本案涉及一種電子裝置及方法。具體而言，本案涉及一種顯示面板、測(cè)試裝置及測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

隨著科技的發(fā)展，顯示面板已廣泛地應(yīng)用在人們的生活當(dāng)中。

顯示面板在出廠前需進(jìn)行測(cè)試。一般而言，測(cè)試裝置可利用探針提供測(cè)試信號(hào)至顯示面板，以進(jìn)行測(cè)試。然而，探針與顯示面板間容易因接觸不良而造成誤判。因此，新的測(cè)試方法當(dāng)被提出。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本案一實(shí)施態(tài)樣涉及一種顯示面板。根據(jù)本案一實(shí)施例，顯示面板包括主動(dòng)區(qū)及測(cè)試電路。測(cè)試電路電性連接主動(dòng)區(qū)。測(cè)試電路包括第一主開關(guān)、第一測(cè)試墊、第二測(cè)試墊以及第一操作墊。第一測(cè)試墊電性連接第一主開關(guān)的第一端。第二測(cè)試墊電性連接第一主開關(guān)的第二端。第一操作墊電性連接第一主開關(guān)的控制端。

本案另一實(shí)施態(tài)樣涉及一種測(cè)試裝置。根據(jù)本案一實(shí)施例，測(cè)試裝置包括電壓提供電路、反饋比較電路以及警報(bào)系統(tǒng)。電壓提供電路用以提供測(cè)試電壓至顯示面板的第一測(cè)試墊，其中第一測(cè)試墊通過第一主開關(guān)電性連接第二測(cè)試墊。反饋比較電路電性連接電壓提供電路，用以接收來自電壓提供電路的測(cè)試電壓，檢測(cè)第二測(cè)試墊上的檢測(cè)測(cè)試電壓，并比較測(cè)試電壓與檢測(cè)測(cè)試電壓。警報(bào)系統(tǒng)電性連接反饋比較電路，用以在測(cè)試電壓及檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下，提供第一警報(bào)。

本案另一實(shí)施態(tài)樣涉及一種測(cè)試方法。根據(jù)本案一實(shí)施例，測(cè)試方法包括：提供測(cè)試電壓至顯示面板的第一測(cè)試墊，其中第一測(cè)試墊通過第一主開關(guān)電性連接第二測(cè)試墊；檢測(cè)第二測(cè)試墊上的檢測(cè)測(cè)試電壓；比較測(cè)試電壓與檢測(cè)測(cè)試電壓；以及在測(cè)試電壓及檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下，提供第一警報(bào)。

通過應(yīng)用上述一實(shí)施例，即可快速判斷測(cè)試裝置與顯示面板間是否線路異常(如接觸不良或連接異常等等)。

以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對(duì)本發(fā)明的限定。

附圖說明

圖1為根據(jù)本案一實(shí)施例所繪示的測(cè)試系統(tǒng)的示意圖；

圖2為根據(jù)本案一實(shí)施例所繪示的測(cè)試系統(tǒng)的示意圖；

圖3為根據(jù)本案另一實(shí)施例所繪示的測(cè)試系統(tǒng)的示意圖；

圖4為根據(jù)本案另一實(shí)施例所繪示的測(cè)試系統(tǒng)的示意圖；

圖5為根據(jù)本案一實(shí)施例所繪示的不同期間的電壓變化圖；以及

圖6為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的測(cè)試方法的流程圖。

其中，附圖標(biāo)記

10：測(cè)試系統(tǒng)

100：顯示面板

110：主動(dòng)區(qū)

120：測(cè)試電路

200：測(cè)試裝置

210：電壓提供電路

220：反饋比較電路

230：警報(bào)系統(tǒng)

po、po1、po2：操作墊

p1：測(cè)試墊

p2：測(cè)試墊

pr：測(cè)試墊

pg：測(cè)試墊

pb：測(cè)試墊

pm：測(cè)試墊

pd：測(cè)試墊

pe：測(cè)試墊

tr：開關(guān)

tr0-tr4：開關(guān)

ot1-ot2：開關(guān)

go：電壓提供子電路

gr：電壓提供子電路

gb：電壓提供子電路

gd：電壓提供子電路

gt：電壓提供子電路

ge：電壓提供子電路

go1：電壓提供子電路

go2：電壓提供子電路

222：比較器

224：比較器

226：比較器

228：比較器

dl：數(shù)據(jù)線

gl：柵極線

vcom：共同電極

xr：像素電路

xg：像素電路

xb：像素電路

cmp1-cmp4：比較信號(hào)

vgh：高電壓位準(zhǔn)

vgl：高電壓位準(zhǔn)

prd1、prd2：期間

300：方法

s1-s4：操作

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的結(jié)構(gòu)原理和工作原理作具體的描述：

以下將以附圖及詳細(xì)敘述清楚說明本揭示內(nèi)容的精神，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者在了解本揭示內(nèi)容的實(shí)施例后，當(dāng)可由本揭示內(nèi)容所教示的技術(shù)，加以改變及修飾，其并不脫離本揭示內(nèi)容的精神與范圍。

關(guān)于本文中所使用之『第一』、『第二』、…等，并非特別指稱次序或順位的意思，亦非用以限定本發(fā)明，其僅為了區(qū)別以相同技術(shù)用語描述的元件或操作。

關(guān)于本文中所使用的『電性連接』，可指二或多個(gè)元件相互直接作實(shí)體或電性接觸，或是相互間接作實(shí)體或電性接觸，而『電性連接』還可指二或多個(gè)元件相互操作或動(dòng)作。

關(guān)于本文中所使用的『包含』、『包括』、『具有』、『含有』等等，均為開放性的用語，即意指包含但不限于。

關(guān)于本文中所使用的『及/或』，包括所述事物的任一或全部組合。

關(guān)于本文中所使用的方向用語，例如：上、下、左、右、前或后等，僅是參考附加附圖的方向。因此，使用的方向用語是用來說明并非用來限制本案。

關(guān)于本文中所使用的用詞(terms)，除有特別注明外，通常具有每個(gè)用詞使用在此領(lǐng)域中、在此揭露的內(nèi)容中與特殊內(nèi)容中的平常意義。某些用以描述本揭露的用詞將于下或在此說明書的別處討論，以提供本領(lǐng)域技術(shù)人員在有關(guān)本揭露的描述上額外的引導(dǎo)。

圖1為根據(jù)本案一實(shí)施例所繪示的測(cè)試系統(tǒng)10的示意圖。在本實(shí)施例中，測(cè)試系統(tǒng)10包括顯示面板100與測(cè)試裝置200。

在本實(shí)施例中，顯示面板100包括主動(dòng)區(qū)110及測(cè)試電路120。測(cè)試電路120電性連接主動(dòng)區(qū)110(如主動(dòng)區(qū)中的像素電路)。測(cè)試電路120包括開關(guān)tr、測(cè)試墊p1、測(cè)試墊p2以及操作墊po。測(cè)試墊p1電性連接開關(guān)tr的第一端。測(cè)試墊p2電性連接開關(guān)tr的第二端。操作墊po電性連接開關(guān)tr的控制端。測(cè)試墊p1、p2電性連接主動(dòng)區(qū)110(如主動(dòng)區(qū)中的像素電路)。

在本實(shí)施例中，操作墊po用以接收來自測(cè)試裝置200的操作電壓，開關(guān)tr根據(jù)操作電壓(例如具高電壓準(zhǔn)位)導(dǎo)通。在本實(shí)施例中，測(cè)試墊p1用以接收來自測(cè)試裝置200的測(cè)試電壓(例如具有高電壓準(zhǔn)位)。當(dāng)開關(guān)tr導(dǎo)通時(shí)，測(cè)試墊p1可提供測(cè)試電壓至測(cè)試墊p2。

藉此，測(cè)試裝置200即可藉由檢測(cè)測(cè)試墊p2上的電壓(下稱為檢測(cè)測(cè)試電壓)，并將檢測(cè)測(cè)試電壓與提供至測(cè)試墊p1的測(cè)試電壓進(jìn)行比較，以快速判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間是否線路異常(如接觸不良或連接異常等等)。例如，在測(cè)試裝置200提供操作電壓至操作墊po，并提供測(cè)試電壓至測(cè)試墊p1的情況下，當(dāng)檢測(cè)測(cè)試電壓與測(cè)試電壓不同時(shí)，便判斷線路異常；當(dāng)檢測(cè)測(cè)試電壓與測(cè)試電壓相同時(shí)，便判斷線路正常。

在一實(shí)施例中，測(cè)試裝置200包括電壓提供電路210、反饋比較電路220及警報(bào)系統(tǒng)230。在一實(shí)施例中，反饋比較電路220電性連接電壓提供電路210。在一實(shí)施例中，警報(bào)系統(tǒng)230電性連接反饋比較電路220。

在一實(shí)施例中，電壓提供電路210用以產(chǎn)生并提供測(cè)試電壓至測(cè)試墊p1及反饋比較電路220。在一實(shí)施例中，電壓提供電路210亦用以產(chǎn)生并提供操作電壓至操作墊po。在一實(shí)施例中，電壓提供電路210例如是通過排針接觸測(cè)試墊p1與操作墊po而與其電性連接，然本案不以此為限。

在一實(shí)施例中，反饋比較電路220用以接收來自電壓提供電路210的測(cè)試電壓，檢測(cè)測(cè)試墊p2上的檢測(cè)測(cè)試電壓，并比較測(cè)試電壓及檢測(cè)測(cè)試電壓。在一實(shí)施例中，反饋比較電路220用以根據(jù)測(cè)試電壓及檢測(cè)測(cè)試電壓的比較結(jié)果，產(chǎn)生并提供比較信號(hào)至警報(bào)系統(tǒng)230。在一實(shí)施例中，反饋比較電路220例如是通過排針接觸測(cè)試墊p2而與測(cè)試墊p2電性連接，但不以此為限。

在一實(shí)施例中，警報(bào)系統(tǒng)230根據(jù)比較信號(hào)提供警報(bào)(如亮紅燈)。在一實(shí)施例中，警報(bào)系統(tǒng)230可在測(cè)試電壓與檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下提供警報(bào)。

藉此，即可快速判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間是否線路異常。

在本案一實(shí)施例中，在進(jìn)行顯示面板100的功能測(cè)試(如點(diǎn)亮測(cè)試)前，測(cè)試裝置200可先提供操作電壓(如提供高電壓位準(zhǔn))至操作墊po，以進(jìn)行線路是否異常的測(cè)試。

若警報(bào)系統(tǒng)230未提供警報(bào)，則代表測(cè)試裝置200與顯示面板100間線路正常，則測(cè)試裝置200停止提供操作電壓(如改為提供低電壓位準(zhǔn))至操作墊po，以關(guān)閉開關(guān)tr，并接著進(jìn)行顯示面板100的功能測(cè)試(如點(diǎn)亮測(cè)試)。

若警報(bào)系統(tǒng)230提供警報(bào)，則代表測(cè)試裝置200與顯示面板100間可能線路異常，則管理者可進(jìn)行進(jìn)一步偵錯(cuò)。

圖2為根據(jù)本案一實(shí)施例所繪示的測(cè)試系統(tǒng)10的示意圖。

在本實(shí)施例中，主動(dòng)區(qū)110中設(shè)置有以矩陣形式排列的像素電路xr、xg、xb、彼此平行的數(shù)據(jù)線dl、彼此平行的柵極線gl及共同電極vcom。在一實(shí)施例中，像素電路xr例如為紅色像素電路、像素電路xg例如為綠色像素電路、像素電路xb例如為藍(lán)色像素電路，然而本案不以此為限。應(yīng)注意到，像素電路xr、xg、xb、數(shù)據(jù)線dl、柵極線gl的數(shù)量皆可依實(shí)際需要改變，故本案不以此一實(shí)施例為限。

在本實(shí)施例中，測(cè)試電路120包括測(cè)試墊pr、測(cè)試墊pg、測(cè)試墊pb、測(cè)試墊pm、測(cè)試墊pd、測(cè)試墊pe、操作墊po、開關(guān)tr1、開關(guān)tr2及開關(guān)tr3。

在本實(shí)施例中，測(cè)試墊pr電性連接開關(guān)tr1的第一端，并通過數(shù)據(jù)線dl電性連接一行像素電路xr。測(cè)試墊pg電性連接開關(guān)tr1的第二端，并通過數(shù)據(jù)線dl電性連接一行像素電路xg。開關(guān)tr1的控制端電性連接操作墊po。

在本實(shí)施例中，測(cè)試墊pb電性連接開關(guān)tr2的第一端，并通過數(shù)據(jù)線dl電性連接一行像素電路xb。測(cè)試墊pm電性連接開關(guān)tr2的第二端，并電性連接共同電極vcom。開關(guān)tr2的控制端電性連接操作墊po。

在本實(shí)施例中，測(cè)試墊pd電性連接開關(guān)tr3的第一端，并電性連接奇數(shù)列柵極線gl(如第一、第三列柵極線gl)。測(cè)試墊pe電性連接開關(guān)tr3的第二端，并電性連接偶數(shù)列柵極線gl(如第二列柵極線gl)。開關(guān)tr3的控制端電性連接操作墊po。

在一些樣態(tài)中，圖1中的測(cè)試墊p1可為圖3中的測(cè)試墊pr、圖1中的測(cè)試墊p2可為圖2中的測(cè)試墊pg、圖1中的開關(guān)tr可為圖2中的開關(guān)tr1、且圖1中的操作墊po可為圖2中的操作墊po。

在另一些樣態(tài)中，圖1中的測(cè)試墊p1可為圖2中的測(cè)試墊pb、圖1中的測(cè)試墊p2可為圖2中的測(cè)試墊pm、圖1中的開關(guān)tr可為圖2中的開關(guān)tr2、且圖1中的操作墊po可為圖2中的操作墊po。

在另一些樣態(tài)中，圖1中的測(cè)試墊p1可為圖2中的測(cè)試墊pd、圖1中的測(cè)試墊p2可為圖2中的測(cè)試墊pe、圖1中的開關(guān)tr可為圖2中的開關(guān)tr3、且圖1中的操作墊po可為圖2中的操作墊po。

亦即，利用上述設(shè)置，測(cè)試裝置200即可藉由檢測(cè)測(cè)試墊pg、pm、pe上的電壓(即檢測(cè)測(cè)試電壓)，并分別將檢測(cè)測(cè)試電壓與提供至測(cè)試墊pr、pb、pd的測(cè)試電壓進(jìn)行比較，以快速判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間是否線路異常。

在測(cè)試裝置200提供操作電壓(如高電壓準(zhǔn)位)至操作墊po，以導(dǎo)通開關(guān)tr1-tr3的情況下，當(dāng)提供至測(cè)試墊pr的測(cè)試電壓(如高電壓準(zhǔn)位)不同于自測(cè)試墊pg上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)、當(dāng)提供至測(cè)試墊pb的測(cè)試電壓(如高電壓準(zhǔn)位)不同于自測(cè)試墊pm上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)、或/及當(dāng)提供至測(cè)試墊pd的測(cè)試電壓(如高電壓準(zhǔn)位)不同于自測(cè)試墊pe上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)，測(cè)試裝置200判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間線路異常。相對(duì)地，當(dāng)提供至測(cè)試墊pr的測(cè)試電壓相同于自測(cè)試墊pg上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)、當(dāng)提供至測(cè)試墊pb的測(cè)試電壓相同于自測(cè)試墊pm上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)、且當(dāng)提供至測(cè)試墊pd的測(cè)試電壓相同于自測(cè)試墊pe上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)，測(cè)試裝置200判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間線路正常。

在本實(shí)施例中，電壓提供電路210可包括電壓提供子電路go、電壓提供子電路gr、電壓提供子電路gb、電壓提供子電路gd。在本實(shí)施例中，反饋比較電路220包括比較器222、比較器224及比較器226。

在本實(shí)施例中，電壓提供子電路go用以產(chǎn)生并提供操作電壓至操作墊po。在本實(shí)施例中，電壓提供子電路gr用以產(chǎn)生并提供測(cè)試電壓至測(cè)試墊pr及比較器222。在本實(shí)施例中，電壓提供子電路gb用以產(chǎn)生并提供測(cè)試電壓至測(cè)試墊pb及比較器224。在本實(shí)施例中，電壓提供子電路gd用以產(chǎn)生并提供測(cè)試電壓至測(cè)試墊pd及比較器226。在一實(shí)施例中，電壓提供子電路go、gr、gb、gd例如是分別通過排針接觸操作墊po、測(cè)試墊pr、pg、pb而分別與操作墊po、測(cè)試墊pr、pg、pb電性連接，然本案不以此為限。

在本實(shí)施例中，比較器222用以接收來自電壓提供子電路gr的測(cè)試電壓，檢測(cè)測(cè)試墊pg上的檢測(cè)測(cè)試電壓，并比較來自電壓提供子電路gr的測(cè)試電壓及在測(cè)試墊pg上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓。而后，比較器222根據(jù)比較結(jié)果，產(chǎn)生并提供比較信號(hào)cmp1至警報(bào)系統(tǒng)230。

在本實(shí)施例中，比較器224用以接收來自電壓提供子電路gb的測(cè)試電壓，檢測(cè)測(cè)試墊pm上的檢測(cè)測(cè)試電壓，并比較來自電壓提供子電路gb的測(cè)試電壓及在測(cè)試墊pm上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓。而后，比較器224根據(jù)比較結(jié)果，產(chǎn)生并提供比較信號(hào)cmp2至警報(bào)系統(tǒng)230。

在本實(shí)施例中，比較器226用以接收來自電壓提供子電路gd的測(cè)試電壓，檢測(cè)測(cè)試墊pe上的檢測(cè)測(cè)試電壓，并比較來自電壓提供子電路gd的測(cè)試電壓及在測(cè)試墊pe上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓。而后，比較器226根據(jù)比較結(jié)果，產(chǎn)生并提供比較信號(hào)cmp3至警報(bào)系統(tǒng)230。

在一實(shí)施例中，比較器222、224、226例如是分別通過排針接觸測(cè)試墊pg、pm、pe而分別與測(cè)試墊pg、pm、pe電性連接，但不以此為限。

在一實(shí)施例中，警報(bào)系統(tǒng)230根據(jù)比較信號(hào)cmp1、cmp2、cmp3提供警報(bào)(如亮紅燈)。在一實(shí)施例中，警報(bào)系統(tǒng)230可在來自電壓提供子電路gr的測(cè)試電壓及在測(cè)試墊pg上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下、來自電壓提供子電路gb的測(cè)試電壓及在測(cè)試墊pm上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下、或/及來自電壓提供子電路gd的測(cè)試電壓及在測(cè)試墊pe上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下提供警報(bào)。

藉此，即可快速判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間是否線路異常。

在本案一實(shí)施例中，在進(jìn)行顯示面板100的功能測(cè)試(如點(diǎn)亮測(cè)試)前，測(cè)試裝置200可先提供操作電壓(如提供高電壓位準(zhǔn))至操作墊po，以進(jìn)行線路是否異常的測(cè)試。

若警報(bào)系統(tǒng)230未提供警報(bào)，則代表測(cè)試裝置200與顯示面板100間線路正常，則測(cè)試裝置200停止提供操作電壓(如改為提供低電壓位準(zhǔn))至操作墊po，以關(guān)閉開關(guān)tr1-tr3，并接著進(jìn)行顯示面板100的功能測(cè)試(如點(diǎn)亮測(cè)試)。

若警報(bào)系統(tǒng)230提供警報(bào)，則代表測(cè)試裝置200與顯示面板100間可能線路異常，則管理者可進(jìn)行進(jìn)一步偵錯(cuò)。

圖3為根據(jù)本案一實(shí)施例所繪示的測(cè)試系統(tǒng)10的示意圖。本實(shí)施例中的測(cè)試系統(tǒng)10中的部份元件與圖2中的測(cè)試系統(tǒng)10中的元件相似，故重復(fù)的部份在此不贅述。

在本實(shí)施例中，測(cè)試電路120包括測(cè)試墊pr、測(cè)試墊pg、測(cè)試墊pb、測(cè)試墊pm、測(cè)試墊pd、測(cè)試墊pe、操作墊t1、操作墊t2、開關(guān)tr0、開關(guān)tr1、開關(guān)tr2及開關(guān)tr3。其中，測(cè)試墊pr、測(cè)試墊pg、測(cè)試墊pb、測(cè)試墊pm、測(cè)試墊pd、測(cè)試墊pe、開關(guān)tr1、開關(guān)tr2及開關(guān)tr3的相關(guān)細(xì)節(jié)大致可參照前述段落，故在此不贅述。

在本實(shí)施例中，操作墊t1電性連接開關(guān)tr0的第一端及控制端。操作墊t2電性連接開關(guān)tr0的第二端及開關(guān)tr1-tr3的控制端。在本實(shí)施例中，操作墊t1通過開關(guān)tr0與操作墊t2，電性連接開關(guān)tr1-tr3的控制端。

在一些樣態(tài)中，圖1中的測(cè)試墊p1可為圖3中的測(cè)試墊pr、圖1中的測(cè)試墊p2可為圖3中的測(cè)試墊pg、圖1中的開關(guān)tr可為圖3中的開關(guān)tr1、且圖1中的操作墊po的功能可類似于圖3中的操作墊t1。

在另一些樣態(tài)中，圖1中的測(cè)試墊p1可為圖3中的測(cè)試墊pb、圖1中的測(cè)試墊p2可為圖3中的測(cè)試墊pm、圖1中的開關(guān)tr可為圖3中的開關(guān)tr2、且圖1中的操作墊po的功能可類似于圖3中的操作墊t1。

在一些樣態(tài)中，圖1中的測(cè)試墊p1可為圖3中的測(cè)試墊pd、圖1中的測(cè)試墊p2可為圖3中的測(cè)試墊pe、圖1中的開關(guān)tr可為圖3中的開關(guān)tr3、且圖1中的操作墊po的功能可類似于圖3中的操作墊t1。

亦即，利用上述設(shè)置，測(cè)試裝置200即可藉由檢測(cè)測(cè)試墊pg、pm、pe上的電壓(即檢測(cè)測(cè)試電壓)，并分別將檢測(cè)測(cè)試電壓與提供至測(cè)試墊pr、pb、pd的測(cè)試電壓進(jìn)行比較，以快速判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100的測(cè)試墊pr、pg、pb、pm、pd、pe間是否線路異常。

在測(cè)試裝置200提供操作電壓(如高電壓準(zhǔn)位)至操作墊t1，以導(dǎo)通開關(guān)tr0，并進(jìn)一步導(dǎo)通開關(guān)tr1-tr3的情況下，當(dāng)提供至測(cè)試墊pr的測(cè)試電壓(如高電壓準(zhǔn)位)不同于自測(cè)試墊pg上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)、當(dāng)提供至測(cè)試墊pb的測(cè)試電壓(如高電壓準(zhǔn)位)不同于自測(cè)試墊pm上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)、或/及當(dāng)提供至測(cè)試墊pd的測(cè)試電壓(如高電壓準(zhǔn)位)不同于自測(cè)試墊pe上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)，測(cè)試裝置200判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100的測(cè)試墊pr、pg、pb、pm、pd、pe間線路異常。相對(duì)地，當(dāng)提供至測(cè)試墊pr的測(cè)試電壓相同于自測(cè)試墊pg上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)、當(dāng)提供至測(cè)試墊pb的測(cè)試電壓相同于自測(cè)試墊pm上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)、且當(dāng)提供至測(cè)試墊pd的測(cè)試電壓相同于自測(cè)試墊pe上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)，測(cè)試裝置200判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100的測(cè)試墊pr、pg、pb、pm、pd、pe間線路正常。

另一方面，利用上述設(shè)置，測(cè)試裝置200亦可藉由檢測(cè)操作墊t2上的電壓(下稱檢測(cè)操作電壓)，并分別將檢測(cè)操作電壓與提供至操作墊t1上的操作電壓進(jìn)行比較，以快速判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100的操作墊t1、操作墊t2間是否線路異常。

例如，在測(cè)試裝置200提供操作電壓(如高電壓準(zhǔn)位)至操作墊t1，以導(dǎo)通開關(guān)tr0的情況下，當(dāng)在操作墊t2上檢測(cè)到的檢測(cè)操作電壓與提供至操作墊t1上的操作電壓不同時(shí)，測(cè)試裝置200判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100的操作墊t1、操作墊t2間線路異常。當(dāng)在操作墊t2上檢測(cè)到的檢測(cè)操作電壓與提供至操作墊t1上的操作電壓相同時(shí)，測(cè)試裝置200判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100的操作墊t1、操作墊t2間線路正常。

在本實(shí)施例中，電壓提供電路210可包括電壓提供子電路gt、電壓提供子電路gr、電壓提供子電路gb、電壓提供子電路gd。在本實(shí)施例中，反饋比較電路220包括比較器222、比較器224、比較器226及比較器228。其中，電壓提供子電路gr、電壓提供子電路gb、電壓提供子電路gd、比較器222、比較器224及比較器226的相關(guān)細(xì)節(jié)大致可參照前述段落，故在此不贅述。

在本實(shí)施例中，電壓提供子電路gt用以產(chǎn)生并提供操作電壓至操作墊t1及比較器228。在本實(shí)施例中，比較器228用以接收來自電壓提供子電路gt的操作電壓，檢測(cè)操作墊t2上的檢測(cè)操作電壓，并比較來自電壓提供子電路gt的操作電壓及在操作墊t2上檢測(cè)到的檢測(cè)操作電壓。而后，比較器228根據(jù)比較結(jié)果，產(chǎn)生并提供比較信號(hào)cmp4至警報(bào)系統(tǒng)230。在一實(shí)施例中，電壓提供子電路gt及比較器228例如是分別通過排針接觸操作墊t1、t2而分別與操作墊t1、t2電性連接，然本案不以此為限。

在本實(shí)施例中，警報(bào)系統(tǒng)230根據(jù)比較信號(hào)cmp1、cmp2、cmp3提供第一警報(bào)(如亮紅燈)。在一實(shí)施例中，警報(bào)系統(tǒng)230可在來自電壓提供子電路gr的測(cè)試電壓及在測(cè)試墊pg上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下、來自電壓提供子電路gb的測(cè)試電壓及在測(cè)試墊pm上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下、或/及來自電壓提供子電路gd的測(cè)試電壓及在測(cè)試墊pe上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下，提供第一警報(bào)。

此外，在本實(shí)施例中，警報(bào)系統(tǒng)230根據(jù)比較信號(hào)cmp4提供第二警報(bào)(如亮黃燈)。在一實(shí)施例中，警報(bào)系統(tǒng)230可在來自電壓提供子電路gt的操作電壓及在操作墊t2上檢測(cè)到的檢測(cè)操作電壓不同的情況下提供第二警報(bào)，第二警報(bào)不同于第一警報(bào)。

藉由第一警報(bào)及第二警報(bào)，即可快速判斷測(cè)試裝置200與操作墊t1、t2間線路是否異常、及測(cè)試裝置200與測(cè)試墊pr、pg、pb、pm、pd、pe間線路是否異常。

下表為一實(shí)施例中第一警報(bào)及第二警報(bào)與測(cè)試裝置200與操作墊t1、t2間線路(下稱測(cè)試線路)是否異常、及測(cè)試裝置200與測(cè)試墊pr、pg、pb、pm、pd、pe間線路(下稱數(shù)據(jù)線路)是否異常的關(guān)系。

如上所示，在警報(bào)系統(tǒng)230沒有提供第一警報(bào)及第二警報(bào)的情況下，代表數(shù)據(jù)線路與測(cè)試線路皆正常。在警報(bào)系統(tǒng)230沒有提供第一警報(bào)，而提供第二警報(bào)的情況下，代表數(shù)據(jù)線路正常且測(cè)試線路異常。在警報(bào)系統(tǒng)230提供第一警報(bào)，而沒有提供第二警報(bào)的情況下，代表數(shù)據(jù)線路異常，且測(cè)試線路正常。在警報(bào)系統(tǒng)230提供第一警報(bào)及第二警報(bào)的情況下，代表測(cè)試線路異常。在此情況下，可能因操作墊t2未接收到來自操作墊t1的操作電壓，而使開關(guān)tr1-tr3無法導(dǎo)通，導(dǎo)致警報(bào)系統(tǒng)230提供第一警報(bào)，故數(shù)據(jù)線路的正常與否仍待確認(rèn)。

在本案一實(shí)施例中，在進(jìn)行顯示面板100的功能測(cè)試(如點(diǎn)亮測(cè)試)前，測(cè)試裝置200可先提供操作電壓(如提供高電壓位準(zhǔn))至操作墊t1，以進(jìn)行是否線路異常的測(cè)試。

若警報(bào)系統(tǒng)230未提供第一警報(bào)也未提供第二警報(bào)，則代表測(cè)試裝置200與顯示面板100間線路正常，則測(cè)試裝置200停止提供操作電壓(如改為提供低電壓位準(zhǔn))至操作墊t1，以關(guān)閉開關(guān)tr0-tr3，并進(jìn)行顯示面板100的功能測(cè)試(如點(diǎn)亮測(cè)試)。

若警報(bào)系統(tǒng)230提供第一警報(bào)或第二警報(bào)，則代表測(cè)試裝置200與顯示面板100間可能線路異常，則管理者可進(jìn)行進(jìn)一步偵錯(cuò)。

圖4為根據(jù)本案一實(shí)施例所繪示的測(cè)試系統(tǒng)10的示意圖。本實(shí)施例中的測(cè)試系統(tǒng)10中的部份元件與圖2中的測(cè)試系統(tǒng)10中的元件相似，故重復(fù)的部份在此不贅述。

在本實(shí)施例中，測(cè)試電路120包括測(cè)試墊pr、測(cè)試墊pg、測(cè)試墊pb、測(cè)試墊pm、操作墊po1、操作墊po2、開關(guān)tr1、開關(guān)tr2、開關(guān)ot1及開關(guān)ot2。其中，測(cè)試墊pr、測(cè)試墊pg、測(cè)試墊pb、測(cè)試墊pm、開關(guān)tr1及開關(guān)tr2的相關(guān)細(xì)節(jié)大致可參照前述段落，故在此不贅述。

在本實(shí)施例中，開關(guān)ot1的第一端電性連接開關(guān)tr1的控制端、開關(guān)tr2的控制端及開關(guān)ot2的第二端。開關(guān)ot1的第二端電性連接操作墊po2及開關(guān)ot2的控制端。開關(guān)ot1的控制端電性連接操作墊po1及開關(guān)ot2的第一端。開關(guān)ot2的第一端電性連接操作墊po1及開關(guān)ot1的控制端。開關(guān)ot2的第二端電性連接開關(guān)ot1的第一端、開關(guān)tr1的控制端及開關(guān)tr2的控制端。開關(guān)ot2的控制端電性連接操作墊po2及開關(guān)ot1的第二端。在本實(shí)施例中，操作墊po1電性連接奇數(shù)列柵極線gl(如第一、第三列柵極線gl)。在本實(shí)施例中，操作墊po2電性連接偶數(shù)列柵極線gl(如第二列柵極線gl)。

在本實(shí)施例中，操作墊po1可通過開關(guān)ot2電性連接開關(guān)tr1的控制端及開關(guān)tr2的控制端。在本實(shí)施例中，操作墊po2可通過開關(guān)ot1電性連接開關(guān)tr1的控制端及開關(guān)tr2的控制端。

在一些樣態(tài)中，圖1中的測(cè)試墊p1可為圖4中的測(cè)試墊pr、圖1中的測(cè)試墊p2可為圖4中的測(cè)試墊pg、圖1中的開關(guān)tr可為圖4中的開關(guān)tr1、且圖1中的操作墊po的功能可類似于圖4中的操作墊po1。

在另一些樣態(tài)中，圖1中的測(cè)試墊p1可為圖4中的測(cè)試墊pb、圖1中的測(cè)試墊p2可為圖4中的測(cè)試墊pm、圖1中的開關(guān)tr可為圖4中的開關(guān)tr2、且圖1中的操作墊po的功能可類似于圖4中的操作墊po1。

利用上述設(shè)置，測(cè)試裝置200即可藉由檢測(cè)測(cè)試墊pg、pm上的電壓(即檢測(cè)測(cè)試電壓)，并分別將檢測(cè)測(cè)試電壓與提供至測(cè)試墊pr、pb的測(cè)試電壓進(jìn)行比較，以快速判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間是否線路異常。

在測(cè)試裝置200提供操作電壓(如高電壓準(zhǔn)位)至操作墊po1及操作墊po2，以導(dǎo)通開關(guān)ot1及ot2，并進(jìn)一步導(dǎo)通開關(guān)tr1、tr2的情況下，當(dāng)提供至測(cè)試墊pr的測(cè)試電壓(如高電壓準(zhǔn)位)不同于自測(cè)試墊pg上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)、或/及當(dāng)提供至測(cè)試墊pb的測(cè)試電壓(如高電壓準(zhǔn)位)不同于自測(cè)試墊pm上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)，測(cè)試裝置200判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間線路異常。當(dāng)提供至測(cè)試墊pr的測(cè)試電壓相同于自測(cè)試墊pg上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)、且當(dāng)提供至測(cè)試墊pb的測(cè)試電壓相同于自測(cè)試墊pm上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓時(shí)，測(cè)試裝置200判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間線路正常。

另一方面，在測(cè)試裝置200提供操作電壓(如高電壓準(zhǔn)位)至操作墊po1及操作墊po2中的至少一者失敗(如因接觸不良或操作電壓異常等等而失敗)時(shí)，開關(guān)ot1及ot2中的至少一者關(guān)閉，導(dǎo)致開關(guān)tr1-tr2關(guān)閉。如此一來，提供至測(cè)試墊pr的測(cè)試電壓(如高電壓準(zhǔn)位)將不同于自測(cè)試墊pg上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓(如低電壓準(zhǔn)位)、且/或提供至測(cè)試墊pb的測(cè)試電壓(如高電壓準(zhǔn)位)不同于自測(cè)試墊pm上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓(如低電壓準(zhǔn)位)，故測(cè)試裝置200可判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間線路異常。

在本實(shí)施例中，電壓提供電路210可包括電壓提供子電路gr、電壓提供子電路gb、電壓提供子電路go1、電壓提供子電路go2。在本實(shí)施例中，反饋比較電路220包括比較器222及比較器224。其中，電壓提供子電路gr、電壓提供子電路gb、比較器222及比較器224的相關(guān)細(xì)節(jié)大致可參照前述段落，故在此不贅述。

在本實(shí)施例中，電壓提供子電路go1用以產(chǎn)生并提供操作電壓至操作墊po1。在本實(shí)施例中，電壓提供子電路go2用以產(chǎn)生并提供操作電壓至操作墊po2。在一實(shí)施例中，電壓提供子電路go1及電壓提供子電路go2例如是分別通過排針接觸操作墊po1及操作墊po2而分別與其電性連接，然本案不以此為限。

在本實(shí)施例中，警報(bào)系統(tǒng)230根據(jù)比較信號(hào)cmp1、cmp2提供警報(bào)(如亮紅燈)。在一實(shí)施例中，警報(bào)系統(tǒng)230可在來自電壓提供子電路gr的測(cè)試電壓及在測(cè)試墊pg上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下、或/及來自電壓提供子電路gb的測(cè)試電壓及在測(cè)試墊pm上檢測(cè)到的檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下，提供警報(bào)。

藉此，即可快速判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間是否線路異常。

請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D4及圖5，在本實(shí)施例中，在進(jìn)行顯示面板100的功能測(cè)試(如點(diǎn)亮測(cè)試)前(如期間prd1)，電壓提供子電路go1與電壓提供子電路go2可同時(shí)提供操作電壓(如具高電壓位準(zhǔn)vgh)至操作墊po1及操作墊po2，以進(jìn)行線路是否異常的測(cè)試。

若警報(bào)系統(tǒng)230提供警報(bào)，則代表測(cè)試裝置200與顯示面板100間可能線路異常，則管理者可進(jìn)行進(jìn)一步偵錯(cuò)。

若警報(bào)系統(tǒng)230未提供警報(bào)，則代表測(cè)試裝置200與顯示面板100間線路正常，故測(cè)試裝置200可進(jìn)行顯示面板100的功能測(cè)試(如點(diǎn)亮測(cè)試)。在功能測(cè)試(如點(diǎn)亮測(cè)試)過程中(如期間prd2)，電壓提供子電路go1與電壓提供子電路go2可分別提供彼此反相的功能測(cè)試電壓至操作墊po1及操作墊po2。例如，當(dāng)電壓提供子電路go1提供高電壓位準(zhǔn)vgh的功能測(cè)試電壓至操作墊po1時(shí)，電壓提供子電路go2提供低電壓位準(zhǔn)vgl的功能測(cè)試電壓至操作墊po2，反之可類推。此時(shí)，由于開關(guān)ot1、ot2中的一者接收具低電壓位準(zhǔn)vgl的功能測(cè)試電壓而關(guān)閉，故具高電壓位準(zhǔn)vgh的功能測(cè)試電壓無法提供至開關(guān)tr1、tr2的控制端，而使開關(guān)tr1、tr2關(guān)閉。

藉由上述的設(shè)置，即可在不額外設(shè)置接觸墊(如圖1、2中操作墊po及圖3中操作墊t1、t2)的情況下進(jìn)行測(cè)試裝置200與顯示面板100間的線路異常測(cè)試。

圖6為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的測(cè)試方法300的流程圖。

應(yīng)注意到，測(cè)試方法300可應(yīng)用于相同或相似于前述實(shí)施例中所示結(jié)構(gòu)的測(cè)試裝置。而為使敘述簡單，以下將根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，以圖1中的測(cè)試裝置200為例進(jìn)行對(duì)測(cè)試方法300敘述，然本發(fā)明不以此應(yīng)用為限。

另外，應(yīng)了解到，在本實(shí)施方式中所提及的測(cè)試方法300的操作，除特別敘明其順序者外，均可依實(shí)際需要調(diào)整其前后順序，甚至可同時(shí)或部分同時(shí)執(zhí)行。

再者，在不同實(shí)施例中，此些操作亦可適應(yīng)性地增加、置換、及/或省略。

在本實(shí)施例中，測(cè)試方法300包括以下操作。

在操作s1中，測(cè)試裝置200提供測(cè)試電壓至顯示面板100的測(cè)試墊p1。在一實(shí)施例中，測(cè)試墊p1通過開關(guān)tr電性連接測(cè)試墊p2。

在操作s2中，測(cè)試裝置200檢測(cè)測(cè)試墊p2上的檢測(cè)測(cè)試電壓。

在操作s3中，測(cè)試裝置200比較測(cè)試電壓與檢測(cè)測(cè)試電壓。

在操作s4中，在測(cè)試電壓及檢測(cè)測(cè)試電壓不同的情況下，測(cè)試裝置200提供警報(bào)。

應(yīng)注意到，上述操作的具體細(xì)節(jié)皆可參照前述段落，故在此不贅述。

藉由上述的操作，即可快速判斷測(cè)試裝置200與顯示面板100間是否線路異常。

當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。