溫箱內(nèi)測試鉑電阻的工裝的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及溫箱內(nèi)測試鉑電阻的工裝，包括鉑電阻插座、信號連接器、PCB板和絕緣底板，其特征是鉑電阻插座、信號連接器固定在PCB板上，鉑電阻插座上設置有一對以上的鉑電阻插孔，信號連接器上設置有四個以上的信號輸出端口，每一個鉑電阻插孔與一個或兩個信號輸出端口電氣連接，絕緣底板上設置有與溫箱內(nèi)網(wǎng)格配合的安裝槽，PCB板通過絕緣螺紋元件固定在絕緣底板上。本實用新型結構簡單、使用方便并能克服溫場不均、防止測試短路、提高測試精度。
【專利說明】溫箱內(nèi)測試鉑電阻的エ裝
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及測試エ裝，具體而言是溫箱內(nèi)測試鉬電阻的エ裝。
【背景技術】
[0002]為適應電子整機不斷小型化、輕量化、薄型化和多功能化以及生產(chǎn)過程自動化的要求，鉬電阻的需求不斷増加，應用范圍不斷擴大。鉬電阻使用前需要檢定，以確定其精度是否滿足要求。通常是將被檢鉬電阻置于液體介質如油槽中在各個溫度點對鉬電阻的參數(shù)進行檢定，但油槽所能提供的有效測試區(qū)域較小，并且達到穩(wěn)定溫度的時間較長，故毎次測試的鉬電阻數(shù)量有限，效率低下。程控溫度箱能提供較大的有效測試區(qū)域而且溫度變化快，不失為測試鉬電阻的好溫源，但溫箱內(nèi)的溫場分布不均勻，還可能發(fā)生測試短路現(xiàn)象，因此，設計出結構簡單、使用方便井能克服溫場不均、防止測試短路、提高測試精度的溫箱內(nèi)測試鉬電阻的エ裝十分必要。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型的目的是提供結構簡單、使用方便井能克服溫場不均、防止測試短路、提高測試精度的溫箱內(nèi)測試鉬電阻的エ裝。
[0004]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用如下技術方案:溫箱內(nèi)測試鉬電阻的エ裝，包括鉬電阻插座、信號連接器、PCB板和絕緣底板，其特征是鉬電阻插座、信號連接器固定在PCB板上，鉬電阻插座上設置有ー對以上的鉬電阻插孔，信號連接器上設置有四個以上的信號輸出端ロ，每ー個鉬電阻插孔與ー個或兩個信號輸出端ロ電氣連接，絕緣底板上設置有與溫箱內(nèi)網(wǎng)格配合的安裝槽，PCB板通過絕緣螺紋元件固定在絕緣底板上。
[0005]進ー步地，所述絕緣底板的中部設置有通孔。
[0006]進ー步地，所述每ー個鉬電阻插孔與兩個信號輸出端ロ電氣連接。
[0007]進ー步地，所述鉬電阻插座為鎖緊式插座。
[0008]進ー步地，所述鉬電阻插座為24引腳鎖緊插座，所述信號連接器為78針連接器。
[0009]進ー步地，所述絕緣螺紋元件為玻璃螺栓螺母。
[0010]采用本實用新型，可利用標準鉬電阻監(jiān)測溫場分布，從而克服溫場分布不均問題；能進行短路測試以消除導線電阻，井能任意更換標準鉬電阻及待測鉬電阻位置以使用差分方式進行測試，有效提高了測試精度。本實用新型結構簡單、使用方便井能防止測試短路現(xiàn)象發(fā)生。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1為本實用新型的立體結構示意圖；
[0012]圖2為圖1的俯視示意圖；
[0013]圖3為圖1的仰視示意圖。
[0014]圖中:1-鉬電阻插座；1.1-鉬電阻插孔；2_信號連接器；2.1-信號輸出端ロ ；3-PCB板；4-絕緣底板；4.1-安裝槽；4.2-通孔；5-絕緣螺紋元件。
【具體實施方式】
[0015]以下結合附圖和具體實施例對本實用新型作進ー步的詳細描述，但該實施例不應理解為對本實用新型的限制:
[0016]圖中所示的溫箱內(nèi)測試鉬電阻的エ裝，包括鉬電阻插座1、信號連接器2、PCB板3和絕緣底板4，鉬電阻插座1、信號連接器2固定在PCB板3上，鉬電阻插座I上設置有ー對以上的鉬電阻插孔1.1，信號連接器2上設置有四個以上的信號輸出端ロ 2.1，每ー個鉬電阻插孔1.1與ー個或兩個信號輸出端ロ 2.1電氣連接，絕緣底板4上設置有與溫箱內(nèi)網(wǎng)格配合的安裝槽4.1，PCB板3通過絕緣螺紋元件5固定在絕緣底板4上。
[0017]優(yōu)選的實施例是:在上述方案中，所述絕緣底板4的中部設置有通孔4.2。
[0018]優(yōu)選的實施例是:在上述方案中，所述每ー個鉬電阻插孔1.1與兩個信號輸出端ロ 2.1電氣連接。
[0019]優(yōu)選的實施例是:在上述方案中，所述鉬電阻插座I為鎖緊式插座。
[0020]優(yōu)選的實施例是:在上述方案中，所述鉬電阻插座I為24引腳鎖緊插座，所述信號連接器2為78針連接器。
[0021]優(yōu)選的實施例是:在上述方案中，所述絕緣螺紋元件5為玻璃螺栓螺母。
[0022]本說明書中未作詳細描述的內(nèi)容，屬于本專業(yè)技術人員公知的現(xiàn)有技術。
【權利要求】
1.溫箱內(nèi)測試鉬電阻的エ裝，包括鉬電阻插座(I)、信號連接器(2)、PCB板(3)和絕緣底板(4)，其特征在于:鉬電阻插座(I)、信號連接器(2)固定在PCB板(3)上，鉬電阻插座(I)上設置有ー對以上的鉬電阻插孔(1.1)，信號連接器(2)上設置有四個以上的信號輸出端ロ(2.1),姆ー個鉬電阻插孔(1.1)與ー個或兩個信號輸出端ロ(2.1)電氣連接,絕緣底板(4)上設置有與溫箱內(nèi)網(wǎng)格配合的安裝槽(4.1), PCB板(3)通過絕緣螺紋元件(5)固定在絕緣底板(4)上。
2.根據(jù)權利要求1所述的溫箱內(nèi)測試鉬電阻的エ裝，其特征在于:所述絕緣底板(4)的中部設置有通孔(4.2)。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的溫箱內(nèi)測試鉬電阻的エ裝，其特征在于:所述每ー個鉬電阻插孔(1.1)與兩個信號輸出端ロ(2.1)電氣連接。
4.根據(jù)權利要求3所述的溫箱內(nèi)測試鉬電阻的エ裝，其特征在于:所述鉬電阻插座(I)為鎖緊式插座。
5.根據(jù)權利要求4所述的溫箱內(nèi)測試鉬電阻的エ裝，其特征在于:所述鉬電阻插座(I)為24引腳鎖緊插座，所述信號連接器(2)為78針連接器。
6.根據(jù)權利要求5所述的溫箱內(nèi)測試鉬電阻的エ裝，其特征在于:所述絕緣螺紋元件(5)為玻璃螺栓螺母。
【文檔編號】G01K15/00GK203455109SQ201320565928
【公開日】2014年2月26日 申請日期:2013年9月12日 優(yōu)先權日:2013年9月12日
【發(fā)明者】張建宏, 薛淑秀, 劉艷梅, 陳錦勇, 鄧念平, 郭曉麗 申請人:湖北航天技術研究院計量測試技術研究所