一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮、合成方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮、合成方法和裝置。包括：得到標準掃描鏈數(shù)據(jù)；獲取參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣；將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣存儲至嵌入式測試裝置的芯片中。獲取存儲在該芯片中的標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣；計算每個參與測試的管腳的掃描單元在標準掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置，以利用測試矩陣中的向量合成標準掃描鏈數(shù)據(jù)，利用響應矩陣中的向量合成標準掃描鏈數(shù)據(jù)。本發(fā)明有效地解決了測試裝置存儲空間小，無法進行大數(shù)據(jù)量的邊界掃描測試的問題。有效的壓縮了邊界掃描數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量，節(jié)省了存儲空間，減少了測試時間和測試開銷，提高了生產(chǎn)效率。
【專利說明】一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮、合成方法及裝置
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及邊界掃描測試【技術領域】，特別是涉及一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮、合成方法及裝置。
【背景技術】
[0002]邊界掃描技術是復雜電路板故障檢測與診斷的主流測試性設計技術。在現(xiàn)有技術中，基于邊界掃描技術的邊界掃描測試系統(tǒng)能夠完成測試生成、測試向量的加載、測試響應分析、故障顯示和輔助功能等任務。
[0003]嵌入式邊界掃描技術是邊界掃描測試技術與嵌入式測試技術的結合，其目的是為了解決繁重的測試與診斷問題。在嵌入式邊界掃描技術中，把外部邊界掃描引擎的性能設計到測試裝置中，以增強測試的自動化，提高測試覆蓋率和測試效率，并降低產(chǎn)品整個壽命周期的測試維修成本。因此，嵌入式邊界掃描需要JTAG引擎，以及JTAG測試圖形(測試向量)、編程算法的存儲空間。JTAG測試圖形和編程算法由外部獨立應用的邊界掃描系統(tǒng)產(chǎn)生，并把它們轉換為某種協(xié)議格式，在測試前存儲到測試裝置中。
[0004]對于板級系統(tǒng)，在進行嵌入式邊界掃描時，一般不占用電路板功能電路的存儲空間，而是使用板上的嵌入式邊界掃描測試裝置完成全部的邊界掃描操作。由于嵌入式邊界掃描測試裝置體積小，存儲容量有限，所以，無法進行大數(shù)據(jù)量的邊界掃描測試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明要解決的技術問題是對嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)進行壓縮和合成，用以解決現(xiàn)有技術的嵌入式邊界掃描測試裝置存儲空間小，無法進行大數(shù)據(jù)量的邊界掃描測試的問題。
[0006]為解決上述技術問題，本發(fā)明提供一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮方法，包括:根據(jù)掃描鏈中包含的一個或多個掃描單元，設置各個掃描單元的初始值，得到標準掃描鏈數(shù)據(jù)；獲取參與測試的管腳數(shù)據(jù)；獲取用于測試的測試矩陣和響應矩陣；將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣作為嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)存儲至嵌入式測試裝置的芯片中。
[0007]其中，根據(jù)掃描鏈中包含的一個或多個掃描單元，設置各個掃描單元的初始值，還包括:將掃描鏈中的不參與測試的掃描單元設置為固定狀態(tài)；將掃描鏈中參與測試的掃描單元設置為可變狀態(tài)。
[0008]其中，所述參與測試的管腳包括輸出管腳和輸入管腳；所述參與測試的管腳數(shù)據(jù)至少包括:參與測試的輸出管腳數(shù)量、參與測試的輸入管腳數(shù)量、每個輸出管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、每個輸入管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號。
[0009]其中，將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣作為嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)存儲至嵌入式測試裝置的芯片中，包括:按照設定順序，將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣轉化為字節(jié)數(shù)據(jù)序列，將所述字節(jié)數(shù)據(jù)序列作為嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)；其中，所述設定順序是:參與測試的輸出管腳數(shù)量、參與測試的輸入管腳數(shù)量、每個輸出管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、每個輸入管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、標準掃描鏈數(shù)據(jù)的字節(jié)數(shù)據(jù)、測試矩陣的字節(jié)數(shù)據(jù)、響應矩陣的字節(jié)數(shù)據(jù)。
[0010]本發(fā)明還提供了一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮裝置，包括:根據(jù)掃描鏈中包含的一個或多個掃描單元設置各個掃描單元的初始值，得到標準掃描鏈數(shù)據(jù)的裝置；獲取參與測試的管腳數(shù)據(jù)的裝置；獲取用于測試的測試矩陣和響應矩陣裝置；將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣作為嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)存儲至嵌入式測試裝置的芯片中的裝置。
[0011]本發(fā)明又提供了一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)合成方法，包括:獲取存儲在嵌入式測試裝置的芯片中的嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)；在所述嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)中，獲取標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣；根據(jù)所述參與測試的管腳數(shù)據(jù)，計算每個參與測試的管腳對應的掃描單元在標準掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置；根據(jù)每個參與測試的管腳的掃描單元在標準掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置，將所述測試矩陣中的向量插入到標準掃描鏈數(shù)據(jù)，以合成測試掃描鏈數(shù)據(jù)，并且將響應矩陣中的向量插入到標準掃描鏈數(shù)據(jù)中，以合成期望掃描鏈數(shù)據(jù)。
[0012]其中，所述參與測試的管腳包括輸出管腳和輸入管腳；所述參與測試的管腳數(shù)據(jù)至少可以包括:參與測試的輸出管腳數(shù)量、參與測試的輸入管腳數(shù)量、每個輸出管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、每個輸入管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號。
[0013]其中，在所述嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)中，獲取標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣，包括:所述嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)包含存儲順序:參與測試的輸出管腳數(shù)量、參與測試的輸入管腳數(shù)量、每個輸出管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、每個輸入管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、標準掃描鏈數(shù)據(jù)的字節(jié)數(shù)據(jù)、測試矩陣的字節(jié)數(shù)據(jù)、響應矩陣的字節(jié)數(shù)據(jù)。
[0014]其中，根據(jù)所述參與測試的管腳數(shù)據(jù)，計算每個參與測試的管腳對應的掃描單元在標準掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置，包括:將每個參與測試的管腳的位置序號對8取整，得到的值為所述管腳在標準掃描鏈數(shù)據(jù)中所處的字節(jié)；以及將每個參與測試的管腳的位置序號對8取余，得到的值為所述管腳在標準掃描鏈數(shù)據(jù)中所處的字節(jié)中所占的比特位。
[0015]本發(fā)明再提供了一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)合成裝置，包括:獲取存儲在嵌入式測試裝置的芯片中的嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)的裝置；在所述嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)中，獲取標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣的裝置；根據(jù)所述參與測試的管腳數(shù)據(jù)，計算每個參與測試的管腳對應的掃描單元在標準掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置的裝置；根據(jù)每個參與測試的管腳的掃描單元在標準掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置，將所述測試矩陣中的向量插入到標準掃描鏈數(shù)據(jù)以合成測試掃描鏈數(shù)據(jù)，并且將響應矩陣中的向量插入到標準掃描鏈數(shù)據(jù)中以合成期望掃描鏈數(shù)據(jù)的裝置。
[0016]本發(fā)明有益效果如下:
[0017]通過存儲字節(jié)數(shù)據(jù)序列的方式，有效的壓縮了邊界掃描數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量，節(jié)省了存儲空間。減少了測試時間和測試開銷，提高了生產(chǎn)效率?！緦＠綀D】

【附圖說明】
[0018]圖1是根據(jù)本發(fā)明一實施例的嵌入式邊界掃描測試芯片管腳互連示意圖；
[0019]圖2是根據(jù)本發(fā)明一實施例的嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮方法流程圖；
[0020]圖3是根據(jù)本發(fā)明一實施例的標準掃描鏈數(shù)據(jù)生成示意圖；
[0021]圖4是根據(jù)本發(fā)明一實施例的嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)合成方法流程圖。
【具體實施方式】
[0022]為了解決現(xiàn)有技術的嵌入式邊界掃描測試裝置存儲空間小，無法進行大數(shù)據(jù)量的邊界掃描測試的問題，本發(fā)明提供了一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮、合成方法及裝置，以下結合附圖以及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不限定本發(fā)明。
[0023]本發(fā)明涉及專有名詞:掃描單元、掃描鏈。
[0024]掃描單元:位于芯片的輸入管腳和輸出管腳，是輸入管腳和輸出管腳與內(nèi)核電路之間的移位寄存器。
[0025]掃描鏈(Boundary-Scan Chain):順次連接芯片的管腳上的掃描單元得到掃描鏈。掃描鏈的長度等于芯片包含的掃描單元的總數(shù)。在掃描鏈中，由各個掃描單元中的向量組成掃描鏈數(shù)據(jù)。
[0026]由于在嵌入式邊界掃描測試中，芯片管腳互連測試會產(chǎn)生大量的邊界掃描數(shù)據(jù)，所以基于芯片管腳互連測試對本發(fā)明的方法及裝置進行說明。為了更清晰的描述本發(fā)明，忽略被測芯片輸出管腳和出入管腳之外的具有其他功能的管腳。將參與測試的輸入管腳稱作輸入管腳，將參與測試的輸出管腳稱作輸出管腳，將不參與測試的輸入管腳和輸出管腳稱作管腳。
[0027]如圖1所示，圖1是根據(jù)本發(fā)明一實施例的嵌入式邊界掃描測試芯片管腳互連示意圖。
[0028]嵌入式測試裝置中的被測芯片包括芯片Ul和芯片U2。芯片Ul包括14個管腳(序號8至序號21)，芯片U2包括8個管腳(序號O至序號7)。那么，連接位于各個管腳的掃描單元而得到的掃描鏈的長度為22 (14+8=22)。
[0029]在進行芯片Ul和芯片U2的管腳互連測試時，參與測試的管腳有8個，分布在不同的芯片上。在芯片Ul中參與測試的管腳包括Ul-l、Ul-2、Ul-3、Ul-4四個管腳，序號分別為14、12、10、8，該四個管腳為輸出管腳。在芯片U2中參與測試的管腳包括U2-l、U2-2、U2-3、U2-4四個管腳，序號分別為4、5、6、7，該四個管腳為輸入管腳。
[0030]在芯片管腳互連測試中，可以利用測試矩陣和響應矩陣來測試芯片輸出管腳和輸入管腳的互連情況。將掃描鏈中的輸出管腳和輸入管腳的掃描單元設置為0，不參與測試的管腳的掃描單元設置為安全值。將測試矩陣中的向量串行輸入到掃描鏈中的輸出管腳的掃描單元中，在串行輸出時，可以得到輸入管腳的掃描單元中的向量。響應矩陣作為輸入管腳所得的向量的期望值，將輸入管腳的掃描單元的向量與響應矩陣中的向量進行比較，若掃描單兀的向量與響應矩陣中的向量相同，貝1J表不該芯片的輸入管腳與輸出管腳的互連無故障，互連測試通過。反之，則輸入管腳與輸出管腳的互連存在問題，互連測試不通過。
[0031]進一步地，在進行芯片管腳互連測試中，可以采用“移位I算法”來測試輸出管腳和輸入管腳的互連情況，在“移位I算法”中測試矩陣和響應矩陣的對角線為I。由于參與測試的管腳為4對，即4個輸出管腳和4個輸入管腳，所以，測試矩陣和響應矩陣的維度可以選擇4維向量矩陣。
[0032]測試矩陣例如是:gI 5 響應矩陣例如是:g I I g;測試矩陣和
響應矩陣的行和列均為4個向量。測試矩陣中的每列向量對應一個輸出管腳。由于測試矩陣擁有4行向量，而且每行向量只能輸入到一個掃描鏈中，這樣，需要4組掃描鏈數(shù)據(jù)。例如:U1-1對應測試矩陣中的第一列向量，U1-2對應測試矩陣中的第二列向量，U1-3對應測試矩陣中的第三列向量，U1-4對應測試矩陣中的第四列向量。響應矩陣中的每列向量對應一個輸入管腳，每行向量對應一組掃描鏈數(shù)據(jù)，以便將4個輸入管腳的掃描單元的向量與響應矩陣中每列向量進行比較。例如:U2-1對應響應矩陣中的第四列向量，U2-2對應響應矩陣中的第三列向量，U2-3對應響應矩陣中的第二列向量，U2-4對應響應矩陣中的第一列向量。
[0033]采用測試矩陣和響應矩陣還可以起到壓縮嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)的作用。
[0034]本發(fā)明提供了一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮方法，如圖2所示，圖2是根據(jù)本發(fā)明一實施例的嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮的方法流程圖。
[0035]步驟S210，根據(jù)掃描鏈中包含的一個或多個掃描單元，設置各個掃描單元的初始值，得到標準掃描鏈數(shù)據(jù)。
[0036]如圖3所示，圖3是根據(jù)本發(fā)明一實施例的標準掃描鏈數(shù)據(jù)生成示意圖，該圖3中的各個掃描單元對應圖1中各個管腳的掃描單元。
[0037]具體而言，可以根據(jù)被測芯片(芯片U1、芯片U2)的邊界掃描描述文件(BSDL(Boundary Scan Description Language,邊界掃描描述語言)文件)中的掃描單元描述信息，來設置各個掃描單元的初始值。該掃描單元描述信息包括:掃描單元的安全值、掃描單元固定狀態(tài)的設置方式、掃描單元可變狀態(tài)的設置方式等信息。
[0038]在芯片的各個掃描單元中，既包括參與測試的管腳，也包括不參與測試的管腳。將參與測試的管腳的掃描單元設置為0，將不參與測試的管腳的掃描單元設置為安全值。例如將輸出管腳Ul-1、Ul-2、Ul-3、U1-4和輸入管腳U2_l、U2-2、U2-3、U2-4各自對應的描述單元設置為0，將其他管腳設置為安全值。
[0039]將掃描鏈中的不參與測試的掃描單元設置為固定狀態(tài)，即安全值固定，不可以改變。將掃描鏈中參與測試的掃描單元設置為可變狀態(tài)。可以將序號為4、5、6、7、
8、10、12、14的管腳對應的掃描單元設置為可變狀態(tài)，將其他管腳對應的掃描單元設置為固定狀態(tài)。通過這種方式，生成一組標準掃描鏈數(shù)據(jù)。該標準掃描鏈數(shù)據(jù)例如是:0000000010000000001010。進一步地，可以在該標準掃描鏈數(shù)據(jù)中，標識出對應輸出管腳的掃描單兀和對應輸入管腳的掃描單兀。
[0040]將測試矩陣中的每行向量分別放置到標準掃描鏈數(shù)據(jù)中相應的可變狀態(tài)的掃描單元中，則可以將標準掃描鏈數(shù)據(jù)變化為一組或多組測試掃描鏈數(shù)據(jù)。例如:將測試矩陣中的第一行向量1000放置在標準掃描鏈數(shù)據(jù)中相應的掃描單元中，如序號為14、12、10、8的輸出管腳對應的掃描單元，得到的測試掃描鏈數(shù)據(jù)0000000110000000001010 ;將測試矩陣中的第二行向量0100放置在標準掃描鏈數(shù)據(jù)中相應的掃描單元中，得到測試掃描鏈數(shù)據(jù)0000000011000000001010 ;將測試矩陣中的第三行向量0010放置在標準掃描鏈數(shù)據(jù)中相應的掃描單元中，得到測試掃描鏈數(shù)據(jù)0000000010010000001010 ;將測試矩陣中的第四行向量0001放置在標準掃描鏈數(shù)據(jù)中相應的掃描單元中，得到測試掃描鏈數(shù)據(jù)0000000010000100001010ο同樣的，將響應矩陣中的每行向量分別放置到標準掃描鏈數(shù)據(jù)中相應的可變狀態(tài)的掃描單元中，則可以將標準掃描鏈數(shù)據(jù)變化為一組或多組期望掃描鏈數(shù)據(jù)。
[0041]由于測試矩陣和標準掃描鏈數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量較小，避免了生成多個較大數(shù)據(jù)量的掃描鏈數(shù)據(jù)，有效的減少了存儲空間。
[0042]步驟S220，獲取參與測試的管腳數(shù)據(jù)。
[0043]參與測試的管腳數(shù)據(jù)至少可以包括:參與測試的輸出管腳數(shù)量、參與測試的輸入管腳數(shù)量、每個輸出管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、每個輸入管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號。
[0044]如圖2所示，根據(jù)對被測芯片Ul和芯片U2的各個掃描單元的設置，參與測試的輸出管腳總數(shù)為4。參與測試的輸入管腳總數(shù)為4。輸出管腳對應的掃描單元在掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置序號為8、10、12、14。輸入管腳對應的掃描單元在掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置序號為4、
5、6、7。
[0045]步驟S230，設置用于測試的測試矩陣和響應矩陣。
[0046]測試矩陣中向量的列數(shù)等于參與測試的輸出管腳的總數(shù)，例如參與測試的輸出管腳總數(shù)為4，則該測試矩陣中包含4列向量。
[0047]響應矩陣中向量的列數(shù)等于參與測試的輸入管腳的總數(shù)，例如參與測試的輸入管腳總數(shù)為4,則該響應矩陣中包含4列向量。
[0048]測試矩陣和響應矩陣可以設置為對角線為I的4維向量矩陣。
[0049]步驟S240，將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣作為嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)存儲至嵌入式測試裝置的芯片中，完成對嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)的壓縮。
[0050]按照設定順序，將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣轉化為字節(jié)數(shù)據(jù)序列，將該字節(jié)數(shù)據(jù)序列作為嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)。
[0051]具體而言，參與測試的輸出管腳數(shù)量、參與測試的輸入管腳數(shù)量、每個輸出管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、每個輸入管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號為十進制數(shù)，可以不作變化。
[0052]將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、測試矩陣、響應矩陣由二進制轉化為字節(jié)數(shù)據(jù)。一個字節(jié)等于8位二進制數(shù)。例如:標準掃描鏈數(shù)據(jù)為0000000010000000001010，該標準掃描鏈數(shù)據(jù)的十六進制(Ox)為00200Α,則按照低字節(jié)數(shù)據(jù)(LSB, Least Significant Bit)到高字節(jié)數(shù)據(jù)(MSB, Most Significant Bit)的順序得到該標準掃描鏈數(shù)據(jù)的字節(jié)數(shù)據(jù)為10 (OxOA),32(0x20),O (0x00)，該字節(jié)數(shù)據(jù)為十進制。字節(jié)的序號是從O開始，那么10為第O個字節(jié)，32為第I個字節(jié)，O為第2個字節(jié)。
[0053]測試矩陣和響應矩陣中的二進制向量可以按照行來計算字節(jié)數(shù)據(jù)。將測試矩陣:
【權利要求】
1.一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮方法，其特征在于，包括: 根據(jù)掃描鏈中包含的一個或多個掃描單元，設置各個掃描單元的初始值，得到標準掃描鏈數(shù)據(jù)； 獲取參與測試的管腳數(shù)據(jù)； 設置用于測試的測試矩陣和響應矩陣； 將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣作為嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)存儲至嵌入式測試裝置的芯片中。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)掃描鏈中包含的一個或多個掃描單兀，設置各個掃描單元的初始值，還包括: 將掃描鏈中的不參與測試的掃描單元設置為固定狀態(tài)； 將掃描鏈中參與測試的掃描單元設置為可變狀態(tài)。
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于， 所述參與測試的管腳包括輸出管腳和輸入管腳； 所述參與測試的管腳數(shù)據(jù)至少包括:參與測試的輸出管腳數(shù)量、參與測試的輸入管腳數(shù)量、每個輸出管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、每個輸入管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號。
4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣作為嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)存儲至嵌入式測試裝置的芯片中，包括:` 按照設定順序，將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣轉化為字節(jié)數(shù)據(jù)序列，將所述字節(jié)數(shù)據(jù)序列作為嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)；其中， 所述設定順序是:參與測試的輸出管腳數(shù)量、參與測試的輸入管腳數(shù)量、每個輸出管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、每個輸入管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、標準掃描鏈數(shù)據(jù)的字節(jié)數(shù)據(jù)、測試矩陣的字節(jié)數(shù)據(jù)、響應矩陣的字節(jié)數(shù)據(jù)。
5.一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)壓縮裝置，其特征在于，包括: 根據(jù)掃描鏈中包含的一個或多個掃描單元設置各個掃描單元的初始值，得到標準掃描鏈數(shù)據(jù)的裝置； 獲取參與測試的管腳數(shù)據(jù)的裝置； 獲取用于測試的測試矩陣和響應矩陣裝置； 將標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣作為嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)存儲至嵌入式測試裝置的芯片中的裝置。
6.一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)合成方法，其特征在于，包括: 獲取存儲在嵌入式測試裝置的芯片的嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)； 在所述嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)中，獲取標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣； 根據(jù)所述參與測試的管腳數(shù)據(jù)，計算每個參與測試的管腳對應的掃描單元在標準掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置； 根據(jù)每個參與測試的管腳的掃描單元在標準掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置，將所述測試矩陣中的向量插入到標準掃描鏈數(shù)據(jù)，以合成測試掃描鏈數(shù)據(jù)，并且將響應矩陣中的向量插入到標準掃描鏈數(shù)據(jù)中，以合成期望掃描鏈數(shù)據(jù)。
7.如權利要求6所述的方法，其特征在于， 所述參與測試的管腳包括輸出管腳和輸入管腳； 所述參與測試的管腳數(shù)據(jù)至少可以包括:參與測試的輸出管腳數(shù)量、參與測試的輸入管腳數(shù)量、每個輸出管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、每個輸入管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號。
8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，在所述嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)中，獲取標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣，包括: 所述嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)包含存儲順序:參與測試的輸出管腳數(shù)量、參與測試的輸入管腳數(shù)量、每個輸出管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、每個輸入管腳對應的掃描單元在掃描鏈上的位置序號、標準掃描鏈數(shù)據(jù)的字節(jié)數(shù)據(jù)、測試矩陣的字節(jié)數(shù)據(jù)、響應矩陣的字節(jié)數(shù)據(jù)。
9.如權利要求8所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述參與測試的管腳數(shù)據(jù)，計算每個參與測試的管腳對應的掃描單元在標準掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置，包括: 將每個參與測試的管腳的位置序號對8取整，得到的值為所述管腳在標準掃描鏈數(shù)據(jù)中所處的字節(jié)；以及 將每個參與測試的管腳的位置序號對8取余，得到的值為所述管腳在標準掃描鏈數(shù)據(jù)中所處的字節(jié)中所占的比特位。
10.一種嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)合成裝置，其特征在于，包括: 獲取存儲在嵌入式 測試裝置的芯片中的嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)的裝置； 在所述嵌入式邊界掃描數(shù)據(jù)中，獲取標準掃描鏈數(shù)據(jù)、參與測試的管腳數(shù)據(jù)、測試矩陣和響應矩陣的裝置； 根據(jù)所述參與測試的管腳數(shù)據(jù)，計算每個參與測試的管腳對應的掃描單元在標準掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置的裝置； 根據(jù)每個參與測試的管腳的掃描單元在標準掃描鏈數(shù)據(jù)上的位置，將所述測試矩陣中的向量插入到標準掃描鏈數(shù)據(jù)以合成測試掃描鏈數(shù)據(jù)，并且將響應矩陣中的向量插入到標準掃描鏈數(shù)據(jù)中以合成期望掃描鏈數(shù)據(jù)的裝置。
【文檔編號】G01R31/28GK103675650SQ201310727223
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年12月25日 優(yōu)先權日:2013年12月25日
【發(fā)明者】杜影, 李洋, 徐鵬程, 王石記, 安佰岳 申請人:北京航天測控技術有限公司