1.一種開關(guān)型霍爾傳感器噪聲的測試方法，其特征在于，該測試方法是通過觀察傳感器的上電過程，間接測出傳感器的噪聲性能：將開關(guān)型霍爾傳感器放置于磁場發(fā)生器中；用信號發(fā)生器輸出的方波信號對傳感器供電，方波信號的幅度為0到VDD，VDD是傳感器芯片的工作電壓，周期為2*(Tpu+N*Ts),Tpu為傳感器芯片的上電時間，Ts為傳感器芯片的采樣周期，N取5到10之間的整數(shù)，占空比為50％；用示波器檢測傳感器的輸出，示波器設置為上升沿觸發(fā)，觸發(fā)源為信號發(fā)生器產(chǎn)生的方波，余暉時間設置為無窮大；
如果傳感器芯片的上電初態(tài)為“1”，則從Bin＝0開始逐步增大磁場強度，每設置一次磁場強度Bin，都需要手動清除一次示波器余暉；
當0<＝Bin<BOPB，傳感器的第一輸出波形VOUT_1近似等于信號發(fā)生器的輸出波形，在信號發(fā)生器輸出高電平時，傳感器的輸出也一直為高電平，不會出現(xiàn)翻轉(zhuǎn)情況；
當Bin>BOPB,在信號發(fā)生器輸出高電平時，傳感器的輸出波形VOUT_2會以較低的概率出現(xiàn)翻轉(zhuǎn)的情況；
當BOPB<Bin<BOPT，隨著Bin的不斷增加，在信號發(fā)生器輸出高電平時，傳感器輸出翻轉(zhuǎn)的概率也越來越高，同時翻轉(zhuǎn)的時間點也越來越向前移；
當Bin>BOPT，在信號發(fā)生器輸出高電平時，傳感器將會在上電后的第一個采樣點發(fā)生翻轉(zhuǎn)；
根據(jù)前面的觀測結(jié)果，VOUT_1與VOUT_2的臨界值對應的磁場強度就是BOPB，VOUT_4與VOUT_5的臨界值對應的磁場強度就是BOPT；同理，如果傳感器芯片的上電初態(tài)為“0”，則從Bin＝0開始逐步減小磁場強度，便確定BRP的下限BRPB和上限BRPT；
其中，VOUT_1為0<＝Bin<BOPB時傳感器的輸出波形；VOUT_2為Bin稍微大于BOPB時傳感器的輸出波形；VOUT_3表示Bin不斷增加導致的傳感器輸出波形翻轉(zhuǎn)的概率變大，VOUT_4表示Bin進一步增加導致的傳感器輸出波形翻轉(zhuǎn)的時間點向前移；VOUT_5為Bin>BOPT時傳感器的輸出波形。
2.一種開關(guān)型霍爾傳感器噪聲的測試方法，其特征在于，通過觀察傳感器的上電過程，間接測出傳感器的噪聲性能；
將開關(guān)型霍爾傳感器放置于磁場發(fā)生器中；用信號發(fā)生器輸出的方波信號對傳感器供電，方波信號的幅度為0到VDD，VDD是傳感器芯片的工作電壓，周期為2*(Tpu+N*Ts),Tpu為傳感器芯片的上電時間，Ts為傳感器芯片的采樣周期，N取5到10之間的整數(shù)，占空比為50％；
用示波器檢測傳感器的輸出，示波器設置為上升沿觸發(fā)，觸發(fā)源為信號發(fā)生器產(chǎn)生的方波，余暉時間設置為無窮大。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的開關(guān)型霍爾傳感器噪聲的測試方法，其特征在于：
如果傳感器芯片的上電初態(tài)為“1”，則從Bin＝0開始逐步增大磁場強度；如果傳感器芯片的上電初態(tài)為“0”，則從Bin＝0開始逐步減小磁場強度；每設置一次磁場強度Bin，都需要手動清除一次示波器余暉。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的開關(guān)型霍爾傳感器噪聲的測試方法，其特征在于：
當0<＝Bin<BOPB，傳感器的第一輸出波形VOUT_1近似等于信號發(fā)生器的輸出波形，在信號發(fā)生器輸出高電平時，傳感器的輸出也一直為高電平，不會出現(xiàn)翻轉(zhuǎn)情況；
當Bin>BOPB,在信號發(fā)生器輸出高電平時，傳感器的輸出波形VOUT_2會以較低的概率出現(xiàn)翻轉(zhuǎn)的情況；
當BOPB<Bin<BOPT，隨著Bin的不斷增加，在信號發(fā)生器輸出高電平時，傳感器輸出翻轉(zhuǎn)的概率也越來越高，同時翻轉(zhuǎn)的時間點也越來越向前移；
當Bin>BOPT，在信號發(fā)生器輸出高電平時，傳感器將會在上電后的第一個采樣點發(fā)生翻轉(zhuǎn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的開關(guān)型霍爾傳感器噪聲的測試方法，其特征在于：
根據(jù)上述觀測結(jié)果，VOUT_1與VOUT_2的臨界值對應的磁場強度就是BOPB，VOUT_4與VOUT_5的臨界值對應的磁場強度就是BOPT；同理，如果傳感器芯片的上電初態(tài)為“0”，則從Bin＝0開始逐步減小磁場強度，便確定BRP的下限BRPB和上限BRPT；
其中，VOUT_1為0<＝Bin<BOPB時傳感器的輸出波形；VOUT_2為Bin稍微大于BOPB時傳感器的輸出波形；VOUT_3表示Bin不斷增加導致的傳感器輸出波形翻轉(zhuǎn)的概率變大，VOUT_4表示Bin進一步增加導致的傳感器輸出波形翻轉(zhuǎn)的時間點向前移；VOUT_5為Bin>BOPT時傳感器的輸出波形。