一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置和模擬方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置和模擬方法。在模擬裝置中，片狀接觸式電極和塊狀接觸式電極通過接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)，進(jìn)行電極之間接觸面積和接觸壓力的調(diào)整，再用對電極加溫或加濕的方式進(jìn)行電極生銹和氧化的模擬，軟導(dǎo)線將整個(gè)模擬部分接入到被測試的電路結(jié)構(gòu)中。通過觀察被測試電路的電壓電流的穩(wěn)定性，可以在短期內(nèi)模擬電路端子接觸不良對整個(gè)電路產(chǎn)品性能的影響，使得產(chǎn)品的開發(fā)周期變短，產(chǎn)品的可靠性增加。
【專利說明】一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置和模擬方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測試電路性能的模擬裝置和模擬方法，尤其是一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置和模擬方法。
【背景技術(shù)】
[0002]導(dǎo)致接線端子接觸導(dǎo)電不良的原因主要有以下幾種:a.導(dǎo)體表面氧化；b.表面生銹；c.端子彈片彈性過小；d.導(dǎo)體彈片導(dǎo)電率過小。這些現(xiàn)象都造成了導(dǎo)電彈片與導(dǎo)線的接觸電阻增大，通過電流后，產(chǎn)生打火拉弧等現(xiàn)象，減少觸點(diǎn)的使用壽命，甚至燒壞觸點(diǎn)。
[0003]傳統(tǒng)的電網(wǎng)電攬連接或電子電路連接，通常都無法對連接導(dǎo)電不良或電拉弧對系統(tǒng)的影響進(jìn)行模擬測試，則只能通過長時(shí)間的實(shí)際使用來驗(yàn)證產(chǎn)品或控制系統(tǒng)的穩(wěn)定可靠，無法在短時(shí)間內(nèi)完全模擬全天候環(huán)境的變化對產(chǎn)品性能的影響，使得產(chǎn)品的開發(fā)周期長，產(chǎn)品的可靠性差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了解決傳統(tǒng)的電網(wǎng)電攬連接、電子電路連接或其他的電路結(jié)構(gòu)無法進(jìn)行電路連接的端子的接觸導(dǎo)電不良性能測試的問題，本發(fā)明提供了 一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置和模擬方法。
[0005]本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
[0006]一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置，包括片狀接觸式電極、塊狀接觸式電極、接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)和軟導(dǎo)線；所述片狀接觸式電極和塊狀接觸式電極為導(dǎo)電率低于被測試電路中接觸端子的金屬，所述片狀接觸式電極為有彈性的金屬片；所述塊狀接觸式電極固定在可移位裝置上；所述片狀接觸式電極和塊狀接觸式電極通過彈性拉緊裝置相接合；所述接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)為鋸齒狀結(jié)構(gòu)，設(shè)置在塊狀接觸式電極上和片狀接觸式電極相接觸的面上；所述軟導(dǎo)線將片狀接觸式電極和塊狀接觸式電極與被測試電路相連接。
[0007]其進(jìn)一步的技術(shù)方案為:所述模擬裝置包括一個(gè)片狀接觸式電極，所述塊狀接觸式電極固定在可水平移位的可移位裝置上。一根軟導(dǎo)線一端連接被測試電路，另一端連接片狀接觸式電極，片狀接觸式電極通過接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)接觸塊狀接觸式電極,塊狀接觸式電極連接另一根軟導(dǎo)線接回被測試電路。
[0008]其進(jìn)一步的技術(shù)方案為:所述模擬裝置包括兩個(gè)片狀接觸式電極，塊狀接觸式電極固定在旋轉(zhuǎn)移位或者上下移位的可移位裝置上。一根軟導(dǎo)線一端連接被測試電路，另一端連接一個(gè)片狀接觸式電極,片狀接觸式電極通過接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)接觸塊狀接觸式電極,塊狀接觸式電極通過另一面的接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)接觸另一個(gè)片狀接觸式電極，進(jìn)而連接另一根軟導(dǎo)線接回被測試電路。
[0009]其進(jìn)一步的技術(shù)方案為:所述片狀接觸式電極(I)用多個(gè)相同的片狀接觸式電極
(I)并聯(lián)的結(jié)構(gòu)替代，所述多個(gè)并聯(lián)的片狀接觸式電極(I)分別通過軟導(dǎo)線并聯(lián)于一根總的軟導(dǎo)線(4)。[0010]一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬方法，包括以下步驟:
[0011]a.使用兩根軟導(dǎo)線(4)將由片狀接觸式電極(I)和塊狀接觸式電極(2)組成的模擬裝置串接到被測試的電路端；
[0012]b.將彈性拉緊裝置一端連接片狀接觸式電極(1)，另一端固定在塊狀接觸式電極
(2)上，使片狀接觸式電極(I)和塊狀接觸式電極(2)通過接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)(3)接觸；
[0013]c.將塊狀接觸式電極(2)固定在可移位裝置上；
[0014]d.在片狀接觸式電極(I)和塊狀接觸式電極(2)上施加溫度和濕度；
[0015]e.使用電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)可移位裝置，并結(jié)合彈性拉緊裝置，使得片狀接觸式電極(I)和塊狀接觸式電極(2)之間產(chǎn)生不規(guī)則振動(dòng)和移位，產(chǎn)生拉弧打火現(xiàn)象；
[0016]f.測試串接后的被測試電路的電壓波形及電流波形。
[0017]其進(jìn)一步的技術(shù)方案為:所述步驟b中的彈性拉緊裝置是彈簧或者松緊帶。
[0018]其進(jìn)一步的技術(shù)方案為:所述步驟c中的可移位裝置是可以水平移位，旋轉(zhuǎn)移位或者上下移位的裝置。
[0019]其進(jìn)一步的技術(shù)方案為:所述步驟d使用高溫高濕箱。
[0020]本發(fā)明有益的技術(shù)效果如下:
[0021]a.在模擬中，可以通過多級(jí)接觸和單極接觸的變化，調(diào)整電極之間接觸點(diǎn)的面積，通過彈性拉緊裝置的彈簧力度，調(diào)整電極之間接觸點(diǎn)間的壓力，并通過可移位裝置，使得模擬中接觸電阻不斷變化，更靈活的調(diào)節(jié)和模擬實(shí)際中電路端子接觸不良的狀況。
[0022]b.在模擬中，對電極加溫或加濕，能模擬電極氧化的狀況，使得在實(shí)際使用中要長時(shí)間才能出現(xiàn)的電路接觸端子生銹的狀況在短時(shí)間內(nèi)得到模擬，更好的判斷實(shí)際電路在使用中的可靠性，減小產(chǎn)品研發(fā)周期。
[0023]c.整個(gè)裝置簡單輕便，可以測試各種電路和開關(guān)電源的可靠性，模擬電路結(jié)構(gòu)中連接端子接觸不良對系統(tǒng)的影響，適用范圍廣。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0024]圖1是本發(fā)明中塊狀接觸式電極可水平移位的示意圖。
[0025]圖2是本發(fā)明中塊狀接觸式電極可旋轉(zhuǎn)移位的示意圖。
[0026]圖3是本發(fā)明中塊狀接觸式電極可上下移位的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0027]本實(shí)施例中，將LED驅(qū)動(dòng)電源作為測試對象，模擬電路連接端子導(dǎo)電不良對電路系統(tǒng)的影響。此模擬方法也可以模擬測試硬件開關(guān)、開關(guān)電源、電子電路連接、電網(wǎng)電攬連接等電路結(jié)構(gòu)的連接端子接觸不良對系統(tǒng)控制影響。
[0028]圖1為本發(fā)明中有一個(gè)片狀接觸式電極的實(shí)施例，選用導(dǎo)電率較低的生鐵作為塊狀接觸式電極2，選用導(dǎo)電率較低且彈性較好鋼片材料作為片狀接觸式電極1，兩個(gè)電極的導(dǎo)電率都要小于被測試電路中實(shí)際接觸端子的電阻率，以保證測試結(jié)果的可靠性。使用數(shù)根彈簧作為彈性拉緊裝置，彈簧一端連接片狀接觸式電極1，另一端固定在塊狀接觸式電極2上，彈簧的拉力使片狀接觸式電極I觸碰到塊狀接觸式電極2上的壓力可調(diào)結(jié)構(gòu)3，調(diào)整彈簧的彈力大小，可以控制片狀接觸式電極I和塊狀接觸式電極2之間接觸壓力的大小。又由于塊狀接觸式電極2上設(shè)置有鋸齒狀的接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)3，當(dāng)兩個(gè)電極壓力由小到大變化時(shí)，可以產(chǎn)生由點(diǎn)接觸到面接觸的變化，使得電極之間接觸電阻產(chǎn)生變化。將塊狀接觸式電極2固定在一個(gè)可產(chǎn)生水平移位的裝置上，在片狀接觸式電極I和塊狀接觸式電極2上施加溫度和濕度，模擬自然環(huán)境中導(dǎo)體表面氧化和生銹的情況。使用軟導(dǎo)線4將模擬裝置連接于被測試的電路，連接順序?yàn)?被測試電路連接一根軟導(dǎo)線4進(jìn)而連接片狀接觸式電極I，片狀接觸式電極I通過接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)3接觸塊狀接觸式電極2，塊狀接觸式電極2連接另一根軟導(dǎo)線4接回被測試電路。
[0029]使用電動(dòng)機(jī)帶動(dòng)可移位裝置，電動(dòng)機(jī)開啟時(shí)，可移位裝置會(huì)產(chǎn)生不規(guī)則水平移位，同時(shí)由于有彈性拉緊裝置的存在，片狀接觸式電極I和塊狀接觸式電極2之間還會(huì)產(chǎn)生不規(guī)則的振動(dòng)，使電極的接觸電阻不斷的發(fā)生變化，模擬實(shí)際使用中電路的接觸端子彈性不良、接觸不良的狀況，電極之間會(huì)發(fā)生拉弧打火現(xiàn)象。測試通過串接后的電路的電壓波形及電流波形，查看當(dāng)接觸端接觸不良時(shí)，LED電源工作的穩(wěn)定性。
[0030]圖2為本發(fā)明中有兩個(gè)片狀接觸式電極的一個(gè)實(shí)施例,工作原理與實(shí)施例1相同，模擬裝置的連接方法為:一根軟導(dǎo)線4 一端連接被測試電路進(jìn)而連接一個(gè)片狀接觸式電極1，片狀接觸式電極I通過接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)3接觸塊狀接觸式電極2，塊狀接觸式電極2通過接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)3接觸另一個(gè)片狀接觸式電極1，進(jìn)而連接另一根軟導(dǎo)線4接回被測試電路。塊狀接觸式電極2固定在一個(gè)可產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)移位的可移位裝置上，電動(dòng)機(jī)開啟時(shí)，可移位裝置會(huì)產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)移位。
[0031]圖3為本發(fā)明中有兩個(gè)片狀接觸式電極的另一個(gè)實(shí)施例。連接方法與圖2所述實(shí)施例相同，其中塊狀接觸式電極2固定在一個(gè)可產(chǎn)生上下移位的可移位裝置上，電動(dòng)機(jī)開啟時(shí)，可移位裝置會(huì)產(chǎn)生不規(guī)則上下移位。
[0032]三個(gè)實(shí)施例中，片狀接觸式電極I是單獨(dú)一個(gè)電極的時(shí)候，是單極接觸的模擬，也可以使用多個(gè)片狀接觸式電極I并聯(lián)的結(jié)構(gòu)替換單個(gè)片狀接觸式電極1，多個(gè)片狀接觸式電極I通過軟導(dǎo)線并聯(lián)于總的軟導(dǎo)線4上，再接入被測試電路，實(shí)現(xiàn)多極接觸的模擬。單極接觸和多極接觸的轉(zhuǎn)換可以改變接觸點(diǎn)的面積，更接近實(shí)際狀況。
[0033]以上所述的僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，本發(fā)明不限于以上實(shí)施例?？梢岳斫猓绢I(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和構(gòu)思的前提下直接導(dǎo)出或聯(lián)想到的其他改進(jìn)和變化，均應(yīng)認(rèn)為包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置，其特征在于:包括片狀接觸式電極(I)、塊狀接觸式電極(2)、接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)(3)和軟導(dǎo)線(4);所述片狀接觸式電極(I)和塊狀接觸式電極(2)為導(dǎo)電率低于被測試電路中接觸端子的金屬，所述片狀接觸式電極(I)為有彈性的金屬片；所述塊狀接觸式電極(2)固定在可移位裝置上；所述片狀接觸式電極(I)和塊狀接觸式電極(2 )通過彈性拉緊裝置相接合；所述接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)(3 )為鋸齒狀結(jié)構(gòu)，設(shè)置在塊狀接觸式電極(2)上和片狀接觸式電極(I)相接觸的面上；所述軟導(dǎo)線(4)將片狀接觸式電極(I)和塊狀接觸式電極(2 )與被測試電路相連接。
2.如權(quán)利要求1所述的導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置，其特征在于:包括一個(gè)片狀接觸式電極(1)，一根軟導(dǎo)線(4) 一端連接被測試電路，另一端連接片狀接觸式電極(1)，片狀接觸式電極(I)通過接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)(3 )接觸塊狀接觸式電極(2 )，塊狀接觸式電極(2 )連接另一根軟導(dǎo)線(4)接回被測試電路。
3.如權(quán)利要求1所述的導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置，其特征在于:包括兩個(gè)片狀接觸式電極(I )，塊狀接觸式電極(2)位于兩個(gè)平行放置的片狀接觸式電極(I)中間，一根軟導(dǎo)線(4) 一端連接被測試電路，另一端連接一個(gè)片狀接觸式電極(1)，片狀接觸式電極(I)通過接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)(3 )接觸塊狀接觸式電極(2 )，塊狀接觸式電極(2 )通過另一面的接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)(3)接觸另一個(gè)片狀接觸式電極(I )，進(jìn)而連接另一根軟導(dǎo)線(4)接回被測試電路。
4.如權(quán)利要求2所述的導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置，其特征在于:所述可移位裝置為水平移位的裝置。
5.如權(quán)利要求3所述的導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置，其特征在于:所述可移位裝置為旋轉(zhuǎn)移位或者上下移位的裝置。
6.如權(quán)利要求2或權(quán)利要求3所述的導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬裝置，其特征在于:所述片狀接觸式電極(I)用多個(gè)相同的片狀接觸式電極(I)并聯(lián)的結(jié)構(gòu)替代，所述多個(gè)并聯(lián)的片狀接觸式電極(I)分別通過軟導(dǎo)線并聯(lián)于一根總的軟導(dǎo)線(4)再接入被測試電路。
7.一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬方法，其特征在于，包括以下步驟: a.使用兩根軟導(dǎo)線(4)將由片狀接觸式電極(I)和塊狀接觸式電極(2)組成的模擬裝置串接到被測試的電路端； b.將彈性拉緊裝置一端連接片狀接觸式電極(1)，另一端固定在塊狀接觸式電極(2)上，使片狀接觸式電極(I)和塊狀接觸式電極(2)通過接觸可調(diào)結(jié)構(gòu)(3)接觸； c.將塊狀接觸式電極(2)固定在可移位裝置上； d.在片狀接觸式電極(I)和塊狀接觸式電極(2)上施加溫度和濕度； e.使用電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)可移位裝置，并結(jié)合彈性拉緊裝置，使得片狀接觸式電極(I)和塊狀接觸式電極(2)之間產(chǎn)生不規(guī)則振動(dòng)和移位，產(chǎn)生拉弧打火現(xiàn)象； f.測試串接后的被測試電路的電壓波形及電流波形。
8.如權(quán)利要求7所述的一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬方法，其特征在于:所述步驟b中的彈性拉緊裝置是彈簧或者松緊帶。
9.如權(quán)利要求7所述的一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬方法，其特征在于:所述步驟c中的可移位裝置是可以水平移位，旋轉(zhuǎn)移位或者上下移位的裝置。
10.如權(quán)利要求7所述的一種導(dǎo)體之間接觸導(dǎo)電不良的模擬方法，其特征在于:所述步驟d使用高溫高 濕箱。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK103926523SQ201410159541
【公開日】2014年7月16日 申請日期:2014年4月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月18日
【發(fā)明者】揚(yáng)東建 申請人:無錫優(yōu)為照明科技有限公司