技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種毫米波輻射計測試的等效裝置，該裝置包括微波暗室、毫米波輻射計探測器、介質(zhì)衰減模塊、目標(biāo)干擾機、三維測試平臺、探測器輸出信號采集模塊、斬波輪、斬波輪控制與轉(zhuǎn)速監(jiān)控模塊和測試平臺伺服控制模塊；目標(biāo)干擾機的發(fā)射天線、斬波輪、介質(zhì)衰減模塊和毫米波輻射計探測器的接收天線在同一直線上；所述目標(biāo)干擾機設(shè)置在三維測試平臺上；所述測試平臺伺服控制模塊用于通過三維測試平臺控制目標(biāo)干擾機的高度、俯仰角和方位角；所述斬波輪控制與轉(zhuǎn)速監(jiān)控模塊用于控制斬波輪轉(zhuǎn)速；所述探測器輸出信號采集模塊用于采集探測器探測到的毫米波信號。本發(fā)明能夠?qū)撩撞ㄝ椛溆嬤M行靜態(tài)與動態(tài)性能測試，降低產(chǎn)品的檢測成本，提高測試效率。

技術(shù)研發(fā)人員：彭樹生;宋俊志;李冬;吳禮
受保護的技術(shù)使用者：南京理工大學(xué)
文檔號碼：201610997053
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.10
技術(shù)公布日：2017.03.22