本發(fā)明涉及光學(xué)成像技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種探測(cè)器調(diào)試方法及裝置。
背景技術(shù):
成像光譜儀是作為遙感探測(cè)技術(shù)之一,可以獲取的景物或目標(biāo)光譜信息,在目標(biāo)識(shí)別、特征提取和精確分類(lèi)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。其中光場(chǎng)光譜成像技屬于一次曝光即獲取目標(biāo)完整數(shù)據(jù)立方體的快照型成像光譜技術(shù),在動(dòng)態(tài)目標(biāo)監(jiān)測(cè)和追蹤方面快照型成像光譜技術(shù)具有優(yōu)勢(shì)和廣泛的應(yīng)用前景。另一方面,光場(chǎng)成像光譜技術(shù)由于需將三維數(shù)據(jù)投影到二維探測(cè)器上,其獲得的目標(biāo)場(chǎng)景空間分辨率大大降低。人們提出了共光路組合式光場(chǎng)光譜成像方法,一個(gè)反射光路獲得高空間分辨率的全色圖像,一個(gè)透射光路獲得光場(chǎng)光譜圖像,后續(xù)進(jìn)行圖像融合獲得高空間分辨率的光譜數(shù)據(jù)立方體。但是,由于系統(tǒng)兩個(gè)光路對(duì)應(yīng)各自獨(dú)立的探測(cè)器,而探測(cè)器的裝配誤差會(huì)導(dǎo)致融合圖像之間存在位移和旋轉(zhuǎn)誤差,進(jìn)而會(huì)影響圖像融合的效果。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的旨在至少在一定程度上解決上述的技術(shù)問(wèn)題之一。
為此,本發(fā)明的第一個(gè)目的在于提出一種探測(cè)器調(diào)試方法。該方法能夠有效控制兩個(gè)探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度,保證較小的旋轉(zhuǎn)誤差和測(cè)定圖像的位移誤差,進(jìn)而融合圖像的效果很好。
本發(fā)明的第二個(gè)目的在于提出了一種探測(cè)器調(diào)試裝置。
為達(dá)上述目的,本發(fā)明第一方面實(shí)施例的探測(cè)器調(diào)試方法,包括以下步驟:s1,構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng),所述調(diào)試系統(tǒng)獲得與自準(zhǔn)直儀出射激光平行的參考平面;s2,將成像系統(tǒng)置于所述參考平面;s3,調(diào)整所述成像系統(tǒng)中的全色成像模塊探測(cè)器的第一旋轉(zhuǎn)角度和調(diào)整所述成像系統(tǒng)中的光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的第二旋轉(zhuǎn)角度;s4,分別獲取在不同的所述第一旋轉(zhuǎn)角度和所述第二旋轉(zhuǎn)角度下,所述全色成像模塊探測(cè)器和所述光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器上的成像位置圖像;s5,根據(jù)所述成像位置圖像確定所述全色成像模塊探測(cè)器和所述光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度和相對(duì)位移量。
本發(fā)明實(shí)施例的探測(cè)器調(diào)試方法,首先構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng),再將被調(diào)整成像系統(tǒng)置于構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng)的參考平面進(jìn)而然后調(diào)整全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的成像位置圖像并分別計(jì)算出相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度以及相對(duì)位移量。該方法能夠有效控制兩個(gè)探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度,保證較小的旋轉(zhuǎn)誤差和測(cè)定圖像的位移誤差。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng),所述調(diào)試系統(tǒng)獲得與自準(zhǔn)直儀出射激光平行的參考平面具體包括所述調(diào)試系統(tǒng)包括自準(zhǔn)直儀、多齒分度臺(tái)、多維調(diào)整臺(tái)和方晶臺(tái),所述多齒分度臺(tái)設(shè)置于水平平臺(tái)上,所述多維調(diào)整臺(tái)設(shè)置在所述多齒分度臺(tái)上,所述方晶臺(tái)設(shè)置在所述多維調(diào)整臺(tái)上;將所述成像系統(tǒng)置于所述多維調(diào)整臺(tái)上,所述成像系統(tǒng)接收所述自準(zhǔn)直儀發(fā)出的激光束。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái),將被調(diào)整成像系統(tǒng)置于所述四維調(diào)整臺(tái)上,所述被調(diào)整成像系統(tǒng)接收所述自準(zhǔn)直儀發(fā)出的十字叉絲,所述多齒分度臺(tái)繞二維空間中的y抽旋轉(zhuǎn),以使全色成像模塊探測(cè)器左右邊緣區(qū)域分別對(duì)所述十字叉絲進(jìn)行成像為第一十字叉絲圖像和第二十字叉絲圖像和使光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器左右邊緣區(qū)域分別對(duì)所述十字叉絲進(jìn)行成像為第三十字叉絲圖像和第四十字叉絲圖像。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái),根據(jù)所述成像位置圖像確定所述全色成像模塊探測(cè)器和所述光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度和相對(duì)位移量具體包括:讀取所述第一十字叉絲圖像和所述第二十字叉絲圖像并進(jìn)行擬合計(jì)算獲得所述十字叉絲的第一水平直線v水平=a1μ+b1、第一豎直線v豎直=a2μ+b2、第二水平直線v水平=a3μ+b3和第二豎直線v豎直=a4μ+b4,其中,a1、a2、b1和b2分別為所述第一水平直線和所述第一豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),a3、a4、b3和b4分別為所述第二水平直線和所述第二豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),μ為方向系數(shù),并分別計(jì)算出所述第一水平直線和所述第一豎直線的第一交點(diǎn)坐標(biāo)為s1(μs1’,vs1)和所述第二水平直線和所述第二豎直線的第二交點(diǎn)坐標(biāo)為s2(μs2’,vs2);讀取所述第三十字叉絲圖像和所述第四十字叉絲圖像并進(jìn)行擬合計(jì)算獲得所述十字叉絲的第三水平直線t水平=a5r+b5、第三豎直線t豎直=a6r+b6、第四水平直線t水平=a7r+b7和第四豎直線t豎直=a8r+b8,其中,a5、a6、b5和b6分別為所述第三水平直線和所述第三豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),a7、a8、b7和b8分別為所述第四水平直線和所述第四豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),μ為方向系數(shù),并分別計(jì)算出所述第三水平直線和所述第三豎直線的第三交點(diǎn)坐標(biāo)p1(rp1’,rp1)和所述第四水平直線和所述第四豎直線的第四交點(diǎn)坐標(biāo)p2(rp2’,tp2);所述全色成像模塊探測(cè)器與四維調(diào)整臺(tái)的夾角δβ為:
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái),所述全色成像模塊探測(cè)器和所述光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度δθ為:δθ=δβ-δγ;所述全色成像模塊探測(cè)器和所述光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)位移量δ水平和δ豎直分別為:
為達(dá)上述目的,本發(fā)明第二方面實(shí)施例的探測(cè)器調(diào)試裝置,包括:構(gòu)建模塊,用于構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng),所述調(diào)試系統(tǒng)獲得與自準(zhǔn)直儀出射激光平行的參考平面;處理模塊,用于將成像系統(tǒng)置于所述參考平面;調(diào)整模塊,用于調(diào)整所述成像系統(tǒng)中的全色成像模塊探測(cè)器的第一旋轉(zhuǎn)角度和調(diào)整所述成像系統(tǒng)中的光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的第二旋轉(zhuǎn)角度;獲取模塊,用于分別獲取在不同的所述第一旋轉(zhuǎn)角度和所述第二旋轉(zhuǎn)角度下,所述全色成像模塊探測(cè)器和所述光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器上的成像位置圖像;確定模塊,用于根據(jù)所述成像位置圖像確定所述全色成像模塊探測(cè)器和所述光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度和相對(duì)位移量。
本發(fā)明實(shí)施例的探測(cè)器調(diào)試裝置,首先構(gòu)建模塊構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng),處理模塊再將被調(diào)整成像系統(tǒng)置于構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng)的參考平面進(jìn)而調(diào)整模塊然后調(diào)整全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的旋轉(zhuǎn)角度使得獲取模塊獲得成像位置圖像,最后確定模塊分別計(jì)算出相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度以及相對(duì)位移量。該裝置能夠有效控制兩個(gè)探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度,保證較小的旋轉(zhuǎn)誤差和測(cè)定圖像的位移誤差。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述構(gòu)建模塊具體用于:所述調(diào)試系統(tǒng)包括自準(zhǔn)直儀、多齒分度臺(tái)、多維調(diào)整臺(tái)和方晶臺(tái),所述多齒分度臺(tái)設(shè)置于水平平臺(tái)上,所述多維調(diào)整臺(tái)設(shè)置在所述多齒分度臺(tái)上,所述方晶臺(tái)設(shè)置在所述多維調(diào)整臺(tái)上;將所述成像系統(tǒng)置于所述多維調(diào)整臺(tái)上,所述成像系統(tǒng)接收所述自準(zhǔn)直儀發(fā)出的激光束。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái),將被調(diào)整成像系統(tǒng)置于所述四維調(diào)整臺(tái)上,所述被調(diào)整成像系統(tǒng)接收所述自準(zhǔn)直儀發(fā)出的十字叉絲,所述多齒分度臺(tái)繞二維空間中的y抽旋轉(zhuǎn),以使全色成像模塊探測(cè)器左右邊緣區(qū)域分別對(duì)所述十字叉絲進(jìn)行成像為第一十字叉絲圖像和第二十字叉絲圖像和使光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器左右邊緣區(qū)域分別對(duì)所述十字叉絲進(jìn)行成像為第三十字叉絲圖像和第四十字叉絲圖像。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái),所述確定模塊具體用于:讀取所述第一十字叉絲圖像和所述第二十字叉絲圖像并進(jìn)行擬合計(jì)算獲得所述十字叉絲的第一水平直線v水平=a1μ+b1、第一豎直線v豎直=a2μ+b2、第二水平直線v水平=a3μ+b3和第二豎直線v豎直=a4μ+b4,其中,a1、a2、b1和b2分別為所述第一水平直線和所述第一豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),a3、a4、b3和b4分別為所述第二水平直線和所述第二豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),μ為方向系數(shù),并分別計(jì)算出所述第一水平直線和所述第一豎直線的第一交點(diǎn)坐標(biāo)為s1(μs1’,vs1)和所述第二水平直線和所述第二豎直線的第二交點(diǎn)坐標(biāo)為s2(μs2’,vs2);讀取所述第三十字叉絲圖像和所述第四十字叉絲圖像并進(jìn)行擬合計(jì)算獲得所述十字叉絲的第三水平直線t水平=a5r+b5、第三豎直線t豎直=a6r+b6、第四水平直線t水平=a7r+b7和第四豎直線t豎直=a8r+b8,其中,a5、a6、b5和b6分別為所述第三水平直線和所述第三豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),a7、a8、b7和b8分別為所述第四水平直線和所述第四豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),μ為方向系數(shù),并分別計(jì)算出所述第三水平直線和所述第三豎直線的第三交點(diǎn)坐標(biāo)p1(rp1’,rp1)和所述第四水平直線和所述第四豎直線的第四交點(diǎn)坐標(biāo)p2(rp2’,tp2);所述全色成像模塊探測(cè)器與四維調(diào)整臺(tái)的夾角δβ為:
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái),所述全色成像模塊探測(cè)器和所述光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度δθ為:δθ=δβ-δγ;所述全色成像模塊探測(cè)器和所述光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)位移量δ水平和δ豎直分別為:
本發(fā)明附加的方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出,部分將從下面的描述中變得明顯,或通過(guò)本發(fā)明的實(shí)踐了解到。
附圖說(shuō)明
本發(fā)明的上述和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從結(jié)合下面附圖對(duì)實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解,其中:
圖1是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的探測(cè)器調(diào)試方法的流程圖;
圖2為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的成像系統(tǒng)原理示意圖;
圖3是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的調(diào)整平臺(tái)示意圖;
圖4是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的儀器調(diào)試裝置示意圖;
圖5是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的全色成像模塊探測(cè)器測(cè)量示意圖;
圖6是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器測(cè)量示意圖;
圖7是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的探測(cè)器調(diào)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例,所述實(shí)施例的示例在附圖中示出,其中自始至終相同或類(lèi)似的標(biāo)號(hào)表示相同或類(lèi)似的元件或具有相同或類(lèi)似功能的元件。下面通過(guò)參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的,旨在用于解釋本發(fā)明,而不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
在本發(fā)明的描述中,需要理解的是,術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”僅用于描述目的,而不能理解為指示或暗示相對(duì)重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個(gè)該特征。在本發(fā)明的描述中,“多個(gè)”的含義是至少兩個(gè),例如兩個(gè),三個(gè)等,除非另有明確具體的限定。
下面參考附圖描述本發(fā)明實(shí)施例的探測(cè)器調(diào)試方法及裝置。
圖1為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的探測(cè)器調(diào)試方法的流程圖。
s1,構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng),調(diào)試系統(tǒng)獲得與自準(zhǔn)直儀出射激光平行的參考平面。
s2,將成像系統(tǒng)置于所述參考平面。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,調(diào)試系統(tǒng)包括自準(zhǔn)直儀、多齒分度臺(tái)、多維調(diào)整臺(tái)和方晶臺(tái),多齒分度臺(tái)設(shè)置于水平平臺(tái)上,多維調(diào)整臺(tái)設(shè)置在多齒分度臺(tái)上,方晶臺(tái)設(shè)置在多維調(diào)整臺(tái)上;將成像系統(tǒng)置于多維調(diào)整臺(tái)上,成像系統(tǒng)接收自準(zhǔn)直儀發(fā)出的激光束。
首先,需要說(shuō)明下,如圖2所示:成像系統(tǒng)原理示意圖。目標(biāo)輻射信息經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)成像模塊再經(jīng)過(guò)分光模塊得到分別為反射光路和透射光路,其中,反射光路經(jīng)過(guò)光場(chǎng)光譜成像模塊,透射光路經(jīng)過(guò)全色成像模塊后進(jìn)去圖像處理模塊。
具體地,如圖3所示,將多齒分度臺(tái)置于水平平臺(tái)上,在多齒分度臺(tái)上放置上表面a具有高平面度和平行度的多維調(diào)整臺(tái),其中多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái)舉例說(shuō)明,在調(diào)整平臺(tái)上放置方晶。在平臺(tái)另一側(cè),距離多齒分度臺(tái)一定距離放置激光自準(zhǔn)直儀,調(diào)整自準(zhǔn)直儀高度,使自準(zhǔn)直儀出射的激光十字叉絲入射到方晶端面上。旋轉(zhuǎn)細(xì)分多齒分度臺(tái)并調(diào)整多維調(diào)整臺(tái),使自準(zhǔn)直儀的找像器能接受到由方晶反射的十字叉絲的圖像。調(diào)節(jié)自準(zhǔn)直儀底座上的調(diào)節(jié)螺釘,觀察自準(zhǔn)直儀控制軟件顯示界面上的數(shù)值,使顯示數(shù)值在x,y兩個(gè)方向上均接近0??刂贫帻X分度臺(tái)繞y軸旋轉(zhuǎn),控制界面上十字叉絲沿x方向移動(dòng),但是y方向上讀數(shù)基本不變(旋轉(zhuǎn)全量程變化不超過(guò)1”)??刂贫嗑S調(diào)整臺(tái)繞x軸旋轉(zhuǎn),控制界面上十字叉絲沿y方向移動(dòng),但是x顯示的讀數(shù)基本不變(旋轉(zhuǎn)全量程變化不超過(guò)1”)。完成了調(diào)試平臺(tái)調(diào)整,多維調(diào)整臺(tái)平面a為本次調(diào)整所需參考平面,該平面與自準(zhǔn)直儀出射的激光束平行。
需要說(shuō)明的是,本發(fā)明不限于四維調(diào)整臺(tái),可以是多維調(diào)整臺(tái),根據(jù)需要進(jìn)行選擇。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái),將成像系統(tǒng)置于四維調(diào)整臺(tái)上,成像系統(tǒng)接收自準(zhǔn)直儀發(fā)出的十字叉絲,多齒分度臺(tái)繞二維空間中的y抽旋轉(zhuǎn),以使全色成像模塊探測(cè)器左右邊緣區(qū)域分別對(duì)十字叉絲進(jìn)行成像為第一十字叉絲圖像和第二十字叉絲圖像和使光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器左右邊緣區(qū)域分別對(duì)所述十字叉絲進(jìn)行成像為第三十字叉絲圖像和第四十字叉絲圖像。
具體地,在設(shè)計(jì)加工成像系統(tǒng)外部箱體時(shí),保證箱體表面具有高平面度和水平度,以該表面為接觸平面,將成像系統(tǒng)置于多維調(diào)整平臺(tái)的a平面上,如圖4所示:去除被調(diào)整成像系統(tǒng)的外遮光罩,使系統(tǒng)鏡頭方向?qū)?zhǔn)自準(zhǔn)直儀,接收由自準(zhǔn)直儀發(fā)出的十字叉絲。調(diào)整成像系統(tǒng)與自準(zhǔn)直儀的相對(duì)位置和距離,使十字叉絲成像在探測(cè)器中心附近;多齒分度臺(tái)繞y軸旋轉(zhuǎn)時(shí),可觀察到十字叉絲像沿水平方向在探測(cè)器面上移動(dòng)。使全色成像模塊探測(cè)器左右邊緣區(qū)域分別對(duì)十字叉絲進(jìn)行成像為第一十字叉絲圖像和第二十字叉絲圖像和使光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器左右邊緣區(qū)域分別對(duì)十字叉絲進(jìn)行成像為第三十字叉絲圖像和第四十字叉絲圖像。
s3,調(diào)整所述成像系統(tǒng)中的全色成像模塊探測(cè)器的第一旋轉(zhuǎn)角度和調(diào)整所述成像系統(tǒng)中的光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的第二旋轉(zhuǎn)角度。
s4,分別獲取在不同的第一旋轉(zhuǎn)角度和第二旋轉(zhuǎn)角度下,全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器上的成像位置圖像。
s5,根據(jù)成像位置圖像確定全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度和相對(duì)位移量。
具體地,在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,讀取第一十字叉絲圖像和第二十字叉絲圖像并進(jìn)行擬合計(jì)算獲得十字叉絲的第一水平直線v水平=a1μ+b1、第一豎直線v豎直=a2μ+b2、第二水平直線v水平=a3μ+b3和第二豎直線v豎直=a4μ+b4,其中,a1、a2、b1和b2分別為第一水平直線和第一豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),a3、a4、b3和b4分別為第二水平直線和第二豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),μ為方向系數(shù),并分別計(jì)算出第一水平直線和第一豎直線的第一交點(diǎn)坐標(biāo)為s1(μs1’,vs1)和第二水平直線和第二豎直線的第二交點(diǎn)坐標(biāo)為s2(μs2’,vs2)。讀取第三十字叉絲圖像和第四十字叉絲圖像并進(jìn)行擬合計(jì)算獲得十字叉絲的第三水平直線t水平=a5r+b5、第三豎直線t豎直=a6r+b6、第四水平直線t水平=a7r+b7和第四豎直線t豎直=a8r+b8,其中,a5、a6、b5和b6分別為第三水平直線和第三豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),a7、a8、b7和b8分別為第四水平直線和第四豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),μ為方向系數(shù),并分別計(jì)算出第三水平直線和第三豎直線的第三交點(diǎn)坐標(biāo)p1(rp1’,rp1)和第四水平直線和第四豎直線的第四交點(diǎn)坐標(biāo)p2(rp2’,tp2)。全色成像模塊探測(cè)器與四維調(diào)整臺(tái)的夾角δβ為:
具體地,在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái),全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度δθ為:δθ=δβ-δγ;全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)位移量δ水平和δ豎直分別為:
具體地,為了本領(lǐng)域人員更加了解如何調(diào)整全色成像模塊的探測(cè)器位置,以十字叉絲成像于全色成像模塊的探測(cè)器右側(cè)為例說(shuō)明,如圖5所示,十字叉絲成像于全色成像模塊的探測(cè)器右側(cè)。十字叉絲的水平直線和豎直直線分別由:v水平=a1u+b1和v豎直=a2u+b2,利用圖像處理軟件(如matlab)讀取十字叉絲圖像并進(jìn)行計(jì)算擬合,可獲得十字叉絲的水平直線和豎直線數(shù)學(xué)系數(shù)a1、b1、a2和b2。利用已知參數(shù)和直線表達(dá)式,擬合出圖4中所示的直線,并計(jì)算出交點(diǎn)s1的坐標(biāo)(us1,vs1)。同理,可獲得十字叉在探測(cè)器左側(cè)成像的交點(diǎn)s2的坐標(biāo)(us2,vs2)。調(diào)試過(guò)程中,通過(guò)反復(fù)旋轉(zhuǎn)探測(cè)器的安裝座進(jìn)行旋轉(zhuǎn)角微調(diào)。應(yīng)用實(shí)例中,保證在|vs1-vs2|大于6000個(gè)像素的范圍內(nèi),|us1-us2|小于1個(gè)像素。即此時(shí),探測(cè)器的水平方向(u方向)與調(diào)整平臺(tái)的a平面夾角小于0.01°,具體參數(shù)為:
具體地,為了本領(lǐng)域人員更加了解如何調(diào)整光場(chǎng)光譜成像模塊的探測(cè)器位置,以十字叉絲成像于光場(chǎng)光譜成像模塊的探測(cè)器右側(cè)為例說(shuō)明,如圖5所示,
十字叉絲成像于光場(chǎng)光譜成像模塊的探測(cè)器右側(cè),由于光場(chǎng)探測(cè)器特點(diǎn),十字叉絲由離散點(diǎn)組成。離散點(diǎn)組成的水平直線和豎直直線分別由:t水平=a5r+b5和t豎直=a6r+b6,利用圖像處理軟件(如matlab)讀取十字叉絲圖像并進(jìn)行計(jì)算擬合,可獲得十字叉絲的水平直線和豎直線數(shù)學(xué)系數(shù)a7、a8、b7和b8。利用已知參數(shù)和直線表達(dá)式,擬合出圖6中所示的直線,并計(jì)算出交點(diǎn)p1的坐標(biāo)(rp1,tp1)。同理,可獲得十字叉在探測(cè)器左側(cè)成像的交點(diǎn)p2的坐標(biāo)(rp2,tp2)。調(diào)試過(guò)程中,通過(guò)反復(fù)旋轉(zhuǎn)探測(cè)器的安裝座進(jìn)行旋轉(zhuǎn)角微調(diào)。應(yīng)用實(shí)例中,保證在|rp1-rp2|大于6000個(gè)像素的范圍內(nèi),|tp1-tp2|小于1個(gè)像素。即此時(shí),探測(cè)器的水平方向(r方向)與調(diào)整平臺(tái)的a平面夾角小于0.01°,具體參數(shù)為:
具體地,調(diào)試時(shí),使光場(chǎng)探測(cè)器偏轉(zhuǎn)角度方向與全色模塊探測(cè)器偏轉(zhuǎn)角度方向相同,則調(diào)試完成后,兩個(gè)探測(cè)器之間的旋轉(zhuǎn)角度可保證小于0.01°,具體數(shù)值為:δθ=δβ-δγ。
可以理解的是,固定探測(cè)器位置不變,使多齒分度臺(tái)繞y軸步進(jìn)旋轉(zhuǎn)小角度δα,全色模塊和光場(chǎng)光譜模塊的探測(cè)器同時(shí)獲得十字叉絲的圖像,可計(jì)算出十字叉絲交點(diǎn)的分別在兩個(gè)探測(cè)器上的坐標(biāo)(ui,vi)和(ri,ti)。使多齒分度臺(tái)繞y軸步進(jìn)旋轉(zhuǎn)k次小角度δα,分別獲得兩個(gè)探測(cè)器的k組十字叉絲交點(diǎn)坐標(biāo),其中k為正整數(shù),則兩個(gè)探測(cè)器的水平和豎直位移量為:
也就是說(shuō)可以獲取多組十字叉絲交點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)而得到兩個(gè)探測(cè)器的水平和豎直位移量。
本發(fā)明實(shí)施例的探測(cè)器調(diào)試方法,首先構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng),再將被調(diào)整成像系統(tǒng)置于構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng)的參考平面進(jìn)而然后調(diào)整全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的成像位置圖像并分別計(jì)算出相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度以及相對(duì)位移量。該方法能夠有效控制兩個(gè)探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度,保證較小的旋轉(zhuǎn)誤差和測(cè)定圖像的位移誤差。
與上述實(shí)施例提供的探測(cè)器調(diào)試方法相對(duì)應(yīng),本發(fā)明的一種實(shí)施例還提供一種探測(cè)器調(diào)試裝置,由于本發(fā)明實(shí)施例提供的探測(cè)器調(diào)試裝置與上述實(shí)施例提供的探測(cè)器調(diào)試方法相對(duì)應(yīng),因此在前述探測(cè)器調(diào)試方法的實(shí)施方式也適用于本實(shí)施例提供的探測(cè)器調(diào)試裝置,在本實(shí)施例中不再詳細(xì)描述。圖7為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的探測(cè)器調(diào)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖7所示,該探測(cè)器調(diào)試裝置可以包括:構(gòu)建模塊10、處理模塊20、調(diào)整模塊30、獲取模塊40和確定模塊50。
其中,構(gòu)建模塊10構(gòu)建模塊用于構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng),調(diào)試系統(tǒng)獲得與自準(zhǔn)直儀出射激光平行的參考平面。
處理模塊20用于將成像系統(tǒng)置于參考平面。
調(diào)整模塊30用于調(diào)整成像系統(tǒng)中的全色成像模塊探測(cè)器的第一旋轉(zhuǎn)角度和調(diào)整成像系統(tǒng)中的光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的第二旋轉(zhuǎn)角度。
獲取模塊40用于分別獲取在不同的第一旋轉(zhuǎn)角度和第二旋轉(zhuǎn)角度下,全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器上的成像位置圖像。
確定模塊50用于根據(jù)成像位置圖像確定全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度和相對(duì)位移量。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,構(gòu)建模塊10具體用于:調(diào)試系統(tǒng)包括自準(zhǔn)直儀、多齒分度臺(tái)、多維調(diào)整臺(tái)和方晶臺(tái),多齒分度臺(tái)設(shè)置于水平平臺(tái)上,多維調(diào)整臺(tái)設(shè)置在多齒分度臺(tái)上,方晶臺(tái)設(shè)置在多維調(diào)整臺(tái)上。將成像系統(tǒng)置于多維調(diào)整臺(tái)上,成像系統(tǒng)接收自準(zhǔn)直儀發(fā)出的激光束。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái),將成像系統(tǒng)置于四維調(diào)整臺(tái)上,成像系統(tǒng)接收自準(zhǔn)直儀發(fā)出的十字叉絲,多齒分度臺(tái)繞二維空間中的y抽旋轉(zhuǎn),以使全色成像模塊探測(cè)器左右邊緣區(qū)域分別對(duì)十字叉絲進(jìn)行成像為第一十字叉絲圖像和第二十字叉絲圖像和使光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器左右邊緣區(qū)域分別對(duì)所述十字叉絲進(jìn)行成像為第三十字叉絲圖像和第四十字叉絲圖像。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái),確定模塊具體用于:讀取第一十字叉絲圖像和第二十字叉絲圖像并進(jìn)行擬合計(jì)算獲得十字叉絲的第一水平直線v水平=a1μ+b1、第一豎直線v豎直=a2μ+b2、第二水平直線v水平=a3μ+b3和第二豎直線v豎直=a4μ+b4,其中,a1、a2、b1和b2分別為第一水平直線和第一豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),a3、a4、b3和b4分別為第二水平直線和第二豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),μ為方向系數(shù),并分別計(jì)算出第一水平直線和第一豎直線的第一交點(diǎn)坐標(biāo)為s1(μs1’,vs1)和第二水平直線和第二豎直線的第二交點(diǎn)坐標(biāo)為s2(μs2’,vs2)。讀取第三十字叉絲圖像和第四十字叉絲圖像并進(jìn)行擬合計(jì)算獲得十字叉絲的第三水平直線t水平=a5r+b5、第三豎直線t豎直=a6r+b6、第四水平直線t水平=a7r+b7和第四豎直線t豎直=a8r+b8,其中,a5、a6、b5和b6分別為第三水平直線和第三豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),a7、a8、b7和b8分別為第四水平直線和第四豎直線的數(shù)學(xué)系數(shù),μ為方向系數(shù),并分別計(jì)算出第三水平直線和第三豎直線的第三交點(diǎn)坐標(biāo)p1(rp1’,rp1)和第四水平直線和第四豎直線的第四交點(diǎn)坐標(biāo)p2(rp2’,tp2)。全色成像模塊探測(cè)器與四維調(diào)整臺(tái)的夾角δβ為:
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,多維調(diào)整臺(tái)為四維調(diào)整臺(tái),全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度δθ為:δθ=δβ-δγ;全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的相對(duì)位移量δ水平和δ豎直分別為:
本發(fā)明實(shí)施例的探測(cè)器調(diào)試裝置,首先構(gòu)建模塊構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng),處理模塊再將被調(diào)整成像系統(tǒng)置于構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng)的參考平面進(jìn)而調(diào)整模塊然后調(diào)整全色成像模塊探測(cè)器和光場(chǎng)光譜成像模塊探測(cè)器的旋轉(zhuǎn)角度使得獲取模塊獲得成像位置圖像,最后確定模塊分別計(jì)算出相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度以及相對(duì)位移量。該裝置能夠有效控制兩個(gè)探測(cè)器的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度,保證較小的旋轉(zhuǎn)誤差和測(cè)定圖像的位移誤差。
在本說(shuō)明書(shū)的描述中,參考術(shù)語(yǔ)“一個(gè)實(shí)施例”、“一些實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本發(fā)明的至少一個(gè)實(shí)施例或示例中。在本說(shuō)明書(shū)中,對(duì)上述術(shù)語(yǔ)的示意性表述不必須針對(duì)的是相同的實(shí)施例或示例。而且,描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例或示例中以合適的方式結(jié)合。此外,在不相互矛盾的情況下,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以將本說(shuō)明書(shū)中描述的不同實(shí)施例或示例以及不同實(shí)施例或示例的特征進(jìn)行結(jié)合和組合。
流程圖中或在此以其他方式描述的任何過(guò)程或方法描述可以被理解為,表示包括一個(gè)或更多個(gè)用于實(shí)現(xiàn)特定邏輯功能或過(guò)程的步驟的可執(zhí)行指令的代碼的模塊、片段或部分,并且本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式的范圍包括另外的實(shí)現(xiàn),其中可以不按所示出或討論的順序,包括根據(jù)所涉及的功能按基本同時(shí)的方式或按相反的順序,來(lái)執(zhí)行功能,這應(yīng)被本發(fā)明的實(shí)施例所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員所理解。
本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法攜帶的全部或部分步驟是可以通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件完成,所述的程序可以存儲(chǔ)于一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中,該程序在執(zhí)行時(shí),包括方法實(shí)施例的步驟之一或其組合。
盡管上面已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實(shí)施例,可以理解的是,上述實(shí)施例是示例性的,不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行變化、修改、替換和變型。