技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
支持單位和多位故障注入的SRAM型FPGA評估方法，本發(fā)明涉及故障注入的SRAM型FPGA評估方法。本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)無法同時采用單位故障和多位故障累積對SRAM型FPGA故障注入平臺進行評估，無法準(zhǔn)確得出SEU的累積對SRAM型FPGA敏感性的影響的問題。過程為：一、注入一位故障；二、檢驗待測電路輸出狀態(tài)；三、進入修復(fù)故障流程；四、得到單位故障模式軟錯誤率；五、注入一位故障；六、檢驗待測電路輸出狀態(tài)，若沒有錯誤發(fā)生回到五，若有錯誤發(fā)生進入七；七、進入修復(fù)故障流程；八、得到多位故障累積模式軟錯誤率；九、得出SEU的累積對SRAM型FPGA敏感性的影響。本發(fā)明用于集成電路設(shè)計領(lǐng)域。

技術(shù)研發(fā)人員：肖立伊;張榮生;李杰;曹雪兵
受保護的技術(shù)使用者：哈爾濱工業(yè)大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：2017.05.10
技術(shù)公布日：2017.09.08