光面位于片體不同面的可完全重合的區(qū)域,比如,參考圖4,假設(shè)待確認(rèn)區(qū)域1011是不完全透明部102的光面105,此時(shí),不完全透明部102的磨砂面或涂層面104可位于圖4中片體101未展示的另一個(gè)面與所述待確認(rèn)區(qū)域完全重合的區(qū)域。在此種情況下,處理器90計(jì)算出k大于kt,則會(huì)確定出待確認(rèn)區(qū)域1012為片體的透明部103的任意面或確定所述待確認(rèn)區(qū)域1012是所述不完全透明部102的光面,其應(yīng)證了不完全透明部的磨砂面或涂層面不在待確認(rèn)區(qū)域的事實(shí)。
[0113]舉例3:第一探測(cè)區(qū)域10111位于片體101的透明部103的一個(gè)面內(nèi),第二探測(cè)區(qū)域10121位于片體101的不完全透明部102的磨砂面104內(nèi),也即,待確認(rèn)區(qū)域1012實(shí)際為不完全透明部102的磨砂面或涂層面105。在此中情況下,處理器90計(jì)算出k小于或等于kt,則確定出待確認(rèn)區(qū)域1012為片體的所述不完全透明部102的磨砂面或涂層面105,其同樣應(yīng)證了不完全透明部102的磨砂面或涂層面105位于待確認(rèn)區(qū)域的事實(shí)。
[0114]綜上所述,本發(fā)明實(shí)施例的片體的區(qū)域的監(jiān)測(cè)設(shè)備,無(wú)論磨砂面或涂層面105在不在待確認(rèn)區(qū)域,均能準(zhǔn)確對(duì)待確認(rèn)區(qū)域是否出磨砂面或涂層面進(jìn)行檢測(cè)。并且,本發(fā)明實(shí)施例所使用的檢測(cè)方法采用相對(duì)反射率k來(lái)完成上述檢測(cè),其可不限定被監(jiān)測(cè)的片體的類型(例如,不限定玻片的規(guī)格,厚度等);檢測(cè)結(jié)果將不受折射率的影響;以及,檢測(cè)結(jié)果不受探測(cè)光的強(qiáng)弱影響,進(jìn)而就降低了溫度、光電傳感器的老化效應(yīng),以及灰塵等因素對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響,最終整個(gè)檢測(cè)結(jié)果的可靠性得以提升。
[0115]仍參考圖9,在一些可行的實(shí)施方式中,本發(fā)明實(shí)施例的監(jiān)測(cè)設(shè)備還包括:驅(qū)動(dòng)電路200,用于驅(qū)動(dòng)所述光發(fā)射裝置801發(fā)出恒定的探測(cè)光。
[0116]由此可見(jiàn),本發(fā)明上述實(shí)施例所提供的一種片體的區(qū)域的監(jiān)測(cè)設(shè)備,通過(guò)將片體的一面的待確認(rèn)區(qū)域與所述面的待確認(rèn)區(qū)之外的其他區(qū)域的相對(duì)反射率k與一閾值kt進(jìn)行比較,來(lái)監(jiān)測(cè)待確認(rèn)區(qū)域是否為片體的不完全透明部的磨砂面或涂層面,由此本發(fā)明實(shí)施例可不限定被監(jiān)測(cè)的片體的類型(例如,不限定玻片的規(guī)格,厚度等);檢測(cè)結(jié)果將不受折射率的影響;以及,檢測(cè)結(jié)果不再受探測(cè)光的強(qiáng)弱影響,進(jìn)而降低了溫度、光電傳感器的老化效應(yīng),以及灰塵等因素對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響,最終整個(gè)檢測(cè)結(jié)果的可靠性得以提升。圖10為本發(fā)明的片體的區(qū)域的監(jiān)測(cè)設(shè)備的另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)組成示意圖。如圖10所示,其在圖8的實(shí)施例的基礎(chǔ)上還包括:報(bào)警裝置300。本實(shí)施例中,所述處理器90還用于在確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述不完全透明部的光面,或者,確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述不完全透明部的磨砂面或涂層面之后,確定是否滿足報(bào)警條件;所述報(bào)警裝置300,用于當(dāng)所述處理器90確定滿足報(bào)警條件時(shí),發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
[0117]具體實(shí)現(xiàn)中,本發(fā)明實(shí)施例所述的報(bào)警條件可包括:確定待確認(rèn)區(qū)域是所述透明部的任意面或者確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述不完全透明部的光面時(shí),需報(bào)警;或者,所示報(bào)警條件可包括:確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述不完全透明部的磨砂面或涂層面,需報(bào)警,或者,所示報(bào)警條件也可為其他預(yù)先設(shè)置的條件。具體實(shí)現(xiàn)中,當(dāng)設(shè)置的報(bào)警條件為確定待確認(rèn)區(qū)域是所述透明部的任意面或者確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述不完全透明部的光面時(shí),需報(bào)警;則,當(dāng)處理模塊90確定出所述待確認(rèn)區(qū)域是所述透明部的任意面或者確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述不完全透明部的光面時(shí),可確定滿足報(bào)警條件,則報(bào)警裝置300并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。具體實(shí)現(xiàn)中,當(dāng)設(shè)置的報(bào)警條件為確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述不完全透明部的磨砂面或涂層面時(shí),需報(bào)警;則,當(dāng)處理器90確定出確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述不完全透明部的磨砂面或涂層面時(shí),可確定滿足報(bào)警條件,則報(bào)警裝置300發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
[0118]具體實(shí)現(xiàn)中,本發(fā)明實(shí)施例的片體的一個(gè)具體的實(shí)施例可為用于制備血涂片的玻片,在制備血涂片時(shí),所述玻片被放直在自動(dòng)推片機(jī)的玻片盒中,為了防止玻片朝向打印機(jī)的區(qū)域是真正適合用于打印的磨砂面,在信息打印之前,會(huì)先確定朝向打印機(jī)的打印頭的玻片的區(qū)域是否是磨砂面,此時(shí),可根據(jù)光發(fā)射裝置與打印機(jī)位于玻片的同一側(cè)或不同側(cè)分別利用分發(fā)明實(shí)施例的片體檢測(cè)方法。具體的:當(dāng)光發(fā)射裝置與打印機(jī)位于所示玻片的同一側(cè)時(shí),本發(fā)明實(shí)施例可設(shè)置報(bào)警條件為:確定待確認(rèn)區(qū)域是所述透明部的任意面或者確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述不完全透明部的光面時(shí),需報(bào)警;則處理器90確定出所述待確認(rèn)區(qū)域是所述透明部的任意面或者確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述不完全透明部的光面時(shí),可確定滿足報(bào)警條件,并通過(guò)報(bào)警裝置300發(fā)出報(bào)警信號(hào)。所述報(bào)警信號(hào)用于提示所述玻片的磨砂面未正確放置在所述打印機(jī)的打印頭下面。在該實(shí)施例中,所述位置放錯(cuò)包括:玻片的磨砂面與光面放反(對(duì)應(yīng)本發(fā)明實(shí)施例所述的舉例2的情形),玻片的不完全透明部與透明部左右位置放反(對(duì)應(yīng)本發(fā)明實(shí)施例的舉例I中的不完全透明部102的磨砂面或涂層面104與所述透明部103的所述一個(gè)面位于片體相同面的情形),玻片磨砂面與光面放反,與此同時(shí),玻片的不完全透明部與透明部左右位置放反(對(duì)應(yīng)本發(fā)明實(shí)施例的舉例I中的完全透明部102的磨砂面或涂層面104與所述透明部103的所述一個(gè)面位于片體不同面的情形)等。另外,當(dāng)光發(fā)射裝置與打印機(jī)位于所示玻片的不同側(cè)時(shí),本發(fā)明實(shí)施例可設(shè)置報(bào)警條件為:確定所述待確認(rèn)區(qū)域是所述不完全透明部的磨砂面或涂層面時(shí),需報(bào)警;則當(dāng)處理器90確定
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