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傳輸接口芯片以及內(nèi)建式傳輸接口芯片測試方法

文檔序號:8527352閱讀:407來源:國知局
傳輸接口芯片以及內(nèi)建式傳輸接口芯片測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及傳輸接口芯片的測試技術(shù)。
【背景技術(shù)】
[0002]傳輸接口芯片傳統(tǒng)以一自動測試機(jī)臺(Automatically Test Equipment, ATE)作測試。待測的傳輸接口芯片安裝在該自動測試機(jī)臺上,由該自動測試機(jī)臺檢驗待測的傳輸接口芯片的發(fā)射端(TX)信號的正確度,更由該自動測試機(jī)臺供應(yīng)信號至待測的傳輸接口芯片的接收端(RX)測試待測的傳輸接口芯片的信號接收功能。
[0003]然而,隨著半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展,傳輸接口芯片的數(shù)據(jù)傳輸率大幅提升,自動測試機(jī)臺的等級也必須相應(yīng)提升。以高速通用串行總線傳輸(如USB 3.0或USB3.1...等)為例,自動測試機(jī)臺的設(shè)計相當(dāng)復(fù)雜且造價昂貴。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本申請公開一種內(nèi)建式傳輸接口芯片測試技術(shù)。
[0005]根據(jù)本申請一種實施方式所實現(xiàn)的一傳輸接口芯片包括:一電子物理層;一數(shù)字碼產(chǎn)生器;一加擾器;一編碼器;一解碼器;一解擾器;以及一數(shù)字碼檢查器。該電子物理層用于供應(yīng)信號至該傳輸接口芯片的一發(fā)送端,且自該傳輸接口芯片的一接收端接收信號。該數(shù)字碼產(chǎn)生器用于產(chǎn)生一原始數(shù)字碼。該加擾器用于接收并加擾該原始數(shù)字碼,以輸出一加擾數(shù)字碼。該編碼器用于接收并編碼該加擾數(shù)字碼,并將編碼后的該加擾數(shù)字碼交由該電子物理層轉(zhuǎn)換為供應(yīng)至該傳輸接口芯片的該發(fā)送端的信號。該解碼器用于對一接收數(shù)字碼作解碼,以產(chǎn)生一解碼數(shù)字碼。該接收數(shù)字碼來自該電子物理層。該電子物理層將接收自該接收端的信號轉(zhuǎn)換為該接收數(shù)字碼。該解擾器用于接收并解擾該解碼數(shù)字碼,以產(chǎn)生一還原數(shù)字碼。數(shù)字碼檢查器用于接收該還原數(shù)字碼,并在該發(fā)送端耦接該接收端的狀況下比對該還原數(shù)字碼是否符合該原始數(shù)字碼。如此一來,本申請所公開的傳輸接口芯片無須另行設(shè)計自動測試機(jī)臺即可以內(nèi)建邏輯以及電子方塊完成其傳輸功能的測試。
[0006]根據(jù)本申請一種實施方式所實現(xiàn)的一種內(nèi)建式傳輸接口芯片測試方法包括:將一傳輸接口芯片的一發(fā)送端連接至該傳輸接口芯片的一接收端;以該傳輸接口芯片的一數(shù)字碼產(chǎn)生器產(chǎn)生一原始數(shù)字碼;以該傳輸接口芯片的一加擾器加擾該原始數(shù)字碼,以產(chǎn)生一加擾數(shù)字碼;以該傳輸接口芯片的一編碼器編碼該加擾數(shù)字碼;將編碼后的該加擾數(shù)字碼交由該傳輸接口芯片的一電子物理層轉(zhuǎn)換為供應(yīng)至該傳輸接口芯片的該發(fā)送端的信號,再由該電子物理層自該傳輸接口芯片的該接收端接收且轉(zhuǎn)換為一接收數(shù)字碼;以該傳輸接口芯片的一解碼器解碼該接收數(shù)字碼,以產(chǎn)生一解碼數(shù)字碼;以該傳輸接口芯片的一解擾器解擾該解碼數(shù)字碼,以產(chǎn)生一還原數(shù)字碼;并且,以該傳輸接口芯片的一數(shù)字碼檢查器比對該還原數(shù)字碼是否符合該原始數(shù)字碼。
[0007]根據(jù)本申請一種實施方式所實現(xiàn)的一傳輸接口芯片包括:一數(shù)字碼產(chǎn)生器;以及一數(shù)字碼檢查器。該數(shù)字碼產(chǎn)生器用于產(chǎn)生一原始數(shù)字碼。數(shù)字碼檢查器用于接收一還原數(shù)字碼與該原始數(shù)字碼,并在該傳輸接口芯片的一發(fā)送端與一接收端彼此耦接的狀況下比對該還原數(shù)字碼是否符合該原始數(shù)字碼。該原始數(shù)字碼經(jīng)由加擾與編碼輸出至該發(fā)送端后再被該接收端接收進(jìn)行解碼與解擾后產(chǎn)生該還原數(shù)字碼。
[0008]下文特舉實施例,并配合所附圖示,詳細(xì)說明本
【發(fā)明內(nèi)容】
。
【附圖說明】
[0009]圖1為方塊圖,圖解根據(jù)本申請一種實施方式所實現(xiàn)的一傳輸接口芯片100 ;
[0010]圖2以圖示說明該邏輯閑置符號Logical_Idle ;
[0011]圖3以圖示說明該時鐘補償符號SKP_OS ;
[0012]圖4為流程圖,圖解傳輸接口芯片100的內(nèi)建式測試程序。
[0013]【符號說明】
[0014]100?傳輸接口芯片;102?數(shù)字碼產(chǎn)生器;
[0015]104?加擾器;106?編碼器;
[0016]108?時鐘補償緩沖器;110?解碼器;
[0017]112?解擾器;114?數(shù)字碼檢查器;
[0018]116?誤差計數(shù)器;
[0019]EPHY?電子物理層;
[0020]Logical_Idle?邏輯閑置符號;
[0021]LPHY?邏輯物理層;
[0022]RX?接收端;
[0023]S402…S416 ?步驟;
[0024]SKP_OS?時鐘補償符號;
[0025]SYNC_OS?加/解擾種籽重置符號;以及
[0026]TX?發(fā)射端。
【具體實施方式】
[0027]以下敘述列舉本發(fā)明的多種實施例。以下敘述介紹本發(fā)明的基本概念,且并非意圖限制本
【發(fā)明內(nèi)容】
。實際發(fā)明范圍應(yīng)依照權(quán)利要求書界定。
[0028]圖1為方塊圖,圖解根據(jù)本申請一種實施方式所實現(xiàn)的一傳輸接口芯片100。傳輸接口芯片100包括一電子物理層EPHY以及一邏輯物理層LPHY。電子物理層EPHY用于供應(yīng)信號至該傳輸接口芯片100的一發(fā)送端TX,且自該傳輸接口芯片100的一接收端RX接收信號。特別是,傳輸接口芯片100具有內(nèi)建式自我測試功能。如圖所示,該內(nèi)建式自我測試功能執(zhí)行時,傳輸接口芯片100的發(fā)射端TX與接收端RX耦接。傳輸接口芯片100自身發(fā)送端TX所發(fā)送的信號將傳回傳輸接口芯片100自身的接收端RX。如此一來,無須復(fù)雜且高造價的自動測試機(jī)臺,傳輸接口芯片100即可進(jìn)行自我測試。
[0029]如圖所示,傳統(tǒng)接口芯片100的邏輯物理層LPHY供應(yīng)有一數(shù)字碼產(chǎn)生器102、一加擾器(scrambler) 104、一編碼器106、一時鐘補償緩沖器108、一解碼器110、一解擾器(descrambler) 112、以及一數(shù)字碼檢查器114。數(shù)字碼產(chǎn)生器102用于產(chǎn)生一原始數(shù)字碼交由該加擾器104加擾為一加擾數(shù)字碼。該加擾數(shù)字碼經(jīng)該編碼器106編碼后,交由該電子物理層EPHY轉(zhuǎn)換為供應(yīng)至該傳輸接口芯片100的該發(fā)送端TX的信號。該發(fā)送端TX輸出的信號經(jīng)測試連接線路耦接回接收端RX后,由該電子物理層EPHY轉(zhuǎn)換為一接收數(shù)字碼。該接收數(shù)字碼經(jīng)該時鐘補償緩沖器108傳遞至該解碼器110,以解碼為一解碼數(shù)字碼。該解碼數(shù)字碼由該解擾器112解擾為一還原數(shù)字碼。數(shù)字碼檢查器114用于比對該還原數(shù)字碼是否符合該原始數(shù)字碼。以上加擾器104以及解擾器112設(shè)計使得單一原始數(shù)字碼即可變化為多樣的測試符號測試傳輸接口芯片100的信號發(fā)送、接收功能。對應(yīng)之,數(shù)字碼檢查器114也僅需判斷還原數(shù)字碼是否符合上述單一原始數(shù)字碼即可。傳輸接口芯片100的內(nèi)建式自我測試功能無須加設(shè)高成本的暫存器來存儲多樣的測試符號,且其數(shù)字碼產(chǎn)生器102以及數(shù)字碼檢查器114的設(shè)計也相當(dāng)單純。
[0030]在圖1所示實施方式中,傳輸接口芯片100更具有一誤差計數(shù)器116。在一實施例中,該誤差計數(shù)器116的初始值為O。該誤差計數(shù)器116啟動時,該數(shù)字碼檢查器114比對出上述還原數(shù)字碼不符合上述原始數(shù)字碼而變化誤差計數(shù)器116的計數(shù)值(如,遞增)。誤差計數(shù)器116所作的計數(shù)用于判斷該傳輸接口芯片100是否正確運作。另一方面,該誤差計數(shù)器116啟動時,該數(shù)字碼檢查器114比對出上述還原數(shù)字碼符合上述原始數(shù)字碼時,則不變化該誤差計數(shù)器116的計數(shù)值。最后當(dāng)該傳輸接口芯片100之內(nèi)建式自我測試流程完成時,該誤差計數(shù)器116的值仍為0,則表示該傳輸接口芯片100的傳送與接收功能正常。若該誤差計數(shù)器116的值不為0,則表示該傳輸接口芯片100的傳送與接收功能損壞。
[0031]以上內(nèi)建式自我測試功能除了需要將該發(fā)送端TX耦接該接收端RX,更可
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