測試模式設(shè)定電路及設(shè)定方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于集成電路的測試模式設(shè)定電路及設(shè)定方法。
【背景技術(shù)】
[0002]芯片在封裝過程中，由于封裝應力等因素，可能造成芯片各項特性參數(shù)的漂移，故在芯片封裝之后，需要進行測試和調(diào)試，以保證每一顆芯片都能達到產(chǎn)品規(guī)格的要求。為了便于芯片的測試，會在芯片內(nèi)集成測試模式設(shè)定電路，在芯片進入測試模式后能對芯片進行測試。測試模式設(shè)定電路要求不能影響芯片的正常應用，不會對芯片造成寄生效應。
[0003]一般情況下，測試時，通過對芯片的相應端口加入特定的信號，從而激活內(nèi)置的測試模式設(shè)定電路，以進入測試模式。現(xiàn)有技術(shù)中，除了電源端口，地線之外，還需要信號端口和復位端口等額外端口。以上述現(xiàn)有技術(shù)為例，對于設(shè)置信號端口和復位端口的半導體芯片，通過在芯片這兩個端口加入信號，在信號端口進入周期性的高低電平，來計數(shù)測試模式的數(shù)量，經(jīng)過一個高低電平，內(nèi)部計數(shù)器加一，實現(xiàn)計數(shù)。計數(shù)多少次，就可以產(chǎn)生多少個獨立的測試模式。在復位端口輸入作為芯片進入測試模式的復位信號，以在測試模式下進行復位，以便進行其他參數(shù)的測試或調(diào)試。
[0004]對于一些集成電路而言，有時并未設(shè)置上述的部分端口，難以使用傳統(tǒng)測試模式設(shè)定電路和方法進行測試操作，例如，對于僅有電源端口，地線端口以及輸出電壓端口的3端口半導體芯片等。對于這樣的半導體芯片來說，如果利用現(xiàn)有技術(shù)的測試模式設(shè)定電路，則面臨端口數(shù)目不夠的問題，因此為了設(shè)定測試模式，而需要增加端口，則造成芯片封裝尺寸的增大和成本的提高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種測試模式設(shè)定電路及設(shè)定方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的進入測試模式所需端口數(shù)較多的技術(shù)問題。
[0006]本發(fā)明的技術(shù)解決方案是，提供一種以下結(jié)構(gòu)的測試模式設(shè)定電路，應用于帶有輸出電壓端口的集成電路，包括模式觸發(fā)電路和脈寬檢測電路，所述的模式觸發(fā)電路的第一輸入端與輸出電壓端口電連接，其第二輸入端接收基準信號，模式觸發(fā)電路的輸出端與脈寬檢測電路連接；
[0007]進行測試模式設(shè)定時，在集成電路的輸出電壓端口施加模式觸發(fā)信號，所述的模式觸發(fā)信號與基準信號進行比較以產(chǎn)生脈沖信號，所述的脈寬檢測電路接收脈沖信號，并檢測脈沖信號的脈寬，輸出脈寬檢測信號，所述測試模式設(shè)定電路根據(jù)所述脈寬檢測信號進入相應的測試模式。
[0008]優(yōu)選地，所述的測試模式設(shè)定電路還包括計數(shù)電路、燒寫判斷電路和熔絲燒寫電路，設(shè)定計數(shù)脈寬范圍和燒寫脈寬范圍，所述的計數(shù)電路和燒寫判斷電路分別接收脈寬檢測電路輸出的脈寬檢測信號，所述脈沖信號落入計數(shù)脈寬范圍時，則由計數(shù)電路對測試模式進行計數(shù)，所述的脈沖信號落入燒寫脈寬范圍時，則由燒寫判斷電路判斷后進入修調(diào)測試模式，所述熔絲燒寫電路根據(jù)此時計數(shù)電路的計數(shù)值選擇相應位的熔絲進行燒斷。
[0009]優(yōu)選地，所述的脈寬檢測電路對脈沖信號的上升沿作延時處理后得到延時信號，將所述延時信號與所述脈沖信號相與，以產(chǎn)生所述的脈寬檢測信號。
[0010]優(yōu)選地，所述的測試模式設(shè)定電路還包括復位電路，設(shè)定復位脈寬范圍，所述脈沖信號落入復位脈寬范圍時，則由復位電路對測試模式復位，計數(shù)電路清零。
[0011 ] 優(yōu)選地，所述的集成電路包括功率級電路，所述的功率級電路包括主功率開關(guān)管，所述的模式觸發(fā)信號為高低電壓信號，模式觸發(fā)信號的最低值大于功率級電路的正常輸出電壓。
[0012]本發(fā)明的另一技術(shù)解決方案是，提供一種以下的測試模式設(shè)定方法，應用于帶有輸出電壓端口的集成電路，進行測試模式設(shè)定時，在集成電路的輸出電壓端口施加模式觸發(fā)信號，將所述的模式觸發(fā)信號與基準信號進行比較以產(chǎn)生脈沖信號，并檢測脈沖信號的脈寬，得到脈寬檢測信號，根據(jù)表征脈沖信號脈寬范圍的脈寬檢測信號，進入相應的測試模式。
[0013]本發(fā)明的又一技術(shù)解決方案是，提供一種以下的集成電路，包括輸入端口、輸出電壓端口和接地端口，所述集成電路還包括上述任意一種測試模式設(shè)定電路。
[0014]采用本發(fā)明的結(jié)構(gòu)和方法，與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點:本發(fā)明針對端口較少的芯片，利用有限的端口數(shù)來進行測試模式的設(shè)定，在集成電路的輸出電壓端口施加模式觸發(fā)信號，將所述的模式觸發(fā)信號與基準信號進行比較以產(chǎn)生脈沖信號，并檢測脈沖信號的脈寬，得到脈寬檢測信號，根據(jù)表征脈沖信號脈寬范圍的脈寬檢測信號，進入相應的測試模式。因此，本發(fā)明能夠滿足端口數(shù)較少的芯片的測試模式的設(shè)定，無需增設(shè)專用端口，降低了芯片的封裝尺寸和生產(chǎn)成本。
【附圖說明】
[0015]圖1為本發(fā)明測試模式設(shè)定電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0016]圖2為本發(fā)明的工作波形圖；
[0017]圖3為集成電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0018]下面將結(jié)合示意圖對本發(fā)明作更詳細的描述，其中表示了本發(fā)明的優(yōu)選實施例，應該理解本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在此描述基礎(chǔ)上，在權(quán)利要求的范圍內(nèi)對本發(fā)明具體電路進行變換和替換，而仍然實現(xiàn)本發(fā)明的有利效果。下列描述并不作為對本發(fā)明的限制。
[0019]在下列段落中參照附圖以舉例方式更具體地描述本發(fā)明。需說明的是，附圖均采用較為簡化的形式且均使用非精準的比例，僅用以方便、明晰地輔助說明本發(fā)明實施例的目的。
[0020]本發(fā)明的基本解決方案在于，提供一種測試模式設(shè)定電路，應用于帶有輸出電壓端口的集成電路，包括模式觸發(fā)電路和脈寬檢測電路，所述的模式觸發(fā)電路的第一輸入端與輸出電壓端口電連接，其第二輸入端接收基準信號，模式觸發(fā)電路的輸出端與脈寬檢測電路連接；
[0021]進行測試模式設(shè)定時，在集成電路的輸出電壓端口施加模式觸發(fā)信號，所述的模式觸發(fā)信號與基準信號進行比較以產(chǎn)生脈沖信號，所述的脈寬檢測電路接收脈沖信號，并檢測脈沖信號的脈寬，輸出脈寬檢測信號，所述測試模式設(shè)定電路根據(jù)所述脈寬檢測信號進入相應的測試模式。
[0022]參考圖1所示，示意了測試模式設(shè)定電路的原理框圖。測試模式設(shè)定電路集成于集成電路內(nèi)。OUT為集成電路的輸出電壓端口，模式觸發(fā)電路的第一輸入端連接在集成電路的輸出電壓端口 0UT，在該端口輸入模式觸發(fā)信號Vout，所述的模式觸發(fā)信號Vout為高低電壓信號(需要說明的是，本處所指的高低電壓并非通常意義上的高低電壓，而是就信號本身存在的高電壓和低電壓相對而言的。實際上所述的高低電