校準輔助裝置和校正方法、檢驗方法、校驗方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種校準輔助裝置、一種校正方法、一種檢驗方法和一種校驗方法，校準輔助裝置用于對采用自動抓取圖形裝置自動定位和自動加工的設備進行校準，包括一底板，底板上設置有第一標識物和第二標識物，第一標識物包括第一圖形標識；第二標識物包括第二圖形標識，第二圖形標識的外接圓圓心與第一圖形標識的外接圓圓心不重合。本發(fā)明提供的校準輔助裝置，制作簡單，成本低廉，操作簡便，校準速度快，可以根據(jù)實際的工作量，定期對設備進行校準，可降低企業(yè)無作業(yè)率，提高企業(yè)效益。
【專利說明】校準輔助裝置和校正方法、檢驗方法、校驗方法

【技術(shù)領域】
[0001] 本發(fā)明涉及印刷電路板生產(chǎn)制造領域，具體而言，涉及一種校準輔助裝置及采用 該裝置的一種校正方法、一種檢驗方法和一種校驗方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 目前PCB產(chǎn)業(yè)中，多層印制電路板的發(fā)展趨勢勢不可擋，對其線路的精度和密度 的要求越來越高。通常，電路板上的孔按其作用不同可以分為：定位孔、管位孔、防爆孔、 螺絲孔、壓接孔、郵票孔等，其中定位孔的作用是為了更好的輔助壓合工序?qū)优c層之間對 準，為后續(xù)工藝做好準備，提高層間對位精度。在多層印制電路板的制備過程中，鉆孔是工 藝流程中比較關鍵的一步，對后續(xù)工藝的品質(zhì)和最終產(chǎn)品的性能有很大影響。
[0003] 為了更好的輔助壓合工序?qū)CB板的層與層之間對準，提高對位精度，采取的方 法是：提前在各層板板邊上打出一些位置相同的孔。按業(yè)內(nèi)通則，一般孔徑在3. 0-3. 2mm之 間。然后，對位時以這些孔為準，以銷釘定位，這樣就做到至少±4mil的對位精度。但是， 打孔用的打靶機和CCD打靶機類設備都存在同一個問題：每打孔10000-12000個孔之后，就 需要對打孔精度進行校正。否則打出來的孔本身存在誤差，再加上壓合銷釘對位時所在的 偏差，層與層之間的偏差超過±4mil，會導致多層板的報廢。
[0004] 相關技術(shù)的技術(shù)方案：
[0005] 當打孔次數(shù)達到10000-12000個之后，行業(yè)內(nèi)常用的方法就是請設備商到廠服 務，以其專業(yè)的電子校正儀器將打靶機或CCD打靶機等設備校正微調(diào)后才可以重新使用。
[0006] 相關技術(shù)存在的問題為：
[0007] 1.專業(yè)電子校正儀器購置成本和服務太高，PCB廠家自己購買這種儀器不實際；
[0008] 2.耽誤生產(chǎn)時間，一旦打孔壽命數(shù)達到，就要停機8-24小時，等待設備廠家人員 對設備進行校正。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0009] 為解決上述技術(shù)問題或者至少之一，本發(fā)明提供了一種校準輔助裝置，制作簡單， 成本低廉，操作簡便，校準速度快，可以根據(jù)實際的工作量，定期對設備進行校準，可降低企 業(yè)無作業(yè)率，提高生產(chǎn)效率。
[0010] 有鑒于此，本發(fā)明提供了一種校準輔助裝置，用于對采用自動抓取圖形裝置自動 定位和自動加工的設備進行校準，包括一底板，所述底板上設置有第一標識物和第二標識 物，所述第一標識物包括第一圖形標識；所述第二標識物包括第二圖形標識，所述第二圖形 標識的外接圓圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心不重合。
[0011] 本發(fā)明提供的校準輔助裝置，制作簡單，成本低廉，操作簡便，校準速度快，可以根 據(jù)實際的工作量，定期對設備進行校準，可降低企業(yè)無作業(yè)率，提高生產(chǎn)效率和企業(yè)效益。
[0012] 本發(fā)明還提供了一種校正方法，用于對采用自動抓取圖形裝置自動定位和自動加 工的設備進行校正，包括：
[0013] 步驟102,選取一底板，所述底板上包括第一圖形標識；
[0014] 步驟104,在至少一所述第一圖形標識內(nèi)進行鉆第一孔，通過所述設備測量的所述 第一孔的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離并對應與用測量儀器測量的 所述第一孔的圓心與所述第一圓形標識的外接圓圓心之間的距離進行比較，依次記錄比較 結(jié)果；
[0015] 步驟106,若比較結(jié)果的誤差均在第一設定范圍內(nèi)時，判定為所述設備正常，校正 完畢；
[0016] 若任一比較結(jié)果的誤差超過第一設定范圍時，判定為所述設備異常，對所述設備 進行微調(diào)，并重復步驟104、步驟106。
[0017] 上述校正方法，操作簡單、校準速度快且成本低，可根據(jù)實際的工作量，定期對設 備進行校正操作，可有效降低企業(yè)的無作業(yè)率，提高企業(yè)的作業(yè)回收率，降低產(chǎn)品的不良 率，增加產(chǎn)品產(chǎn)出，提高企業(yè)效益。
[0018] 本發(fā)明還提供了一種檢驗方法，用于判定設備的自動抓取圖形裝置是否損壞，包 括：
[0019] 步驟202,選取一底板，所述底板上設置有第一圖形標識和第二圖形標識，所述第 二圖形標識的外接圓圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心不重合；
[0020] 步驟204,用測試儀器測量至少一所述第一圖形標識外接圓圓心與所述第二圖形 標識外接圓圓心之間的距離并對應與通過所述設備測量的所述第一圖形標識外接圓圓心 與所述第二圖形標識外接圓圓心之間的距離進行比較：
[0021] 當任一誤差范圍超過第二設定范圍時，判定為所述自動抓取圖形裝置損壞，更換 所述自動抓取圖形裝置；
[0022] 當誤差范圍均在所述第二設定范圍內(nèi)時，判定所述自動抓取圖形裝置正常，校驗 結(jié)束。
[0023] 通過校準輔助裝置進行校準的上述檢驗方法，操作簡單、校準速度快且成本低， 可根據(jù)實際的工作量，定期對自動抓取圖形裝置進行檢驗，防止因自動抓取圖形裝置損壞 而導致的打孔不良，可有效降低企業(yè)的無作業(yè)率，提高企業(yè)的作業(yè)回收率，降低產(chǎn)品的不良 率，增加產(chǎn)品產(chǎn)出，提高企業(yè)效益。
[0024] 本發(fā)明還提供了一種校驗方法，用于對采用自動抓取圖形裝置自動定位和自動加 工的設備進行校驗，所述校驗方法采用上述技術(shù)方案所述的校正方法對所述設備進行校 正；和/或采用上述技術(shù)方案所述的檢驗方法對所述自動抓取圖形裝置進行檢驗。
[0025] 該方法可對設備進行校正和自動抓取圖形裝置進行檢驗，在保證自動抓取圖形裝 置正常的情況下對設備進行校正，防止在自動抓取圖形裝置或設備損壞的情況下對設備進 行的不必要的校正操作，可相對減少校正時間，降低企業(yè)無作業(yè)率，增加產(chǎn)品產(chǎn)出，提高企 業(yè)效益。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0026] 圖1是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的校準輔助裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0027] 圖2是根據(jù)本發(fā)明另一個實施例的校準輔助裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0028] 圖3是根據(jù)本發(fā)明一實施例的校正方法的流程圖；
[0029] 圖4是根據(jù)本發(fā)明一實施例的檢驗方法的流程圖；
[0030] 圖5是根據(jù)本發(fā)明一實施例的校驗方法的流程圖。
[0031] 其中，圖1和圖2中附圖標記與部件名稱之間的對應關系為：
[0032] 1底板112第一圓形標識114第二圓形標識116第三圓形標識122第四圓形標 識124第五圓形標識126第六圓形標識132第七圓形標識134第八圓形標識136第九圓 形標識。

【具體實施方式】
[0033] 為了能夠更清楚地理解本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點，下面結(jié)合附圖和具體實 施方式對本發(fā)明進行進一步的詳細描述。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請的實施 例及實施例中的特征可以相互組合。
[0034] 在下面的描述中闡述了很多具體細節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是，本發(fā)明還可 以采用其他不同于在此描述的方式來實施，因此，本發(fā)明的保護范圍并不受下面公開的具 體實施例的限制。
[0035] 本發(fā)明提供的校準輔助裝置，如圖1、圖2所示，用于對采用自動抓取圖形裝置自 動定位和自動加工的設備進行校準，包括一底板1，所述底板1上設置有第一標識物和第二 標識物，所述第一標識物包括第一圖形標識；所述第二標識物包括第二圖形標識，所述第二 圖形標識的外接圓圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心不重合。
[0036] 優(yōu)選地，如圖1和圖2所示，所述第一標識物還包括第三圖形標識，所述第三圖形 標識的外接圓圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心重合。
[0037] 優(yōu)選地，如圖1、圖2所示，所述底板1上還設置有第三標識物和第四標識物，所述 第三標識物包括第四圖形標識；所述第四標識物包括第五圖形標識，所述第五圖形標識的 外接圓圓心與所述第四圖形標識的外接圓圓心不重合。
[0038] 優(yōu)選地，如圖1、圖2所示，所述第三標識物還包括第六圖形標識；所述第六圖形標 識的外接圓圓心與所述第四圖形標識的外接圓圓心重合。
[0039] 優(yōu)選地，如圖1、圖2所示，所述底板1上還設置有第五標識物和第六標識物，所述 第五標識物包括第七圖形標識；所述第六標識物包括第八圖形標識，所述第八圖形標識的 外接圓圓心與所述第九圖形標識的外接圓圓心不重合。
[0040] 優(yōu)選地，如圖1和圖2所示，所述第五標識物包括第九圖形標識；所述第九圖形標 識的外接圓圓心與所述第七圖形標識的外接圓圓心重合。
[0041] 本發(fā)明提供的校準輔助裝置，制作簡單，成本低廉，操作簡便，校準速度快，可以根 據(jù)實際的工作量，定期對設備進行校準，可降低企業(yè)無作業(yè)率，提高生產(chǎn)效率和企業(yè)效益。
[0042] 本發(fā)明提供的校準輔助裝置，注重的是校對圖形的尺寸精度，而不在于底板的材 質(zhì)，只要圖形的尺寸精確，皆可達到校正的目的，且本發(fā)明中的標志物可通過激光等方式刻 畫在底板上，也可通過膠粘等方式固定在底板上，這些改變均為脫離本發(fā)明的設計思想，屬 于本專利的保護范圍。
[0043] 優(yōu)選地，本發(fā)明提供的一實施例如圖1所示，所述第一圖形標識為直徑為L1的第 一圓形標識112,所述第二圖形標識為直徑為L2的第二圓形標識114或?qū)蔷€長度為L2的 第一正方形標識，所述第三圖形標識為直徑為L3的第三圓形標識116,且L1>L3>L2 ;所述第 二圖形標識位于所述第三圓形標識116內(nèi)；所述第四圖形標識為直徑為L4的第四圓形標識 122,所述第五圖形標識為直徑為L5的第五圓形標識124或?qū)蔷€長度為L5的第二正方形 標識，所述第六圖形標識為直徑為L6的第六圓形標識126,且L4>L6>L5,所述第五圖形標識 位于所述第六圓形標識126內(nèi)；所述第七圖形標識為直徑為L7的第七圓形標識132,所述 第八圖形標識為直徑為L8的第八圓形標識134或?qū)蔷€長度為L8的第三正方形標識，所 述第九圖形標識為直徑為L9的第九圓形標識136,且L7>L9>L8,所述第八圖形標識位于所 述第九圓形標識136內(nèi)。
[0044] 圓形標識為目前PCB行業(yè)內(nèi)通用的基準，設備抓取圓形標識精準度高，使用范圍 廣，測試精度高，且制作簡單、操作方便。
[0045] 優(yōu)選地，如圖1所示，所述第二圖形標識為所述第二圓形標識114,所述第五圖形 標識為所述第五圓形標識124,所述第八圖形標識為所述第八圓形標識134,所述第二圓 形標識114直徑L2為1025 μ m?1075 μ m，所述第五圓形標識124直徑L5為975 μ m? 1025 μ m，所述第八圓形標識134直徑L8為1075 μ m?1125 μ m ;或所述第二圖形標識為所 述第一正方形標識，所述第五圖形標識為所述第二正方形標識，所述第八圖形標識為所述 第三正方形標識，所述第一正方形標識的對角線長度L2為1025 μ m?1075 μ m，所述第二 正方形標識的對角線長度L5為975 μ m?1025 μ m，所述第三正方形標識的對角線長度L8 為1075 μ m?1125 μ m ;所述第三圓形標識116直徑L3等于所述第六圓形標識126直徑L6 等于所述第九圓形標識136直徑L9等于3375 μ m?3425 μ m ;所述第一圓形標識112直徑 L1等于所述第四圓形標識122直徑L4等于所述第七圓形標識132直徑L7等于3975 μ m? 4025 μ m。
[0046] 在該技術(shù)方案中，圓形標識為目前PCB行業(yè)內(nèi)通用的基準，使用范圍廣，測試精度 高，且制作簡單、操作方便，選取上述數(shù)據(jù)范圍作為基準，與設備制作商的校驗基準統(tǒng)一，同 時對校準輔助裝置的尺寸規(guī)格做統(tǒng)一規(guī)定，便于大批量生產(chǎn)，可避免對設備內(nèi)部程序的調(diào) 試，擴大了校準輔助裝置的應用范圍。
[0047] 當然，也可選用其他尺寸制作成本發(fā)明的校準輔助裝置，這些變化未脫離本發(fā)明 的設計思想，屬于本專利的保護范圍。
[0048] 優(yōu)選地，本發(fā)明提供的另一實施例如圖2所示，所述第一圖形標識為邊長為L1的 第四正方形標識，所述第二圖形標識為直徑為L2的第二圓形標識114或?qū)蔷€長度為L2 的第一正方形標識，所述第三圖形標識為直徑為L3的第三圓形標識116,且L1>L3>L2,所述 第二圖形標識位于所述第三圓形標識116內(nèi)；所述第四圖形標識為邊長為L4的第五正方形 標識，所述第五圖形標識為直徑為L5的第五圓形標識124或?qū)蔷€長度為L5的第二正方 形標識，所述第六圖形標識為直徑為L6的第六圓形標識126,且L4>L6>L5,所述第五圖形標 識位于所述第六圓形標識126內(nèi)；所述第七圖形標識為邊長為L7的第六正方形標識，所述 第八圖形標識為直徑為L8的第八圓形標識124或?qū)蔷€長度為L8的第三正方形標識，所 述第九圖形標識為直徑為L9的第九圓形標識136,且L7>L9>L8,所述第八圖形標識位于所 述第九圓形標識136內(nèi)。
[0049] 正方形標識也可作為設備的抓取圖形，抓取精準度高，使用范圍廣，測試精度高， 且制作簡單、操作方便。
[0050] 優(yōu)選地，如圖2所示，所述第二圖形標識為所述第二圓形標識114,所述第五圖形 標識為所述第五圓形標識124,所述第八圖形標識為所述第八圓形標識134,所述第二圓形 標識114直徑L2為1025 μ m?1075,所述第五圓形標識124直徑L5為975 μ m?1025 μ m， 所述第八圓形標識134直徑L8為1075 μ m?1125 μ m ;或所述第二圖形標識為所述第一正 方形標識，所述第五圖形標識為所述第二正方形標識，所述第八圖形標識為所述第三正方 形標識，所述第一正方形標識的對角線長度L2為1025 μ m?1075 μ m，所述第二正方形標識 的對角線長度L5為975 μ m?1025 μ m，所述第三正方形標識的對角線長度L8為1075 μ m? 1125 μ m ;所述第三圓形標識116直徑L3等于所述第六圓形標識126直徑L6等于所述第九 圓形標識136直徑L9等于3375 μ m?3425 μ m ;所述第四正方形標識邊長L1等于所述第 五正方形標識邊長L4等于所述第六正方形標識邊長L7等于3975 μ m?4025 μ m。
[0051] 在該技術(shù)方案中，第四正方形標識、第五正方形標識、第六正方形標識也可作為設 備的抓取圖形，測試精度高，且制作簡單、操作方便；選取上述數(shù)據(jù)范圍作為基準，與設備制 作商的校驗基準統(tǒng)一，同時，對校準輔助裝置的尺寸規(guī)格做統(tǒng)一規(guī)定，便于大批量生產(chǎn)，可 避免對設備內(nèi)部程序的調(diào)試，擴大了校準輔助裝置的應用范圍。
[0052] 當然，也可選用其他尺寸制作成本發(fā)明的校準輔助裝置，這些變化未脫離本發(fā)明 的設計思想，屬于本專利的保護范圍。
[0053] 優(yōu)選地，所述設備為層壓打靶儀、CCD打孔機、SM7貼片機或打線機；所述底板1為 FR-4材質(zhì)板，所述自動抓取圖形裝置為X光探頭；所述第一圖形標識、第二圖形標識、第三 圖形標識、第四圖形標識、第五圖形標識、第六圖形標識、第七圖形標識、第八圖形標識和第 九圖形標識通過膠粘方式固定在所述底板1上，和/或?qū)⑺龅装?制成帶有上述圖形標 識的影像板，和/或?qū)⑸鲜鰣D形標識刻畫在所述底板1上。
[0054] 在該技術(shù)方案中，通過FR-4材質(zhì)板形成圖形影像底板，制作簡單、成本低，且制作 精度高，適于大批量生產(chǎn)，增加企業(yè)效益。
[0055] 當然，也可選用其它材質(zhì)的底板。
[0056] 優(yōu)選地，如圖2所示，所述底板1沿橫向自一端向另一端依次均布兩排所述第一 標識物、兩排所述第三標識物和兩排所述第五標識物，所述第一標識物內(nèi)設置有所述第二 標識物，所述第三標識物內(nèi)設置有所述第四標識物，所述第五標識物內(nèi)設置有所述第六標 識物；所述第二圖形標識、所述第五圖形標識和所述第八圖形標識的內(nèi)部與外部明暗相間； 所述第一圖形標識和所述第三圖形標識圍成結(jié)構(gòu)的內(nèi)部與外部明暗相間、所述第四圖形標 識和所述第六圖形標識圍成結(jié)構(gòu)的內(nèi)部與外部明暗相間、所述第七圖形標識和所述第九圖 形標識圍成結(jié)構(gòu)的內(nèi)部與外部明暗相間。
[0057] 在該技術(shù)方案中，在底板上設置兩排所述第一標識物、兩排所述第三標識物和兩 排所述第五標識物，并可采取一定手段進行區(qū)分，如圖1、圖2所示，如：標注A、B、C以進行 區(qū)分等，保證購買者在對設備進行校驗時可選用不同偏心的圓形標識對設備進行校驗，進 一步保證了校驗的精度，同時還可降低制造成本，擴大企業(yè)的市場占有率，進而增加盈利； 圖形之間明暗相間，校驗者可根據(jù)打孔后的底板通過肉眼觀察其打孔區(qū)域是否在設定范圍 內(nèi)，為檢驗者在檢驗過程中提供便利，可相對降低校驗時間，進而降低企業(yè)的無作業(yè)率，增 大生產(chǎn)產(chǎn)出，提高企業(yè)效益。
[0058] 明暗相間顏色優(yōu)選為黑色和白色，當然也可選用其他任意顏色的組合，這些均未 脫離本發(fā)明的設計思想，屬于本專利的保護范圍。
[0059] 本發(fā)明還提供了一種校正方法，如圖3所示，用于對采用自動抓取圖形裝置自動 定位和自動加工的設備進行校正，包括：
[0060] 步驟102,選取一底板1，所述底板1上包括第一圖形標識；
[0061] 步驟104,在至少一所述第一圖形標識內(nèi)進行鉆第一孔，通過所述設備測量所述第 一孔的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離并對應與用測量儀器測量的所 述第一孔的圓心與所述第一圓形標識的外接圓圓心之間的距離進行比較，依次記錄比較結(jié) 果；
[0062] 步驟106,若比較結(jié)果的誤差均在第一設定范圍內(nèi)時，判定為所述設備正常，校正 完畢；
[0063] 若任一比較結(jié)果的誤差超過第一設定范圍時，判定為異常，對所述設備進行微調(diào)， 并重復步驟104、步驟106。
[0064] 優(yōu)選地，在步驟102中，所述底板1上還設置有第四圖形標識；
[0065] 在步驟104中，在至少一所述第四圖形標識內(nèi)進行鉆第二孔，通過所述設備測量 所述第二孔的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離并對應與用所述測量儀 器測量的所述第二孔的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離進行比較，依次 記錄比較結(jié)果。
[0066] 優(yōu)選地，在步驟102中，所述底板1上還設置有第七圖形標識；
[0067] 在步驟104中，在至少一所述第七圖形標識內(nèi)進行鉆第三孔，通過所述設備測量 所述第三孔的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離并對應與用所述測量儀 器測量的所述第三孔的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離進行比較，依次 記錄比較結(jié)果。
[0068] 上述校正方法，操作簡單、校準速度快且成本低，可根據(jù)實際的工作量，定期對設 備進行校正操作，可有效降低企業(yè)的無作業(yè)率，提高企業(yè)的作業(yè)回收率，降低產(chǎn)品的不良 率，增加產(chǎn)品產(chǎn)出，提高企業(yè)效益，通過第一圖形標識、第四圖形標識和第七圖形標識同時 進行校正，校正后的設備精度進一步提高。
[0069] 優(yōu)選地，在步驟104中，在一所述第一圖形標識內(nèi)進行鉆所述第一孔、在一所述第 四圖形標識內(nèi)鉆所述第二孔和在一所述第七圖形標識內(nèi)鉆所述第三孔；所述第一圖形標識 內(nèi)還設置有與其同心的第三圖形標識、所述第四圖形標識內(nèi)設置有與其同心的第六圖形標 識和所述第七圖形標識內(nèi)設置有與其同心的第九圖形標識。
[0070] 增加第三圖形標識、第六圖形標識和第九圖形標識，校正者可通過肉眼觀察鉆孔 是否在規(guī)定的范圍內(nèi)，省去通過測量儀器測量的步驟，相對降低校正時間，降低企業(yè)無作業(yè) 率，進而提高企業(yè)的作業(yè)回收率。
[0071] 較優(yōu)的，所述第一圖形標識為第一圓形標識，所述第三圖形標識為第三圓形標識， 所述第四圖形標識為第四圓形標識，所述第六圖形標識為第六圓形標識，所述第七圖形標 識為第七圓形標識，所述第九圖形標識為第九圓形標識，所述第一圓形標識、所述第四圓形 標識和所述第七圓形標識的直徑為3975 μ m?4025 μ m，所述第三圓形標識、所述第六圓形 標識和所述第九圓形標識的直徑為375 μ m?3425 μ m，所述第一設定范圍為±0. 04mm ;所 述第一孔、所述第二孔和所述第三孔的直徑為2975 μ m?3025 μ m ;或所述第一圖形標識為 第四正方形標識，所述第三圖形標識為第三圓形標識，所述第四圖形標識為第五正方形標 識，所述第六圖形標識為第六圓形標識，所述第七圖形標識為第六正方形標識，所述第八圖 形標識為第八圓形標識，所述第四正方形標識、所述第五正方形標識和所述第六正方形標 識的邊長為3975 μ m?4025 μ m，所述第三圓形標識、所述第六圓形標識和所述第九圓形標 識的直徑為3375 μ m?3425 μ m，所述第一設定范圍為±0. 04mm，所述第一孔、所述第二孔 和所述第三孔的直徑為2975 μ m?3025 μ m。
[0072] 選取上述數(shù)值范圍，與設備的內(nèi)部設定參數(shù)相對應，可避免對設備內(nèi)部參數(shù)的調(diào) 整，減少校正時間和降低企業(yè)的無作業(yè)時間，提高企業(yè)效率。
[0073] 優(yōu)選地，所述底板1為FR-4材質(zhì)板；所述測試儀器為二次元測試儀器；所述設備 為層壓打靶儀、CCD打孔機、SM7貼片機或打線機，所述自動抓取圖形裝置為X光探頭。
[0074] 二次元測試儀器為行業(yè)內(nèi)精度較高的測量儀器，選取該儀器進行測量精度高；底 板選用FR-4材質(zhì)板，校準輔助裝置制作簡單、精度高，且成本低。
[0075] 當然，也可選用其他測試儀器，只要能保證測量的精確要求，皆可選用，這些變化 屬于本專利的保護范圍。
[0076] 上述校正方法是在設備的自動抓取圖形裝置正常的情況下進行的，當需判斷自動 抓取圖形裝置是否損壞時，如圖4所示，本發(fā)明還提供了一種檢驗方法，用于判定設備的自 動抓取圖形裝置是否損壞，包括：
[0077] 步驟202,選取一底板1，所述底板1上設置有第一圖形標識和第二圖形標識，所述 第二圖形標識的外接圓圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心不重合；
[0078] 步驟204,用測試儀器測量至少一所述第一圖形標識外接圓圓心與所述第二圖形 標識外接圓圓心之間的距離并對應與通過所述設備測量的所述第一圖形標識外接圓圓心 與所述第二圖形標識外接圓圓心之間的距離進行比較：
[0079] 當任一誤差范圍超過第二設定范圍時，判定為所述自動抓取圖形裝置損壞，更換 所述自動抓取圖形裝置；
[0080] 當誤差范圍均在所述第二設定范圍內(nèi)時，判定所述自動抓取圖形裝置正常，校驗 結(jié)束。
[0081] 優(yōu)選地，在步驟202中，所述底板1上還設置有第四圖形標識和第五圖形標識，所 述第四圖形標識的外接圓圓心與所述第五圖形標識的外接圓圓心不重合；
[0082] 在步驟204中，用所述測試儀器測量至少一所述第四圖形標識外接圓圓心與所述 第五圖形標識外接圓圓心之間的距離并對應與通過所述設備測量的所述第四圖形標識外 接圓圓心與所述第五圖形標識外接圓圓心之間的距離進行比較。
[0083] 優(yōu)選地，在步驟202中，所述底板1上還設置有第七圖形標識和第八圖形標識，所 述第七圖形標識的外接圓圓心與所述第八圖形標識的外接圓圓心不重合；
[0084] 在步驟204中，用所述測試儀器測量至少一所述第七圖形標識外接圓圓心與所述 第八圖形標識外接圓圓心之間的距離并對應與通過所述設備測量的所述第七圖形標識外 接圓圓心與所述第八圖形標識外接圓圓心之間的距離進行比較。
[0085] 通過校準輔助裝置進行校準的上述檢驗方法，操作簡單、校準速度快且成本低，可 根據(jù)實際的工作量，定期對自動抓取圖形裝置進行檢驗，防止因自動抓取圖形裝置而導致 的打孔不良，可有效降低企業(yè)的無作業(yè)率，提高企業(yè)的作業(yè)回收率，降低產(chǎn)品的不良率，增 加產(chǎn)品產(chǎn)出，提高企業(yè)效益。
[0086] 所述設備通過所述自動抓取圖形裝置抓取圖形并在所述設備內(nèi)部生成所抓取圖 形的外接圓圓心的圓心距，所述測試儀器與所述設備的測量圓心距的方法的原理相同。 [0087] 如對層壓打靶儀進行上述檢驗（即：對層壓打靶儀的X光探頭進行檢驗)，設備即 為層壓打靶儀，自動抓取圖形裝置即為X光探頭，當檢測的X光探頭的誤差范圍至少之一超 過第二設定范圍時，應確認X光探頭是否已到達有效期，若未到達有效期應再進行二次檢 驗，以確定是否損壞，若二次檢驗的誤差范圍超過第二設定范圍時，判定為X光探頭故障， 更換X光，并繼續(xù)進行檢測，若誤差范圍超過第二設定范圍，則判定為層壓打靶儀故障；若 已到達有效期，應對X光探頭進行更換，并再次進行檢測，若誤差范圍超過第二設定范圍， 則判定為層壓打靶儀故障。
[0088] 優(yōu)選地，在步驟204中，通過所述測試儀器和所述設備分別對一所述第一圖形標 識外接圓圓心與所述第二圖形標識外接圓圓心之間的距離進行測量并相對應比較、一所述 第四圖形標識外接圓圓心與所述第五圖形標識外接圓圓心之間的距離進行測量并相對應 比較和一所述第七圖形標識外接圓圓心與所述第八圖形標識外接圓圓心之間的距離進行 測量并相對應比較。
[0089] 對三組圓形標識的圓心與標識物中心之間的距離進行測量并相對應比較，檢驗精 度高、測量時間短。
[0090] 優(yōu)選地，所述底板1為FR-4材質(zhì)板；所述測試儀器為二次元測試儀器；所述設備 為層壓打靶儀、CCD打孔機、SM7貼片機或打線機，所述自動抓取圖形裝置為X光探頭。
[0091] 二次元測試儀器為行業(yè)內(nèi)精度較高的測量儀器，選取該儀器進行測量精度高；底 板選用FR-4材質(zhì)板，制作的校準輔助裝置制作簡單、精度高，且成本低。
[0092] 當然，也可選用其他測試儀器，只要能保證測量的精確要求，皆可選用，這些變化 屬于本專利的保護范圍。
[0093] 本發(fā)明還提供了一種校驗方法，用于對采用自動抓取圖形裝置自動定位和自動加 工的設備進行校驗，采用上述技術(shù)方案中任一項所述的校正方法對所述設備進行校正和采 用上述技術(shù)方案中任一項所述的檢驗方法對所述自動抓取圖形裝置進行檢驗。
[0094] 在該技術(shù)方案中，可對設備和設備上的自動抓取圖形裝置分別進行測試，在保證 自動抓取圖形裝置正常的情況下對設備進行校正，防止在自動抓取圖形裝置或設備損壞的 情況下對其進行的不必要的校正操作，可相對減少校正時間，降低企業(yè)無作業(yè)率，增加產(chǎn)品 產(chǎn)出，提高企業(yè)效益。
[0095] 本發(fā)明提供的校驗方法，如圖5所示，包括：
[0096] 步驟302,選取一底板1，底板1上設置有多個第一標識物、第二標識物、第三標識 物、第四標識物、第五標識物、第六標識物、第七圖形標識、第八圖形標識和第九圖形標識； 具體為：第一圓形標識112、第二圓形標識114、第三圓形標識116、第四圓形標識122、第 五圓形標識124、第六圓形標識126、第七圓形標識132、第八圓形標識134、第九圓形標識 136 ；
[0097] 步驟304,用測試儀器測量第一圓形標識112與其內(nèi)部的第二圓形標識114之間的 圓心距并對應與通過設備測量的第一圓形標識112與其內(nèi)部的第二圓形標識之間的圓心 距進行比較；用測試儀器測量第四圓形標識122與其內(nèi)部的第五圓形標識124之間的圓心 距并對應與通過設備測量的第四圓形標識122與其內(nèi)部的第五圓形標識124之間的圓心距 進行比較；用測試儀器測量第七圓形標識132與其內(nèi)部的第八圓形標識134之間的圓心距 并對應與通過設備測量的第七圓形標識132與其內(nèi)部的第八圓形標識134之間的圓心距進 行比較；
[0098] 步驟306,當任一誤差范圍超過第二設定范圍時：
[0099] 判定為自動抓取圖形裝置，更換自動抓取圖形裝置，重復步驟304進行二次檢驗， 若二次檢驗的任一誤差范圍超過第二設定范圍時，判定為設備故障，結(jié)束校驗，若二次檢驗 的誤差范圍均在第二設定范圍內(nèi)時，判定自動抓取圖形裝置正常，繼續(xù)下一步驟；
[0100] 當誤差范圍均在第二設定范圍內(nèi)時：
[0101] 判定自動抓取圖形裝置正常，繼續(xù)下一步驟；
[0102] 步驟308,在第一圓形標識112內(nèi)、第四圓形標識122內(nèi)和第七圓形標識132內(nèi)鉆 孔；通過設備測量第一圓形標識112與其內(nèi)部孔的圓心距并對應與用測量儀器測量的第一 圓形標識112與其內(nèi)部孔的圓心距進行比較，通過設備測量第四圓形標識122與其內(nèi)部孔 的圓心距并對應與用測量儀器測量的第四圓形標識122與其內(nèi)部孔的圓心距進行比較，通 過設備測量第七圓形標識132與其內(nèi)部孔的圓心距并對應與用測量儀器測量的第七圓形 標識132與其內(nèi)部孔的圓心距進行比較，依次記錄比較結(jié)果；
[0103] 步驟310,若比較結(jié)果的誤差均在第一設定范圍內(nèi)時，判定為正常，校正完畢；
[0104] 若任一比較結(jié)果的誤差超過第一設定范圍時，判定為異常，對設備進行微調(diào)，并重 復步驟308、步驟310。
[0105] 該方法可對設備進行校正和自動抓取圖形裝置進行檢驗，在保證自動抓取圖形裝 置正常的情況下對設備進行校正，防止在自動抓取圖形裝置或設備損壞的情況下對設備進 行的不必要的校正操作，可相對減少校正時間，降低企業(yè)無作業(yè)率，增加產(chǎn)品產(chǎn)出，提高企 業(yè)效益。
[0106] 綜上所述，本發(fā)明提供的校準輔助裝置，制作簡單，成本低廉，操作簡便，校準速度 快，可以根據(jù)實際的工作量，定期對設備進行校準，可降低企業(yè)無作業(yè)率，提高企業(yè)的作業(yè) 回收率，增加產(chǎn)品產(chǎn)出，提高生產(chǎn)效率和企業(yè)效益。
[0107] 在本發(fā)明中，術(shù)語"第一"、"第二"、"第三"、"第四"、"第五"、"第六"、"第七"、"第八" 和"第九"僅用于描述的目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性，對于本領域的普通技 術(shù)人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。
[0108] 以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領域的技 術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修 改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1. 一種校準輔助裝置，用于對采用自動抓取圖形裝置自動定位和自動加工的設備進行 校準，其特征在于，包括一底板（1 )，所述底板（1)上設置有第一標識物和第二標識物，所述 第一標識物包括第一圖形標識；所述第二標識物包括第二圖形標識，所述第二圖形標識的 外接圓圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心不重合。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準輔助裝置，其特征在于，所述第一標識物還包括第三圖 形標識，所述第三圖形標識的外接圓圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心重合。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的校準輔助裝置，其特征在于，所述底板（1)上還設置有第三標 識物和第四標識物，所述第三標識物包括第四圖形標識；所述第四標識物包括第五圖形標 識，所述第五圖形標識的外接圓圓心與所述第四圖形標識的外接圓圓心不重合。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的校準輔助裝置，其特征在于，所述第三標識物還包括第六圖 形標識；所述第六圖形標識的外接圓圓心與所述第四圖形標識的外接圓圓心重合。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的校準輔助裝置，其特征在于，所述底板（1)上還設置有第五標 識物和第六標識物，所述第五標識物包括第七圖形標識；所述第六標識物包括第八圖形標 識，所述第八圖形標識的外接圓圓心與所述第九圖形標識的外接圓圓心不重合。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的校準輔助裝置，其特征在于，所述第五標識物還包括第九圖 形標識；所述第九圖形標識的外接圓圓心與所述第七圖形標識的外接圓圓心重合。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的校準輔助裝置，其特征在于， 所述第一圖形標識為直徑為L1的第一圓形標識（112)，所述第二圖形標識為直徑為L2 的第二圓形標識（114)或?qū)蔷€長度為L2的第一正方形標識，所述第三圖形標識為直徑為 L3的第三圓形標識（116)，且L1>L3>L2 ;所述第二圖形標識位于所述第三圓形標識（116) 內(nèi)； 所述第四圖形標識為直徑為L4的第四圓形標識（122)，所述第五圖形標識為直徑為L5 的第五圓形標識（124)或?qū)蔷€長度為L5的第二正方形標識，所述第六圖形標識為直徑為 L6的第六圓形標識（126)，且L4>L6>L5,所述第五圖形標識位于所述第六圓形標識（126) 內(nèi)； 所述第七圖形標識為直徑為L7的第七圓形標識（132)，所述第八圖形標識為直徑為L8 的第八圓形標識（134)或?qū)蔷€長度為L8的第三正方形標識，所述第九圖形標識為直徑 為L9的第九圓形標識（136 )，且L7>L9>L8，所述第八圖形標識位于所述第九圓形標識（136 ) 內(nèi)。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的校準輔助裝置，其特征在于， 所述第二圖形標識為所述第二圓形標識（114)，所述第五圖形標識為所述第五圓形標 識（124)，所述第八圖形標識為所述第八圓形標識（134)，所述第二圓形標識（114)直徑L2 為1025μπι?1075μπι，所述第五圓形標識（124)直徑L5為975μπι?1025μπι，所述第八 圓形標識（134)直徑L8為1075μπι?1125μπι ;或所述第二圖形標識為所述第一正方形 標識，所述第五圖形標識為所述第二正方形標識，所述第八圖形標識為所述第三正方形標 識，所述第一正方形標識的對角線長度L2為1025 μ m?1075 μ m，所述第二正方形標識的 對角線長度L5為975 μ m?1025 μ m，所述第三正方形標識的對角線長度L8為1075 μ m? 1125 μ m ； 所述第三圓形標識（116)直徑L3等于所述第六圓形標識（126)直徑L6等于所述第九 圓形標識（136)直徑L9等于3375 μ m?3425 μ m ; 所述第一圓形標識（112)直徑L1等于所述第四圓形標識（122)直徑L4等于所述第七 圓形標識（132)直徑L7等于3975 μ m?4025 μ m。
9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的校準輔助裝置，其特征在于， 所述第一圖形標識為邊長為L1的第四正方形標識，所述第二圖形標識為直徑為L2的 第二圓形標識（114)或?qū)蔷€長度為L2的第一正方形標識，所述第三圖形標識為直徑為L3 的第三圓形標識（116)，且L1>L3>L2,所述第二圖形標識位于所述第三圓形標識（116)內(nèi)； 所述第四圖形標識為邊長為L4的第五正方形標識，所述第五圖形標識為直徑為L5的 第五圓形標識（124)或?qū)蔷€長度為L5的第二正方形標識，所述第六圖形標識為直徑為L6 的第六圓形標識（126)，且L4>L6>L5,所述第五圖形標識位于所述第六圓形標識（126)內(nèi)； 所述第七圖形標識為邊長為L7的第六正方形標識，所述第八圖形標識為直徑為L8的 第八圓形標識（124)或?qū)蔷€長度為L8的第三正方形標識，所述第九圖形標識為直徑為L9 的第九圓形標識（136)，且L7>L9>L8,所述第八圖形標識位于所述第九圓形標識（136)內(nèi)。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的校準輔助裝置，其特征在于， 所述第二圖形標識為所述第二圓形標識（114)，所述第五圖形標識為所述第五圓形標 識（124)，所述第八圖形標識為所述第八圓形標識（134)，所述第二圓形標識（114)直徑L2 為1025μπι?1075μπι，所述第五圓形標識（124)直徑L5為975μπι?1025μπι，所述第八 圓形標識（134)直徑L8為1075 μ m?1125 μ m ;或所述第二圖形標識為所述第一正方形 標識，所述第五圖形標識為所述第二正方形標識，所述第八圖形標識為所述第三正方形標 識，所述第一正方形標識的對角線長度L2為1025 μ m?1075 μ m，所述第二正方形標識的 對角線長度L5為975 μ m?1025 μ m，所述第三正方形標識的對角線長度L8為1075 μ m? 1125 μ m ； 所述第三圓形標識（116)直徑L3等于所述第六圓形標識（126)直徑L6等于所述第九 圓形標識（136)直徑L9等于3375 μ m?3425 μ m ; 所述第四正方形標識邊長L1等于所述第五正方形標識邊長L4等于所述第六正方形標 識邊長L7等于3975 μ m?4025 μ m。
11. 根據(jù)權(quán)利要求6至10中任一項所述的校準輔助裝置，其特征在于， 所述設備為層壓打靶儀、CCD打孔機、SM7貼片機或打線機；所述底板（1)為FR-4材質(zhì) 板，所述自動抓取圖形裝置為X光探頭； 所述第一圖形標識、第二圖形標識、第三圖形標識、第四圖形標識、第五圖形標識、第六 圖形標識、第七圖形標識、第八圖形標識和第九圖形標識通過膠粘方式固定在所述底板（1) 上，和/或?qū)⑺龅装澹?)制成帶有上述圖形標識的影像板，和/或?qū)⑸鲜鰣D形標識刻畫在 所述底板（1)上。
12. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的校準輔助裝置，其特征在于，所述底板（1)沿橫向自一端向 另一端依次均布兩排所述第一標識物、兩排所述第三標識物和兩排所述第五標識物，所述 第一標識物內(nèi)設置有所述第二標識物，所述第三標識物內(nèi)設置有所述第四標識物，所述第 五標識物內(nèi)設置有所述第六標識物； 所述第二圖形標識、所述第五圖形標識和所述第八圖形標識的內(nèi)部與外部明暗相間； 所述第一圖形標識和所述第三圖形標識圍成結(jié)構(gòu)的內(nèi)部與外部明暗相間、所述第四圖形標 識和所述第六圖形標識圍成結(jié)構(gòu)的內(nèi)部與外部明暗相間、所述第七圖形標識和所述第九圖 形標識圍成結(jié)構(gòu)的內(nèi)部與外部明暗相間。
13. -種校正方法，用于對采用自動抓取圖形裝置自動定位和自動加工的設備進行校 正，其特征在于，包括 ： 步驟102,選取一底板（1)，所述底板（1)上包括第一圖形標識； 步驟104,在至少一所述第一圖形標識內(nèi)進行鉆第一孔，通過所述設備測量所述第一孔 的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離并對應與用測量儀器測量的所述第 一孔的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離進行比較，依次記錄比較結(jié)果； 步驟106,若比較結(jié)果的誤差均在第一設定范圍內(nèi)時，判定為所述設備正常，校正完 畢； 若任一比較結(jié)果的誤差超過第一設定范圍時，判定為異常，對所述設備進行微調(diào)，并重 復步驟104、步驟106。
14. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的校正方法，其特征在于，在步驟102中，所述底板（1)上還 設置有第四圖形標識； 在步驟104中，在至少一所述第四圖形標識內(nèi)進行鉆第二孔，通過所述設備測量所述 第二孔的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離并對應與用所述測量儀器測 量的所述第二孔的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離進行比較，依次記錄 比較結(jié)果。
15. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的校正方法，其特征在于，在步驟102中，所述底板（1)上還 設置有第七圖形標識； 在步驟104中，在至少一所述第七圖形標識內(nèi)進行鉆第三孔，通過所述設備測量所述 第三孔的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離并對應與用所述測量儀器測 量的所述第三孔的圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心之間的距離進行比較，依次記錄 比較結(jié)果。
16. 根據(jù)權(quán)利要求15所述的校正方法，其特征在于，在步驟104中，在一所述第一圖形 標識內(nèi)進行鉆所述第一孔、在一所述第四圖形標識內(nèi)鉆所述第二孔和在一所述第七圖形標 識內(nèi)鉆所述第三孔；所述第一圖形標識內(nèi)還設置有與其同心的第三圖形標識、所述第四圖 形標識內(nèi)設置有與其同心的第六圖形標識和所述第七圖形標識內(nèi)設置有與其同心的第九 圖形標識。
17. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的校正方法，其特征在于，所述底板（1)為FR-4材質(zhì)板；所 述測試儀器為二次元測試儀器；所述設備為層壓打靶儀、CCD打孔機、SM7貼片機或打線 機，所述自動抓取圖形裝置為X光探頭，所述第一孔、所述第二孔和所述第三孔的直徑為 2975 μ m ?3025 μ m。
18. -種檢驗方法，用于判定設備的自動抓取圖形裝置是否損壞，其特征在于，包括： 步驟202,選取一底板（1 )，所述底板（1)上設置有第一圖形標識和第二圖形標識，所述 第二圖形標識的外接圓圓心與所述第一圖形標識的外接圓圓心不重合； 步驟204,用測試儀器測量至少一所述第一圖形標識外接圓圓心與所述第二圖形標識 外接圓圓心之間的距離并對應與通過所述設備測量的所述第一圖形標識外接圓圓心與所 述第二圖形標識外接圓圓心之間的距離進行比較： 當任一誤差范圍超過第二設定范圍時，判定為所述自動抓取圖形裝置損壞，更換所述 自動抓取圖形裝置； 當誤差范圍均在所述第二設定范圍內(nèi)時，判定所述自動抓取圖形裝置正常，校驗結(jié)束。
19. 根據(jù)權(quán)利要求18所述的檢驗方法，其特征在于，在步驟202中，所述底板（1)上還 設置有第四圖形標識和第五圖形標識，所述第四圖形標識的外接圓圓心與所述第五圖形標 識的外接圓圓心不重合； 在步驟204中，用所述測試儀器測量至少一所述第四圖形標識外接圓圓心與所述第五 圖形標識外接圓圓心之間的距離并對應與通過所述設備測量的所述第四圖形標識外接圓 圓心與所述第五圖形標識外接圓圓心之間的距離進行比較。
20. 根據(jù)權(quán)利要求19所述的檢驗方法，其特征在于，在步驟202中，所述底板（1)上還 設置有第七圖形標識和第八圖形標識，所述第七圖形標識的外接圓圓心與所述第八圖形標 識的外接圓圓心不重合； 在步驟204中，用所述測試儀器測量至少一所述第七圖形標識外接圓圓心與所述第八 圖形標識外接圓圓心之間的距離并對應與通過所述設備測量的所述第七圖形標識外接圓 圓心與所述第八圖形標識外接圓圓心之間的距離進行比較。
21. 根據(jù)權(quán)利要求20所述的檢驗方法，其特征在于，在步驟204中，通過所述測試儀器 和所述設備分別對一所述第一圖形標識外接圓圓心與所述第二圖形標識外接圓圓心之間 的距離進行測量并相對應比較、一所述第四圖形標識外接圓圓心與所述第五圖形標識外接 圓圓心之間的距離進行測量并相對應比較和一所述第七圖形標識外接圓圓心與所述第八 圖形標識外接圓圓心之間的距離進行測量并相對應比較。
22. -種校驗方法，用于對采用自動抓取圖形裝置自動定位和自動加工的設備進行校 驗，其特征在于，采用如權(quán)利要求13至17中任一項所述的校正方法，對所述設備進行校正； 和/或采用如權(quán)利要求18至21中任一項所述的檢驗方法對所述自動抓取圖形裝置進行檢 驗。
【文檔編號】G01B21/02GK104111047SQ201310141761
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2013年4月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年4月22日
【發(fā)明者】李華華, 謝海山, 何國輝, 李卡, 謝永奎 申請人:北大方正集團有限公司, 杭州方正速能科技有限公司