本發(fā)明涉及信息檢測控制領域，特別是涉及一種信號相位差的檢測方法及系統(tǒng)。

背景技術：

相位是交變信號的三大要素之一，而相位差則是描述兩個頻率相同的交流信號之間關系的重要參數(shù)；相位差檢測系統(tǒng)是電氣測量中的一種常用電路，在工業(yè)自動化、智能控制、移動通訊、傳感器檢測等系統(tǒng)中得到廣泛的應用；頻率相同相位差檢測算法在各個領域都有著重要的應用，目前最常用的相位差檢測算法是數(shù)字計數(shù)器檢測法，數(shù)字計數(shù)器檢測的算法和結構比較簡單，在實際工程中經(jīng)常以高電平脈沖的檢測精度來表征相位差精度。

檢測時一般采用工作頻率大于待檢測頻率的高頻計數(shù)器對待檢測信號的高電平脈沖寬度在設定周期范圍內(nèi)進行計數(shù)，如果要求能夠檢測到的最小脈沖寬度為1ns，那么計數(shù)器就需要至少1GHz的工作頻率；因此這種檢測方法是通過提高檢測電路的工作頻率來達到所要求的檢測精度，如果待測信號頻率本身就很高或者相位檢測精度的要求進一步提升，現(xiàn)有的制造工藝就很難達到電路所需要的工作頻率。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的提供了一種信號相位差的檢測方法及系統(tǒng)，其目的是通過利用微小差頻時鐘采樣信號實現(xiàn)檢測同頻相位差。

本發(fā)明提供的技術方案如下：

一種信號相位差的檢測方法，包括：步驟S100獲取待檢測信號及頻率相同且具有基準相位的基準信號，并根據(jù)所述待檢測信號的信號頻率結合所需的檢測精度信息獲取總采樣次數(shù)；步驟S200將所述基準信號與所述待檢測信號組合成為與所述待檢測信號頻率相同的待檢相差信號；步驟S300根據(jù)信號頻率獲取所述待檢相差信號的脈寬個數(shù)信息；步驟S400根據(jù)所需的檢測精度信息和所述脈寬個數(shù)信息獲取所述待檢測信號的相位差信息。

在本發(fā)明中，相位差檢測方法基于待測信號頻率已知的前提條件下，通過在時域上擴展采樣次數(shù)，把對采樣時鐘頻率的要求轉換成了采樣時鐘精度的要求，從而達到了減小檢測電路工作頻率的目的。

優(yōu)選的，所述步驟S300還包括：步驟S310根據(jù)所述待檢測信號的所需精度信息獲取所述信號頻率，并根據(jù)所述信號頻率生成檢測方波信號；其中，所述檢測方波信號的信號頻率為高于所述待檢測信號頻率的檢測高頻率或低于所述待檢測信號頻率的檢測低頻率；步驟S320根據(jù)所述檢測方波信號與所述待檢相差信號進行比對；步驟S330根據(jù)所述步驟S320比對的結果對所述待檢相差信號的脈寬個數(shù)進行檢測；步驟340根據(jù)所述檢測方波信號的信號頻率獲取所述步驟S330檢測并累加的所述待檢相差信號的脈寬個數(shù)。

在本發(fā)明中，根據(jù)待檢測信號的檢測精度，求取總采樣次數(shù)，進一步根據(jù)總采樣次數(shù)獲得檢測頻率，通過本發(fā)明提供的算法獲取的檢測頻率遠遠低于現(xiàn)有技術的檢測頻率，同時提供兩種檢測頻率；一來降低了待測信號的檢測條件，二來通過兩種相對較低的檢測頻率可以相互提供驗證，對于待檢測信號檢測的精準性得到保證，解決了用高頻率檢測低頻信號的問題，使其計算量減小，檢測更加快捷。

優(yōu)選的，所述步驟S330包括：步驟S331當所述檢測高頻率處于高電平時，檢測到所述待檢相差信號從下降沿至上升沿時進行一次累加；執(zhí)行步驟S340。

優(yōu)選的，所述步驟S330還包括：步驟S332當所述檢測低頻率處于高電平時，檢測到所述待檢相差信號從上升沿至下降沿時進行一次累加；執(zhí)行步驟S340。

在本發(fā)明中，通過設置的不同檢測頻率在設定的檢測周期內(nèi)獲取待檢測信號的脈寬個數(shù)；通過將檢測信號變換成方波信號，通過上升沿或者下降的變化獲取脈寬個數(shù)，該種檢測方式更加直觀，方便。

優(yōu)選的，所述步驟S200還包括：步驟S210將所述基準信號與所述待檢測信號分別變換成同頻率的方波信號；步驟S220將所述基準信號與所述待檢測信號分別變換后的同頻率的方波信號進行二分頻變換；步驟S230進一步將二分頻后的所述基準信號與所述待檢測信號的方波信號進行邏輯運算得到與所述待檢測信號頻率相同的所述待檢相差信號。

在本發(fā)明中，將待檢測信號通過延遲變換后進一步的變換成相差信號，并將其轉換成方波待檢信號；首先為進行脈寬計數(shù)提供有利基礎工作；其次對脈寬計數(shù)更加準確；最后有助于本發(fā)明的算法的實現(xiàn)。

優(yōu)選的，所述總采樣次數(shù)的模型包括：σ＝1/f₀·10^a，σ--所述待檢信號精度，f₀--所述待檢測信號的信號頻率，10^a--所述總采樣次數(shù)。

優(yōu)選的，所述檢測方波信號的檢測高頻率的模型包括：f₁＝(1+1/10^a)f₀，f₁--所述檢測方波信號的檢測高頻率。

優(yōu)選的，所述檢測方波信號的檢測低頻率的模型包括：f₂＝(1-1/10^a)f₀，f₂--所述檢測方波信號的檢測低頻率。

優(yōu)選的，所述待檢測信號的相位差信息的模型包括：Δθ＝2π·N(1)/10^a，N(1)--所述待檢相差信號的脈寬個數(shù)信息，Δθ--所述待檢測信號的相位差。

一種同頻信號的相位差的檢測系統(tǒng)，包括：總采樣次數(shù)獲取模塊，獲取與待檢測信號及頻率相同且具有基準相位的基準信號，并根據(jù)所述待檢測信號的信號頻率結合所需的檢測精度信息獲取總采樣次數(shù)；待檢測信號獲取模塊，與所述檢測精度獲取模塊電連接，將所述基準信號與所述待檢測信號組合成為與所述待檢測信號頻率相同的待檢相差信號；待檢測脈寬統(tǒng)計模塊，與所述待檢測信息獲取模塊電連接，根據(jù)信號頻率獲取所述待檢相差信號的脈寬個數(shù)信息；相位差信息獲取模塊，與所述待檢測脈寬統(tǒng)計模塊電連接，根據(jù)所需的檢測精度信息和所述脈寬個數(shù)信息獲取所述待檢測信號的相位差信息。

在本發(fā)明中，相位差檢測方法基于待測信號頻率已知的前提，通過在時域上擴展采樣次數(shù)，把對采樣時鐘頻率的要求轉換成了采樣時鐘精度的要求，從而達到了減小檢測電路工作頻率的目的。

與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明提供一種信號相位差的檢測方法及系統(tǒng)，至少帶來以下一種技術效果:

在本發(fā)明中，通過檢測精度獲取總的采樣次數(shù)，進一步根據(jù)總的采樣次數(shù)，求取對待檢測信號的檢測頻率，根據(jù)檢測頻率獲取周期時間的待檢測信號的脈寬個數(shù)，最后完成對待檢測信號相位差的求??；本發(fā)明獲得的檢測頻維持在待檢測信號的頻率附近；因此在工程檢測過程中，不會增加檢測工藝；適應的更多的檢測過程，特別適用于高精度高頻率的待檢測信號，本發(fā)明解決了利用微小差頻時鐘采樣信號檢測同頻相位差的問題。

附圖說明

下面將以明確易懂的方式，結合附圖說明優(yōu)選實施方式，對一種信號相位差的檢測方法及系統(tǒng)特性、技術特征、優(yōu)點及其實現(xiàn)方式予以進一步說明。

圖1是本發(fā)明一種信號相位差的檢測方法一個實施例的流程圖；

圖2是本發(fā)明一種信號相位差的檢測方法另一個實施例的流程圖；

圖3是本發(fā)明一種信號相位差的檢測方法另一個實施例的流程圖；

圖4是本發(fā)明一種信號相位差的檢測系統(tǒng)一個實施例的結構圖；

圖5是本發(fā)明信號變換實施例的信號圖；

圖6是本發(fā)明高檢測頻率實施例統(tǒng)計圖；

圖7是本發(fā)明低檢測頻率實施例統(tǒng)計圖；

圖8是本發(fā)明一種信號相位差的檢測系統(tǒng)另一個實施例的結構圖。

具體實施方式

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對照附圖說明本發(fā)明的具體實施方式。顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖，并獲得其他的實施方式。

為使圖面簡潔，各圖中只示意性地表示出了與本發(fā)明相關的部分，它們并不代表其作為產(chǎn)品的實際結構。另外，以使圖面簡潔便于理解，在有些圖中具有相同結構或功能的部件，僅示意性地繪示了其中的一個，或僅標出了其中的一個。在本文中，“一個”不僅表示“僅此一個”，也可以表示“多于一個”的情形。

本發(fā)明提供一種信號相位差的檢測方法的一個實施例，包括：步驟S100獲取待檢測信號及頻率相同且具有基準相位的基準信號，并根據(jù)所述待檢測信號的信號頻率結合所需的檢測精度信息獲取總采樣次數(shù)；步驟S200將所述基準信號與所述待檢測信號組合成為與所述待檢測信號頻率相同的待檢相差信號。步驟S300根據(jù)信號頻率獲取所述待檢相差信號的脈寬個數(shù)信息；步驟S400根據(jù)所需的檢測精度信息和所述脈寬個數(shù)信息獲取所述待檢測信號的相位差信息。

具體的，在本實施例中，參考圖1和圖5所示；假設基準信號V1和待測信號V2的頻率為f₀，先將頻率相同的基準信號V1和待測信號V2經(jīng)過放大整變換成為待檢相差信號F，信號F的頻率為f₀，若系統(tǒng)對F脈寬的檢測精度要求為σ，根據(jù)檢測精度以及待檢信號的頻率f₀求取總采樣次數(shù)，總采樣次數(shù)計算的模型為：σ＝1/f₀·10^a，由此可以求得總的采樣次數(shù)10^a；待檢相差信號F的脈寬個數(shù)信息假設最終計數(shù)器的值為N(1)，所述待檢測信號的相位差信息的模型包括：Δθ＝2π·N(1)/10^a。

在本發(fā)明中，相位差檢測方法基于待測信號頻率已知的前提，通過在時域上擴展采樣次數(shù)，把對采樣時鐘頻率的要求轉換成了采樣時鐘精度的要求，從而達到了減小檢測電路工作頻率的目的。

優(yōu)選的，所述步驟S300還包括：步驟S310根據(jù)所述待檢測信號的所需精度信息獲取所述信號頻率，并根據(jù)所述信號頻率生成檢測方波信號；其中，所述檢測方波信號的信號頻率為高于所述待檢測信號頻率的檢測高頻率或低于所述待檢測信號頻率的檢測低頻率；步驟S320根據(jù)所述檢測方波信號與所述待檢相差信號進行比對；步驟S330根據(jù)所述步驟S320比對的結果對所述待檢相差信號的脈寬個數(shù)進行檢測；步驟340根據(jù)所述檢測方波信號的信號頻率獲取所述步驟S330檢測并累加的所述待檢相差信號的脈寬個數(shù)。

具體的，本實施例是以上一實施例為基礎提供的又一實施例；參考圖2和圖5所示；檢測高頻率為圖5中的f₁，檢測低頻率為圖5中的f₂；分別將以f₁和f₂為檢測頻率生成的方波波形信號與待檢相差信號f₀＝f進行比對，根據(jù)時間延遲的快慢進行比對，檢測待檢相差信號F在設置不同的條件下生成的脈寬，即一個周期內(nèi)的高電平個數(shù)進行累加統(tǒng)計，統(tǒng)計果結為N(1)；所述檢測方波信號的檢測高頻率的計算方法為：f₁＝(1+1/10^a)f₀，所述檢測方波信號的檢測低頻率的計算方法為：f₂＝(1-1/10^a)f₀；總采樣次數(shù)為10^a次。

在本發(fā)明中，根據(jù)待檢測信號的檢測精度，求取總采樣次數(shù)，進一步根據(jù)總采樣次數(shù)獲得檢測頻率，通過本發(fā)明提供的算法獲取的檢測頻率遠遠低于現(xiàn)有技術的檢測頻率，同時提供兩種檢測頻率；一來降低了待測信號的檢測條件，二來通過兩種相對較低的檢測頻率可以相互提供驗證，對于待檢測信號檢測的精準性得到保證，解決了用高頻率檢測低頻信號的問題，使其計算量減小，檢測更加快捷。

優(yōu)選的，所述步驟S330包括：步驟S331當所述檢測高頻率處于高電平時，檢測到所述待檢相差信號從下降沿至上升沿時進行一次累加；執(zhí)行步驟S340；優(yōu)選的，所述步驟S330還包括：步驟S332當所述檢測低頻率處于高電平時，檢測到所述待檢相差信號從上升沿至下降沿時進行一次累加；執(zhí)行步驟S340；

具體的，本實施例是以上一實施例為基礎提供的又一實施例；參考圖3所示；結合圖6是信號采樣的示意圖如所示，f₁為檢測高頻率條件下產(chǎn)生的差頻信號。由于f₁和f₀之間存在微小的頻差，f₁稍快于f₀，因此會在采樣過程中從F信號的下降沿采樣至其上升沿，在此期間計數(shù)器會在每一個f₁的上升沿加一。而當f₁的上升沿位于F的低電平期間，計數(shù)器保持不變。圖7另一種方法是通過產(chǎn)生一個比基準頻率f₀略小的時鐘信號，例如f₂為檢測低頻率條件下產(chǎn)生的差頻信號，對F信號相位差檢測，最終的相位差計算公式與上式相同，與用f₁采樣的區(qū)別在于，f₁是從F的下降沿采樣到上升沿，而f₂因為比F稍慢，所以是從信號F的上升沿采樣到下降沿，總采樣次數(shù)為10^a次。

在本發(fā)明中，通過設置的不同檢測頻率在設定的檢測周期內(nèi)獲取待檢測信號的脈寬個數(shù)；通過將檢測信號變換成方波信號，通過上升沿或者下降的變化獲取脈寬個數(shù)，該種檢測方式更加直觀，方便。

優(yōu)選的，所述步驟S200還包括：步驟S210將所述基準信號與所述待檢測信號分別變換成同頻率的方波信號；步驟S220將所述基準信號與所述待檢測信號分別變換后的同頻率的方波信號進行二分頻變換；步驟S230進一步將二分頻后的所述基準信號與所述待檢測信號的方波信號進行邏輯運算得到與所述待檢測信號頻率相同的所述待檢相差信號。

具體的，本實施例是以上一實施例為基礎提供的又一實施例；參考圖3所示；結合圖5所示；A--幅值，sinωt--基準信號，基準信號變換成方波信號的模型包括：B(t)＝A·sgn[sinωt]，其建立的波形為B；待檢測信號變換成方波信號的模型包括：C(t)＝A·sgn[sin(ωt-θ)]，0≤θ＜2π，θ--相位差，sin(ωt-θ)--所述待檢測信號,其建立的波形為C；經(jīng)過二分頻變換后波形B變?yōu)镈，波形C變?yōu)镋，D和E波形進行異或運算，變換成與f₀同頻率的F即為待檢相差信號，采用f₁和f₂進行相位差檢測的區(qū)別如圖6和圖7所示：由于f₁稍快于F信號的f₀，因此在對F信號的采樣過程中f₁的上升沿會沿著F信號從右向左移動；而f₂稍慢于F信號的f₀，因此在對F信號的采樣過程中f₂的上升沿會沿著F信號從左向右移動。f₁和f₂在每經(jīng)過一個F的周期就會相對F偏移一個固定的時間Δt＝1/f₀·10^a；因此在10^a個F周期之后，f₁和f₂就能完整的遍歷F的一個周期。

在本發(fā)明中，將待檢測信號通過延遲變換后進一步的變換成相差信號，并將其轉換成方波待檢信號；首先為進行脈寬計數(shù)提供有利基礎工作；其次對脈寬計數(shù)更加準確；最后有助于本發(fā)明的算法的實現(xiàn)。

本發(fā)明還提供一種信號相位差的檢測方法的一個實施例，參考圖3所示，其包括：步驟S100獲取待檢測信號及頻率相同且具有基準相位的基準信號，并根據(jù)所述待檢測信號的信號頻率結合所需的檢測精度信息獲取總采樣次數(shù)；步驟S210將所述基準信號與所述待檢測信號分別變換成同頻率的方波信號；步驟S220將所述基準信號與所述待檢測信號分別變換后的同頻率的方波信號進行二分頻變換；步驟S230進一步將二分頻后的所述基準信號與所述待檢測信號的方波信號進行邏輯運算得到與所述待檢測信號頻率相同的所述待檢相差信號；步驟S310根據(jù)所述待檢測信號的所需精度信息獲取所述信號頻率，并根據(jù)所述信號頻率生成檢測方波信號；其中，所述檢測方波信號的信號頻率為高于所述待檢測信號頻率的檢測高頻率或低于所述待檢測信號頻率的檢測低頻率；步驟S320根據(jù)所述檢測方波信號與所述待檢相差信號進行比對；步驟S331當所述檢測高頻率處于高電平時，檢測到所述待檢相差信號從下降沿至上升沿時進行一次累加；執(zhí)行步驟S340；步驟S332當所述檢測低頻率處于高電平時，檢測到所述待檢相差信號從上升沿至下降沿時進行一次累加；執(zhí)行步驟S340；步驟340根據(jù)所述檢測方波信號的信號頻率獲取所述步驟S330檢測并累加的所述待檢相差信號的脈寬個數(shù)；步驟S400根據(jù)所需的檢測精度信息和所述脈寬個數(shù)信息獲取所述待檢測信號的相位差信息。

具體的，sinωt為基準信號，sin(ωt-θ)為待檢測信號，通過延時器產(chǎn)生θ為相位差，0≤θ＜2π；其基準信號和待檢測信的頻率為f₀，參考圖5所示，進一步進行放大整形為方波信號，A--幅值，基準信號變換成方波信號的模型包括：B(t)＝A·sgn[sinωt]，其建立的波形為B；待檢測信號變換成方波信號的模型包括：C(t)＝A·sgn[sin(ωt-θ)]，其建立的波形為C；經(jīng)過二分頻變換后波形B變?yōu)镈，波形C變?yōu)镋，D和E波形進行異或運算，變換成與f₀同頻率的F即為待檢相差信號；根據(jù)精度已知，計算總采樣次數(shù)計算的模型為σ＝1/f₀·10^a；由此可以求得總的采樣次數(shù)10^a；進一步的求取檢測頻率，根據(jù)檢測頻率變換成比待檢測頻率高和低的兩種檢測頻率，并生成方波信號，檢測方波信號的檢測高頻率的計算方法為：f₁＝(1+1/10^a)f₀，檢測方波信號的檢測低頻率的計算方法為：f₂＝(1-1/10^a)f₀；利用檢測方波信號與待檢測方波信號進行比對，求取在一個檢測周期內(nèi)信號F在不同頻率下統(tǒng)計的脈寬個數(shù)N(1)；由此根據(jù)待檢測信號的相位差信息的模型：Δθ＝2π·N(1)/10^a，求得相位差。

在本發(fā)明中，通過檢測精度獲取總的采樣次數(shù)，進一步根據(jù)總的采樣次數(shù)，求取對待檢測信號的檢測頻率，根據(jù)檢測頻率獲取周期時間的待檢測信號的脈寬個數(shù)，最后完成對待檢測信號相位差的求取；本發(fā)明獲得的檢測頻維持在待檢測信號的頻率附近；因此在工程檢測過程中，不會增加檢測工藝；適應的更多的檢測過程，特別適用于高精度高頻率的待檢測信號，本發(fā)明解決了利用微小差頻時鐘采樣信號檢測同頻相位差的問題。

一種同頻信號的相位差的檢測系統(tǒng)，包括：總采樣次數(shù)獲取模塊100，獲取與待檢測信號及頻率相同且具有基準相位的基準信號，并根據(jù)所述待檢測信號的信號頻率結合所需的檢測精度信息獲取總采樣次數(shù)；待檢測信號獲取模塊200，與所述檢測精度獲取模塊100電連接，將所述基準信號與所述待檢測信號組合成為與所述待檢測信號頻率相同的待檢相差信號；待檢測脈寬統(tǒng)計模塊300，與所述待檢測信息獲取模塊200電連接，根據(jù)信號頻率獲取所述待檢相差信號的脈寬個數(shù)信息；相位差信息獲取模塊400，與所述待檢測脈寬統(tǒng)計模塊300電連接，根據(jù)所需的檢測精度信息和所述脈寬個數(shù)信息獲取所述待檢測信號的相位差信息。

具體的，在本實施例中，參考圖4結合圖5、6、8所示；總采樣次數(shù)獲取模塊100系統(tǒng)通過預設的檢測精度獲取總的采樣次數(shù)10^a，假設σ＝1ns，而待檢測信號頻率為100KHz，根據(jù)模型公式σ＝1/f₀·10^a，即1ns＝1/100KHz·10^a，推算出a＝4；sinωt為基準信號，根據(jù)待檢測信號獲取模塊200獲取sin(ωt-θ)為待檢測信號，通過延時器產(chǎn)生θ為相位差，0≤θ＜2π；其基準信號和待檢測信的頻率為f₀，參考圖5所示，進一步進行放大整形為方波信號，A--幅值，基準信號變換成方波信號的模型包括：B(t)＝A·sgn[sinωt]，其建立的波形為B；待檢測信號變換成方波信號的模型包括：C(t)＝A·sgn[sin(ωt-θ)]，其建立的波形為C；經(jīng)過二分頻變換后波形B變?yōu)镈，波形C變?yōu)镋，D和E波形進行異或運算，變換成與f₀同頻率的F即為待檢相差信號；進一步的求取檢測頻率，根據(jù)待檢測脈寬統(tǒng)計模塊300檢測頻率變換成比待檢測頻率高和低的兩種檢測頻率，并生成方波信號，檢測方波信號的檢測高頻率的計算方法為：f₁＝(1+1/10^a)f₀，檢測方波信號的檢測低頻率的計算方法為：f₂＝(1-1/10^a)f₀；f₁和f₂通過時鐘產(chǎn)生電路模塊PLL 40。因此本實施例中，檢測方波信號的頻率為f₁＝100.01KHz或f₂＝99.99KHz的時鐘信號對差頻信號F進行采樣，如果時鐘上升沿采樣到的F信號是高電平，則計數(shù)器加1，如果采樣到的F信號是低電平，則計數(shù)器不變；利用相位差信息獲取模塊400，經(jīng)過10^a次采樣后，假設最終計數(shù)器的值為N(1)，則最終通過相位差公式：Δθ＝2π·N(1)/10^a，可以實現(xiàn)精度為1ns的相位差檢測。

在本發(fā)明中，相位差檢測方法基于待測信號頻率已知的前提，通過在時域上擴展采樣次數(shù)，把對采樣時鐘頻率的要求轉換成了采樣時鐘精度的要求，從而達到了減小檢測電路工作頻率的目的。

本發(fā)明還提供了一個實施例，參考圖8所示，基準信號B與待檢信號輸出模塊10電連接，并通過待檢信號輸出模塊10生成的待檢測信號C，經(jīng)過相位差提取模塊20產(chǎn)生如圖5所示的F信號，基準信號和待檢測信號兩個輸入信號經(jīng)過過零比較器產(chǎn)生B和C信號、通過二分頻電路產(chǎn)生D和E信號，最后通過異或門產(chǎn)生F信號。在檢測F信號的高電平脈寬時，脈寬檢測電路30由兩個計數(shù)器構成，計數(shù)器1用于計算總共需要采樣的次數(shù)，即10^a次，假設為10000次。第二個計數(shù)器用于記錄采樣到高電平的次數(shù)。當計數(shù)器1和計數(shù)器2同時開始計數(shù)，當計數(shù)器1計滿10000次，會產(chǎn)生一個停止信號通知計數(shù)器2停止工作。如果當計數(shù)器1計滿10000次時，計數(shù)器2的結果是b，就表示F的脈寬為bns，換算為相位差就是(2π·b)/10000。計數(shù)器每一個步階所代表的相位差測量精度為2π/10000。假設，如果當計數(shù)器1計滿10000次時，計數(shù)器2的結果是0，表示基準信號和待測信號之間沒有相位差；計數(shù)器2結果是1，表示F高電平脈寬為1ns，實際相位差為2π/10000；若計數(shù)器2結果為10000，表示F高電平脈寬為10μs，實際相位差為2π。

應當說明的是，上述實施例均可根據(jù)需要自由組合。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發(fā)明的保護范圍。