本發(fā)明涉及檢測(cè)方法技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種電氣性能檢測(cè)方法及裝置。

背景技術(shù)：

對(duì)于電子器件來(lái)說(shuō)，其電氣性能非常重要。以冷壓端子為例，不需要焊接的電子連接器、空中接頭、低溫壓制的電線、電纜以及電氣器材上的接頭都?xì)w屬于冷壓端子，冷壓端子如果沒(méi)有足夠的接觸壓力，采用再好的導(dǎo)電材料或絕緣材料也是無(wú)濟(jì)于事的；因?yàn)?，假如接觸力過(guò)低，導(dǎo)線與導(dǎo)電片之間會(huì)產(chǎn)生位移，從而產(chǎn)生氧化污染，使接觸電阻增大而導(dǎo)致過(guò)熱，接觸點(diǎn)長(zhǎng)期發(fā)熱容易引起氧化，材料膨脹等進(jìn)一步加大接觸電阻，從而又增加接觸電阻，最后形成惡性循環(huán)，導(dǎo)致冷壓端子燒毀以至于發(fā)生事故，輕則停電，重則引起鐵路機(jī)車事故等事故，甚至可能造成人員傷亡?？梢?jiàn)，電子器件如果性能不達(dá)標(biāo)，很可能造成嚴(yán)重的事故，因此，電子器件在投放市場(chǎng)銷售之前要與其它設(shè)備一樣要進(jìn)行型式試驗(yàn)，確保此類型的電子器件能符合相關(guān)國(guó)際電工委員會(huì)(International Electro Commission，IEC)標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)標(biāo)、鐵標(biāo)及法標(biāo)等規(guī)定。

目前國(guó)內(nèi)有一些檢測(cè)機(jī)構(gòu)可以進(jìn)行電子器件性能檢測(cè)，但這些檢測(cè)機(jī)構(gòu)所使用的檢測(cè)設(shè)備都是進(jìn)口檢測(cè)設(shè)備，但是在檢測(cè)時(shí)全是手動(dòng)檢測(cè)，并且檢測(cè)時(shí)間長(zhǎng)，以至于檢測(cè)效率不高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明的目的是提供一種高效地檢測(cè)電子器件各種性能的電氣性能檢測(cè)方法及裝置。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種電氣性能檢測(cè)方法，包括：

獲取待檢測(cè)電子器件的預(yù)檢測(cè)性能種類；其中所述預(yù)檢測(cè)性能種類包括耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻；

根據(jù)所述預(yù)檢測(cè)性能種類設(shè)置檢測(cè)時(shí)的測(cè)試參數(shù)；

對(duì)所述預(yù)檢測(cè)電氣性能進(jìn)行檢測(cè)。

作為優(yōu)選，獲取待檢測(cè)電子器件的預(yù)檢測(cè)性能種類后，所述方法還包括：

若所述預(yù)檢測(cè)性能種類為耐受電流，則根據(jù)所述預(yù)檢測(cè)性能種類設(shè)置檢測(cè)時(shí)的測(cè)試參數(shù)，包括：

獲取當(dāng)前輸入電壓和當(dāng)前輸入電流；

相應(yīng)地，對(duì)所述預(yù)檢測(cè)電氣性能進(jìn)行檢測(cè)，包括：

調(diào)節(jié)當(dāng)前輸入電流至第一預(yù)設(shè)電流；

根據(jù)所述第一預(yù)設(shè)電流調(diào)整所述當(dāng)前輸入電壓為額定電壓；

在所述額定電壓下，檢測(cè)所述待測(cè)電子器件的耐受電流。

作為優(yōu)選，檢測(cè)所述待測(cè)電子器件的耐受電流后，所述方法還包括：

對(duì)所述待測(cè)電子器件進(jìn)行第一預(yù)設(shè)次數(shù)耐受電流檢測(cè)；

計(jì)算所述耐受電流的平均值，作為最終的耐受電流輸出結(jié)果。

作為優(yōu)選，所述第一預(yù)設(shè)電流為額定電流的10％～20％。

作為優(yōu)選，所述方法還包括：若所述預(yù)檢測(cè)性能種類為熱循環(huán)，則根據(jù)所述預(yù)檢測(cè)性能種類設(shè)置檢測(cè)時(shí)的測(cè)試參數(shù)，包括：

獲取預(yù)設(shè)時(shí)間；

相應(yīng)地，對(duì)所述預(yù)檢測(cè)電氣性能進(jìn)行檢測(cè)，包括：

在所述預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)，對(duì)所述預(yù)檢測(cè)電氣進(jìn)行熱循環(huán)試驗(yàn)。

作為優(yōu)選，對(duì)所述預(yù)檢測(cè)電氣進(jìn)行熱循環(huán)試驗(yàn)，包括：

對(duì)所述待檢測(cè)電子器件進(jìn)行溫度巡檢，以獲取試驗(yàn)溫度；

測(cè)量所述試驗(yàn)溫度下對(duì)應(yīng)的所述待檢測(cè)電子器件的壓接電阻；

存儲(chǔ)所述熱循環(huán)試驗(yàn)的結(jié)果，所述熱循環(huán)試驗(yàn)的結(jié)果包括所述試驗(yàn)溫度和對(duì)應(yīng)的所述壓接電阻；

重復(fù)執(zhí)行以上步驟，直至第二預(yù)設(shè)次數(shù)，并保存每一次的所述熱循環(huán)試驗(yàn)的結(jié)果。

作為優(yōu)選，所述方法還包括：

若所述預(yù)檢測(cè)性能種類為壓接電阻，則根據(jù)所述預(yù)檢測(cè)性能種類設(shè)置檢測(cè)時(shí)的測(cè)試參數(shù)，包括：

獲取當(dāng)前輸入電壓和輸出電流；

相應(yīng)地，對(duì)所述預(yù)檢測(cè)電氣性能進(jìn)行檢測(cè)，包括：

根據(jù)所述輸入電壓和所述輸出電流計(jì)算所述壓接電阻；

執(zhí)行上述步驟第三預(yù)設(shè)次數(shù)，并計(jì)算所述壓接電阻的平均值，以作為最終的壓接電阻。

作為優(yōu)選，所述預(yù)檢測(cè)性能種類還包括電子器件特性、鹽霧程度、接脫力。

本發(fā)明還提供一種電氣性能檢測(cè)方法，所述電氣性能檢測(cè)方法包括：

在獲取到電源信號(hào)后，獲取輸出接觸器信號(hào)和熱循環(huán)接觸器信號(hào)；

對(duì)所述輸出接觸器信號(hào)和熱循環(huán)接觸器信號(hào)進(jìn)行處理后，檢驗(yàn)輸出的電流值是否在預(yù)設(shè)范圍；

若所述電流值在預(yù)設(shè)范圍，則在預(yù)設(shè)間隔時(shí)間斷開(kāi)所述接觸器信號(hào)和熱循環(huán)接觸器信號(hào)；

在預(yù)設(shè)休息時(shí)間內(nèi)，獲取斷開(kāi)所述接觸器信號(hào)和熱循環(huán)接觸器信號(hào)后的端子溫度值和壓接電阻值；

重復(fù)執(zhí)行以上步驟，直至預(yù)設(shè)次數(shù)。

本發(fā)明還提供一種電氣性能檢測(cè)裝置，所述電氣性能檢測(cè)裝置包括：

獲取模塊，用于獲取待檢測(cè)電子器件的預(yù)檢測(cè)性能種類；其中所述預(yù)檢測(cè)性能種類包括耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻；

設(shè)置模塊，用于根據(jù)所述預(yù)檢測(cè)性能種類設(shè)定檢測(cè)時(shí)的測(cè)試參數(shù)；

檢測(cè)模塊，用于對(duì)所述預(yù)檢測(cè)電氣性能進(jìn)行檢測(cè)。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下有益效果：本發(fā)明的技術(shù)方案根據(jù)待檢測(cè)電子器件的預(yù)檢測(cè)性能種類，即耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻，根據(jù)預(yù)檢測(cè)性能種類設(shè)置檢測(cè)時(shí)的測(cè)試參數(shù)，并根據(jù)測(cè)試參數(shù)根據(jù)測(cè)試參數(shù)對(duì)預(yù)檢測(cè)電氣性能進(jìn)行檢測(cè)，本技術(shù)方案能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)電子器件性能進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，以提高檢測(cè)效率。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明的電氣性能檢測(cè)方法的實(shí)施例一的流程圖；

圖2為本發(fā)明的電氣性能檢測(cè)方法的實(shí)施例二的流程圖；

圖3為本發(fā)明的電氣性能檢測(cè)方法的實(shí)施例三的流程圖；

圖4為本發(fā)明的電氣性能檢測(cè)裝置的實(shí)施例一的示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說(shuō)明本發(fā)明，但不用來(lái)限制本發(fā)明的范圍。

隨著電子、電力、鐵路等行業(yè)的發(fā)展，隨著工業(yè)自動(dòng)化程度越來(lái)越高和工業(yè)控制要求越來(lái)越嚴(yán)格、精確，對(duì)電子器件的性能要求越來(lái)越高，因此，對(duì)電子器件的檢測(cè)也就顯得尤為重要。

圖1為本發(fā)明的電氣性能檢測(cè)方法的實(shí)施例一的流程圖，如圖1所示，本實(shí)施例的電氣性能檢測(cè)方法，具體可以包括如下步驟：

S101，獲取待檢測(cè)電子器件的預(yù)檢測(cè)性能種類；其中預(yù)檢測(cè)性能種類包括耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻；

具體地，對(duì)于不同的電子器件所檢測(cè)的性能種類都不盡相同，本實(shí)施例僅以耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻三種電氣性能種類為例來(lái)介紹檢測(cè)方法。在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，電子器件性能的種類還可以包括電子器件特性、鹽霧程度、接脫力等種類。

S102，根據(jù)預(yù)檢測(cè)性能種類設(shè)置檢測(cè)時(shí)的測(cè)試參數(shù)。

具體地，由于電子器件的性能種類不同，所以檢測(cè)時(shí)需要設(shè)置的參數(shù)也不相同。本實(shí)施例在具體實(shí)施時(shí)，可以采用現(xiàn)有的檢測(cè)設(shè)備與工控機(jī)按照RS485通訊協(xié)議連接，在進(jìn)行檢測(cè)前，檢測(cè)設(shè)備向工控機(jī)報(bào)告自身的診斷情況，例如是否能正常工作等，工控機(jī)在進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)的每一步均會(huì)與檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行會(huì)話，通訊設(shè)備會(huì)進(jìn)行相應(yīng)的應(yīng)答，如果3次會(huì)話均失敗，并且無(wú)法進(jìn)行自身修復(fù)，工控機(jī)可以以下三種方式進(jìn)行提示：消息警告提示、燈光報(bào)警提示和警鈴聲音提示。檢測(cè)設(shè)備的控制部分通過(guò)可編程邏輯控制器(Programmable Logic Controller，PLC)預(yù)編程控制，再由PLC對(duì)檢測(cè)設(shè)備內(nèi)的感應(yīng)調(diào)壓器、大電流發(fā)生器、輸出控制柜、報(bào)警裝置及工作狀態(tài)進(jìn)行控制。

S103，根據(jù)測(cè)試參數(shù)根據(jù)測(cè)試參數(shù)對(duì)預(yù)檢測(cè)電氣性能進(jìn)行檢測(cè)。

具體地，由于整個(gè)檢測(cè)過(guò)程均是按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)預(yù)先設(shè)定好的，工控機(jī)在每個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中都會(huì)采樣相關(guān)試驗(yàn)數(shù)據(jù)，并保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中，當(dāng)用戶生成試驗(yàn)報(bào)告時(shí)，軟件會(huì)根據(jù)設(shè)置的測(cè)試參數(shù)對(duì)試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行分析、判斷，以確定檢測(cè)結(jié)果是否合格，是否存在人為干擾因數(shù)，以及是否符合檢測(cè)的完整性。

本實(shí)施例的技術(shù)方案根據(jù)待檢測(cè)電子器件的預(yù)檢測(cè)性能種類，即耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻，根據(jù)預(yù)檢測(cè)性能種類設(shè)置檢測(cè)時(shí)的測(cè)試參數(shù)，并根據(jù)測(cè)試參數(shù)根據(jù)測(cè)試參數(shù)對(duì)預(yù)檢測(cè)電氣性能進(jìn)行檢測(cè)，本技術(shù)方案能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)電子器件性能進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，以提高檢測(cè)效率。

圖2為本發(fā)明的電氣性能檢測(cè)方法的實(shí)施例二的流程圖，本實(shí)施例的電氣性能檢測(cè)方法在上述實(shí)施例一的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步更加詳細(xì)地介紹本發(fā)明的技術(shù)方案。如圖2所示，本實(shí)施例的電氣性能檢測(cè)方法，具體可以包括如下步驟：

S201，獲取待檢測(cè)電子器件的預(yù)檢測(cè)性能種類；其中預(yù)檢測(cè)性能種類包括耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻；

具體地，對(duì)于不同的電子器件所檢測(cè)的性能種類都不盡相同，本實(shí)施例僅以耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻三種電氣性能種類為例來(lái)介紹檢測(cè)方法。在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，電子器件性能的種類還可以包括電子器件特性、鹽霧程度、接脫力等種類。

下面以接線端子為例來(lái)介紹本實(shí)施的實(shí)施過(guò)程，接線端子是指用于實(shí)現(xiàn)電氣連接的一種配件，例如不需要焊接的電子連接器、空中接頭、低溫壓制的電線、電纜或電氣器材上的接頭等都?xì)w屬于冷壓端子。接線端子作為一種常用的電子器件，在出廠時(shí)，需要對(duì)接線端子的耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻等這些電氣性能進(jìn)行檢測(cè)。

S202，若預(yù)檢測(cè)性能種類為耐受電流，則獲取當(dāng)前輸入電壓和當(dāng)前輸入電流。

S203，調(diào)節(jié)當(dāng)前輸入電流至第一預(yù)設(shè)電流。

進(jìn)一步地，第一預(yù)設(shè)電流為額定電流的10％～20％。

具體地，在檢測(cè)耐受電流之前，工控機(jī)還要檢查零位，如果開(kāi)始檢測(cè)前不在零位，則自動(dòng)回零后繼續(xù)檢測(cè)，工控機(jī)進(jìn)行耐受電流升流時(shí)，分兩階段，先將電流升為第一預(yù)設(shè)電流，在本實(shí)施例中第一預(yù)設(shè)電流為額定電流的10％至20％，具體的取值與額定電流大小有關(guān)，額定電流大于500A時(shí)，將當(dāng)前輸入電流調(diào)節(jié)至額定電流的10％，額定電流小于500A時(shí)，將當(dāng)前輸入電流調(diào)節(jié)至額定電流的20％。同時(shí)通過(guò)當(dāng)前輸入電壓值計(jì)算額定電流下的電壓值，計(jì)算公式為：

額定電壓＝1.8×(當(dāng)前電流/額定電流)×當(dāng)前輸入電壓。

S204，根據(jù)第一預(yù)設(shè)電流調(diào)整當(dāng)前輸入電壓為額定電壓。

S205，在額定電壓下，檢測(cè)待測(cè)電子器件的耐受電流。

S206，重復(fù)上述步驟S202至S205第一預(yù)設(shè)次數(shù)，計(jì)算耐受電流的平均值，作為最終的耐受電流輸出結(jié)果。

具體地，為提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性，本實(shí)施例進(jìn)行多次檢測(cè)，并最后根據(jù)多次檢測(cè)結(jié)果來(lái)計(jì)算平均耐受電流，作為最終的耐受電流。本實(shí)施例的第一預(yù)設(shè)次數(shù)為20次。

S207，若預(yù)檢測(cè)性能種類為熱循環(huán)，則獲取預(yù)設(shè)時(shí)間。

具體地，進(jìn)行熱循環(huán)試驗(yàn)，為了確定電子器件在多次使用時(shí)，性能是否會(huì)嚴(yán)重下降，也就是說(shuō)檢測(cè)電子器件的使用壽命。

S208，在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)，對(duì)預(yù)檢測(cè)電氣進(jìn)行熱循環(huán)試驗(yàn)。

S208包括：

A，對(duì)待檢測(cè)電子器件進(jìn)行溫度巡檢，以獲取試驗(yàn)溫度；

B，測(cè)量試驗(yàn)溫度下對(duì)應(yīng)的待檢測(cè)電子器件的壓接電阻；

C，存儲(chǔ)熱循環(huán)試驗(yàn)的結(jié)果，熱循環(huán)試驗(yàn)的結(jié)果包括試驗(yàn)溫度和對(duì)應(yīng)的壓接電阻。

具體地，本實(shí)施例可以根據(jù)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，并自動(dòng)存儲(chǔ)檢測(cè)結(jié)果，根據(jù)預(yù)先設(shè)定的檢測(cè)報(bào)告模板，自動(dòng)生成標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)報(bào)告。

S209，重復(fù)步驟S207至S208第二預(yù)設(shè)次數(shù)，并保存每一次的熱循環(huán)試驗(yàn)的結(jié)果。

具體地，為提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性，本實(shí)施例進(jìn)行多次檢測(cè)，并最后根據(jù)多次檢測(cè)結(jié)果來(lái)計(jì)算平均耐受電流，作為最終的耐受電流。本實(shí)施例的第一預(yù)設(shè)次數(shù)為125。

S210，若預(yù)檢測(cè)性能種類為壓接電阻，則獲取當(dāng)前輸入電壓和輸出電流。

S211，根據(jù)輸入電壓和輸出電流計(jì)算壓接電阻。

S212，重復(fù)執(zhí)行上述步驟S210至S211第三預(yù)設(shè)次數(shù)，并計(jì)算壓接電阻的平均值，以作為最終的壓接電阻。

本實(shí)施例旨在解決檢測(cè)過(guò)程中頻繁接線、人工讀數(shù)、人工記錄結(jié)果、人工錄入電腦系統(tǒng)，而且需要連續(xù)24小時(shí)不間斷工作等檢測(cè)效率低的技術(shù)問(wèn)題。

本實(shí)施僅需要一次接線、錄入相關(guān)測(cè)試參數(shù)，由工控機(jī)根據(jù)選擇的測(cè)試參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)，檢測(cè)完成后自動(dòng)生成檢測(cè)報(bào)表，整個(gè)檢測(cè)過(guò)程全自動(dòng)化，不需要人工干預(yù)，極大地提高了電子器件的檢測(cè)效率，而且減少了操作人員的工作量，也降低了人工成本。

本實(shí)施例采用了人工智能技術(shù)，大大減輕了人力、物力，增加了檢測(cè)的可靠性，保證檢測(cè)的連續(xù)性，還可以一電子器件的兩個(gè)性能種類同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)，提高了檢測(cè)效率，降低了檢測(cè)費(fèi)用，也有利于提高此類產(chǎn)品的質(zhì)量，增加電子器件的可靠性。

本實(shí)施例的技術(shù)方案根據(jù)待檢測(cè)電子器件的預(yù)檢測(cè)性能種類，即耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻，根據(jù)預(yù)檢測(cè)性能種類設(shè)置檢測(cè)時(shí)的測(cè)試參數(shù)，并根據(jù)測(cè)試參數(shù)根據(jù)測(cè)試參數(shù)對(duì)預(yù)檢測(cè)電氣性能進(jìn)行檢測(cè)，本技術(shù)方案能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)電子器件性能進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，以提高檢測(cè)效率。

圖3為本發(fā)明的電氣性能檢測(cè)方法的實(shí)施例三的流程圖，如圖3所示，本實(shí)施例的電氣性能檢測(cè)方法，具體可以包括如下步驟：

S301，在獲取到電源信號(hào)后，獲取輸出接觸器信號(hào)和熱循環(huán)接觸器信號(hào)。

具體地，先對(duì)檢測(cè)裝置，例如電阻儀、調(diào)壓器進(jìn)行調(diào)零操作，以減少誤差，再對(duì)設(shè)備接通電源。

S302，對(duì)輸出接觸器信號(hào)和熱循環(huán)接觸器信號(hào)進(jìn)行處理后，檢驗(yàn)輸出的電流值是否在預(yù)設(shè)范圍。

具體地，一般來(lái)說(shuō)，對(duì)輸出接觸器信號(hào)和熱循環(huán)接觸器信號(hào)進(jìn)行處理后，輸出的電流值應(yīng)該在預(yù)設(shè)范圍，同時(shí)，本實(shí)施例允許有1％的合理誤差，也就是說(shuō)，在具體實(shí)施時(shí)，可以檢驗(yàn)輸出的電流值是否大于或小于預(yù)設(shè)范圍±1％。

S303，若電流值在預(yù)設(shè)范圍，則在預(yù)設(shè)間隔時(shí)間斷開(kāi)接觸器信號(hào)和熱循環(huán)接觸器信號(hào)。

具體地，若輸出的電流值大于預(yù)設(shè)范圍+1％，則對(duì)電流做降流處理，若輸出的電流小于預(yù)設(shè)范圍—1％，則對(duì)電流做升流處理。當(dāng)電流值在預(yù)設(shè)范圍，則在預(yù)設(shè)間隔時(shí)間斷開(kāi)接觸器信號(hào)和熱循環(huán)接觸器信號(hào)。

S304，在預(yù)設(shè)休息時(shí)間內(nèi)，獲取斷開(kāi)接觸器信號(hào)和熱循環(huán)接觸器信號(hào)后的端子溫度值和壓接電阻值。

具體地，本實(shí)施例在實(shí)施時(shí)，有計(jì)時(shí)器進(jìn)行計(jì)時(shí)，當(dāng)達(dá)到休息時(shí)間時(shí)，即獲取一組端子溫度值和壓接電阻值。

為提高檢測(cè)精度，需要獲得多組端子溫度值和壓接電阻值。因此，重復(fù)執(zhí)行以上步驟S301至步驟S304，直至預(yù)設(shè)次數(shù)。

本實(shí)施例在實(shí)施的整個(gè)過(guò)程中，每當(dāng)對(duì)檢測(cè)裝置進(jìn)行操作時(shí)，警燈閃爍預(yù)設(shè)次數(shù)，例如3次，以表示一切正常，否則，表示檢測(cè)裝置沒(méi)有合閘到位或者操作錯(cuò)誤。

本實(shí)施例的技術(shù)方案根據(jù)待檢測(cè)電子器件的預(yù)檢測(cè)性能種類，即耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻，根據(jù)預(yù)檢測(cè)性能種類設(shè)置檢測(cè)時(shí)的測(cè)試參數(shù)，并根據(jù)測(cè)試參數(shù)根據(jù)測(cè)試參數(shù)對(duì)預(yù)檢測(cè)電氣性能進(jìn)行檢測(cè)，本技術(shù)方案能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)電子器件性能進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，以提高檢測(cè)效率。

圖4為本發(fā)明的電氣性能檢測(cè)裝置的實(shí)施例一的示意圖，如圖4所示，本實(shí)施例的電氣性能檢測(cè)裝置，具體可以包括獲取模塊41、設(shè)置模塊42和檢測(cè)模塊43。

獲取模塊41，用于獲取待檢測(cè)電子器件的預(yù)檢測(cè)性能種類；其中預(yù)檢測(cè)性能種類包括耐受電流、熱循環(huán)和壓接電阻；

設(shè)置模塊42，用于根據(jù)預(yù)檢測(cè)性能種類設(shè)定檢測(cè)時(shí)的測(cè)試參數(shù)；

檢測(cè)模塊43，用于根據(jù)測(cè)試參數(shù)對(duì)預(yù)檢測(cè)電氣性能進(jìn)行檢測(cè)。

本實(shí)施例的電氣性能檢測(cè)裝置，通過(guò)采用上述模塊對(duì)電子器件性能進(jìn)行檢測(cè)的實(shí)現(xiàn)機(jī)制與上述圖1所示實(shí)施例的電氣性能檢測(cè)方法的實(shí)現(xiàn)機(jī)制相同，詳細(xì)可以參考上述圖1所示實(shí)施例的記載，在此不再贅述。

以上實(shí)施例僅為本發(fā)明的示例性實(shí)施例，不用于限制本發(fā)明，本發(fā)明的保護(hù)范圍由權(quán)利要求書限定。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在本發(fā)明的實(shí)質(zhì)和保護(hù)范圍內(nèi)，對(duì)本發(fā)明做出各種修改或等同替換，這種修改或等同替換也應(yīng)視為落在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。