技術(shù)特征：
1.一種用于分析包含隨機間隔的階躍的輻射傳感器的信號的方法，所述方法包括：·檢測階躍(402)的存在；·估計相鄰階躍之間的時間間隔(403,406)；·用第一濾波特性對階躍之前的信號濾波；·用第二濾波特性對階躍之后的信號濾波；·估計階躍高度；以及·根據(jù)所估計的階躍高度用大量階躍形成密度分布或直方圖，其特征在于·使用所述階躍之前的平穩(wěn)段的方差的估計值和所述階躍之后的平穩(wěn)段的方差的估計值來估計所述階躍高度的方差，所述平穩(wěn)段的方差的估計值基于所述平穩(wěn)段中的每一個的間隔的長度，·所述大量階躍中的每一個根據(jù)加權(quán)因子對密度分布或直方圖做出貢獻，所述加權(quán)因子是所述方差的函數(shù)，所述函數(shù)使得具有低方差的階躍與具有高方差的階躍相比與更大的加權(quán)因子關聯(lián)，其結(jié)果為對應于高可靠性的、具有低方差的階躍高度估計值被突出。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中基于所述平穩(wěn)段中的每一個的間隔的長度估計所述平穩(wěn)段的方差還包括將所分析的信號的噪聲模型考慮在內(nèi)。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中所述信號是固態(tài)器件的信號并且所述階躍是X射線光子撞擊所述固態(tài)器件的結(jié)果。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中所述階躍高度表示X射線光子的能量。5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中每個階躍由所估計的階躍高度和階躍高度方差表示，并...