本發(fā)明涉及一種改進的測量系統(tǒng)，主要應用于電子設備的測量領域。

背景技術：

對于測量設備來說，測量的范圍和精度很難同時兼顧，測量大范圍信號的探測設備的構造與測量高精度的探測設備一般結構不同。

為了同時得到大的信號探測范圍和高的信號探測精度，目前一般是分兩次測量疊加得到的。這樣對于那種很難采集或者變化很快的信號來說，兩次不同時刻的測量結果的疊加與原始信號的差異是很大的，無法使用。

如何兼顧測量的范圍和精度，最大程度的得到原始信號的這兩方面信息是本發(fā)明要解決的問題。

技術實現要素：

本發(fā)明要解決的技術問題是提供一種測量系統(tǒng)，能夠兼顧測量的范圍和精度，最大程度的得到原始信號。

為解決上述技術問題，本發(fā)明的測量系統(tǒng)，包括：

一第一探測設備，用于探測信號的大范圍變化，并將測到的信號稱為S0；

一第二探測設備，用于探測信號的局部細節(jié)變化，并將測到的信號稱為S1；

一數字信號處理電路，對所述信號S0和S1進行整合，輸出給顯示設備。

利用本發(fā)明的測量系統(tǒng)，可以在顯示設備上同時觀察信號的整體和局部細節(jié)，解決了現有系統(tǒng)無法兼顧測量范圍和精度的問題。

附圖說明

下面結合附圖與具體實施方式對本發(fā)明作進一步詳細的說明：

圖1是所述測量系統(tǒng)原理框圖。

具體實施方式

結合圖1所示，所述測量系統(tǒng)由兩個探測設備和一個數字信號處理電路構成。其中一個探測設備，稱T0(即圖1中的第一探測設備)，負責探測信號的大范圍變化，稱測到的信號為S0。另一個探測設備，稱T1(即圖1中的第二探測設備)，負責探測信號局部的細節(jié)，稱測到的信號為S1。S0和S1由數字信號處理電路進行整合，輸出給顯示設備。其中，T0是專門針對探測信號的大范圍變化而設計的，T1是專門針對探測信號的高精度而設計的。

所述“大范圍變化”是指覆蓋信號的整個取值空間的范圍。所述“局部細節(jié)”是指在特定的一個小的取值空間內，更加細節(jié)的變化。比如：測量電壓，這個電壓信號可能在0～100V內變化，那么“大范圍變化”指的就是0～100V范圍內的變化。如果測量人員特別關心其中50V附近的信號細節(jié)，需要以1μV為精度觀測50V附近信號附近的信號，那么這個“局部細節(jié)”就可以指49.999V到50.001V，在這個區(qū)間內以1μV的精度顯示信號的測量值。

在測量前，首先輸入要測哪段范圍內信號的局部細節(jié)信息，稱局部信息的測量范圍為W；W一方面控制T1去探測相應段的信號，另一方面送給數字信號處理電路，用于實現信號整合。

數字信號處理電路實現信號整合的方法是：在S0上的W范圍內，用S1來代替這段范圍內的S0信號。

所述測量系統(tǒng)通過兩個分別針對大范圍和高精度而設計的探測設備進行探測，能夠得到大范圍的信號S0和高精度的局部信號S1。由于探測設備只能在小范圍內進行高精度的探測，所以在測量前先要設定局部信息的測量范圍W。最后用數字信號處理電路把S0和S1整合起來，輸出給顯示設備。

以上通過具體實施方式對本發(fā)明進行了詳細的說明，但這些并非構成對本發(fā)明的限制。在不脫離本發(fā)明原理的情況下，本領域的技術人員還可做出許多變形和改進，這些也應視為本發(fā)明的保護范圍。