取斷路短路檢測數(shù)據(jù)；以及
[0032]D:判斷是否完成測試，若否則執(zhí)行步驟B，若是則執(zhí)行步驟A。
[0033]優(yōu)選地，所述步驟A之前還包括如下步驟:選擇流程模式，其中，所述生產(chǎn)模式包括在所述線生產(chǎn)模式及所述離線生產(chǎn)模式。并且其中在所述在線生產(chǎn)模式中，以計算機作為控制中心，在所述離線生產(chǎn)模式中，以單片機作為控制中心。
[0034]優(yōu)選地，當(dāng)所述邏輯控制單元10選擇進行離線版生產(chǎn)模式時，所述步驟C進一步包括如下步驟
[0035]Cl:測量所述引腳兩端的電壓以獲取所述檢測數(shù)據(jù)；以及
[0036]C2:上傳所述檢測數(shù)據(jù)以對所述檢測數(shù)據(jù)進行計算、顯示。
[0037]優(yōu)選地，當(dāng)所述邏輯控制單元10選擇在線版生產(chǎn)模式時，所述步驟C進一步包括如下步驟
[0038]Cl:測量所述引腳兩端的電壓以獲取所述檢測數(shù)據(jù)；以及
[0039]C2:對比得出所述引腳兩端電流的通斷，其中，所述引腳的通斷由對所述檢測數(shù)據(jù)與設(shè)置數(shù)據(jù)的對比得出。
[0040]優(yōu)選地，所述步驟A進一步包括步驟:
[0041]Al:初始化參數(shù)設(shè)置單元及模數(shù)轉(zhuǎn)換單元以使得所述檢測電路處于待工作狀態(tài)；以及
[0042]A2:設(shè)置所述參數(shù)設(shè)置單元為加流測壓模式以驅(qū)動所述檢測電路的電流。
[0043]優(yōu)選地，所述步驟B進一步包括如下步驟:選擇被測試的所述引腳，其中，對被測試的所述引腳的選擇通過調(diào)節(jié)單刀雙擲開關(guān)矩陣實現(xiàn)。
[0044]值得一提到是，所述步驟A得以驅(qū)動兩組電流以獲取兩所述檢測數(shù)據(jù)并通過對兩所述檢測數(shù)據(jù)的對比以確保所述檢測數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
【附圖說明】
[0045]如圖1為本發(fā)明一種攝像模組斷路短路自動測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0046]如圖2為本發(fā)明一種攝像模組斷路短路自動測試設(shè)備的另一結(jié)構(gòu)示意圖。
[0047]如圖3為本發(fā)明一種攝像模組斷路短路自動測試設(shè)備的工作關(guān)系示意圖。
[0048]如圖4為本發(fā)明一種攝像模組斷路短路自動測試方法的另一流程圖。
[0049]如圖5為本發(fā)明一種攝像模組斷路短路自動測試方法的又一流程圖。
[0050]如圖6為本發(fā)明一種攝像模組斷路短路自動測試方法的部分流程圖。
[0051]如圖7為本發(fā)明一種攝像模組斷路短路自動測試方法的再一部分流程圖。
[0052]如圖8為本發(fā)明一種攝像模組斷路短路自動測試方法的又一部分流程圖。
[0053]如圖9為本發(fā)明一種攝像模組斷路短路自動測試方法的還一流程圖。
[0054]如圖10為本發(fā)明一種攝像模組斷路短路自動測試方法一優(yōu)選實施例的【具體實施方式】。
【具體實施方式】
[0055]根據(jù)本發(fā)明的權(quán)利要求和說明書所公開的內(nèi)容，本發(fā)明的技術(shù)方案具體如下文所述。
[0056]本發(fā)明涉一種攝像模組斷路短路自動測試設(shè)備，尤其是適用于攝像模組的一種攝像模組斷路短路自動測試設(shè)備，所述裝置得以用于攝像模組的斷路短路檢測，以保證所述攝像模組的產(chǎn)品出良率。在本優(yōu)選實施例中，以所述攝像模組斷路短路自動測試設(shè)備對應(yīng)用于手機中的所述攝像模組為例。
[0057]所述攝像模組包括一模組主體，所述模組主體包括至少一芯片，所述芯片具有至少一引腳，所述攝像模組斷路短路自動測試設(shè)備得以提供一測試電路并通過所述芯片的所述引腳將所述芯片接入所述測試電路，進而得以通過所述測試電路中的電路現(xiàn)象判斷所述攝像模組是否存在斷路短路情況。
[0058]具體地，如圖1至圖2所示，所述攝像模組斷路短路自動測試設(shè)備包括一邏輯控制單元10, —參數(shù)測試單元20以及模數(shù)轉(zhuǎn)換單元30,所涉芯片,所述邏輯控制單元10,所述參數(shù)測試單元20及所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元30相互電聯(lián)接以形成一檢測電路對所述芯片的斷路短路情況進行檢測。
[0059]更具體地，在本發(fā)明的一方面，所述參數(shù)測試單元20得以驅(qū)動所述檢測電路中的電流，當(dāng)所述芯片的所述引腳被接入所述檢測電路時，所述檢測電路中的電流得以從所述芯片的所述引腳通過所述芯片，進而得以根據(jù)是否測得所述芯片的所述引腳間的電壓及所述引腳間的電壓值對所述芯片的斷路短路情況進行檢測。
[0060]值得一提的是，所述參數(shù)測試單元20得以提供所述測試電路穩(wěn)定的電流，進而保證所述弓I腳間的電壓值的穩(wěn)定性及測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
[0061]所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元30內(nèi)具有采樣保持電路，進而得以免去涉及外圍采樣保持電路的工作，有利于對所述芯片的斷路短路狀況進行排查。
[0062]所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元30用于檢測所述芯片的所述引腳間的電壓情況以獲取檢測數(shù)據(jù)并進一步將檢測數(shù)據(jù)輸送至所述邏輯控制單元10，所述邏輯控制單元10得以進一步檢測所述數(shù)據(jù)是否符合要求。
[0063]值得一提的是，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元30同時得以將轉(zhuǎn)換所述檢測數(shù)據(jù)30的數(shù)據(jù)格式，進而，所述邏輯單元10得以對所述檢測數(shù)據(jù)進行判斷。
[0064]在本發(fā)明的另一方面，所述參數(shù)測試單元20亦得以驅(qū)動所述檢測電路中的電壓，當(dāng)所述芯片的所述引腳被接入所述檢測電路時，所述檢測電路中的電壓得以引起所述芯片的所述引腳間的電流變化，進而得以根據(jù)能否測得所述芯片的所述引腳間的電流及所述引腳間的電流值對所述芯片的斷路短路情況進行檢測。
[0065]值得一提的是，所述參數(shù)測試單元20得以提供所述檢測電路穩(wěn)定的電壓，進而確保所述弓I腳間的電流的穩(wěn)定性及測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
[0066]優(yōu)選地，在本優(yōu)選實施例中，所述參數(shù)測試單元20被設(shè)置為加流測壓模式，也就是說，在本優(yōu)選實施例中，所述參數(shù)測試單元20通過在所述測試電路中驅(qū)動電流而實現(xiàn)對所述芯片的斷路短路的檢測。
[0067]所述邏輯控制單元10進一步包括至少一存儲芯片11，所述存儲芯片11內(nèi)設(shè)置有設(shè)定數(shù)據(jù)，所述檢測數(shù)據(jù)得以通過與所述設(shè)定數(shù)據(jù)進行比較以確定所述芯片是否存在斷路短路的情況，進而得以提聞廣品出良率。
[0068]值得一提到是，所述存儲芯片11不會因為所述檢測電路存在斷路的情況而失去所述設(shè)定數(shù)據(jù)，也就是說，所述存儲芯片11得以在檢測出存在斷路短路情況的所述芯片后仍得以繼續(xù)投入使用。
[0069]值得一提的是，所述存儲芯片11內(nèi)的所述設(shè)定數(shù)據(jù)得以被二次編輯以滿足不同的數(shù)據(jù)的使用需求。
[0070]優(yōu)選地，在本優(yōu)選實施例中，所述存儲芯片11為一帶電可擦可編程只讀存儲器(EEPROM:Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)。
[0071]值得一提的是，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元30具有多樣化的輸出接口以得以選擇多種輸出方式，提高所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元30的靈活性。
[0072]在本優(yōu)選實施例中，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元30的接口與所述引腳一致，進而得以直接用于對所述芯片的測試而無需設(shè)計專門的轉(zhuǎn)接板，節(jié)約成本及時間。
[0073]值得一提到是，所述邏輯控制單元10得以通信地連接于一計算機裝置以進行參數(shù)配置。
[0074]優(yōu)選地,在本優(yōu)選實施例中，所述攝像