本發(fā)明涉及電導(dǎo)率測試技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種固體電解質(zhì)離子電導(dǎo)率測試夾具,還涉及一種固體電解質(zhì)離子電導(dǎo)率測試系統(tǒng),還涉及一種固體電解質(zhì)離子電導(dǎo)率測試方法。
背景技術(shù):
在社會發(fā)展需求和市場現(xiàn)狀的推動下,電池技術(shù)正在向安全可靠、服役壽命長、規(guī)模集成化、成本低廉化、環(huán)境友好的方向發(fā)展。使用固體電解質(zhì)的全固態(tài)電池符合以上未來新型電池的發(fā)展要求,且在動力電池和儲能電池方面前景廣闊。固體電解質(zhì)通常又稱快離子導(dǎo)體或超離子導(dǎo)體,是指離子電導(dǎo)率較高,電導(dǎo)活化能低,且結(jié)構(gòu)內(nèi)具有適宜離子快速傳輸?shù)耐ǖ阑蜴湺蔚囊活惒牧稀kx子電導(dǎo)率是固體電解質(zhì)的關(guān)鍵指標(biāo),全固態(tài)電池的循環(huán)性能與固體電解質(zhì)的離子電導(dǎo)率密切相關(guān)。
常用的電導(dǎo)率測試技術(shù)為交流阻抗測試方法,交流阻抗測試是一種以小振幅的正弦波信號為擾動信號的測量方法,對測試體系影響極小。其主要原理是通過對被測電化學(xué)體系施加一個正弦波微擾信號,進(jìn)而測量獲得的相應(yīng)頻率響應(yīng)進(jìn)行分析,此時體系的頻率響應(yīng)函數(shù)就是交流阻抗,綜合不同頻率下測得的頻率響應(yīng)函數(shù)值繪制成曲線,便得到體系的交流阻抗譜。在分析交流阻抗譜時,通過等效電學(xué)原件構(gòu)建與測試系統(tǒng)等效的電路進(jìn)行分析,計算固體電解質(zhì)的離子電導(dǎo)率。目前存在的問題是現(xiàn)有的交流阻抗測試測試過程繁瑣,而且測試結(jié)果誤差較大。
因此,如何避免由于第一夾具部以及第二夾具部對固體電解質(zhì)的壓力太大,對其造成損害,同時避免由于第一夾具部以及第二夾具部與固體電解質(zhì)接觸不良導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確的問題,是本領(lǐng)域技術(shù)人員急需要解決的技術(shù)問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的是提供一種固體電解質(zhì)離子電導(dǎo)率測試夾具,夾具結(jié)構(gòu)簡單,避免由于第一夾具部以及第二夾具部對固體電解質(zhì)的壓力太大,對其造成損害,同時避免了由于第一夾具部以及第二夾具部與固體電解質(zhì)接觸不良導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試方法,包括:
可拆卸連接的用于夾持固體電解質(zhì)的第一夾具部以及第二夾具部;
用于測量所述第一夾具部和/或所述第二夾具部對所述固體電解質(zhì)的壓力值的壓力傳感器。
優(yōu)選的,在上述固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具中,所述壓力傳感器為設(shè)置于所述固體電解質(zhì)與所述第一夾具部和/或所述第二夾具部之間的薄膜壓力傳感器。
優(yōu)選的,在上述固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具中,還包括:
設(shè)置于所述固體電解質(zhì)與所述第一夾具部以及所述第二夾具部之間的阻塞電極元件。
優(yōu)選的,在上述固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具中,所述阻塞電極元件為鉑金片、金片或者銀片。
優(yōu)選的,在上述固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具中,所述第一夾具部與所述第二夾具部之間通過螺栓連接。
優(yōu)選的,在上述固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具中,所述螺栓與所述第一夾具部或者所述第二夾具部之間的接觸面設(shè)置有第一絕緣套。
優(yōu)選的,在上述固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具中,所述第一夾具部與所述第二夾具部之間設(shè)置有第二絕緣套,所述固體電解質(zhì)以及阻塞電極元件放置于所述第二絕緣套內(nèi)。
本發(fā)明還提供了一種固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試系統(tǒng),包括如上述任一項(xiàng)所述的固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具,還包括:
與所述第一夾具部以及所述第二夾具部連接的電導(dǎo)率測試裝置,所述測試裝置包括:用于獲取所述固體電解質(zhì)的阻抗值的數(shù)據(jù)獲取單元;用于根據(jù)所述阻抗值計算電導(dǎo)率的計算單元;
與所述壓力傳感器連接,用于獲取并顯示所述壓力傳感器測量的所述壓力值的壓力計。
本發(fā)明還提供了一種固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試方法,包括:
步驟s1:將固體電解質(zhì)設(shè)置于固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具的第一夾具部和第二夾具部之間,所述第一夾具部與所述第二夾具部可拆卸連接;
步驟s2:測量所述第一夾具部和/或所述第二夾具部對所述固體電解質(zhì)的壓力值,并調(diào)節(jié)所述第一夾具部和/或所述第二夾具部對所述固體電解質(zhì)的壓力,使得測量出的壓力值在閾值范圍內(nèi);
步驟s3:獲取所述固體電解質(zhì)的阻抗,并根據(jù)所述阻抗計算所述固體電解質(zhì)離子電導(dǎo)率。
本發(fā)明所提供一種固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具,包括:可拆卸連接的用于夾持固體電解質(zhì)的第一夾具部以及第二夾具部;用于測量所述第一夾具部和/或所述第二夾具部對所述固體電解質(zhì)的壓力值的壓力傳感器。由于第一夾具部以及第二夾具部可拆卸連接,根據(jù)測量的固體電解質(zhì)與所述第一夾具部以及所述第二夾具部之間的壓力值,動態(tài)調(diào)節(jié)第一夾具部以及第二夾具部與固體電解質(zhì)的接觸情況,使得第一夾具部和/或第二夾具部與固體電解質(zhì)緊密均勻接觸,避免由于第一夾具部以及第二夾具部對固體電解質(zhì)的壓力太大,對其造成損害,同時避免了由于第一夾具部以及第二夾具部與固體電解質(zhì)接觸不良導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。
本發(fā)明還提供一種固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試系統(tǒng),具有上述效果。
本發(fā)明還提供一種固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試方法,具有上述有益效果。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發(fā)明實(shí)施例所提供的固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明又一實(shí)施例所提供的固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為本發(fā)明實(shí)施例所提供的固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
請參考圖1,圖1為本發(fā)明實(shí)施例所提供的固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具結(jié)構(gòu)圖。
在一種具體的實(shí)施方式中,本發(fā)明提供了一種固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具,包括:
通過連接部件可拆卸連接的用于夾持固體電解質(zhì)3的第一夾具部1以及第二夾具部2;
用于測量所述第一夾具部1和/或所述第二夾具部2對所述固體電解質(zhì)3的壓力值的壓力傳感器。
其中,所述第一夾具部1與所述第二夾具部2均為導(dǎo)電不銹鋼夾具部,包括但不限于導(dǎo)電不銹鋼夾具部,還可以為其它可導(dǎo)電的夾具,均在保護(hù)范圍內(nèi)。為了避免夾具對固體電解質(zhì)3進(jìn)行破壞,或者防止夾具與固體電解質(zhì)3并沒有良好的接觸,還包括與所述第一夾具部1和所述第二夾具部2連接的,用于測量所述第一夾具部1和/或所述第二夾具部2對所述固體電解質(zhì)3表面壓力的壓力傳感器。當(dāng)然,壓力傳感器的設(shè)置位置以及個數(shù)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行設(shè)置,例如,可設(shè)置兩個壓力傳感器,一個設(shè)置于第一夾具部1和固體電解質(zhì)3之間,另一個設(shè)置于第二夾具部2和固體電解質(zhì)3之間,得到準(zhǔn)確的壓力值。
將第一夾具部1和第二夾具部2可拆卸連接,根據(jù)測量的固體電解質(zhì)與所述第一夾具部以及所述第二夾具部之間的壓力值,動態(tài)調(diào)節(jié)第一夾具部以及第二夾具部與固體電解質(zhì)的接觸情況,保證夾具與固體電解質(zhì)3之間均勻緊密接觸,又避免夾具對固體電解質(zhì)3的破壞或者壓力太大導(dǎo)致固體電解質(zhì)3損壞,提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
本發(fā)明所提供一種固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具,由于第一夾具部以及第二夾具部可拆卸連接,根據(jù)測量的固體電解質(zhì)與所述第一夾具部以及所述第二夾具部之間的壓力值,動態(tài)調(diào)節(jié)第一夾具部以及第二夾具部與固體電解質(zhì)的接觸情況,使得第一夾具部和/或第二夾具部與固體電解質(zhì)緊密均勻接觸,避免由于第一夾具部以及第二夾具部對固體電解質(zhì)的壓力太大造成損害,避免了由于第一夾具部以及第二夾具部與固體電解質(zhì)接觸不良導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。
進(jìn)一步的,在上述固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具的基礎(chǔ)上,所述壓力傳感器為設(shè)置于所述固體電解質(zhì)3與所述第一夾具部1和/或所述第二夾具部2之間的薄膜壓力傳感器。
其中,薄膜壓力傳感器可以設(shè)置于所述固體電解質(zhì)3與所述第一夾具部1和/或所述第二夾具部2之間,目的是直接又準(zhǔn)確的獲取固體電解質(zhì)3與所述第一夾具部1以及所述第二夾具部2的壓力值。
進(jìn)一步的,在上述固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具的基礎(chǔ)上,為了改善待測固體電解質(zhì)3與夾具間接觸,減小接觸電阻,還包括:
設(shè)置于所述固體電解質(zhì)3與所述第一夾具部1或者所述第二夾具部2之間的阻塞電極元件4。
其中,阻塞電極材料為電子導(dǎo)電性好,延展性好,且阻塞檢測離子的金屬材料,例如鉑金片、金片或者銀片等均在保護(hù)范圍內(nèi)。阻塞電極元件4與所述固體電解質(zhì)3表面貼合,且其面積大于或者等于與其接觸的所述固體電解質(zhì)3的表面面積。兩側(cè)阻塞電極元件4的面積與形狀均與夾具接觸面相同,完全覆蓋待測固體電解質(zhì)3樣品。
進(jìn)一步的,在上述固體電解質(zhì)3電導(dǎo)率測試夾具的基礎(chǔ)上,所述阻塞電極元件4為鉑金片、金片或者銀片。鉑金片明顯改善待測固體電解質(zhì)3與夾具間接觸,減小接觸電阻,當(dāng)然,還可以可為其它類型的能夠阻塞離子的材料。
進(jìn)一步的,在上述固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具的基礎(chǔ)上,所述第一夾具部1與所述第二夾具部2之間通過螺栓5連接。
其中,第一夾具部1和第二夾具部2平行,固體電解質(zhì)3和阻塞電極元件4疊層設(shè)置于第一夾具部1和第二夾具部2之間,夾具部的四角各設(shè)置用于螺栓穿過的螺孔,螺栓與夾具通過螺母固定即可,通過移動第一夾具部1或者第二夾具部2來調(diào)節(jié)夾具部之間的相對位置。當(dāng)然,還可以為其它可拆卸連接,均在保護(hù)范圍內(nèi)。
進(jìn)一步的,在上述固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具的基礎(chǔ)上,所述螺栓5與所述第一夾具部1或者所述第二夾具部2之間的接觸面設(shè)置有第一絕緣套7。
需要指出的是,第一絕緣套7的個數(shù)不做具體限定,可以在每個夾具部與螺栓之間的接觸面均設(shè)置,也可以任意選擇一個接觸面設(shè)置,均能夠達(dá)到絕緣的效果,均在保護(hù)范圍內(nèi)。
進(jìn)一步的,可參考圖2,在上述固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具的基礎(chǔ)上,所述第一夾具部1與所述第二夾具部2之間設(shè)置有第二絕緣套9,所述固體電解質(zhì)3以及所述阻塞電極元件4放置于所述第二絕緣套9內(nèi)。
其中,第二絕緣套9的兩端分別將第一夾具部1和第二夾具部2的外側(cè)四周邊緣包裹,固體電解質(zhì)3和阻塞電極元件4放置于第二絕緣套9內(nèi),第二絕緣套將其的位置進(jìn)行限制,使其不容易偏移。
本發(fā)明還提供了一種固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試系統(tǒng),包括如上述任一項(xiàng)所述的固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具,還包括電導(dǎo)率測試裝置,所述測試裝置與所述第一夾具部1以及所述第二夾具部2通過導(dǎo)線8連接。
進(jìn)一步的,在上述固體電解質(zhì)3電導(dǎo)率測試夾具中,所述測試裝置包括:
與所述第一夾具部1以及所述第二夾具部2連接的電導(dǎo)率測試裝置,所述測試裝置包括:用于獲取所述固體電解質(zhì)3的阻抗值的數(shù)據(jù)獲取單元;用于根據(jù)所述阻抗值計算電導(dǎo)率的計算單元;
與所述壓力傳感器連接,用于獲取并顯示所述壓力傳感器測量的所述壓力值的壓力計。
具體的,進(jìn)行交流阻抗測試時,根據(jù)交流阻抗譜確定固體電解質(zhì)3片阻抗值,通過公式σ=h/rs計算固體電解質(zhì)3的電導(dǎo)率,其中,σ為待測固體電解質(zhì)離子電導(dǎo)率;r為待測固體電解質(zhì)3阻抗值;s為待測固體電解質(zhì)3的表面面積;d為待測固體電解質(zhì)3的厚度,計算固體電解質(zhì)3的電導(dǎo)率。
請參考圖3,圖3為本發(fā)明實(shí)施例所提供的固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試方法流程圖。為彌補(bǔ)現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明提供一種使用簡便可靠的固體電解質(zhì)3電導(dǎo)率測試方法,對設(shè)備材料要求低,操作簡單,附加阻抗小,結(jié)果一致性好。
本發(fā)明提供了一種固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試方法,包括:
步驟s1:將固體電解質(zhì)設(shè)置于固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具的第一夾具部以及第二夾具部之間。
在具體實(shí)施時可采用以上所述的固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具,可參考圖1。其中,若固體電解質(zhì)3為薄片狀,則第一夾具部1與第二夾具部2相互平行,結(jié)構(gòu)對稱,接觸面面積和形狀相同,且完全重合大小覆蓋固體電解質(zhì)3。固體電解質(zhì)3與第一夾具部1的下表面貼合以及第二夾具部2的上表面貼合,固體電解質(zhì)3與第一夾具部1以及第二夾具部2接觸并保持被夾持狀態(tài)。需要指出的是,第一夾具部1和第二夾具部2的形狀和相對位置可根據(jù)固體電解質(zhì)3的形狀和厚度進(jìn)行設(shè)置,只要達(dá)到和固體電解質(zhì)3接觸并保持夾持狀態(tài)的目的即可,均在保護(hù)范圍內(nèi)。
第一夾具部1和第二夾具部2可以通過螺栓5和螺母安裝和固定,可以理解的是還可以為其它類型的可拆卸連接,均在保護(hù)范圍內(nèi)。
由于第一夾具部1和第二夾具部2之間絕緣,因此連接測試裝置后并不會發(fā)生短路現(xiàn)象,保證了測試的正常進(jìn)行。第一夾具部1和第二夾具部2之間可以通過多種方式保持絕緣,均在保護(hù)范圍內(nèi)。例如,設(shè)置于螺母和螺栓5之間的絕緣套。
步驟s2:測量所述第一夾具部和/或所述第二夾具部對所述固體電解質(zhì)的壓力值,并調(diào)節(jié)所述第一夾具部和/或所述第二夾具部對所述固體電解質(zhì)的壓力,使得測量出的壓力值在閾值范圍內(nèi)。
其中,通過壓力傳感器測量所述第一夾具部1以及所述第二夾具部2對所述固體電解質(zhì)3的壓力值,技術(shù)人員根據(jù)壓力計顯示的數(shù)值,調(diào)節(jié)第一夾具部1和/或第二夾具部2對所述固體電解質(zhì)3的壓緊程度,直至測量的第一夾具部1以及第二夾具部2對固體電解質(zhì)3的壓力值在閾值范圍內(nèi)。若采用以上所述的固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試夾具,則通過調(diào)節(jié)螺母在螺栓5上的旋緊位置,調(diào)節(jié)第一夾具部1和/或第二夾具部2對固體電解質(zhì)3的壓緊程度,直至壓力計顯示的數(shù)值在閾值范圍內(nèi)時停止移動螺母。
在調(diào)節(jié)第一夾具部1和/或第二夾具部2對固體電解質(zhì)3的壓力時,要保持第一夾具部1和第二夾具部2與固體電解質(zhì)3均勻接觸,這樣保持固體電解質(zhì)3受力均勻,避免夾具對固體電解質(zhì)3造成損壞,或者放置夾具與固體電解質(zhì)3并沒有良好的接觸。
其中,壓力傳感器通過絕緣導(dǎo)線與外部的壓力計即壓力計相連,通過壓力計的讀數(shù)確定當(dāng)前夾具對固體電解質(zhì)3的壓力值,有利于控制壓力大小,避免壓力過大將固體電解質(zhì)3樣品壓碎。另外,在第一夾具部1與固體電解質(zhì)3之間以及第二夾具部2與固體電解質(zhì)3之間均設(shè)置壓力傳感器的情況下,上下壓力傳感器測量出統(tǒng)一的壓力值也排除了壓力對測試結(jié)果的影響,提高了測試的準(zhǔn)確性。
需要指出的是,壓力傳感器的種類和設(shè)置位置不做具體限定,可選用設(shè)置于第一夾具部1或者第二夾具部2與固體電解質(zhì)3之間的薄膜壓力傳感器,均在保護(hù)范圍內(nèi)。
步驟s3:獲取所述固體電解質(zhì)的阻抗,并根據(jù)所述阻抗計算所述固體電解質(zhì)離子電導(dǎo)率。
具體的,第一夾具部1和第二夾具部2與電解質(zhì)測量裝置連接,獲取交流阻抗譜,根據(jù)交流阻抗譜獲取固體電解質(zhì)3的阻抗,通過公式σ=h/rs計算固體電解質(zhì)3的電導(dǎo)率,其中,σ為待測固體電解質(zhì)離子電導(dǎo)率;r為待測固體電解質(zhì)3阻抗值;s為待測固體電解質(zhì)3的表面面積;d為待測固體電解質(zhì)3的厚度。
進(jìn)一步的,在實(shí)際測試時夾具部與固體電解質(zhì)之間的壓力要適中,避免夾具部對固體電解質(zhì)壓力太大而造成的損壞,同時避免了接觸不良導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。
本發(fā)明提供的一種固體電解質(zhì)離子電導(dǎo)率的檢測方法,通過對固體電解質(zhì)與所述第一夾具部以及所述第二夾具部之間的壓力值測量,避免由于第一夾具部以及第二夾具部對固體電解質(zhì)的壓力太大,對其造成損害,同時避免了由于第一夾具部以及第二夾具部與固體電解質(zhì)接觸不良導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。檢測方法操作簡便、夾具與固體電解質(zhì)接觸緊密、通用性好、離子電導(dǎo)率的測量過程更準(zhǔn)確,樣品測試的重復(fù)性好,對于準(zhǔn)確檢測固體電解質(zhì)3離子電導(dǎo)率具有重要意義。
下面列舉三個實(shí)施例說明不同種類的固體電解質(zhì)的電導(dǎo)率測量過程以及夾具的安裝使用過程。
實(shí)施例1
步驟s1:取適量磷酸鈦鋰粉末燒結(jié)制成一定尺寸的固體電解質(zhì)片,將鉑金片、固體電解質(zhì)片、鉑金片按照順序依次層疊放置于接觸面完全重合的第一夾具部1以及第二夾具部2的接觸面上,進(jìn)行對齊,并在第一夾具部1和固體電解質(zhì)片之間以及第二夾具部2和固體電解質(zhì)片之間安裝壓力傳感器,可參考圖1?;蛘咴诘谝粖A具部1與所述第二夾具部2之間安裝第二絕緣套9,鉑金片、固體電解質(zhì)片、鉑金片按照順序依次層疊放置于第二絕緣套9內(nèi),并設(shè)置壓力傳感器,通過第二絕緣套9限定鉑金片、固體電解質(zhì)片、鉑金片的位置,可參考圖2。
步驟s2:采用螺栓5和螺母將第一夾具部1以及第二夾具部2安裝連接,如圖1或圖2所示,在第一夾具部1和第二夾具部2的四角分別安裝螺栓5,并在螺栓5上分別安裝螺母。壓力傳感器與壓力計連接,壓力計獲取并顯示所述壓力傳感器測量的壓力值,技術(shù)人員通過讀取壓力計顯示的壓力值,根據(jù)顯示的壓力值調(diào)節(jié)所述第一夾具部1以及所述第二夾具部2的相對位置,即調(diào)節(jié)螺母在螺栓5上的旋緊位置,使得壓力計顯示的壓力值在預(yù)設(shè)的閾值范圍內(nèi),避免夾具對固體電解質(zhì)3進(jìn)行破壞,或者防止夾具與固體電解質(zhì)3并沒有良好的接觸。
步驟s3:通過第一夾具部1以及第二夾具部2連接的電導(dǎo)率測試裝置,進(jìn)行交流阻抗測試,根據(jù)交流阻抗譜確定固體電解質(zhì)片阻抗,通過公式σ=h/rs,計算磷酸鈦鋰的鋰離子電導(dǎo)率。
實(shí)施例2
在氬氣氣氛下,取適量li3ps4粉末壓片制成一定尺寸的固體電解質(zhì)片進(jìn)行l(wèi)i3ps4的鋰離子電導(dǎo)率測量,與實(shí)施例1的測量方法相同,在此不再贅述。
實(shí)施例3
在氬氣氣氛下,取適量na3ps4粉末壓片制成一定尺寸的固體電解質(zhì)片進(jìn)行na3ps4的鈉離子電導(dǎo)率測量,與實(shí)施例1的測量方法相同,在此不再贅述。
本發(fā)明提供的一種固體電解質(zhì)電導(dǎo)率測試方法,可應(yīng)用于不同溫度及不同氣氛環(huán)境下檢測待測固體電解質(zhì)材料離子電導(dǎo)率。其中氣氛環(huán)境可根據(jù)待測固體電解質(zhì)材料穩(wěn)定性選擇,如用于測試穩(wěn)定固體電解質(zhì)時使用的空氣氣氛,以及用于測試不穩(wěn)定固體電解質(zhì)時使用的氮?dú)饣驓鍤獾榷栊詺夥铡?/p>
說明書中各個實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述,每個實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處,各個實(shí)施例之間相同相似部分互相參見即可。對于實(shí)施例公開的裝置而言,由于其與實(shí)施例公開的方法相對應(yīng),所以描述的比較簡單,相關(guān)之處參見方法部分說明即可。
本文中應(yīng)用了具體個例對本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述,以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想。應(yīng)當(dāng)指出,對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以對本發(fā)明進(jìn)行若干改進(jìn)和修飾,這些改進(jìn)和修飾也落入本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。