專利名稱：一種六點五倍密通用測試機開關(guān)卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及電路板的檢測設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種電路板電氣性能檢測用六點五倍密通用測試機開關(guān)卡。
背景技術(shù)：
眾所周知，所有的電器設(shè)備或控制系統(tǒng)都要應(yīng)用印刷線路板，為確保線路板不發(fā)生開路或短路，印刷線路板在出廠前均需通過印刷線路板測試機的測試，將不合格的線路板選出修復(fù)或報廢。隨著半導(dǎo)體制造技術(shù)的高速發(fā)展，IC器件集成度迅速提高,安裝技術(shù)已經(jīng)從插裝技術(shù)(THT)過渡到表面安裝技術(shù)，并已走向芯片級封裝技術(shù)。同時由于通迅技術(shù)的發(fā)展需要，要求信號的高速傳遞，PCB作為傳送信號的主要渠道，致使PCB向高密度(HDI)發(fā)展成為必然。現(xiàn)有的印刷線路板通用測試機開關(guān)卡主要有兩種:雙倍密通用測試機開關(guān)卡(標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)格間距為70mil)與四倍密通用測試機開關(guān)卡(標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)格間距為50mil)。上述設(shè)備能滿足一般印刷電路板的測試需求，但在實際測試過程中存在以下缺陷:一、密度不夠，比較難以滿足高密度HDI板(如間距為15 25mil)的測試要求。二、測試電流不夠，增加測試過程中微開，微短板的程度。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種六點五倍密通用測試機開關(guān)卡，以提升測試機的測量精度，大大提高了高密度板微開，微短的測試效率。本實用新型的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的?！N六點五倍密通用測試機開關(guān)卡，包括:探頭、橫梁、PCB ;所述PCB上端設(shè)有密度勻稱的探頭裝置孔，探頭的針腳穿過PCB上的探頭裝置孔焊接于PCB背面，所述探頭的垂直下方緊貼在橫梁上，所述探頭上端設(shè)有PIN針。進(jìn)一步優(yōu)選的，所述探頭上端的PIN針成矩陣排列。進(jìn)一步優(yōu)選的，所述PIN針的中心距為1.0mm。本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，有益效果在于:本實用新型提供的六點五倍密通用測試機開關(guān)卡，通過導(dǎo)通測試電流與短路測試電壓、電流的增加，有效提升了測試機的測量精度，大大提高了高密度板微開，微短的測試效率；以及不良板具體阻值的讀出，為板廠維修及后續(xù)制程提供了可靠依據(jù)；開關(guān)卡與新型探頭的有效結(jié)合，不但解決了現(xiàn)有技術(shù)中因多重轉(zhuǎn)接導(dǎo)致的接觸電阻加大的問題，也相應(yīng)提高了自身連接的穩(wěn)定性與可靠性。

圖1為本實用新型六點五倍密通用測試機開關(guān)卡結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本實用新型局部放大示意圖。[0013]圖3為本實用新型實施例等效電路示意圖。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，
以下結(jié)合附圖及實施例，對本實用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。請參閱圖1、2所示，本實用新型提供的六點五倍密通用測試機開關(guān)卡，包括:探頭1、橫梁2、PCB 3 ; PCB 3上端設(shè)有密度勻稱的探頭裝置孔5，探頭I的針腳4穿過PCB3上的裝置孔5而焊接于背面，從而將探頭I與PCB3很好的結(jié)合在一起。探頭I的垂直下方緊貼在橫梁2上，在測試過程中橫梁2承受絕大部分的壓力，使得探頭I與PCB3之間的相互作用力很小，這樣的結(jié)構(gòu)在測試過程中探頭I不易受損而導(dǎo)致接觸不良，從而克服了現(xiàn)有轉(zhuǎn)接技術(shù)不好的缺陷，穩(wěn)定可靠的性能保證了良好的測試效果。探頭I上端設(shè)有成矩陣排列的PIN針6，PIN針6的中心距為1.0mm，相對較小的PIN中心距使得在制作測試夾具時鋼針的斜率也較小，更易測試高密度的HDI板。實施例。本實用新型開關(guān)卡上測試電路主要包括:開關(guān)矩陣模塊A ;恒流源模塊B ;電壓測試模塊C。其等效電路圖如圖3所示。在圖3中SW1-H、SW1-L、SW2-H、SW2-L為開關(guān)矩陣模塊中的4個電子開關(guān)；RS1、RS2為轉(zhuǎn)接部分(如夾具，針床等)的等效電阻；RL為被測PCB網(wǎng)絡(luò)的等效電阻為進(jìn)行測試時恒流源模塊的電流值為進(jìn)行測試時電壓測試模塊得到的電壓值，根據(jù)這個電壓值來判斷PCB板線路的好壞。假設(shè)PCB板上一條網(wǎng)絡(luò)的等效電阻為RL，機器上轉(zhuǎn)接部分(夾具，針床)的電阻為RSU RS2，打開電子開關(guān)SW1-H，SW2-L，設(shè)定電流為I (在圖中已標(biāo)明流向)，那么測試電壓Vi=(RSl+RS2+RL)*I，將測到的Vi與之前設(shè)定的一個標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較便可對PCB線路的好壞進(jìn)行判斷。分析上述公式:RS1+RS2的值在機器生產(chǎn)完畢后一個相對穩(wěn)定的經(jīng)驗值，所以PCB線路的等效電阻RL與設(shè)定的測試電流就決定了 Vi的值。當(dāng)增大電流I (如增大到20MA，原來為10MA)時，被測電阻RL變化較小的值(比如I歐姆)，測到的Vi就會相應(yīng)增大一倍，進(jìn)而更好地與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較。本實用新型提供的六點五倍密通用測試機開關(guān)卡正是增加導(dǎo)通與絕緣測試時電流來提高測試的精度與微開，微短PCB效率的。本實用新型提供的六點五倍密通用測試機開關(guān)卡，通過導(dǎo)通測試電流與短路測試電壓、電流的增加，有效提升了測試機的測量精度，大大提高了高密度板微開，微短的測試效率；以及不良板具體阻值的讀出，為板廠維修及后續(xù)制程提供了可靠依據(jù)；開關(guān)卡與新型探頭的有效結(jié)合，不但解決了現(xiàn)有技術(shù)中因多重轉(zhuǎn)接導(dǎo)致的接觸電阻加大的問題，也相應(yīng)提高了自身連接的穩(wěn)定性與可靠性。以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種六點五倍密通用測試機開關(guān)卡，其特征在于，包括:探頭、橫梁、PCB ;所述PCB上端設(shè)有密度勻稱的探頭裝置孔，探頭的針腳穿過PCB上的探頭裝置孔焊接于PCB背面，所述探頭的垂直下方緊貼在橫梁上，所述探頭上端設(shè)有PIN針。
2.如權(quán)利要求1所述的六點五倍密通用測試機開關(guān)卡，其特征在于，所述探頭上端的PIN針成矩陣排列。
3.如權(quán)利要求2所述的六點五倍密通用測試機開關(guān)卡，其特征在于，所述PIN針的中心距為1.0臟。
專利摘要本實用新型提供了一種六點五倍密通用測試機開關(guān)卡，包括探頭、橫梁、PCB；所述PCB上端設(shè)有密度勻稱的探頭裝置孔，探頭的針腳穿過PCB上的探頭裝置孔焊接于PCB背面，所述探頭的垂直下方緊貼在橫梁上，所述探頭上端設(shè)有PIN針。本實用新型提供的六點五倍密通用測試機開關(guān)卡，通過導(dǎo)通測試電流與短路測試電壓、電流的增加，有效提升了測試機的測量精度，大大提高了高密度板微開，微短的測試效率；以及不良板具體阻值的讀出，為板廠維修及后續(xù)制程提供了可靠依據(jù)；開關(guān)卡與新型探頭的有效結(jié)合，不但解決了現(xiàn)有技術(shù)中因多重轉(zhuǎn)接導(dǎo)致的接觸電阻加大的問題，也相應(yīng)提高了自身連接的穩(wěn)定性與可靠性。
文檔編號G01R31/02GK203054152SQ201320019320
公開日2013年7月10日 申請日期2013年1月15日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月15日
發(fā)明者林詠華 申請人:深圳市凱碼時代科技有限公司